TW200817675A - Meter system designed to run singulated test sensors - Google Patents

Description

200817675 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 。本發般係關於用於自動校準決叉—分析物濃度的儀 15或計量器之自動校準標籤。該等自動校準標籤係併入單 上'ή條t封裝上，而該儀器或計量器之—外部部分 二〜用於在4封裝係附接於該計量器時依據該標鐵決定 校準資訊。 【先前技術】 在對特疋的生理異常進行診斷及維護時，定量決定體液 中的刀析物十分重要。例如，對於特定的人，應監視乳酸 -膽固醇及膽紅素。特定言之，糖尿病的人重要的係經 常監視其體液中的葡萄糖量以便管理其量。此類測試之結 果可用於決疋需要投與哪些（前提係存在）姨島素或其他藥 物在一類a糖測試系、统中M吏用感％器來測試一血液樣 本。 一測試感測器包含與血糖反應之生物感測或試劑材料。 在某些機制中，該感測器之測試端係調適成置入受測試的 :免體，例如，在割破手指後已累積於人的手指上之血液。 藉由毛細官作用將該流體吸入在感測器内從該測試端延伸 至=試劑材料之-毛細管通道，以便將欲職之^夠數量 的机體吸入該感測器。接著該流體與該感測器内的試劑材 ;;予反應而產生扣示文測試流體中的葡萄糖濃度之電信 號。此信號係經由位於該感測器的後部或接觸端附近之接 觸區域提供給該計量器而變成測量的輸出。在其他機制 123261.doc 200817675 中a亥感測Is具有一式劑區域，在該區域上塗敷該血液。 所產生的化學反應產生一色彩變化。當該感測器係插入一 儀器時，可以對該色彩變化作光學測量並將其轉換成一相 等的葡萄糖濃度值。 診斷系統（例如血糖測試系統）一般依據一測量的輸出及 用於實行該測試的試劑感測元件（測試感測器）之已知反應 來计算實際的葡萄糖值。可以採取數個形式（包括其輸入

U 進該儀器之一數字或字符）將該測試感測器之反應或批次 校準資訊給予使用I。用以校準包含於一封裝内的測試條 之另-方法係將-校準晶片包括於插人該測試冑器之感測 器封裝内。當插人該儀器時，該校準晶片之記憶體元件係 與該儀器之微處理器板電性耗合以直接讀取該儀器所儲存 的校準資訊。 此等方法之缺點係依賴使用者來正確輸人該校準資訊， 其中有些使用者可能根本不輸入或可能不正確輸入。在此 情況下，該測試感測器可能使用錯誤的校準資訊而因此返 回-錯誤結果。在將-校準晶片包含於該感測器封震内之

情況下，可能容易遺失或誤置該校準B Λ仅旱日日片，而導致無法經 由該校準晶片輸入該感測器資訊。 改良的系統使用貼附於-感測器昆之—自動校準標藏。 在將該匣載入該計量器時自動讀 …故 取该自動校準標籤而不需 要任何額外的使用者介入。但是 疋’此一自動校準方法 一可以载入該計量器之匣，其可 」Μ為儲存的感測器 穩定性提供環境保護，而且其可 ， 供對該等感測器之自 123261.doc 200817675 動接取。在此一 E之更簡單形式中將感測器密封於個別的 隔間内，從而一般極少提供或不提供改變可以封裝的感測 器數目之靈活性而最大值受最大可接受匣尺寸之限制。具 有堆豐於一共同隔間内的感測器之匣可以支援更大且可變 數目的儲存的感測器，但在擷取第一感測器後難以提供一 良好的裱境密封，其具有與自動的感測器接取相關聯之技 術複雜性及成本，而且在更簡單的形式中在可以封裝的感 測器數目方面可能並不靈活。 需要提供一種以一可靠方式將該測試感測器的批次校準 資訊提供給儀器或計量器而不具有自動匣的複雜性、成 本限制且無需由使用者手動輸入校準資訊而且不需要一 可能遺失的分離校準晶片之裝置及方法。對於設計成與封 裝於一瓶或其他容器内的個別感測器結合工作的系統，此 尤其符合需要，該瓶或其他容器係與該儀器分離且在感測 r數目方面具有靈活性，該等感測器可能係封裝而非在一 專用匣（其係载入該儀器用以進行自動的感測器分配）内。 【發明内容】 一依據本發明之一具體實施例，揭示一種用以決定在一流 二樣本内之一分析物濃度之測試系統。該測試系統包含一 感測器容器與一測試裝i。該《測器纟器具有一基底與一 蓋且係調適成將複數個測試感測器封閉於其中。該感測器 容器包含附接於其之-校準標籤。該校準標籤包括位於其 上，複數個電接點。該等電接點係調適成將校準資訊編碼 至該校準標籤上。該測試裝置具有_形成於其上的感測器 123261.doc 200817675 谷益開口。該感測器容器開口具有一位於其中的自 特徵。該自動校準特徵在該測試裝置外部。該自動校準特 被包括調適成與在該校準標籤上的複數個電接點通信之複 數個校準件。該測試裝置係調適成回應該等校準元件盘 該等電接點之接合|、本# Μ 務口术决疋編碼於該校準標籤上的校準資 訊。在決定經編碼的校準資訊時該感測器容器之-部分保 持於該計量器外部。 攸料發明之另-具體實施例，揭示-種用以決定-流 體樣本内之-分析物濃度之測試系統。該測試㈣包含一 感測器與一測試裝置。該感測器容器具有一基底盥一蓋。 該感測器容器包括祕於其之—校準標鐵。該校準標鐵包 括位於其上的複數個電接點。㈣數個電接點之一第一電 接點係經由-導電線路而連接至—第__環，該複數個電接 點之一第二電接點係經由一導電線路而連接至一第二環， 而違複數個電接點之-第三電接點係與該第—&第二環斷 開。依據該等電接點與該第—及第二環之連接與斷開將該 校準資訊編碼至該校準標籤上。該測試裝置具有一在内部 位於其中之微處理器與一在其上形成之感測器容器開口。 該感測器容器開口具有一位於其中的自動校準特徵。該自 動校準特徵在該測試裝置外部並包括調適成與該校準標籤 上的複數個電接點通信之複數個校準元件。該微處理器係 調適成回應該複數個電接點與在該測試裝置外部的複數個 校準元件之接合來決定編碼於該校準標籤上的校準資訊。 本發明之以上概述並非意欲代表本發明之各項具體實施 123261.doc •9- 200817675 例或每一方面。從下述詳細說明及圖式可明白本發明之額 外特徵及優點。 【實施方式】 在一具體實施例中，一儀器或計量器使用一調適成接收 一欲分析之流體樣本之測試感測器與一調適成實行一預定 義測試序列來測量一預定義參數值之處理器。在將該測試 感測器插入該計量器之前從一感測器容器移除該測試感測 裔。一記憶體裝置係耦合至該處理器以儲存預定義的參數 資料值。可以在接收欲測量的流體樣本之前，藉由該處理 器來讀取與該測試感測器相關聯之校準資訊。可以在接收 欲測里的流體樣本之前或之後但並非在已決定該分析物的 濃度之後，藉由該處理器來讀取校準資訊。在測量該預定 義參數資料值時使用校準資訊來補償測試感測器之不同特 徵，該等特徵將隨不同批次而變化。該校準資訊係包括於 在該感測器容器外部上之一校準標籤上，且係由位於該計 篁器之一外部部分上之一自動校準特徵決定。 現在來看圖式而首先請看圖la至b，解說可以與本發明 組合使用之一積量器1〇。該積量器10包含一外殼12、一採 血機構14、一測試機構16、一顯示器1 8及一按鈕組20。應 庄^ 該積里器10係解說為調適成用於本發明之一特定儀 斋或汁量器之一範例，但是，還可以將能夠對一流體樣本 實灯一分析之其他儀器、計量器或測試裝置調適用於本發 明。 該顯示器18係用於顯示所決定之濃度並向該測試對象提 123261.doc -10- 200817675 供其他資訊。該測試對象可以藉由利用該按紐組2〇來與該 積量器ίο互動》該採血機構14之一外部部分22位於該外殼 12之測忒端24上。该採血機構14係部分封閉於該外殼η 内’該外殼12具有—採血端㈣，該採血端帽⑽以可移 除方式附接於與該外殼12相對的該採血機構14之外部部分 22…滑件28位於該外殼12之外部上且係操作地連接至該 採血機構14以使得該採血機構14豎起。 該採血機構14係用於藉由一以可移動方式附接的切刀 30(例如，柳葉刀）切開一測試對象之皮膚。該採血端帽％ 具有中〜孔彳m請測試對象無意巾接觸位於其中之 切刀30。該切刀3G係調適成從該測試對象獲得—流體樣 本。在使用時，利用該滑件28來讓該採血機構14暨起，即 將該切刀30進一步移入該外殼12。在該外殼12之外部上提 供一射出按鈕，其在按下時將射出豎起的採血裝置14。可 以令該端帽26之一面34接觸到該測試對象之皮膚。接著可 以射出該採血裝置14(藉由按下該射出按鈕32)而使得該切 刀30從該端帽26延#並刺穿該測試對象之皮膚。該採企機 構14與該測試機構丨6相鄰以便於並行採血與測試，從而令 所要求的使用者組件操控位準減低。如圖丨所示，該測試 機構16係成角度地對準於該計量器1〇上以在需要之時促進 替代性的定點測試。但是，該積量器丨〇的組件之位置及 互動可以改變，而無需為理解本發明而對各種組態進行更 詳細的說明。 該/則忒機構16包括一在該外殼12的測試端24中形成之一 123261.doc • 11 - 200817675

測試感測器開口 36。該測試感測器開口 36係調適成將一測 試感測器3 8固定於其中。該測試感測器3 8包含位於其上之 至少一试劑’該試劑係調適成與一流體樣本内之一所關注 的分析物反應。可以由該測試對象將該測試感測器38固定 於該測試感測器開口 36内。一旦固定，便將該測試感測器 38連接至在該積量器1〇内的電路8 〇(圖4)，該積量器1〇係調 適成實行一流體樣本内之一分析物濃度之一電化學決定。 或者，可以將一光學讀取頭連接至該積量器之電路，而可 以在該光學讀取頭附近插入一光學測試感測器以允許從光 學上決定一流體樣本之一分析物濃度。提供一彈出機構 以允許該測試對象在一旦實行該流體樣本分析之情況下便 從該積量器10移除該測試感測器38。 該積量器10包括在該外殼12之—外部部分66上之一自動 校準特徵64(參見圖lb)。該自動校準特徵64係調適成與位 於-感測器容器H)()(圖5)上之—校準標籤_下面圖5至9 所示）互動。肖自動校準特徵64包括複數個校準元件，例 如從該自動校準特徵64之—部分略微延伸之校準接針6卜 此類校準接針68可以載㈣簧以確保可#的連接，並且， 應連接而要&跨該等接點將該校準標籤丨％滑人到適當位 置，則此類校準接針68可以係錐形或圓形以減小干擾。儘 管圖示具體實施例顯示包括於該自動校準特徵⑽並實質 上以-圓形配置來配置之十個校準接針⑼，則應注意該等 若干自動校準接針可以相對於圖叫示的該些自動校準接 針而發生數目與形狀之變化。 123261.doc -12· 200817675 該自動校準特徵64還可以包括位於其中之—感測接針 7〇。可以提供該感測接針70來偵測何時令一校準標籤 106(圖5)接觸到該自動校準特⑽。可以採用機械方:實 現該校準標籤106之積測，比如透過閉合一推鈕開關接 點’或者採用電性方式，比如透過在-感測接點H0(圖6b) 與一或多個電接點108(圖5及6b)之間建立的一電連接。一 一偵/則到接觸，該複數個校準接針68便可以決定包含於該 p 校準標籤106上的自動校準資訊。該自動校準特徵64進一 1 纟包括調適成辅助使用者藉由該自動校準特徵64内的複數 個校準接針68將該校準標藏1〇6定向之一或多個定向特徵 72將、纟σ合圖5至9來詳細說明該校準標籤〗〇6。 如上所述，該積量器10包括電路8〇(圖2)。該電路8〇包 括用於操作該積1器1〇之各種電子元件與電組件。該電路 係連接至該顯示器18以及該測試機構16。另外，該電路80 係以通信方式麵合至一記憶體裝置84。該記憶體裝置料係 ，儲存資訊，例如，所決定的分析物濃度、該流體樣 本是否係從一替代性的測試點收集、曰期與時間資訊、針 對預定義校準碼之查找表等。該記憶體裝置84 一般係一非 揮發性記憶體，例如EPR〇M(可抹除可程式化唯讀記憶體） 或EEPROM(電性可抹除可程式化唯讀記憶體)。—電池(未 顯不）般係用於給該積量器10内的電路及顯示器18供 電。 同樣參考圖2，解說依據本發明之一具體實施例表示該 積量器10的電路80之一方塊圖。該電路8〇包括連同用以儲 123261.doc -13- 200817675 存程式及使用者資料的相關聯之記憶體裝置84之一微處理 器82。藉由該微處理器82來操作地控制耦合至該測試感測 器38之感測器測量電路86以記錄血糖測試值。一電池監視 功能88係耦合至該微處理器82以偵測一低電池（未顯示）條 件。一警告功能90係耦合至該微處理器82以偵測預定義的 系統條件並針對該積量器1〇的使用者而產生一警告指示。 一資料埠或一通信介面92將資料耦合至一外部裝置（例 如，電細、膝上型電腦、個人數位助理、遠端伺服器、一 與網路連接的裝置等），或從一外部裝置耦合資料。該通 化介面92允許該外部裝置至少存取儲存於該記憶體裝置中 的为析物濃度。該通信介面92可以係允許該積量器丨〇與一 外部裝置（例如，一標準串列埠、一紅外線射極/偵測器 璋、一電話插座、一射頻發射器/接收器埠、一數據機、 一可移除記憶卡或裝置等）通信之任何數目的裝置。該電 路還可包括用以實施程式之ROM晶片。 一開/關輸入94回應於使用者對該積量器1〇之開/關操作 且係耦合至該微處理器82，以實行該積量器1〇之血液測試 序列模式。該感測器測量電路86還可以偵測一測試感測器 3 8之插入並驅使該微處理器82實行該血液序列模式。一系 統特徵輸入96係耦合至該微處理器82以選擇性地實行該積 里器10之一系統特徵模式。依據本發明之一具體實施例， 一自動校準輸入98係耦合至該微處理器82(例如，透過諸 如圖6a及7a所示之介面電路）以偵測一感測器容器1〇〇(圖5) 上的自動校準已編碼資訊。該微處理器82包含合適的程式 123261.doc -14- 200817675 化以決定應用於該測試感測器38之一流體樣本之一分析物 濃度。 為決定一流體樣本内的分析物濃度，可以使用一電化學 感測器。需要由該電化學感測器提供可靠而可重製的測 量。現在參考圖3，依據一具體實施例，一測試感測器38 包含一絕緣基底42，在該絕緣基底42上依序印刷（一般係 藉由網版印刷技術）一電導體圖案44、一電極圖案（部分46 及48) ' —絕緣（介電質）圖案5〇及一反應層54。該電化學感 測器之基底為該流體測試樣本提供一流動路徑。圖4中顯 示該測試感測器38，其中該基底42上的所有元件皆係顯示 於相同平面内。

該反應層54之功能係將該流體測試樣本中的葡萄糖或另 一分析物按化學計量轉換成一化學物種，可以藉由該電極 圖案之組件按照由該化學物種產生的電流來對該化學物種 進行電化學測量。該反應層54—般包含—生物感測或試劑 材料，例如酵素及一電子受體。更明確言之，該反應層54 包含：與該分析物反應之一酵素，用於在該電極圖案上產 生行動電子；及一電子受體(鐵氰化鹽)，用於將該等行動 電子載送至工作電極之表面。肖電子受體可稱為一中介 物，其中回應於該分析物與該酵素之間的—反應而減少該 :介物。可以將反應層中的酵素與一親水聚合物(例如聚 =稀)組合。可用於與葡萄糖反應之—酵素係葡萄糖 =。預期可以使用諸如葡萄糖去氣酶之類的其他酶。 μ電極圖案之兩個部分46、48提供以電化學方式決定該 123261.doc 200817675 分析物所需要之個別工作與反電極。該工作電極46a一般 包含與該分析物反應之一酵素。該等工作與反電極可以經 組態成令該反電極48a之主要部分位於從一工作電極46a的 曝露部分起之下游（按照流體沿該流動路徑流動之方向）。 此組態允許該測試流體樣本完全覆蓋該工作電極46&之曝 露部分。 但疋，一反電極子元件48a可以係定位於從工作電極上 部元件46a起之上游，以至於足以完全覆蓋該工作電極之 一數罝的流體樣本（例如，一全血樣本）進入毛細管空間 時，由於該流體樣本之導電率而在反電極子元件48a與該 工作電極46a的曝露部分之間形成一電連接。但是，可供 該流體樣本接觸的該反電極之區域很小以至於僅一很微弱 的電流可以從該等電極之間通過並由此穿過電流偵測器。 藉由將該電流偵測器程式化成在接收信號低於一特定的預 定位準時發出-錯誤信號，該感測器裝置可以通知該使用 者到達該感測器腔之血液不足而應實施另一測試。 該等工作及反電極包括電極墨水。該電極墨水一般包含 電化學活性碳。該導體墨水之成分可以係碳與銀之一混合 物，該混合物係選擇用於在該等電極與該計量器之間提供 一低化學抗性路徑，其經由與在該感測器之一尾端％的導 電圖案之接觸而與該計量器形成操作性連接。該反電極可 由銀/氣化銀或碳組成。為提高計量器讀數之可重製性， 該介電圖案將該等電極與該流體測試樣本絕緣，但在該電 極圖案52的中心附近之一已定義區域内除外。在此類電化 123261.doc -16- 200817675 學決定中，一已定義區域很重要，因為測量的電流與該分 析物濃度及曝露於包含分析物的測試樣本之反應層之面積 相關。 一典型的介電層50包含UV固化型的丙烯酸酯改性聚氨 酉旨。一蓋或覆蓋物58係調適成與該基底匹配以形成一空間 來接收該流體樣本，該計數器及工作電極位於該空間中。 該蓋5 8提供一凹陷空間60，而且一般係藉由將一可變形材 料之平坦薄片壓花形成。將該蓋58穿孔以提供通氣孔62， 並在一密封操作中將其與該絕緣基底42接合。可以藉由音 波焊接將該蓋58與該基底42密封在一起。可以藉由在該蓋 之下側上使用一黏合材料來接合壓花的蓋與基底。美國專 利案第5,798,031號更全面地說明接合該蓋與基底之方法， 其全部内容係以引用的方式併入於此。 適用於絕緣基底42之材料包括聚碳酸酯、聚對苯二甲酸 乙二脂、尺寸穩定的乙烯基與丙烯酸聚合物以及諸如聚碳 西文S曰/聚對苯二甲酸乙二脂及金屬箔結構（例如，一尼龍/鋁/ 聚氣乙烯層壓物）之類的聚合物混合物。該蓋一般係由一 可變形的聚合薄片材料（例如聚碳酸酯）或一可壓花等級的 聚對苯一甲酸乙二脂、乙二醇改性聚對苯二甲酸乙二脂或 一金屬箔組成物（例如，一鋁箔結構）製成。該介電層可由 丙烯酸酯改性聚胺酯製成，該丙烯酸酯改性聚胺酯可藉 由UV光或I氣或一可熱固化的乙婦基聚合物來固化。 預肩可以將其他電化學感測器用於本發明。可用於測量 葡萄糖濃度的電化學感測器之範例係用於8_公司的 123261.doc -17- 200817675 DEX®、DEX II®、ELITE®及 ASCENSIA® 系統之該些電化 學感測器。關於此類電化學感測器之更多細節可參見美國 專利案第5，120,420及5,320,732號，該等兩個專利案之全部 内容係以引用的方式併入於此。該等電化學感測器之一或 多者可從Matsushita電氣工業公司購得。美國專利案第 5,798,031號中揭示另一電化學感測器，其全部内容係以引 用的方式併入。美國專利案第5,429,735號揭示可用於安培 計監視系統之一電化學感測器之另一範例。預期可以將其 他生物感測器用於本發明。 儘管已相對於電化學測試系統來說明上述測試感測器38 及積里器1 0，但應瞭解本發明可結合光學測試系統或其他 測試系統操作。該等電化學、光學或其他感測器可以係儲 存於一感測器容器（例如瓶或匣）中。 現在來看圖5，解說依據本發明之一具體實施例之一感 測器容器100。該感測器容器100包括一基底1〇2與一可移 除方式附接的蓋104。該基底102係調適成當該蓋1〇4係附 接於其上時，封閉複數個測試感測器（例如，測試感測器 38)。該感測器容器100辅助抑制該外部環境對該等測試感 測器38之污染。當-測試對象希望實行—分析物決定時， 將該複數個測试感測器3 8之-測試感測器從該感測器容器 1〇〇移除並將其插入該積量器1〇(如圖^至^^所示）。 該感測器容器100還包括位於其上之校準標籤1〇6。如圖 所示，該校準標籤1〇6可位於該蓋1〇4之一部分上。或者， 該校準標籤1〇6可位於該基底1〇2或該蓋1〇4之另一部分 123261.doc 200817675 上。應瞭解’該校準標籤1〇6在該感測器容器1〇〇上的位置 可以改變’只要該校準標籤106能夠接觸該積量器10之自 動杈準特徵64(圖lb)即可。指派用於臨床數值計算以補償 測试感測器38之間的製造變化之校準資訊或碼係編碼於該 校準標籤106上。 該校準標籤106係用於使得傳送校準資訊（例如，針對該 測試感測器38之批次特定試劑校準資訊）之程序自動化以 便可以結合不同的儀器或計量器使用該等測試感測器38。 在令该校準標籤106接觸到該積量器1〇之自動校準特徵以 夺該衩數個自動校準接針6 8之一或多個接針與該校準標 籤1〇6電性耦合。依據一方法，使用電流讀數及至少一等 式來決定一流體樣本之一分析物濃度。在此方法中，使用 來自該校準標籤i 06之校準資訊或碼來識別等式常數。可 X藉由以下方法來識別此等常數：（a)使用一演算法來計算 該等等式常數，或者（b)針對從該校準標籤1〇6讀取之一特 定的預定義校準碼，從一查找表擷取該等等式常數。可以 藉由數位或類比技術來實施該校準標籤1〇6。在一數位實 施方案中，該積量器10輔助決定沿選定位置是否存在傳導 性以決定該校準資訊。在一類比實施方案中，該積量器ι〇 輔助測量沿選定位置的阻抗來決定該校準資訊。 該校準標籤106包括位於其上的複數個電接點1〇8。如圖 所示，該複數個電接點108一般圍繞一選用感測接點11()。 在提供一感測接點11〇之具體實施例中，該感測接點ιι〇係 調適成接合該自動校準特徵64之感測接針7〇以向該微處理 123261.doc -19- 200817675 器㈣示能夠決定提供於該校準㈣⑽上的 於感測接針70與任何其他電接請 之間的電連㈣來決定該校準標籤⑽與該自動 =間的㈣。在圖示具體實施例中，該校準0 括位於該複數個電接點108的兩個電接點之間 置112°該自動校準特徵6何以利用該索引位置112來決定 在可以相對於該自動校準特徵64對該校準標籤⑽作一個

以上定向之情況下於何處開始獲得來自該校準標藏106之 自動校準資訊。 該感測器容器100還可以包括_或多個定向特徵114，如 圖5所示。該感測器容器100之一或多個定向特徵114係調 適成接合該自動校準特徵64之定向特徵72(圖比）。如圖所 示，該一或多個定向特徵114係在該感測器容器1〇〇的蓋 104中之凹痕該荨凹痕係調適成接合形成該等自動校準 特徵的定向特徵72之複數個片。當該等片係插入該等凹痕 時，將令该感測器容器110之校準標籤1〇6與該積量器1〇之 自動校準特徵64正確對準。但是，應注意，可以採取機械 定向特徵之替代性實施方案。 現在來看圖6a ’解說依據本發明之一具體實施例用於一 數位校準方法之一將該微處理器82連接至該校準標籤1〇6 之數位電子電路130。如圖所示，來自該微處理器82之十 個數位輸出信號（〇A至OJ)經由十個場效電晶體 (FET)134(TA至TJ)之一對應電晶體而透過十個驅動器 132(DA至DJ)連接至十個校準接針68(PA至PJ)。該等十個 123261.doc -20- 200817675 校準接針68連接至向該微處理器82提供十個數位輸入信號 (IA至IJ)之十個接收器136(11八至RJ)。每一接收器具有連接 至一供應電壓（vcc)之一相關聯之上拉（PU)138。該等校準 接針68(PA至PJ)電性連接至在該校準標籤1〇6上的其他電 接點108。 為讀取該校準標籤106之一接觸圖案，該微處理器82開 啟該等驅動器132之一，所有其他驅動器132係關閉。受致 能的驅動器132向相關聯的校準接針68提供一低信號。直 接連接至相關聯的校準接針68之受致能的驅動器i之對 應接收器136讀取為一低信號，因為此特定驅動器132與接 收器136係直接連接。相關校準接針68同樣係藉由該標籤 圖案而驅動為低位之所有其他接收器136同樣係讀取為一 低信號。所有剩餘的其他接收器136因相關聯的驅動器η] 並未開啟而相關聯的上拉138將該接收器電壓拉至vcc， 故而讀取為一高信號。 見在參考圖6b ’其中顯不—解說本發明之經校準編碼的 校準標籤106之一較佳配置。依據一具體實施例，該經校 準編碼的校準標籤106係用於使得關於指派給相關聯的測 試感測的減料試劑校準之資訊料之程序自動 化。例如，可以將如圖6b所示之自動校準資訊編碼進位於 該感測器容器100上的校準標籤1〇6，該感測器容器⑽封 閉具有#同來源或批次之複數個測試感測器％。在任何 角度位置讀取該校準標籤1G6並藉由該積量器㈣破解， 而無需使用者作任何介入。經由提供於預定位置的複數個 123261.doc -21 · 200817675 電接點108來讀取該校準標籤1〇6。該等電接點ι〇8之選定 電接點係藉由一導電線路12〇連接至一内部環116。其他電 接點108係藉由一導電線路12〇而連接至一外部環ιΐ8，而 其他電接點108未連接至該内部環116或外部環118。該（等） 未連接的接點可用於建立相對於該自動校準特徵64之該標 籤的定向，而連接至該内部環116及該外部環118之電接點 108可用於編碼校準資料。 可以採用若干數位與類比配置來定義該校準標籤1〇6。 可藉由將導電墨水網版印刷到該基底基板（其可以係一分 離的基板）或感測器容器100(圖5)上來構造該校準標籤 1〇6。可以使用一黏合劑（例如，一熱熔、⑽固化或快速固 化的黏合劑）或經由其他附接構件將一分離基板附接於該 感測器容器100。定義該校準標籤106之一導電墨水可以係 石反、銀或一碳/銀混合墨水。該基板可以係包括紙 '聚 合物填充的紙或聚合物基板之任何印刷可接受的表面，而 在某些具體實施例中係一熱穩定的聚對苯二甲酸乙二酯 (PET)或聚碳酸酯。針對一特定的測試感測器批次，可以 藉由用一雷射（例如一 〇〇2或Nd:YAG雷射）印刷或切割線路 進行直接編碼來定義數位校準編碼。在替代性具體實施例 中可以利用一金屬膜（例如一薄鋁膜）來形成該等線路， 並可以藉由一雷射來對其進行切除以形成一校準圖案來編 碼該校準資料。可以使用如圖所示及相對於圖以至4所說 月之一類比系統，其係基於選擇性地位於預定義位置（例 如，表示為線152)並連接至選定接點〇、j、j(如圖几所示） 123261.doc -22· 200817675 之測量電阻器。 圖⑼解說料該校準標籤剛之—範例性線路圖案。如 圖6b所示，該校準標鐵1〇6包括三組接點連接··第 點 108，即a、C、p rnT ^ m E、G及I，其係連接至表示一邏輯！之外 部環或路徑；第二電接點108,即B、D、F及H，皇係連接 至表示-邏輯〇之内部環或路徑116;以及第三空接點或無 連接（例如’索引位置112)，表示本地位置或同步。應瞭 解，該等内部及外部環116、118不必係完整的環或圓:電 接點⑽與形成料㈣及外部環116、118之導電線路12〇 系：導電材料製成。該等電接點1〇8之位置係與併入該 積量器1〇的自動校準特徵64之校準接針68(顯示於圖lb)對 準以形成電接觸。儘管在某些具體實施例中，該校準標藏 1〇6可以係定位於多個旋轉位置之任一位置，但是當讀取 該校準標鐵Π)6時該等電接點！㈣始終與在該積量器1〇上 的校準接針68對準。圖6e之表應用於圖⑼之校準 106 ° 該索引位置U2可包括與該等電接點1〇8類似之同步接 點。該同步t接點108並非顯示於該校準標藏1〇6上，因為 其並非連接至該複數個電接點⑽之任何其他接點。可以 採取具有多個同步接點之替代實施方案。可以視需要將特 定接點1G8指定用於始終連接至内部環ιΐ6或外部環川。 圖6B中，標記為〗的接點係顯示為始終連接至該外部環 118。標記為之電接點1〇8連接至在一未程式化標鐵 中的兩個環。以所印刷的導電標籤材料來製造一切口以將 123261.doc -23- 200817675 該接點與該内部或外部環116、118斷開，以將該校準碼程 式化進該校準標籤1〇6。電接點108A至Η中的每一電接點 可以係連接至任一環，此表示28(即兩百五十六）個可能的 組合。一般不允許：碼〇(Α至Η皆係連接至内部環）；碼 127、191、223、239、247、251、253及 254(Α至 Η 中僅一 者係連接至邊内部環）及碼2 5 5 (Α至Η皆係連接至外部環）， 因此可以藉由經校準編碼的校準標籤1〇6將兩百四十六個 碼程式化。

為決定哪些電接點108係同步接點（例如，索引位置ιΐ2) 及哪些電接點108係連接至該等内部及外部環116、118， 將處於時間之一電接點108設定為一低輸出（零）。與該低 接點處於同一環116、118上的任何電接點1〇8亦將標示為 低此係由於在該校準標籤106上的導電線路所提供之電 連接。由於該（等）同步接點並未連接至任一環110、118, 因此其在設定為低時係標示為唯一的低接點。此表示必須 有至少兩個接點連接至該等内部與外部環116、u8二者， 否則便無法決定哪些接點係同步接點。 用乂决定4自動;^準數目之—方法可以使用比該校準標 籤1〇6的同步接點數目多兩個之讀數。該等讀數中的每一 ㈣係針對該等電接點⑽之-組電接點：連接至該内部 % 116之该組電接點、連接至 狡主这外部％ 118之該組電接點， 而一組電接點係針對每一同 ^ 乂接點。在擷取此最小數目之 口貝數後’可以決定與該等四纟雷 、、且寬接點中的每一組對應之電 接點108。在利用僅一單一 」^位置之情況下，可以採用 123261.doc -24- 200817675 >達二個的讀數來實現解碼。若有兩個同步接點，則需要 四個讀數。決定該等同步接點之位置，並將此與來自連接 至該内部環116之該組電接點之讀數結合使用以決定該自 動权準數目。將連接至該内部環116之電接點1〇8視為邏輯 零’而將連接至該外部環i丨6之電接點視為邏輯一。 k疋的預疋義之經校準編碼圖案由該等電接點1 〇 8組 成’該等電接點108係藉由導電的内部及外部環1 i6及1 i8 而互連。選擇性地使用在該校準標籤1〇6上之電性互連的 各組接點來編碼校準資料。一或多個空接觸位置i丨2係與 兩環116及11 8隔離以用作一旋轉位置索引。相對於該同步 位置（表示為接點I)而處於某一已知位置的電接點ι〇8之一 電接點連接至該外部環118，因此與此接點1〇之所有連接 皆係邏輯一。 為偵測與該内部環116或外部環118之一連接，需要與該 環之至少兩個連接來偵測連續性。其餘電接點1 〇8係連接 至一環或其他環116及118，該特定連接圖案識別該校準 碼。為使仔標臧存貨最小化，有利地使用一單一圖案並隨 後進行打孔或切割以選擇性地將八個墊（位置A至η)之每一 塾與該4兩個環116或118之一環隔離。所有電接點log (位 置A至Η ’除索引或空位置外）皆係連接至該等兩環丨丨6、 11 8中的一環且係僅一環。最少兩個電接點ι〇8係連接至每 一環116、118。此配置促進進行錯誤檢查，因為必須在兩 個連續性群組之一群組中考量所有該等電接點1〇8(除該索 引位置112外）才會將一讀數視為有效。當所有接點皆呈現 123261.doc -25- 200817675 為一同步接點時偵測到一丟失的校準標籤106(即，由於該 校準標籤106所提供的連續性丟失而在校準接針68之間沒 有電連接）。

在一數位編碼方法中，將表示0與1之一系列開放與閉合 電路引入該校準標籤106上。藉由雷射切割或印刷將一數 位校準標籤1 〇6編碼成表示由與該内部環^ 16的連接決定之 特定的校準碼編號，例如，其中A表示丨，B表示2，c表 不4, D表示8, E表示16, F表示32, G表示6“H表示 =8。圖6c中，接點B、D、E&F係連接至該内部環ιΐ6以 定義該校準碼編號。 該微處理器82將-電接點1〇8或位元組態為低，而其他 剩餘的電接點U)8為高。電性連接至特定的受驅動電接點 1 一〇8之所有電接點1〇8係壓⑯，而剩餘的電接點⑽係拉 高。藉由選擇性地驅動該等電接點1〇8並讀取所產生的輸 入圖案’來決定該互連圖案及相關聯的校準碼。儘管使用 唯的索引位置112(藉由與另一接點無連接來定義）來決定 該校準標籤Η)6之旋轉位置以便可以識別電接點刚(A至 D’但應瞭解可以使用採用唯一位元圖案之其他組態來編 碼起始位置與該校準碼。但是，其他二進制編碼方案可以 、十對”有相同數目電接點m之校準碼編號而提供更少的 ^ 中刀別解說用於對該校準資訊進行編碼之替代 f生的經編碼校傘許忽； ^ +钻織106b。在任何校準標籤106及106b 々”、彼此相對之實際實體位置對於解碼該校準標 123261.doc -26- 200817675 籤106而a並不重要，只要其處於已知或預定義的位置即 口Τ ° 參考圖6d及6e，十個電接點1〇8係表示為接點a至接點 J。如圖6d所示，有接點連接之三個群組或集合，其包括 兩個索引位置112b(同步）、外部環118(外部）及内部環 116(内部）。圖6d係針對具有十個接點八至】之經校準編碼 的校準標籤106b，其中接點j係同步}，接點A係同步2，而 一接點必須係聯結至外部環而顯示為接點〗，而剩餘的八 個接點BSH係連接至該内部環116或該外部環118。該等 八個接點B至J(碼〇至255)表示：256(28)個可能的連接組 合，減去針對僅一内部環連接之八個組合（碼127、191、 223 ' 239 ' 247、251、253、254)，減去針對僅一外部環 連接之一組合（碼0)。該校準標籤1〇6b提供針對該校準編號 之247個唯一的組合或碼。 在一特定校準標籤106上的校準碼還可用於在數種類型 /貝J β式感測器38之間進行區分。假定感測器類型，，A”需要十 個校準碼，感測器類型”Β”需要二十個校準碼，而感測器 類型”C”需要三十個校準碼。可以指派自動校準碼，因此 碼一至十表示具有類型"A”校準碼一至十之一類型”A”感測 器，私籤碼十一至三十表示具有類型，，B"校準碼一至二十 類i B感測器，而標籤碼三十一至六十表示具有類 型校準碼一至三十之一類型"C"感測器。在此範例中， /才丁籤碼扣示該感測器類型以及與該感測器類型相關聯之 校準碼。 123261.doc -27- 200817675 圖6d中’該等校準標籤106b之替代性類型i、2、3及4包 括兩個同步位置112b。在類型丄校準標籤i嶋中，使用兩 個相鄰的同步位置。對於類型“交準標籤i〇6b，兩個相鄰 的同步接點係J與A，一接點j係聯結至該外部環ιΐ8，而七 個剩餘的接點3至H係連接至該内部《外部環、⑴。 七個接點表不：128(27)個可能的連接組合，減去針對僅一 内部％連接之七個組合，減去針對僅一外部環連接之一組 口類型1經校準編碼的校準標籤1 〇6b提供120個針對該校 準編號之唯一組合。 對於類型2、3及4校準標籤i〇6b，該等兩個同步接點之 相對位置可用於提供額外資訊。同步接點組合埃A(無間 隙）類型1、J與B(—間隔之間隙）類型2、】與c(兩個間隔之 間隙）類型3及J與D(三個間隔之間隙）類型4可以係偵測為唯 一而用於在四類型校準標籤1〇6b之間進行區分，每一經校 準編碼的校準標籤1061)對12〇個唯一組合進行編碼。不^ 對同步接點組合J與E、J與F、J與G、J與Η及J與I作唯一區 分。使用校準標籤l〇6b之四類型i、2、3及4而提供總共 480(4* 120)個針對該校準編號之組合。 可以提供其他校準標籤1〇6，其中使用三個或更多同步 接點之相對位置來產生唯一圖案。例如，在連同該外部環 118之三個同步接點及一與該外部環118聯結之一接點，六 個接點保持連接至該外部或内部環丨丨6、丨丨8。該等六個接 點表示··六十四（26)個可能的連接組合，減去針對僅_内 部環連接之七個組合，減去針對僅一外部環連接之一組 123261.doc -28- 200817675 合，從而留下五十六個唯一組合。有許多方法可以對三個 同步接點作唯一的放置：j、A與B; j、A與c;卜A與D; J、A與E ; J、A與 F，· J、A與G ; J、A與η ; j、;】、 B與E等等。對於兩個同步接點，此等同步接點組合可以指 示不同類型的標籤以及（例如）識別欲藉由該積量器1〇來實 行的多類型分析之一類型。 還參考至g ’解說㈣本發明之—具體實施例之一 數位自動校準編碼標籤106c。該校準標籤1〇^利用僅一單 索引位置112 c來使得旎夠編碼至該等電接點1 〇 8 c上的資 訊最大化。在某些具體實施例中，可以利用更多索引位 置。在圖示具體實施例中’該感測接點丨…係藉由一電線 路120c連接至該内部環丨丨6c或該外部環丨丨8c之至少一環。 若該感測接點ll〇c係壓低，則至少一電接點1〇以係拉低。 在此實施方案中’拉低的至少—電接點職可用作對該校 準標籤106c與該自動校準特徵64接觸（圖lb)之一指示。依 據一具體實施例，該感測接點u〇c係位於與該校準標籤 106c相對於該自動校準特徵64的定向無關之一位置。 圖7a中，解說依據一具體實施例之一類比電子電路 15 0。該類比電子電路丨5 〇係基於測量提供於一校準標籤 1 〇6d(如圖7b中顯示得十分清楚）或一校準標鐵職(如圖Y 中顯示得十分清楚）上的電阻器152之電阻值。電阻器 152(RmR2)之電阻值提供該校準值。該中心接點與任= 其他電接點108之間的連續性可用作對該校準標籤1〇〜與 該儀器的自動校準特徵64接觸之一指示。儘管可以將該電 123261.doc -29- 200817675 阻之類比值與該校準值相關，但典型的配置係印刷具有特 定值之電阻器152。例如，為區分五個校準碼，會將五個 不同電阻值（例如，1000Ω、2000Ω、3000Ω、4000Ω 及 5000Ω)之一值網版印刷至該校準標籤106d、106e上。選擇 針對電阻器152(R1與R2)之電阻值，從而即使在因該等校 準接針68接觸該校準標籤106d、106e之情況下的印刷變化 或接觸電阻變化而可能產生該電阻變化，亦容易將藉由該 微處理器82測量到的電阻值彼此區分開。 圖7a中，解說一已知參考電壓（VREF)與具有一已知參考 電阻（RREF)之電阻器154。一類比至數位轉換器（ADC)156 將存在於其輸入處的類比電壓（標記為VMEAS)轉換成其輸 出處之一數位值（標記為（IA)，該數位值係藉由微處理器82 來讀取。一驅動器158(DA)係藉由該微處理器82透過一信 號線（標記為OA)來控制之一類比開關。該驅動器158控制 一P通道場效電晶體（FET)160，當該驅動器158關閉時令該 電阻器154 RREF保留於該類比電子電路150中，或者當該 驅動器158開啟時令該電阻器154 RREF短路。 該等電阻器152(R1及R2)之值可以係決定如下。在該驅 動器158 DA關閉之條件下，該電阻器154 RREF處於該電 路中，因此該等電阻器152(R1與R2)加上該電阻器154 RREF用作一分壓器。接著測量該電壓VMEAS並將其定義 為VOFF。在該驅動器158 DA開啟之條件下，RREF係短 路，因此該等電阻器152(R1及R2)用作一分壓器。接著再 次測量該電壓VMEAS並將其定義為VON。 123261.doc -30- 200817675 適用的等式係： [等式1] [等式2] [等式3]

VOFF= £=efVREF

DO VON =-VREF 求解等式2以得出R1 ··

Rl = R2

VREF - VON VON 將R1代入等式1並求解R2 :

R2 = RREF VON {VREF - VOFF) VREF {VOFF - VON) [等式4] REF及RREF係已知值，而VOFF及VON係測量的值。在等 式3中，代入針對R2、VREF及VON的值來計算R1。此 刻，R1及R2係已知，因此可以決定該校準值。 為區分許多校準碼，可以使用一個以上電阻器。對於具 有”m”個電阻器（其中每一電阻器可以係”η”個值之任何值） 之一校準標籤l〇6d、106e，則校準碼之數目為mn。 例如，印刷兩個電阻器152(R1及R2)而允許區分二十五 (即52)個校準碼，其中每一電阻器152可具有五個不同電阻 值之一。此可以係擴展到三個電阻器152並可以提供 125(即53)個校準碼，以此類推。 參考圖7b，解說依據一具體實施例之一兩個電阻器1 52 之類比校準標籤106d。可以將一内部電阻器152(R2)與外 部電阻器152(R1)複製十次（針對該校準標籤106d的每一旋 轉位置各一次），而僅需要三個校準接針68，如圖7a所 123261.doc -31 · 200817675 示。將該等校準接針68排成一列放置。一校準接針68(pA) 會在所有内部電阻器152(R2)之共同接面⑴處接觸該電接 點108。另一校準接針68(PB)在該内部電阻器们與該外部 電阻器152 R1之一接面⑴處接觸該電接點1〇8。該第三校 準接針68(PC)在該外部電阻器152(R1)之另一端（〇)接觸該 電接點108。 圖7b之权準標籤1〇6d之一變化可具有僅一内部電阻器 152(R2)與一外部電阻器152(R1)，而藉由連續的導電環來 形成與該等校準接針68之接觸。一環（未顯示）將處於電阻 器152(R1&R2)之接面⑴之直徑處。另一環（未顯示）將位 於電阻器B2 R1之另一端（0)之直徑處。該等導電環將由 低電阻材料製成。該等校準接針68會接觸該中心接點⑴與 該等兩個環，正如標籤106d之情況。 圖7c解說另一樣式之一兩個電阻器的校準標籤1〇讣。同 樣將該等三個校準接針68排成一列放置。一校準接針 68(PB)會在所有十個電阻器152之一接面178處接觸該電接 點108。另一校準接針68(PA)會連接至電阻器旧之端174。 第三校準接針68(PC)會與另外兩個校準接針68排成一列並 連接至處於該電阻器R2之端176的電接點1〇8。若針對電阻 R1之該組電阻值（即，nl個值）不同於針對電阻尺2之該組電 阻值（例如，n2個值），則可以區分nl*n2個不同的校準碼。 對於圖7c所示之校準標籤1〇6e，其中該等兩個電阻器 152之值係從同一組”n”個電阻中選擇，在此情況下由於該 標籤旋轉而無法區分某些組合（例如，無法將r1 = i〇〇〇q& 123261.doc -32· 200817675 心2〇0犯與仏20嶋及R2=1〇〇〇Q區分開）。該樣式的校 準標籤1〇6e之兩個電阻器(其中每一電阻器可以係％"個值 之一）之不同組合之數目係給定為以下等式： 咖一 1) 組合 2 [等式5] 同樣參考圖7d，將可以所、、私$ + _ μ 1口 所决疋之不同電阻值的數目及不同 校準碼的數目列表。 見在來看圖8&至e ’分別解說依據本發明之某些具體實 ，例之複數個校準標籤―至卜該等校準標籤施山之 每“籤包括位於一選用感測接點21〇a至C周目之複數個 電接點208a至e。該等雷接赴）^ . — 电接點2〇8a至e之母一電接點最初係 藉由複數個導電線路220a i 4 s ⑽主6而連接至一内部環216a至e盥 一外部環㈣至e。藉由移除該等導電線路遍至e之一部 分以將-或多個電接點2()8山與該内部環216山、該外 部環218山或兩钱開ϋ將該校準資訊編碼至該校 準標籤206ah上。藉由移除該等導電線路22〇山以將一 (或多個）導電接點2〇8山與該等内部環216山及該等外 部環218a至e斷開，來編碼一同步位置。 該等校準標籤206a至e之各一轳鏠目士 s , 王母 戴具有至少一標籤定向 特徵214 a至e。舉例而古 乂丄此丄— ° 針對母一校準標籤2〇6a至e，標 籤疋向mi4a_£ e之數目改變。若該等標籤定向特徵 214a至d係圍繞該等校準標籤2_至d之周邊而對稱定位， 圖至斤丁可以讓該等校準標藏至d在應用於該 積量器H)的自動校準特徵64(圖lb)之前旋轉成各種位置。 123261.doc -33 - 200817675 〇 '藉由^擇性地將一或多個同步接點與兩個標籤環隔離 來建立此等技準;^籤·&至d相對於該自動校準特徵64之 f向。或者，在圖8e中，該校準標籤2_包括在該校準標 籤206e周圍不對稱定位之複數個標籤定向特徵μ。因 此，該等標籤定向特徵214e與在該自動校準特徵M上的複 數個不對稱定向特徵72組合起來辅助確保僅在一特定方位 上將該校準標籤206e應用於該自動校準特徵㈣之複數個校 準接針68。 現在參考圖9a至9f，解說依據本發明之各項具體實施例 之複數個校準標籤306a至f。每一校準標籤3〇以至f包括複 數個電接點308a至f。圖9b、9d及9f中，複數個電接點 308b、308d、308f—般位於一選用感測接點31〇b、31〇d、 310f周圍。該等電接點3〇“至€之每一電接點最初係藉由複 數個導電線路320a至f而連接至一内部環31化至£*與一外部 環3 18a至f。藉由移除該等導電線路32(^至f之一部分以將 一或多個電接點308a至f與該内部環316a至f、該外部環 3 1 8a至f或兩者斷開’從而將該校準資訊編碼至該校準標 籤306a至f上。可以藉由選擇性地將一或多個同步接點與 兩個標籤環隔離來建立此等校準標籤3〇6a至f相對於該自 動校準特徵64之定向。 已將該等校準標籤之上述具體實施例解說為一般係圍繞 該等校準標籤而對稱。在替代性具體實施例中，該等校準 標籤係不對稱而允許藉由一積量器的自動校準特徵對該校 準標籤作僅一定向。在此等具體實施例中，該等校準標鐵 123261.doc -34- 200817675 可進一步包括標籤定向特徵 铽以辅助一使用者正確地對準該 枝準“。或者，該校準標籤之㈣卿狀可以促進正 確對準該校準標籤。 現在來看圖10，解說一可與本發明組合使用之計量器 川。該計量器41〇包含-外殼412、包括—感測器開口 416 之一測試機構、-顯示器418及—按紐組·。該外殼412 包括一第一端412a與一相對的第二端412b。該外殼412進 -步包括位於其間且一般垂直於該第一及第二端41奶 的複數個壁部分412e至卜依據—具體實施例，該顯示器 418及按鈕組420位於該外殼412之第一端41。上，而一自 動校準特徵426(圖12a)位於該外殼412之第二端412b上。在 圖示具體實施例中，該測試機構414位於連帶一感測器容 器開口 422之第一壁412c上。該感測器容器開口 422係調適 成將一感測器容器460(圖11)固定於其中。 5亥感測器谷器開口 422在該外殼412的第三壁412e及第四 壁412f之間形成一腔。在圖示具體實施例中，該第三壁 412e與該弟四壁412f包括從其所在位置突出之個別延伸物 424a、424b。該等延伸物424a、424b係調適成將該感測器 容器460(圖11)之一部分固定於其上而允許一自動校準特徵 426(圖12a)接觸位於該感測器容器460上之一校準標籤 464 〇 同樣參考圖11，解說一可與圖10之計量器410組合使用 之一感測器容器460。該感測器容器460包括一調適成封閉 複數個測試感測器（例如，圖3至4所示測試感測器38)之外 123261.doc -35- 200817675 殼462。該外殼包括一第一端462a與一相對的第二端 462b。該外殼412進一步包括位於其間且一般垂直於該第 一及第二端462a至b的複數個壁部分412c至f。依據一具體 實施例，一校準標籤464位於該感測器容器460之第一端 462a 上。 該感測器容器460包括調適成允許從該感測器容器46〇移 除該複數個測試感測器的至少一感測器之一感測器孔握 466。依據一具體實施例，該感測器容器46〇包括分別從該 感測器谷器460的第三壁462e及第四壁462f延伸之複數個 翼424a、424b。該等翼424a至b係調適成允許將該感測器 容器460固定於該計量器410上以使得位於該感測器容器 460上的校準標籤464接觸到該計量器41〇之自動校準特徵 426(圖 12a)。 現在參考圖12a至c，將解說依據一具體實施例該感測器 容器460在該計量器410上的固定。該感測器容器46〇係固 定於該計量器410上以至於令提供於該校準標籤464上的複 數個電接點470接觸到提供給該自動校準特徵426之複數個 校準接點428。藉由讓該複數個電接點47〇與該複數個校準 接點428接觸，可以藉由該計量器41〇來讀取包含於該校準 標籤464上的自動校準資訊以將該計量器41〇校準用於精確 地測試應用於一測試感測器之一流體樣本。 在一具體實施例中，藉由將該感測器容器46〇之第一端 462a滑入形成於該計量器41〇中的感測器容器開口 而將 該感測器容器460固定於該計量器410上。將該感測器容器 123261.doc -36- 200817675 460插入該感測器容器開口 422以使得將該感測器容器460 之翼468a至b固定於該計量器41〇之第三及第四壁41以至[ 之個別延伸物424a至b上。如圖12c所示，當該感測器、容器 460係固定於該計量器41〇上時，該感測器孔徑466保持可 由一使用者從外部接取以允許一使用者將一測試感測器從 該感測器容器460移除。接著可以由該使用者將該測試感 測器插入該感測器開口 416，並可以使用由該計量器41〇從 位於邊感測器谷器460上的校準標籤464讀取之校準資訊來 將該計量器4 10校準用於一流體樣本分析。 現在來看圖13a至d，將解說依據本發明之其他具體實施 例之一感測器容器560在一計量器5 1 〇上的固定。該計量器 510包括一第一端5 12a與一相對的第二端512b。該計量器 510進一步包括位於其間且一般垂直於該等第一及第二端 512a至b的複數個壁部分512c至f。依據一具體實施例，一 自動校準特徵526位於該計量器51〇之第二端51孔上。在圖 示具體實施例中，-帛-感測器容器開口 522推於該第一 壁512c上，而一第二感測器容器開口 52儿位於該第二壁 512〇1上。 該等第一及第二感測器容器開口 522&至b係調適成將該 感測器容器56GS]定於其中。該等第—與第二感測器容器 開口 522&至b在該計量器5 10的第三壁5丨。與第四壁$丨^之 間开y成I。在圖示具體實施例中，該第三壁5丨2e與該第 四壁512f皆&含位於該等個別壁的㈣端上之延伸物 524a、52扣及524b、524d。該等延伸物“乜至d係調適成 123261.doc -37 - 200817675 將該感測器容器560之一部分固定於其上而允許一自動校 準特徵526接觸位於該感測器容器560上之一校準標籤 564 ° 該感測器容器560包括一調適成封閉複數個測試感測器 (例如，圖3至4所示測試感測器38)之外殼。該外殼包括一 第一端562a與一相對的第二端562b。該外殼進一步包括位 於其間且一般垂直於該第一及第二端562a至b的複數個壁 部分562c至f。依據一具體實施例，該校準標籤564位於該 感測器容器560之第一端562a上。 該感測器容器560包括調適成允許從該感測器容器56〇移 除該複數個測試感測器的至少一感測器之一感測器孔徑 566。依據一具體實施例，該感測器容器560包括分別從該 感測器容器560的第三壁562e及第四壁562f延伸之複數個 翼524a、524b。該等翼524a至b係調適成允許將該感測器 容器560固定於該計量器51〇上以使得位於該感測器容器 560上的校準標籤564接觸到該計量器510之自動校準特徵 526。在圖示具體實施例中，該等翼524&至b沿該第三壁 562e及該第四壁562f之長度僅部分延伸，下面將進一步說 明。 如圖13c至d中十分清楚地顯示，將說明依據本發明之某 些具體實施例在該計量器510上的感測器容器56〇之各種固 定定向。將該感測器容器560固定於該計量器51〇上以使得 提供於該校準標籤564上的複數個電接點57〇接觸到提供給 該自動校準特徵526之複數個校準接點528。藉由讓該複數 123261.doc -38- 200817675 個電接點570與該複數個校準接點528接觸，可以藉由該計 量器510來讀取包含於該校準標籤564上的自動校準資訊以 將該計量器5 10校準用於精確地測試應用於一測試感測器 之一流體樣本。 在一具體實施例中，藉由將該感測器容器560之第一端 562a滑入形成於該計量器510的第一壁512c中的第一感測 器容器開口 522a而將該感測器容器560固定於該計量器51〇 上。將該感測器容器560插入該第二感測器容器開口 522b 而使得該感測器容器560之翼568a至b固定於該計量器510 之苐二及第四壁5l2e至f之個別延伸物524a至b上。該感測 器容器560繼續插入該第一感測器容器開口 522&直至該感 測器容器560之翼568a至b接合沿該等延伸物524而定位之 一或多個機械停止件530a至b(如圖13b中十分清楚地顯 示）。由於該等翼568a至b沿該感測器容器之第三壁562e及 第四壁562f之長度僅部分延伸，因此當該等翼568a至b接 合該等機械停止件530a至b時該感測器容器560之一實質部 分係部分封閉於該等第一及第二感測器開口 522a至b内。 在此具體實施例中當該感測器容器560係固定時，該感測 器孔徑566之位置最接近該計量器510之感測器開口 516。 或者，在另一具體實施例中，可以藉由將該感測器容器 5 60之第一端5 62a滑入形成於該計量器510的第二壁512d中 的第二感測器容器開口 522a而將該感測器容器560固定於 該計量器510上。將該感測器容器560插入該第二感測器容 器開口 522b而使得該感測器容器560之翼568a至b固定於該 123261.doc -39- 200817675 計量器510之第三及第四壁512e至f之個別延伸物524〇至d 上。該感測器容器560繼續插入該第二感測器容器開口 522a直至該感測器容器560之翼568a至b接合沿該等延伸物 524而定位之一或多個機械停止件530a至b(如圖13b中十分 清楚地顯示）。如上所述’當該等翼568a至b接合該等機械 停止件530a至b時該感測器容器560之一實質部分係部分封 閉於該等第一及第二感測器開口 522a至b内。但是，在此 具體實施例中當該感測器容器560係固定時，該感測器孔 徑566之位置與該計量器510之感測器開口 516相對。 如圖13 c至d所示，當該感測器容器5 6 0係固定於該計量 器5 10上時，該感測器孔徑566保持可由一使用者從外部接 取以允許一使用者將一測試感測器從該感測器容器560移 除。接著可以由該使用者將該測試感測器插入該感測器開 口 516，並可以使用由該計量器510從位於該感測器容器 560上的校準標籤564讀取之校準資訊來將該計量器510校 準用於一流體樣本分析。 現在來看圖14至15，解說依據本發明之另一具體實施例 之一計量器610及一感測器容器600。該計量器610包括一 調適成允許將該感測器容器600之一部分插入其中的感測 器容器開口 612。複數個延伸物614a至b係形成於該計量器 610上且係調適成接合或形成於該感測器容器600之一蓋 604上的翼620或一槽。在圖示具體實施例中，該等翼620 允許在將該感測器容器600部分插入該感測器容器開口 612 時從該蓋604移除該感測器容器600之一基底602。在替代 123261.doc -40- 200817675 性具體實施例中，可以將該等翼620或一槽放置於該感測 器容器600之基底602上以至於在將該感測器容器600之一 部分插入該感測器容器開口 612之前需要使用者將一測試 感測器從該感測器容器600移除。 在其他具體實施例中，該感測器容器100之蓋104(圖5) 可以係插入該感測器容器開口 612。由於該感測器容器1〇〇 之蓋104具有比該基底102更大的直徑，如圖5所示，因此 該等延伸物614a至b能夠支撐在該計量器610中的感測器容 器100而不用在該感測器容器1〇〇中提供一槽。 現在來看圖16至17，解說依據本發明之另一具體實施例 之一計量器710及一感測器容器700。該計量器710包括一 調適成允許將該感測器容器7 0 0之一部分插入其中的感測 器容器開口 712。一延伸物714a至b係形成於該計量器71〇 上且係調適成接合形成於該感測器容器700之一蓋704上之 一凹口 720。在圖示具體實施例中，該凹口 72〇允許在將該 感測器容器700部分插入該感測器容器開口 712時從該蓋 704移除該感測器容器600之一基底702。在替代性具體實 施例中，可以將該凹口 720放置於該感測器容器7〇〇之基底 702上以至於在將該感測器容器700之一部分插入該感測器 容器開口 712之前需要使用者將一測試感測器從該感測器 容器700移除。 藉由在該感測器容器700之僅一部分上利用一凹口 72〇來 促進正確定向一校準標籤706，該校準標籤7〇6具有位於該 計量器710的感測器容器開口 712内之一自動校準特徵（未 123261.doc -41 · 200817675 顯示）。因此，當需要或要求對該校準標籤雇作—單—及 特定的定向時，可以利用該凹口 72〇。 從上述具體實施例可看出，可以藉由該積量器直接從該 感測器容器讀取並衫包含於該等校準標籤上的經編碼校 準資訊，而不用將該感測器容器插入該積量器。因此，上 述設備允許該積量器自動決定針對包含於—感測器容号内 之-測試感測器的校準資訊，其中該感測器容器係調適成 r\ 允計一使用者從該感測器容器個別地移除該測試感測器並 將所移除之測試感測器插入該積量器。 該積量器能夠自動決定針對所插人測試感測器之校準資 訊而無需該使用者鍵人該校準資訊或將―校準Μ或其他 衷置疋位並插入該積量器。由於該感測器容器包括直接在 其上的校準標籤，因此當該使用者開啟該感測器容器以移 除’則5式感測器時，該使用者必定會具有該校準標籤。在 某些具體實施例中，該積量器係設計成在可以分析一流體 樣本之4但在已將該測試感測器插入該積量器之後需要使 用者讓該权準標籤接觸該自動校準特徵。此可有助於確保 、十對插入該積里器之特定測試條而提供正確的校準資訊。 如上所述’該感測接點係一電接點，而且可以使用該感 測接點與任何其他校準接點之間的連續性以在該標籤與該 自動對準特徵之間建立接觸。不在該標籤上使用一接點之 一替代方法係讓該儀器替代地具有一推鈕狀的開關，當該 各器建立與該自動校準特徵之機械接觸時啟動該開關。對 於任一實施方案，該微控制器會重複地嘗試讀取該標籤直 123261.doc -42- 200817675 至伯測到-有效的校準碼，或者透過該感測機構，決定續 標籤已經撤回。 上述實施方案令該測試感測器容器咬合或者以其他方式 附接於《亥儀益之外側上（或者該儀器附接於該 籤接觸該校準特徵。接基、，扣从 〜 接者其可以保持連接直至消耗完所有 2測\而將舊瓶替換為—新瓶。此不僅會將感測器儲存器 與該儀器整合’而且直请各击 其還會使传一測試器在從具有與最後 Γ' —瓶不同的校準碼之—新瓶執行— 該校準特徵接觸之機m、M i j 戴與 w… 會減夕。-替代實施方案將係讓該校 準標戴瞬時接觸到該校 仅 校準資訊，便可以撤=而：旦該微控制器已傳送該 所傳送的資訊。 “戴而由該計量器來記憶並使用

替代性具體實施例A 一種用以決定一流妒 統，其包含： ’本中之-分析物濃度之測試系 一感測器容器，其且右 調適成將複數個測蓋，該感測器容器係 括附接封閉於其中，㈣測器容器包 枯附接於其之一校準妗 ° 數個電接點，1等“校準標鐵包括位於其上的複 準標鐵上;以:接點係調適成將校準資訊編碼至該校 一測試裝置，其具有_ 該感測器容器開口具有_ 乂成於其上的感測器容器開口， 動校準特徵在該測試裝^其上的自動校準特徵’該自 成與該校準標籤上的複“。’該自動校準特徵包括調適 固電接點通信之複數個校準元 123261.doc -43- 200817675 件， 其中该測試裝置係調適成回應該等校準元件與該等電接 .’、、占之接合來決定編碼於該校準標籤上的校準資訊，在決定 ，編碼的校準資訊時該感測器容器之—部分保持於該= 盗外部。

替代性具體實施例B 替代性具體實施例其中該校準標鐵係附 接於該感測器容器之蓋。

替代性具體實施例C 替代性具體實施例A之測試系統，其中該測試裝置與該 自動校準特徵形成一數位電子電路。 、/

替代性具體實施例D 替代性具體實施例A之測試系統，其中該測試裝置與該 自動校準特徵形成一類比電子電路。 /

替代性具體實施例E 替代性具體實施例A之測試系統，其中該等校準元件係 從該自動校準特徵延伸之校準接針。

替代性具體實施例F 替代性具體實施例A之測試系統，其中該測試裝置包括 至少一延伸物。

替代性具體實施例G 替代性具體實施例F之測試系統，其中該感測器容器包 括調適成藉由該至少一延伸物來接合之槽。 替代性具體實施例Η 123261.doc -44- 200817675 替代性具體實施例G之測試系统，其中該感測器容器包 括調適成藉由該至少-延伸4勿來接合之至少一凹口。

替代性具體實施例I 替代性具體實施例G之測試系統，其中該感測器容器包 括調適成固定於該至少一延伸物上之至少一其。

替代性具體實施例J

替代性具體實施例A之測試系統，其中該測試裝置包括 至少兩個感測器容器開口。

替代性具體實施例K 一種用以決定一流體樣本中之一分析物濃度之測試系 統’其包含： 感測裔谷1§，其具有一基底與一蓋，該感測器容器包 括 才又準標冑，其係附接於該感測器纟器，$校準標籤 包括位於其上的複數個電接點，該複數個電接點之一第一 電接點係經由—導電線路連接至—第-環，該複數個電接 :第一電接點係經由一導電線路連接至一第二環，而 。亥禝數個電接點之一第三電接點係與該第一及第二環斷 開，該校準資訊係依據該等電接點與該第_及第二環之連 接及斷開而編碼至該校準標籤上；以及 …Κ裝置’其具有_在内部位於其巾之微處理器與一 =成於其上之感測器容器，該感測器容器開口具有一位於 :中之自動校準特徵，該自動校準特徵在該测試裝置外 卩該自動权準特徵包括調適成與在該校準標鐵上的 個電接點通信之複數個校準元件，職處理關調適成回 123261.doc -45- 200817675 應於該複數個電接點與在該測試裝置外部的複數個校準元 件之接合而決定編碼於該校準標籤上的校準資訊。

替代性具體實施例L 替代性具體實施例K之測試系統，其中該測試裝置進一 步包括位於其中之一記憶體裝置，該記憶體裝置係與該微

處理器通#，該記憶體裝置係調適成將針對預定義的校準 碼之查找表儲存於其上。 X 替代性具體實施例Μ 替代性具體實施例Κ之測試系統，#中該測試装置與該 自動校準特徵形成一數位電子電路。 替代性具體實施例Ν 替代性具體實施例κ之測m其巾該測試裝置與該 自動校準特徵形成一類比電子電路。 替代性具體實施例〇 替代性具體實施例κ之測試系統，其中該複數個校準元 件係從該自動校準特徵延伸之校準接針。

替代性具體實施例P 替代性具體實施例…試系統，其中該校準標籤包括 一感測接點，該複數個電接點—般係位於該感測接點周 圍’該感測接點係調適成藉由—形成於該自動校準特徵上 的感測接針來接合，該感測接點與該感測接針係調適成通 知該微處理器該複數個校準元株 千疋仵正與该複數個電接點接 合0

替代性具體實施例Q 123261.doc -46- 200817675 替代性具體實施例K之測試系統，其中該測試系統係一 積量器。

替代性具體實施例R 替代性具體實施例Κ之測試系統，其中該複數個電接點 之第三電接點指示針對該校準標籤之一索引位置。 r. 雖然本發明可有各種修改與替代形式，但其特定具體實 施例已藉由範例顯示於附圖中並且詳細說明於本文中。然 而應月白，本文無思將本發明限於所揭示的特定形式，反 之，思欲涵蓋申請專利範圍所定義的本發明之精神及範疇 内的全部修改、等效物及替代方案。 【圖式簡單說明】 圖la係依據本發明之—具體實_之—積量器之一側視 圖lb係圖ia之積量器之一相對側視圖。 圖2係表示依據本發明之一具體實施例圖丨之積量器之電 路之一方塊圖。 圖3係可用於本發明之—方法夕 分祕 θ ^ ^万法之一依據一具體實施例的 電化學感測器之一分解圖。 圖4係-感肖器基底及直接應用於圖3所示感_器基底之 該些元件。 一 電實施例調適成包含複數個 圖6a係表示用於本發明之 例性電路之一示意圖。 數位自動校準編碼標籤之範 123261.doc -47- 200817675 圖6b係依據本發明之—具體實施例之—數位自動校 碼標籤之一展開圖。 籤之 圖 圖6c係解說依據圖6b之一數位自動校準編碼標 /6d係依據本發明之另—具體實施例之複數個數位 校準編碼標籤之一展開圖。 圖6e係解說依據圖6d之數位自動校準編碼標籤之一圖。 η 圖6f係依據本發明之另一具體實施例之複數個數位 校準編碼標籤之一展開圖。 郭 籤之 圖 圖6g係解說依據圖6f之一數位自動校準編碼標 圖7a係表示依據本發明之另一具體實施例用於—類比 動校準編碼標鐵之範例性電路之一示意圖。 碼標籤之 圖7b係可用於本發明之替代性類比自動校準編 一展開圖。 媽標籤之 圖7c係可用於本發明之替代性類比自動校準編 一展開圖 編碼 圖7d係解說依據本發明之其他替代性類比自動护； 標鐵之一圖。 特徵 圖8a至e係依據本發明之某些具體實施例具有定 之複數個校準標籤之俯視圖。 疋立 圖9a至9f係依據本發明之某些其他具體實施例具 特徵之複數個校準標籤之俯視圖。 ^ 定位 圖10係依據本發明之一具體實施例調適.成 心一感測器 123261.doc •48· 200817675 容器之一計量器之一透視圖。 圖Π係依據一具體實施例調適成固定於圖10之計量器上 之一感測器容器之一透視圖。 圖12a係圖10之計量器之一佈局圖。 圖12b係圖11之感測器匣之一佈局圖。 圖12c係固定於圖1〇之計量器上之圖丨丨之感測器匣之一 佈局圖。 圖13 a係依據本發明之另一具體實施例調適成固定一感 測器容器之一計量器之一佈局圖。 圖13b係依據本發明之另一具體實施例調適成固定於圖 13a之計量器上之一感測器容器之一佈局圖。 圖13c係固定於圖i3a之計量器上之一第一位置之圖i3b 之感測器匣之一佈局圖。 圖13d係固定於圖13a之計量器上之一第二位置之圖13b 之感測器匣之一佈局圖。 圖14係依據本發明之另一具體實施例調適成固定一感測 器容器之一計量器之一透視圖。 圖15係依據一具體實施例調適成固定於圖14之計量器上 之一感測器容器之一透視圖。 圖16係依據本發明之另一具體實施例調適成固定一感測 器容器之一計量器之一透視圖。 圖17係依據一具體實施例調適成固定於圖丨6之計量器上 之一感測器容器之一透視圖。 【主要元件符號說明】 123261.doc -49- 200817675 10 積量器/計量器 12 外殼 14 採血機構 16 測試機構 18 顯示器 20 按鈕組 22 採血機構14之一外部部分 24 測試端 26 採血端帽 28 滑件 30 切刀 32 射出按鈕 34 端帽2 6之一面 36 測試感測器開口 38 測試感測器 40 彈出機構 42 絕緣基底 44 電導體圖案 46 電極圖案部分 46a 工作電極/工作電極上部元件 48 電極圖案部分 48a 反電極/反電極子元件 50 絕緣（介電質）圖案/介電層 52 電極圖案 123261.doc -50- 200817675 54 56 58 60 62 64 66 68 70 72 80 82 84 86 88 90 92 94 96 98 100 102 104 106 反應層 感測器之一尾端 蓋或覆蓋物 凹陷空間 通氣孔 自動校準特徵 外殼12之一外部部分 校準接針 感測接針 定向特徵 電路 微處理器 記憶體裝置 感測器測量電路 電池監視功能 警告功能 通信介面 開/關輸入 糸統特徵輸入 自動校準輸入 感測器容器 基底 蓋 校準標籤 123261.doc -51 - 200817675 106b 經校準編碼的校準標籤 106c 數位自動校準編碼標籤 106d 校準標籤 106e . 校準標籤 108 電接點 108c 電接點 110 感測接點 110c 感測接點 112 索引位置/接觸位置 112b 索引位置 112c 索引位置 114 定向特徵 116 内部環 116c 内部環 118 外部環 118c 外部環 120 導電線路 120c 電線路 130 數位電子電路 132 驅動器 134 場效電晶體（FET) 136 接收器 138 上拉（PU) 150 類比電子電路 123261.doc -52- 200817675 152 154 156 158 160 174 176 206a 206b 206c 206d 206e 208a 208b 208c 208d 208e 210a 210b 210c 210d 210e 214a 214b 電阻器 電阻器 類比至數位轉換器（ADC) 驅動器 p通道場效電晶體（FET) 電阻器R1之端 電阻器R2之端 校準標籤 校準標籤 校準標籤 校準標籤 校準標籤 電接點 電接點 電接點 電接點 電接點 選用感測接點 選用感測接點 選用感測接點 選用感測接點 選用感測接點 標籤定向特徵 標籤定向特徵 123261.doc -53 - 200817675 214c 標籤定向特徵 214d 標籤定向特徵 214e 標籤定向特徵 216a 内部環 216b 内部環 216c 内部環 216d 内部環 216e 内部環 218a 外部環 218b 内部環 218c 内部環 218d 内部環 218e 内部環 220a 導電線路 220b 導電線路 220c 導電線路 220d 導電線路 306a 校準標籤 306b 校準標籤 306c 校準標籤 306d 校準標籤 306e 校準標籤 306f 校準標籤 308a 電接點 123261.doc -54 200817675 '

308b 電接點 308c 電接點 308d 電接點 308e 電接點 308f 電接點 310b 選用感測接點 310d 選用感測接點 310f 選用感測接點 316a 内部環 316b 内部環 316c 内部環 316d 内部環 316e 内部環 316f 内部環 318a 外部環 318b 外部環 318c 外部環 318d 外部環 318e 外部環 318f 外部環 320a 導電線路 320b 導電線路 320c 導電線路 320d 導電線路 123261.doc 55- 200817675

320e 導電線路 320f 導電線路 410 計量器 412 外殼 412a 第一端 412b 第二端 412c 壁部分/第一壁 412d 壁部分 412e 壁部分/第三壁 412f 壁部分/第四壁 414 測試機構 416 感測器開口 418 顯示器 420 按紐組 422 感測器容器開口 424a 延伸物/翼 424b 延伸物/翼 426 自動校準特徵 428 校準接點 460 感測器容器 462a 第一端 462b 第二端 462e 第三壁 462f 第四壁 123261.doc -56- 200817675 464 校準標籤 466 感測器孔徑 468a 翼 468b 翼 470 電接點 510 計量器 512a 第一端 512b 第二端 " 512c 壁部分/第一壁 512d 壁部分/第二壁 512e 壁部分/第三壁 512f 壁部分/第四壁 516 感測器開口 522a 第一感測器容器開口 522b 第二感測器容器開口 524a 延伸物/翼 524b 延伸物/翼 524c 延伸物 524d 延伸物 526 自動校準特徵 528 校準接點 530a 機械停止件 530b 機械停止件 560 感測器容器 123261.doc -57- 200817675

562b 第二端 562c 壁部分 562d 壁部分 562e 壁部分/第三壁 562f 壁部分/第四壁 564 校準標籤 566 感測器孔徑 568a 翼 568b 翼 570 電接點 600 感測器容器 602 基底 604 蓋 610 計量器 612 感測器容器開口 614a 延伸物 614b 延伸物 620 翼 700 感測器容器 702 基底 704 蓋 706 校準標籤 710 計量器 712 感測器容器開口 123261.doc -58- 200817675 714a 延伸物 714b 延伸物 720 凹口 \ \ 123261.doc -59-

Claims (1)

1. 200817675 十、申請專利範圍： 1. 一種用以決定一 統，其包含： Μ體樣本中之一分析物濃度之測試系 -感心各器，其具有_基底與—蓋，該感測器容器 係調適成將複數個測試感測器封閉於其中，該感測器容 器包括附接於其之一校準拷籀 仅+铩織，该校準標籤包括位於其 上的複數個電接點，該算雷垃卧 電接2係调適成將校準資訊編 碼至該校準標籤上；以及 -測試裝置，其具有一形成於其上的感測器容器開 口，該感測器容器開口具有一位於其中的自動校準特 該自動校準特徵在該測試裝置外部，該自動校準特 徵包括調適成與該校準標籤上的該複數個電接點通信之 複數個校準元件， ϋ 其中該測試裝置係調適成回應該等校準元件與該等電 接點之接合來決定編碼於該校準標籤上的該校準資訊， 在決定該經編碼的校準資訊時該感測器容器之一部分保 持於計量器外部。 ’' 如請求们之測試系統，其中該校準標籤係附接於該戍 測器容器之該蓋。 3.如請求们之測試系統，其中該測試裝置與該自動校準 特徵形成一數位電子電路。 4·如睛求項1之測試系統，其中該測試裝置與該自動校準 特徵形成一類比電子電路。 5.如請求項1之測試系統’其中該等校準元件係從該自動 123261.doc 200817675 板準特徵延伸之校準接針。 明求項1之測試系統，其中該測試裝置包括至 伸物。 . 、 一月求項6之測試系統，其中該感测器容器包括調適成 猎由遠至少一延伸物來接合之一槽。 :吻求項7之測試系統，其中該感測器容器包括調適成 精由”亥至少一延伸物來接合之至少—凹口。 口月求項7之測試系統，其中該感測器容器包括調適成 固定於該至少一延伸物上之至少一翼。 10·如π求項1之測試系統，其中該測試裝置包括至少兩個 感測器容器開口。 11 -種用以決定一流體樣本中之一分析物濃度之測試系 統’其包含： 感則器办器’其具有一基底與_蓋，該感測器容器 包括-附接於其之校準標籤，該校準標蒇包括位於盆上 的複數個電接點，該複數個電接點之—第—電接點係經 “導電線路連接至__第—環，該複數個電接點之一第 二電接點係經由一導電線路連接至一第二環，而該複數 個電接點之一第三電接點係與該第一及第二環斷開，該 校準資訊係依據該等電接點與該第__及第二環之連接及 斷開而編碼至該校準標籤上；以及 -測试裝置’其具有一在内部位於其中之微處理器與 -形成於其上之感測器容器開口，該感測器容器開口具 有位於其中之自動校準特徵，該自動校準特徵在該測 123261.doc -2- 200817675 =裝置外部，該自動校準特徵包括調適成與在該校準炉 戴亡的该複數個電接點通信之複數個校準元件： 理器係調適成回應於該複數個電接 '处 部的該複數個校準―定編:::::: 上的該校準資訊。 仅+铩織 如請求心之測試系統，其中該測試裳置進一 於其中之一記憶體裝置，該記憶體 f 瑕置係與該微處理器 =矣該記憶體裝置係㈣成將針對預定義的校準碼之 查找表儲存於其上。 13·如請求項丨丨之測試系統，其中該 特徵形成一數位電子電路。 '破置與该自動校準 14·如請求額之測試系統，其中該測試裝置與該自動校準 特徵形成一類比電子電路。 15·=求項η之測試㈣，其中該複數個校準元件係從該 自動校準特徵延伸之校準接針。 16· ^明求項η之測試㈣，其中該校準標籤包括—感測接 ’該複數個電接點一般係位於該感測接點周圍，該感 係調適成藉由-形成於該自動校準特徵上的感測 * ’ Α接合，該感測接點與該感測接針係調適成通知該 微^理器該複數個校準元件正與該複數個電接點接合。 17·如:求之測試系統，其中該測試裝置係—積量器。 求項n之測試系統，其中該複數個電接點之該第三 “接點指示針對該校準標籤之一索引位置。 123261.doc