CN101523208A - 用于传递校准数据的系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了用于传递校准数据的系统。一种测试系统包括传感器容器(460)和测试设备(410)。该传感器容器(460)具有基部和盖子。该容器(460)在其中封入多个测试传感器。该容器包括附着于其上的校准标签(464)。该校准标签(464)包括位于其上的电触点(470)，其中电触点(470)将校准信息编码在校准标签上。测试设备(410)具有在其上形成的传感器容器开口(422)。该传感器容器开口(422)具有位于其中的自动校准组件(426)。该自动校准组件(426)在测试设备的外部。自动校准组件(426)包括与校准标签(464)上的电触点(470)通信的校准元件(428)。测试设备响应接合电触点的校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息。在编码的校准信息被确定时，传感器容器(460)的一部分保持在仪表(410)外部。

Description

用于传递校准数据的系统

技术领域

本发明一般地涉及自动校准标签，该自动校准标签用于自动地校准确定分析物的浓度的仪器或仪表。该自动校准标签被结合到单测试条的包装上，并且当该包装附着到仪表时，所述仪器或仪表的外部适于确定来自所述标签的校准信息。

背景技术

体液中的分析物的定量确定在特定生理异常的诊断和养护方面是非常重要的。例如，应该监测特定个体中的乳酸盐、胆固醇和胆红素。特别地，重要的是糖尿病人经常监视其体液中的葡萄糖水平以便管理其水平。这种测试的结果可以用于确定(如果有)需要管理的胰岛素或其他药物。在一种类型的血糖测试系统中，传感器被用于测试血液样本。

测试传感器包含与血糖反应的生物传感材料或试剂材料。在一些机构中，传感器的测试端适于置入待测流体中，例如，人的手指被划破后积聚在该手指上的血液。通过毛细管动作，流体被吸入在传感器中从测试端延伸到试剂材料的毛细孔道，从而使足量的待测流体被吸入传感器。然后，流体在传感器中与试剂材料发生化学反应，产生表示待测流体中的葡萄糖水平的电信号。该电信号经由位于靠近传感器的后部或接触端的接触区域提供到仪表并且成为测量输出。在其他机构中，传感器具有试剂区域，血液被施加到该试剂区域。结果发生的化学反应产生颜色变化。当传感器插入仪器中时，颜色变化可以被光学测量并且转换为相当的葡萄糖浓度值。

诸如血糖测试系统的诊断系统，通常基于测量输出和用于执行测试的试剂感测元件(测试传感器)的已知反应来计算实际葡萄糖值。测试传感器的反应或批次校准信息可以由包括该信息输入仪器的数字或字符的多种形式给予使用者。另一种用于校准包含在包装内的条的方法是在插入测试仪器中的传感器包装内包括校准芯片。当插入仪器中时，校准芯片的存储元件被电耦合到所述仪器的微处理器板，以由所述仪器直接读取被存储的校准信息。

这些方法具有的缺点是依赖使用者正确地输入校准信息，其中一些使用者可能根本不输入该信息或者可能输入错误。在这种情况下，测试传感器可能使用错误的校准信息并且由此返回错误的结果。在传感器包装内包括校准芯片的情况下，校准芯片可能易于丢失或放错位置，导致不能经由校准芯片输入传感器信息。

改进的系统使用固定到(附到)传感器盒子(cartridge)的自动校准标签。当盒子被加载到仪表中时，所述自动校准标签被自动地读取并且无需使用者的附加干预。然而，这种自动校准方法需要可以加载到仪表中的盒子，该盒子可以提供对于所存储的传感器的长期稳定性的环境保护，并且该盒子可以提供对传感器的自动访问。将传感器密封在独立空间中的这种盒子的更简单的形式一般提供很小的余地或没有余地来改变可以被包装的传感器的数量并且该数量的最大值受限于最大可接受的盒子尺寸。堆叠在公共空间内的具有传感器的盒子可以支撑更大数量和潜在可变数量的被存储的传感器，但难以在第一个传感器被取出后提供良好的环境密封，这种盒子关于自动传感器访问具有相关的技术复杂性和成本，并且在更简单的形式中，可以包装的传感器的数量可能不灵活。

期望的是提供一种装置和方法，该装置和方法以可靠的方式将测试传感器的批次校准信息提供到仪器或仪表而不具有复杂性、成本和自动盒子的约束，不需要使用者手动输入校准信息，并且不需要可能丢失的单独的校准芯片。尤其期望系统被设计为以包装在与所述仪器相分离的瓶子或其他容器中的单个传感器工作并且可被包装的传感器的数量是可变的，而不是使所述传感器包装在被加载到所述仪器以用于自动传感器分配的专门的盒子中。

发明内容

根据本发明的一个实施例，公开了一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统。该测试系统包括传感器容器和测试装置。传感器容器具有基部和盖子并且适于将多个测试传感器封入其中。传感器容器包括附着于其上的校准标签。该校准标签包括位于其上的多个电触点(电接触件)。该电触点适于将校准信息编码在校准标签上。测试装置具有在其上形成的传感器容器开口。传感器容器开口具有位于(置于)其中的自动校准组件。该自动校准组件在测试设备的外部。自动校准组件包括多个校准元件，该校准元件适于与校准标签上的多个电触点通信。测试装置适于响应于接合电触点的校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息。在确定编码的校准信息时，传感器容器的一部分保持在仪表外部。

根据本发明的另一个实施例，公开了一种用于确定流体样本中的分析物浓度的测试系统。该测试系统包括传感器容器和测试装置。传感器容器具有基部和盖子。该传感器容器包括附着于其上的校准标签。校准标签包括位于其上的多个电触点。该多个电触点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环，该多个电触点中的第二电触点经由导电轨迹连接到第二环，并且该多个电触点中的第三电触点与第一环和第二环均断开。校准信息基于电触点与第一环和第二环的连接和断开而被编码在校准标签上。测试设备具有位于其内部的微处理器和在其上形成的传感器容器开口。该传感器容器开口具有位于其中的自动校准组件。该自动校准组件在测试设备的外部且包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件。微处理器适于响应多个电触点接合测试设备外部的多个校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息。

本发明的以上概述并不旨在表示本发明的每个实施例或每个方面。本发明的附加特征和益处将从以下阐述的详细说明和附图中变得清楚。

附图说明

图1a是根据本发明的一个实施例的集成仪表的侧视图；

图1b是图1a中的集成仪表反面的图示；

图2是表示根据本发明一个实施例的图1中的集成仪表的电子电路的框图；

图3是根据一个实施例的可以用在本发明的方法中的电化学传感器的分解图；

图4是传感器基部和直接应用到图3中的传感器的基部上的那些元件；

图5是根据本发明的一些实施例的传感器容器，该传感器容器适于包含多个电化学传感器；

图6a是表示与本发明的数字自动校准编码标签一起使用的示例性电路的示意图；

图6b是根据本发明的一个实施例的数字自动校准编码标签的展开图；

图6c是示出根据图6b的数字自动校准编码标签的图表；

图6d是根据本发明的另一个实施例的多个数字自动校准编码标签的展开图；

图6e是示出根据图6d的数字自动校准编码标签的图表；

图6f是根据本发明的另一个实施例的多个数字自动校准编码标签的展开图；

图6g是示出根据图6f的数字自动校准编码标签的图表；

图7a是表示根据本发明的另一个实施例的与模拟自动校准编码标签一起使用的示例性电路的示意图；

图7b是本发明中使用的可替换的模拟自动校准编码标签的展开图；

图7c是在本发明中使用的可替换的模拟自动校准编码标签的展开图；

图7d是示出根据本发明的另一个可替换的模拟自动校准编码标签的图表；

图8a-e是根据本发明的一些实施例的具有定位组件(locatingfeature)的多个校准标签的顶视图；

图9a-9f是根据本发明的其他一些实施例的具有定位组件的多个校准标签的顶视图。

图10是根据本发明一个实施例的适于放置传感器容器的仪表的透视图。

图11是根据一个实施例的适于放置到图10仪表上的传感器容器的透视图。

图12a是图10仪表的布局图。

图12b是图11传感器盒子的布局图。

图12c是放置到图10仪表上的图11传感器盒子的布局图。

图13a是根据本发明另一个实施例的适于放置传感器容器的仪表的局部图。

图13b是根据本发明另一个实施例的适于放置到图13a仪表上的传感器容器的布局图。

图13c是在第一位置放置到图13a仪表上的图13b传感器盒子的布局图。

图13d是在第二位置放置到图13a仪表上的图13b传感器盒子的布局图。

图14是根据本发明另一个实施例的适于放置传感器容器的仪表的透视图。

图15是根据一个实施例的适于放置到图14仪表上的传感器容器的透视图。

图16是根据还有另一个实施例的适于放置传感器容器的仪表的透视图。

图17是根据一个实施例的适于放置到图16仪表上的传感器容器的透视图。

具体实施方式

一个实施例(实施方式)中的仪器或仪表使用测试传感器和处理器，所述测试传感器适于接收待分析的流体样本，所述处理器适于执行预定义的测试顺序以测量预定义的参数值。在将测试传感器插入仪表中之前，该测试传感器从传感器容器中取出。存储装置耦合到处理器以存储预定义的参数数据值。关联测试传感器的校准信息可以在待测量的流体样本被接收之前由处理器读取。校准信息可以在接收到待测量的流体样本之前或之后由处理器读取，但不能在分析物的浓度被确定之后再读取。校准信息用于测量预定义的参数数据值以补偿测试传感器的不同特性，所述特性将基于不同批次而变化。校准信息包括在传感器容器的外部的校准标签上并且由位于仪表外部的自动校准组件确定。

现在参考附图并且首先看图1a-图1b，示出可以结合本发明使用的集成仪表10。集成仪表10包括外壳12、切割机构14、测试机构16、显示器18和按钮组20。应该注意集成仪表10被显示为适于使用在本发明中的一个特定仪器或仪表的示例，然而，能够在流体样本上执行分析的其他仪器、仪表或测试装置也可以适于使用在本发明中。

显示器18用于显示被确定的浓度并且向测试主体提供其他信息。测试主体可以通过使用按钮组20而与集成仪表10交互。切割机构14的外部22位于外壳12的测试端24上。切割机构14被部分封入在外壳12内，其中切割端盖26可拆卸式附着到与外壳12相对的切割机构14的外部22。滑动器28位于外壳12的外部并且可操作地连接到切割机构14从而竖起该切割机构14。

切割机构14用于以可拆卸式附着的矛状物30(例如柳叶刀)切割测试主体的皮肤。切割端盖26具有中心孔并且避免测试主体无意中接触位于其中的矛状物30。矛状物30适于从测试主体获得流体样本。在使用中，滑动器28用于竖起切割机构14，即将矛状物30进一步移动至外壳12中。点火按钮32被提供在外壳12的外部，当按压该点火按钮32时，点火竖起的切割机构14。端盖26的面34可以接触到测试主体的皮肤。然后，切割机构14可以被点火(通过按压点火按钮32)，从而使得矛状物30从端盖26延伸并且刺破测试主体的皮肤。切割机构14邻近测试机构16以便于并排切割和测试，从而降低了所需要的用户的组件操控水平。如图1所示，测试机构16成角度地对准在仪表10上以在需要时便于可替换的现场测试。然而，集成仪表10的组件的位置和交互可以变化，并且不需要为了理解本发明而进行各种构造的更详细的说明。

测试机构16包括形成在外壳12的测试端24中的测试传感器开口36。测试传感器开口36适于在其中安置测试传感器38。测试传感器38包含位于其上的至少一个试剂，该试剂适于与流体样本内的感兴趣的分析物反应。测试传感器38可以由测试主体安置在测试传感器开口36中。一旦被安置，则测试传感器38连接到集成仪表10内的电子电路80(图4)，该电子电路80适于执行流体样本中的分析物浓度的电化学确定。可替换地，光学读头可以被连接到集成仪表的电子电路并且光学测试传感器可以被插入为靠近光学读头以允许流体样本的分析物浓度被光学地确定。排出机构40被提供为允许测试主体在已执行流体样本分析的情况下从集成仪表10移除测试传感器38。

集成仪表10包括在外壳12的外部66上的自动校准组件(feature)64(见图1b)。自动校准组件64适于与位于传感器容器100(图5)上的校准标签106(在以下的图5-9中说明)交互。自动校准组件64包括多个校准元件，例如从自动校准组件64的一部分略微延伸的校准引脚68。这种校准引脚68可以加载弹簧以确保可靠连接，并且如果连接需要校准标签106滑动到穿过触点的位置，则这种校准引脚68可以变尖或变圆以减小干扰。虽然所说明的实施例示出包括在自动校准组件64内的基本配置为呈圆形排列的十个校准引脚68，但应该注意的是自动校准引脚的数量可以与图1b中所示的自动校准引脚的数量和形状不同。

自动校准组件64还可以包括位于其中的感测引脚70。感测引脚70可以提供为在校准标签106(图5)与自动校准组件64相接触时进行检测。校准标签106的检测可以通过按钮的开关触点的闭合而机械实现或通过感测触点110(图6b)和一个或多个电触点108(图5和6b)之间建立的电连接而电实现。一旦检测到接触，则多个校准引脚68可以确定包含在校准标签106上的自动校准信息。自动校准组件64进一步包括一个或多个定位组件(orienting feature)72，该定位组件72适于帮助使用者利用自动校准组件64内的多个校准引脚68来定位校准标签106。校准标签106将结合图5-9进行详细的讨论。

如上所述，集成仪表10包括电子电路80(图2)。该电子电路80包括用于操作集成仪表10的多种电子器件和电组件。电子电路被连接到显示器18以及测试机构16。进一步地，电子电路80通信地耦合到存储装置84。存储装置84适于存储信息，例如被确定的分析物浓度，流体样本是否收集可替换的测试现场、日期和时间信息，用于预定义的校准编码的查找表等。存储装置84通常是非易失性存储器，例如EPROM(可擦可编程只读存储器)或EEPROM(电可擦可编程只读存储器)。电池(未示出)通常用于给集成仪表10内的电子电路和显示器18供电。

还参考图2，示出表示根据本发明的一个实施例的集成仪表10的电子电路80的框图。电子电路80包括微处理器82以及用于存储程序和使用者数据的相关联的存储装置84。耦合到测试传感器38的传感器测量电路86由微处理器82可操作地控制以记录血糖测试值。电池监视器功能块88耦合到微处理器82以检测电池电压低(未示出)的情况。警告功能块90耦合到微处理器82以检测预定义的系统情况并且为集成仪表10的使用者生成警告指示。

数据端口或通信接口92将数据发送到外部装置(例如计算机、膝上型计算机、个人数字助理、远程服务器、连接网络的装置等)并从所述外部装置接收数据。通信接口92允许外部装置访问至少存储在存储装置中的分析物浓度。通信接口92可以是任意数量的允许集成仪表10与外部装置通信的装置，例如为标准串行端口、红外发射器/检测器端口、电话插口、射频发射机/接收机端口、调制解调器、可拆卸的存储卡或装置等。电子电路还可以包括用以执行程序的ROM芯片。

开/关ON/OFF输入94响应集成仪表10的使用者的ON/OFF操作并且耦合到微处理器82以执行集成仪表10的血液测试顺序模式。传感器测量电路86还可以检测测试传感器38的插入并且使得微处理器82执行血液顺序模式。系统特征输入端96耦合到微处理器82以选择性地执行集成仪表10的系统特征模式。自动校准输入端98耦合到微处理器82(例如通过例如图6a和7a所示的接口电路)以检测根据本发明的一个实施例的传感器容器100(图5)上的自动校准编码的信息。微处理器82包含适当的编程以确定施加到测试传感器38的流体样本的分析物浓度。

为了确定流体样本中的分析物浓度，可以使用电化学传感器。期望的是电化学传感器提供可靠并且可重复的测量。现在参考图3，根据一个实施例，测试传感器38包括绝缘基底42，在该基底上依次印刷(通常通过丝网印刷技术)有电导体图案(pattern)44、电极图案(部分46和48)、绝缘(电介质)图案50和反应层54。电化学传感器的基底提供流体测试样本的流动路径。测试传感器38被显示在图4中，其中基底42上的全部元件均显示在相同平面中。

反应层54的功能是按照流体测试样本通过电极图案的组件产生的电流将该流体测试样本中的葡萄糖或其他分析物化学计量地转换为可电化学测量的化学形态。反应层54一般包含生物感测或试剂材料，例如酶和电子受体。更具体地，反应层54包含酶和电子受体，酶与分析物反应以在电极图案上产生可移动的电子，电子受体(例如铁氰化物盐)将可移动的电子运载到工作电极的表面。电子受体可以被称为介体，该介体响应于分析物和酶之间的反应而减少。反应层中的酶可以与例如聚环氧乙烷的亲水聚合物结合。可以用于与葡萄糖反应的酶是葡萄糖氧化酶。可以预料到，也可以使用其他酶，例如葡萄糖脱氢酶。

电极图案的两个部分46、48提供电化学地确定分析物所必须的相应的工作电极和反电极。工作电极46a通常包括与分析物反应的酶。工作电极和反电极可以被构造为使得(按照沿流动路径的流体流动方向)反电极48a的主要部分位于工作电极46a的暴露部分的下游。这种构造允许测试流体样本完全覆盖工作电极46a的暴露部分。

然而，反电极的子元件48a可以置于工作电极上部元件46a的上游从而当将要完全覆盖工作电极的足量的流体样本(例如整个血液样本)进入毛细管空间时，由于流体样本的导电性而在反电极子元件48a和工作电极46a的暴露部分之间形成电连接。然而，可由流体样本接触的可用的反电极的面积非常小以至于仅非常微弱的电流可以流经电极之间并且因此流过电流检测器。通过对电流检测器编程以在接收到的信号低于特定的预定水平时给出误差信号，传感器装置可以通知使用者进入传感器内腔的血液不足量以及应该进行另一次测试。

工作电极和反电极包括电极油墨(ink)。电极油墨通常包含电化学活性碳。导体油墨的成分可以是碳和银的混合物，该混合物被选择以提供电极和仪表间的低耐化学性路径，通过该路径，电极和仪表经由与传感器的末端56处的导电图案的接触而被可操作地连接。反电极可以包括银/氯化银或碳。为了增强仪表读取的可重复性，电介质图案使电极在除靠近电极图案52的中心的被限定的面积以外的区域与流体测试样本绝缘。被限定的面积在这种类型的电化学确定中是重要的，因为被测量的电流取决于分析物浓度和暴露于包含分析物的测试样本的反应层的面积。

典型的介电层50包括UV固化的丙烯酸酯改性的聚乙烯。盖子或覆盖物58适于与基底匹配以形成接收流体样本的空间，该空间中放置有反电极和工作电极。盖子58提供凹入空间60并且该盖子58通常通过凸起可变形材料的平板而形成。盖子58被刺穿以提供气孔62并在密封操作中结合到绝缘基底42。盖子58和基底42可以通过声波焊接被密封到一起。凸起的盖子和基底可以通过在盖子的下侧上使用粘合材料而结合。美国专利No.5,798,031中更全面地说明了结合盖子和基底的方法，该美国专利以其全部内容作为参考并入本文。

用于绝缘基底42的适合的材料包括聚碳酸酯、聚对苯二甲酸乙二酯(polyethylene terephthalate)、形稳型乙烯基和丙烯酸类聚合物，以及共混聚合物，例如聚碳酸酯/聚对苯二甲酸乙二酯和金属薄片结构(例如尼龙/铝/乙烯聚合物的氯化物的层积)。盖子通常由可变形的聚合物板材制造，例如聚碳酸酯或凸起等级的聚对苯二甲酸乙二酯、乙二醇改性的聚对苯二甲酸乙二酯或金属薄片合成物(例如铝薄片结构)。介电层可以由丙烯酸改性的聚氨酯制造，该丙烯酸酯改性的聚氨酯由热固化的UV光或湿气或乙烯基聚合物固化。

可以预料到，本发明可以使用其他电化学传感器。可以用于测量葡萄糖浓度的电化学传感器的示例是用在拜尔(Bayer)公司的DEX

、DEX II

、ELITE

和ASCENSIA

系统中的电化学传感器。对于这种电化学传感器的更多细节可以在美国专利No.5,120,420和No.5,320,732中找到，这两个专利以其全部内容作为参考并入。电化学传感器中的一个或多个可以从松下电器产业株式会社(MatsushitaElectric Industrial Company)购买。另一种电化学传感器公开在美国专利No.5,798,031中，该专利以其全部内容作为参考并入。可以用在电流监测系统中的电化学传感器的另一个示例公开在美国专利No.5,429,735中。可以预料到，其他生物传感器也可以用在本发明中。

虽然已经关于电化学测试系统对以上所例示的测试传感器38和集成仪表10进行了描述，但应该理解的是，本发明可以对光学测试系统或其他测试系统操作。电化学传感器、光学传感器或其他传感器可以存储在例如瓶子或盒子的传感器容器中。

现在参考图5，示出根据本发明的一个实施例的传感器容器100。传感器容器100包括基部102和可拆卸式附着的盖子104。基部102适于在盖子104附着到该基部时封入多个测试传感器(例如测试传感器38)。传感器容器100帮助阻止外部环境对测试传感器38的污染。当测试主体期望执行分析物确定时，多个测试传感器38中的一个从传感器容器100中取出并被插入集成仪表10中，如图1a-图1b所示。

传感器容器100还包括位于其上的校准标签106。如图所示，校准标签106可以位于盖子104的一部分上。可替换地，校准标签106可以位于基部102上或盖子104的其他部分上。应该理解的是只要校准标签106能够接触集成仪表10的自动校准组件64(图1b)，则传感器容器100上的校准标签106的位置可以变化。被指定使用在临床数值计算中以补偿测试传感器38之间的制造差异的校准信息或代码被编码在校准标签106上。

校准标签106用于使传递校准信息(例如，用于测试传感器38的具体批次的试剂校准信息)的过程自动化从而使测试传感器38可以用于不同的仪器或仪表。当校准标签106接触集成仪表10的自动校准组件64时，多个自动校准的引脚68中的一个或多个与校准标签106电耦合。根据一种方法，使用电流读数和至少一个等式来确定流体样本的分析物浓度。在这种方法中，使用来自动校准标签106的校准信息或代码来确定等式的常数。这些常数可以通过以下方式确定：(a)使用算法来计算等式的常数或(b)从特定的预定义的校准代码的查找表中获取等式常数，所述校准代码从校准标签106读取。校准标签106可以由数字或模拟技术实现。在数字实施方式中，集成仪表10帮助确定沿所选择的位置是否存在电导以确定校准信息。在模拟实施方式中，集成仪表10帮助测量沿所选择位置的电阻以确定校准信息。

校准标签106包括位于其上的多个电触点108。如图所示，多个电触点108一般围绕任意的感测触点110。在提供有感测触点110的实施例中，感测触点110适于接合自动校准组件64的感测引脚70以向微处理器82指示提供在校准标签106上的自动校准信息能够被确定。校准标签106和自动校准组件64之间的接触可以例如通过感测引脚70和任意其他电触点108之间的电连续性而确定。在所示的实施例中，校准标签106包括位于多个电触点108中的两个电触点之间的索引位置112。如果校准标签106关于自动校准组件64的多于一个定位是可行的，则索引位置112可以由自动校准组件64使用以确定从校准标签106的哪里开始获得自动校准信息。

如图5所示，传感器容器100还可以包括一个或多个定位组件114。传感器容器100的一个或多个定位组件114适于接合自动校准组件64的定位组件72(图1b)。如图所示，一个或多个定位组件114是传感器容器100的盖子104中的凹部。该凹部适于接合形成自动校准组件的定位组件72的多个凸出部。当凸出部被插入凹部中时，传感器容器100的校准标签106应该与集成仪表10的自动校准组件64恰当地对准。然而，应该注意的是，机械的定位组件的可替换实施方式是可行的。

现在参考图6a，示出根据本发明的一个实施例的用于数字校准方法的数字电子电路130，该数字电子电路130将微处理器82连接到校准标签106。如图所示，来自微处理器82的十个数字输出信号(OA至OJ)通过十个驱动器132(DA至DJ)经由十个场效应晶体管(FET)134(TA至TJ)中相应的一个连接到十个校准引脚68(PA至PJ)。十个校准引脚68连接到十个接收器136(RA至RJ)，该十个接收器136提供十个数字输入信号(IA至IJ)到微处理器82。每个接收器均具有关联的上拉(PU)138，该上拉连接到电源(VCC)。校准引脚68(PA至PJ)电连接到校准标签106上的其他电触点108。

为了读取校准标签106的接触图案，微处理器82导通一个驱动器132，其他所有驱动器132均断开。激活的驱动器132提供低信号到关联的校准引脚68。由于这个特定的驱动器132和接收器136直接连接，因此用于直接连接到关联的校准引脚68的激活的驱动器132的相应的接收器136读取为低信号。校准引脚68也被标签图案同样驱动为低的其他所有接收器136也被读作低信号。由于关联的驱动器132未导通并且关联的上拉138将接收器电压拉动到VCC，因此余下的其他所有接收器136均读作高信号。

现在参考图6b，示出说明本发明的校准编码的校准标签106的优选配置的放大图。根据一个实施例，校准编码的校准标签106用于使关于指定到相关测试传感器38的具体批次的试剂校准的信息传递过程自动化。例如，图6b中示出的自动校准信息可以被编码在校准标签106中，该校准标签106位于封入了具有共同来源或批次的多个测试传感器38的传感器容器100上。校准标签106在任意成角度的位置被读取并且在没有任何使用者干预的情况下通过集成仪表10被解码。校准标签106经由提供在预定位置的多个电触点108被读取。所选择的电触点108通过导电轨迹120连接到内环116。其他电触点108通过导电轨迹120连接到外环118，同时还有另外的电触点108既不连接内环116也不连接外环118。不连接的触点可以用于建立标签关于自动校准组件64的定位，同时连接到内环116和外环118的电触点108可以用于编码校准数据。

可以应用多种数字和模拟配置来定义校准标签106。校准标签106可以通过将导电油墨丝网印刷到基部衬底上而构成，所述基部衬底可以是独立的衬底或传感器容器100(图5)。独立的衬底可以使用粘合剂(例如热溶性、UV固化或快速固化的粘合剂)或经由其他附着装置附着到传感器容器100。定义校准标签106的导电油墨可以是碳、银或碳/银混合的油墨。所述衬底可以是任意的可接受印刷的表面，包括纸张、填充聚合物的纸张或聚合物衬底，并且在一些实施例中是热稳定的聚对苯二甲酸乙二酯(PET)或聚碳酸酯。数字校准编码可以通过印刷或以激光切割轨迹而被直接编码来定义，例如将CO₂或Nd：YAG激光用于特定的测试传感器批次。在可替换的实施例中，例如薄铝膜的金属薄膜可以被使用以形成轨迹并且可以通过激光烧蚀以形成用以编码校准数据的校准图案。可以使用由图7a-图7d示例和说明的模拟系统，该模拟系统基于有选择地位于预定义位置的测量电阻，例如，如图7b所示，测量电阻表示为线路152并且连接到所选择的触点O、I、J。

图6b示出用于校准标签106的示例性的轨迹图案。如图6b所示，校准标签106包括三组触点连接：连接到外环或外部路径118表示逻辑1的第一电触点108A、108C、108E、108G和108I；连接到内环或内部路径116表示逻辑0的第二电触点108B、108D、108F和108H；以及表示原位置或同步的第三空接触或无连接(例如索引位置112)。应该理解的是内环116和外环118不必是正环形或正圆形。形成内环116和外环118的电触点108和导电轨迹120由导电材料构成。电触点108的位置与组成在集成仪表10的自动校准组件64中的校准引脚68(显示在图1b中)对准以形成电接触。虽然在一些实施例中，校准标签106可以置于多个旋转位置中的任意一个位置中，但在校准标签106被读取时，电触点108将始终与集成仪表10上的校准引脚68对准。图6c中的表格应用到图6b中的校准标签106。

索引位置112可以包括一个类似于电触点108的同步触点。由于同步电触点108未连接到多个电触点108中的任意其他电触点，因此该同步电触点108未显示在校准标签106上。具有多于一个同步触点的可替换的实施方式是可行的。具体的触点108可以被任意指定为始终连接到内环116或外环118。在图6B中，标记为I的触点被显示为始终连接到外环118。标记为A至H的电触点108连接到未编程的标签中的内环和外环。在被印刷的导电标签材料中进行切割以断开与内环116或外环118的接触，从而将校准代码编程到校准标签106中。电触点108A至108H中的每一个电触点均可以连接到任一环，这代表了2⁸(即二百五十六)种可行的组合。代码0(A至H全部连接到内环)、代码127、191、223、239、247、251、253和254(A至H中仅有一个连接到内环)和代码255(A至H全部连接到外环)通常不被允许，因此二百四十六种代码均可以对校准编码的校准标签106编程。

为了确定电触点108中的哪些是同步触点(例如，索引位置112)以及电触点108中的哪些连接到内环116和外环118，每次仅设置一个电触点108为低输出(零)。因为由校准标签106上的导电轨迹提供的电连接，使得与低触点位于相同环116、118上的任意电触点108同样被记录为低。因为同步触点未连接到环116、118中的任一环，所以当该同步触点被设置为低时，仅该同步触点被记录为低触点。这意味着必须至少有两个触点连接到内环116和外环118，否则，将不能确定哪个或哪些触点是同步触点。

一种用于确定自动校准数量的方法可以使用比校准标签106的同步触点的数量多两个的读数。所述读数中的每一个用于一组电触点108：连接到内环116的组，连接到外环118的组，以及每个同步触点使用一组。在采用了读数的这种最小化数量后，可以确定相应于四组中的每一组的电触点108。在仅使用单个同步位置时，可以仅对三个读数完成解码。如果存在两个同步触点，则需要解码四个读数。同步触点的位置被确定并且该位置与来自连接到内环116的组的读数结合使用以确定自动校准数量。连接到内环116的电触点108被认为是逻辑零，并且连接到外环116的电触点108被认为是逻辑一。

所选择的预定义的校准编码的图案由通过导电的内环116和外环118互连的电触点108组成。校准数据使用校准标签106上可选择的电互连的触点组而编码。一个或多个空接触位置112与环116和118都隔离开以用作旋转位置索引。在关于同步位置(由触点I表示)已知的位置处的一个电触点108连接到外环118，因此与该触点TO的全部连接均为逻辑一。

为了检测与内环116或外环118的连接，需要与所述环的至少两个连接来检测连续性。其余的电触点108连接到环116和环118中的一个或另一个，特定的连接图案确定校准代码。为了最小化标签原料，单个图案有益地使用顺序的冲孔或切割以有选择地使在位置A至H处的八个焊盘中的每一个与两个环116或118中的一个隔离开。在位置A至H处的除了索引位置或空位置以外的全部电触点108均连接到两个环116、118中的一个环并且仅连接到这一个环。最少有两个电触点108连接到每个环116、118。由于对于被认为有效的读数来说，除了索引位置112以外的全部电触点108均必须被计算在两个连续的组中的一者中，因此这种配置便于误差检查。当全部触点均表现为同步触点时，检测到缺失的校准标签106(即因为由校准标签106提供的连续性的缺失，在校准引脚68之间没有电连接)。

在一种数字编码方法中，表示0和1的一系列断开和导通的电路被引入到校准标签106上。数字校准标签106由激光切割或印刷而编码以表示由与内环116的连接确定的特定的校准代码数量，例如，其中A表示1，B表示2，C表示4，D表示8，E表示16，F表示32，G表示64并且H表示128。在图6c中，触点B、D、F和H被连接到内环116以定义校准代码数量。

微处理器82将一个电触点108或位配置为低，同时剩余的其他电触点108配置为高。电连接到特定的被驱动的电触点108的全部电触点108被强制为低，同时剩余的电触点108被上拉为高。通过选择性地驱动电触点108并读取产生的输入图案，互连图案和关联的校准代码被确定。虽然定义为不与其他触点连接的唯一的索引位置112被用于确定校准标签106的旋转位置，从而可以确定电触点108A至108I，但应该理解的是，可以使用对编码开始位置和校准代码具有唯一的位图案的其他配置。然而，其他二进制编码方案可能在具有相同数量的电触点108的情况下提供校准代码数量的更少的可行代码。

用于编码校准信息的可替换的校准编码的标签106b分别显示在图6d和6e中。在任意的校准标签106和106b中，只要触点位于已知的或预定义的位置，则触点相对于彼此的实际物理位置对解码校准标签106来说并不重要。

参考图6d和图6e，十个电触点108由触点A至触点J表示。如图6d中，存在包括两个索引位置112b(SYNC)、外环118(OUTER)和内环116(INNER)的三组或三套触点连接。在图6d中，对于具有十个触点A至J的校准编码的校准标签106b，触点J是同步触点1(SYNC1)，触点A是同步触点2(SYNC2)，并且显示为触点I的一个触点必须被连结到外环，并且其余八个触点B至J被连接到内环116或外环118。八个触点B至J(代码0至255)表示256(2⁸)种可行的连接组合，减去八个仅有一个内环连接的组合(代码127，191，223，239，247，251，253，254)，减去一个仅有一个外环连接的组合(编码0)。校准标签106b提供校准数量的247种唯一的组合或编码。

在特定的校准标签106上的校准代码还可以用于区分测试传感器38的一些类型。假设传感器类型“A”需要十个校准代码，传感器类型“B”需要二十个校准代码，并且传感器类型“C”需要三十个校准代码。可以指定自动校准代码，从而使代码一至十以类型“A”的校准代码一至十表示“A”类型传感器，标签代码十一至三十以类型“B”的校准代码一至二十表示“B”类型传感器，并且标签代码三十一至六十以类型“C”的校准代码一至三十表示“C”类型传感器。在本示例中，标签代码同时表示传感器类型和关联该传感器类型的校准代码。

在图6d中，校准标签106d的可替换的类型1、2、3和4包括两个同步位置112b。在类型1的校准标签106b中，使用了两个相邻的同步位置。在类型1的校准标签106b中，两个相邻的同步触点是J和A，一个触点I连接到外环118，并且其余的七个触点B至H连接到内环116或外环118。七个触点表示128(2⁷)种可行的连接组合，减去七个仅有一个内环连接的组合，减去一个仅有一个外环连接的组合。类型1的校准编码的校准标签106b提供了校准数量的120种唯一的组合。

在类型2、3和4的校准标签106b中，可以使用两个同步触点的相对位置来提供额外信息。类型1的同步触点组合J和A(无间隔)、类型2的同步触点组合J和B(间隔一个位置)、类型3的同步触点组合J和C(间隔两个位置)和类型4的同步触点组合J和D(间隔三个位置)可以被唯一地检测并且用于区分校准标签106b的四种类型，每个校准编码的校准标签106b编码120种唯一的组合。同步触点组合J和E、J和F、J和G、J和H以及J和I是不能唯一地区分的。使用校准标签106b的四种类型1、2、3和4提供了校准数量的总共480(4＊120)种组合。

其他校准标签106可以提供用于生成唯一的图案的三个或更多同步触点的相对位置。例如，在具有三个同步触点并且一个触点连结到外环118的情况下，其余的六个触点连接到外环116或内环118。六个触点表示六十四(2⁶)种可行的连接组合，减去七个仅具有一个内环连接的组合，减去一个仅具有一个外环连接的组合，从而留下五十六种唯一的组合。多种方式均可以唯一地放置三个同步触点：J、A和B；J、A和C；J、A和E；J、A和F；J、A和G；J、A和H；J、B和D；J、B和E等。在具有两个同步触点的情况下，同步触点的这些组合可以表示不同类型的标签，并且例如，可以确定由集成仪表10执行的多个类型的分析中的一个。

同样参考图6f-图6g，示出根据本发明的一个实施例的数字自动校准编码标签106c。校准标签106c仅使用单个索引位置112c从而最大化能够被编码在电触点108c上的信息。在一些实施例中，可以使用更多的索引位置。在所示出的实施例中，感测触点110c通过电轨迹120c连接到内环116c或外环118c中的至少一者。如果感测触点110c被强制为低，则至少一个电触点108c被拉至低。在本实施方式中，被拉至低的至少一个电触点108c可以被用作对校准标签106c与自动校准组件64(图1b)相接触的标志。根据一个实施例，感测触点110c所在的位置独立于校准标签106c关于自动校准组件64的定位。

在图7a中，示出根据一个实施例的模拟电子电路150。模拟电子电路150基于提供在校准标签106d(如图7b中的最佳显示)或校准标签106e(如图7C中的最佳显示)上的电阻器152(R1和R2)的测量电阻值。电阻器152(R1和R2)的电阻值提供校准值。中心触点和任何其他电触点108之间的连续性可以作为校准标签106e与仪器的自动校准组件64相接触的标志。虽然可以将电阻的模拟值与校准值相关联，但典型的配置是将电阻器152印刷为特定值。例如，为了区分五个校准代码，五个不同的电阻值(例如1000Ω、2000Ω、3000Ω、4000Ω和5000Ω)中的一个电阻值将被丝网印刷在校准标签106d、106e上。电阻器152(R1和R2)的电阻值被选择，从而即使由于印刷变化或校准标签106d、106e由校准引脚68接触处的接触电阻的变化而可能存在电阻的变化，由微处理器82测量的电阻值仍彼此易于区分。

在图7a中，示出已知的参考电压(VREF)和具有已知的参考电阻(RREF)的电阻器154。模数转换器(ADC)156将呈现在其输入端的标记为VMEAS的模拟电压转换为其标记为(IA)的输出端处的数字值，该数字值由微处理器82读取。驱动器158(DA)是由微处理器82通过标记为OA的信号线控制的模拟开关。驱动器158控制p沟道场效应晶体管(FET)160，从而当驱动器158关断时，使电阻器154RREF接入模拟电子电路150，或者当驱动器158导通时，将电阻器154RREF短路。

电阻器152(R1和R2)的值可以如下确定。在驱动器158DA关断的情况下，电阻器154RREF接入电路中，从而使电阻器152(R1和R2)加上电阻器154RREF作为分压器。之后电压VMEAS被测量并且定义为VOFF。在驱动器158导通的情况下，RREF短路，从而使电阻器152(R1和R2)作为分压器。之后电压VMEAS被再次测量并且现在被定义为VON。

可应用的等式为：

$\mathrm{VOFF}=\frac{R2+\mathrm{RREF}}{R1+R2+\mathrm{RREF}}\mathrm{VREF}$   [等式1]

$\mathrm{VON}=\frac{R2}{R1+R2}\mathrm{VREF}$                 [等式2]

在等式2中解出R1：

$R1=R2\frac{\mathrm{VREF}-\mathrm{VON}}{\mathrm{VON}}$                 [等式3]

将R1替换到等式1中并解出R2：

$R2=\mathrm{RREF}\frac{\mathrm{VON}(\mathrm{VREF}-\mathrm{VOFF})}{\mathrm{VREF}(\mathrm{VOFF}-\mathrm{VON})}$         [等式4]

REF和RREF是已知的值并且VOFF和VON是所测量的值。在等式3中，R2、VREF和VON的值被代入以计算R1。这样，R1和R2是已知的，因此校准值可以被确定。

为了区分许多校准代码，可以使用多于一个的电阻器。对于具有“m”个电阻器的校准标签106d、106e，每个电阻器的阻值均可以是“n”个值中的任意一个，则校准代码的数量是mⁿ。

例如，印刷两个电阻器152(R1和R2)，其中每个电阻器152均可以具有五个不同的电阻值中的一个电阻值，从而允许相区别的二十五(即5²)种校准代码。这可以扩展到三个电阻器152并且可以提供125(即5³)种校准代码，以此类推。

参考图7b，示出根据一个实施例的两个电阻器152的模拟校准标签106d。如图7a所示，内部电阻器152(R2)和外部电阻器152(R1)可以被复制十次(校准标签106d的每个旋转位置各一次)，同时仅需要三个校准引脚68。校准引脚68位于一条线上。一个校准引脚68(PA)将在全部内部电阻器152(R2)的公共接点(I)处接触电触点108。另一个校准引脚68(PB)在内部电阻器R2和外部电阻器152R1的接点(J)处接触电触点108。第三个校准引脚68(PC)在外部电阻器152(R1)的另一端(O)处接触电触点108。

图7b中的校准标签106d的一个变化是可以仅具有一个内部电阻器152(R2)和一个外部电阻器152(R1)，其中连续的导电环接触校准引脚68。一个环(未示出)位于电阻器152(R1和R2)的接点(J)的直径处。另一个环(未示出)位于电阻器152R1的另一端(O)的直径处。导电环由低电阻材料制成。校准引脚68将接触标签106d的中心触点(I)和两个环。

图7c中示出两个电阻器的校准标签106b的另一种类型。三个校准引脚68再次位于一条线上。一个校准引脚68(PB)将在全部十个电阻器152的接点178处接触电触点108。另一个校准引脚68(PA)将连接到电阻器R1的一端174。第三个校准引脚68(PC)将与其他两个校准引脚68位于一条线上并且在电阻器R2的一端176处连接到电触点108。如果电阻R1的电阻值的集合(例如n1个值)与电阻R2的电阻值的集合(例如n2个值)不同，则可以区分n1＊n2个不同的校准代码。

对于图7c中示出的校准标签106e，其中两个电阻器152的值从同一集合的“n”个电阻中选择，因此一些组合因为标签的旋转而不可区分(例如R1＝1000Ω和R2＝2000Ω不能与R1＝2000Ω和R2＝1000Ω相区分)。所述类型的校准标签106e的两个电阻器的不同组合的数量由以下等式给出，其中每个电阻器的阻值均可以是“n”个值中的一个：

                   [等式5]

同样参考图7d，可以确定的不同电阻值的数量和相区别的校准代码的数量被列表。

现在参考图8a-图8e，分别示出根据本发明的一些实施例的多个校准标签206a-206e。所述校准标签206a-206e中的每一个均包括置于围绕任意的感测触点210a-210e的多个电触点208a-208e。电触点208a-208e中的每一个最初均通过多个导电轨迹220a-220e而连接到内环216a-216e和外环218a-218e。通过去除导电轨迹220a-220e的一部分以将电触点208a-208e中的一个或多个与内环216a-216e和外环218a-218e中的一者或两者断开，从而使校准信息被编码在校准标签206a-206e上。通过去除导电轨迹220a-220e以将电触点208a-208e与内环216a-216e和外环218a-218e断开，使得同步位置被编码。

每个校准标签206a-206e均提供有至少一个标签定位组件214a-214e。标签定位组件214a-214e的数量是变化的，例如，每个校准标签206a-206e的标签定位组件214a-214e均不同。如图8a-8d所示，如果标签定位组件214a-214d对称地置于围绕校准标签206a-206d的外围，则校准标签206a-206d可以在被提供到集成仪表10的自动校准组件64(图1b)之前被旋转到多个位置。通过选择性地使一个或多个同步触点与两个标签环隔离开，可以建立这些校准标签206a-206d关于自动校准组件64的定位。可替换地，在图8e中，校准标签206e包括多个标签定位组件214e，该标签定位组件214e对称地置于围绕校准标签206e。同样地，标签定位组件214e结合自动校准组件64上的多个不对称的定位组件72帮助确保校准标签206e仅在特定方向上被提供到自动校准组件64的多个校准引脚68。

现在参考图9a-图9f，示出根据本发明的多种实施例的多个校准标签306a-306f。每个校准标签306a-306f均包括多个电触点308a-308f。在图9b、9d和9f中，多个电触点308b、308d、308f一般置于围绕任意的感测触点310b、310d、310f。每个电触点308a-308f最初均通过多个导电轨迹320a-320f连接到内环316a-316f和外环318a-318f。通过去除导电轨迹320a-320f中的一部分以将电触点308a-308f中的一个或多个与内环316a-316f和外环318a-318f中的一者或两者断开，使得校准信息被编码在校准标签306a-306f上。通过选择性地使一个或多个同步触点与两个标签环隔离开，可以建立这些校准标签306a-306f关于自动校准组件64的定位。

校准标签的上述实施例被示例为一般对称地围绕校准标签的外围。在可替换的实施例中，校准标签是不对称的，从而仅允许校准标签和集成仪表的自动校准组件的一种定位。在这些实施例中，所述校准标签可以进一步包括标签定位组件以帮助使用者恰当地对准所述校准标签。可替换地，校准标签的不对称的形状可以便于校准标签的恰当对准。

现在转向图10，例示了可以结合本发明使用的仪表410。仪表410包括外壳412、包括传感器开口416的测试机构414、显示器418和按钮集420。外壳412包括第一端412a和相对的第二端412b。外壳412还包括位于第一和第二端412a-b之间且通常与之垂直的多个壁部分412c-f。根据一个实施例，显示器418和按钮集420位于外壳412的第一端412上，而自动校准组件426(图12a)位于外壳412的第二端412b上。在所例示的实施方式中，测试机构414位于沿传感器容器开口422的第一壁412c上。传感器容器开口422适于在其中放置传感器容器460(图11)。

传感器容器开口422在外壳412的第三壁412e和第四壁412f之间形成了腔。在所例示的实施方式中，第三壁412e和第四壁412f都包括从其中突出的相应的延伸部424a、424b。延伸部424a、424b适于在其上放置传感器容器460(图11)的一部分并允许自动校准组件426(图12a)与位于传感器容器460上的校准标签464接触。

还参考图11，例示了可以结合图10的仪表410使用的传感器容器460。传感器容器460包括适于封入多个测试传感器(例如，图3-4中所例示的测试传感器38)的外壳462。外壳包括第一端462a和相对的第二端462b。外壳还包括位于第一和第二端462a-b之间且通常与之垂直的多个壁部分462c-f。根据一个实施例，校准标签464传感器容器460的第一端462a上。

传感器容器460包括适于允许多个测试传感器中的至少一个从传感器容器460移除的传感器孔466。根据一个实施例，传感器容器460包括分别从传感器容器460的第三壁462e和第四壁462f延伸出去的多个翼部424a、424b。翼部424a-b适于允许传感器容器460放置到仪表410上，使得位于传感器容器460上的校准标签464接触到仪表410的自动校准组件426(图12a)。

现在参考图12a-c，将例示根据一个实施例的传感器容器460在仪表410上的放置。传感器容器460放置到仪表410上，从而使得在校准标签464上提供的多个电触点470与具有(设有)自动校准组件426的多个校准触点428接触。通过多个电触点470与多个校准触点428的接触，包含在校准标签464上的自动校准信息可以由仪表410读取来校准仪表410，以正确地测试提供给测试传感器的流体样本。

在一个实施例中，通过将传感器容器460的第一端462a滑到在仪表410中形成的传感器容器开口422中，传感器容器460放置到仪表410上。传感器容器460插入到传感器容器开口422中，使得传感器容器460的翼部468a-b位于仪表410第三和第四壁412e-f的相应延伸部424a-b上。如图12c中所例示的，当传感器容器460位于仪表410上时，传感器孔466保持可以由使用者从外部进行访问，以便允许由使用者将测试传感器从传感器容器460移除。然后，测试传感器可以由使用者插入到传感器开口416中，且由仪表410从位于传感器容器460上的校准标签464读取的校准信息可以用于校准用于流体样本分析的仪表410。

现在转向图13a-d，将例示根据本发明的其它实施方式的传感器容器560在仪表510上的放置。仪表510包括第一端512a和相对的第二端512b。仪表510还包括位于第一和第二端512a-b之间且通常与之垂直的多个壁部分512c-f。根据一个实施例，自动校准组件526位于仪表510的第二端512b上。在所例示的实施方式中，第一传感器容器开口522a位于第一壁512c上，而第二传感器容器开口522b位于第二壁512d上。

第一和第二传感器容器开口522a-b适于在其中放置传感器容器560。第一和第二传感器容器开口522a-b都在仪表510的第三壁512e和第四壁512f之间形成腔。在所例示的实施方式中，第三壁512e和第四壁512f都包括位于相应壁的相对端上的延伸部524a、524c和524b、524d。延伸部524a-d适于在其上放置传感器容器560的一部分并允许自动校准组件526与位于传感器容器560上的校准标签564接触。

传感器容器560包括适于封入多个测试传感器(例如，图3-4中所例示的测试传感器38)的外壳。该外壳包括第一端562a和相对的第二端562b。该外壳还包括位于第一和第二端562a-b之间且通常与之垂直的多个壁部分562c-f。根据一个实施例，校准标签564位于传感器容器560的第一末端562a上。

传感器容器560包括适于允许多个测试传感器中的至少一个从传感器容器560移除的传感器孔566。根据一个实施例，传感器容器560包括分别从传感器容器560的第三壁562e和第四壁562f延伸出去的多个翼部524a、524b。翼部524a-b适于允许传感器容器560放置到仪表510上，使得位于传感器容器560上的校准标签564接触到仪表510的自动校准组件526。在所例示的实施方式中，翼部524a-b只是沿第三壁562e和第四壁562f的长度部分地延伸，如以下将进一步讨论的。

如图13c-d中最佳例示的，将根据本发明的有些实施方式来描述传感器容器560在仪表510上的各种放置定位。传感器容器560放置到仪表510上，从而使得在校准标签564上提供的多个电触点570与具有自动校准组件526的多个校准触点528接触。通过多个电触点570与多个校准触点528的接触，包含在校准标签564上的自动校准信息可以由仪表510读取来校准仪表510，以正确地测试提供给测试传感器的流体样本。

在一个实施例中，通过将传感器容器560的第一端562a滑到在仪表510的第一壁512c中形成的第一传感器容器开口522a中，传感器容器560放置到仪表510上。传感器容器560插入到第一传感器容器开口522a中，使得传感器容器560的翼部568a-b位于仪表510第三和第四壁512e-f的相应延伸部524a-b上。传感器容器560继续插入到第一传感器容器开口522a中，直到传感器容器560的翼部568a-b接合一个或多个沿延伸部524定位的机械止动部530a-b(如图13b中最佳例示的)。因为翼部568a-b只沿传感器容器第三壁562e和第四壁562f长度部分地延伸，所以当翼部568a-b接合机械止动部530a-b时，传感器容器560的主要部分部分地封入第一和第二传感器开口522a-b中。当以这种实施方式放置传感器容器560时，传感器孔566位于靠近仪表510的传感器开口516的地方。

可选地，在另一个实施例中，可以通过将传感器容器560的第一端562a滑到在仪表510的第二壁512d中形成的第二传感器容器开口522b中，将传感器容器560放置到仪表510上。传感器容器560插入到第二传感器容器开口522b中，使得传感器容器560的翼部568a-b位于仪表510第三和第四壁512e-f的相应延伸部524c-d上。传感器容器560继续插入到第二传感器容器开口522b中，直到传感器容器560的翼部568a-b接合一个或多个沿延伸部524定位的机械止动部530a-b(如图13b中最佳例示的)。如以上所讨论的，当翼部568a-b接合机械止动部530a-b时，传感器容器560的主要部分部分地封入第一和第二传感器开口522a-b中。但是，当以这种实施方式放置传感器容器560时，传感器孔566与仪表510的传感器开口516相对。

如图13c-d中所例示的，当传感器容器560位于仪表510上时，传感器孔566保持可以由使用者从外部进行访问，以便允许由使用者将测试传感器从传感器容器560移除。然后，测试传感器可以由使用者插入到传感器开口516中，且由仪表510从位于传感器容器560上的校准标签564读取的校准信息可以用于校准用于流体样本分析的仪表510。

现在转向图14-15，例示根据本发明的还有另一个实施例的仪表610和传感器容器600。仪表610包括适于允许传感器容器600的一部分插入到其中的传感器容器开口612。多个延伸部614a-b在仪表610上形成并适于接合在传感器容器600的盖子604上形成的翼部620或槽。在所例示的实施方式中，当传感器容器600部分地插入到传感器容器开口612中时，翼部620允许传感器容器600的基部602从盖子604移除。在可替换的实施例中，翼部620或槽可以放置到传感器容器600的基部602上，从而需要使用者在将传感器容器600的一部分插入到传感器容器开口612中之前从传感器容器600移除测试传感器。

在还有其它实施方式中，传感器容器100(图5)的盖子104可以插入到传感器容器开口612中。因为传感器容器100的盖子104具有比基部102大的直径，如图5中所例示的，所以延伸部614a-b能够在仪表610中支撑传感器容器100，而不需要在传感器容器100中提供槽。

现在转向图16-17，例示了根据本发明的还有另一个实施例的仪表710和传感器容器700。仪表710包括适于允许传感器容器710的一部分插入到其中的传感器容器开口712。延伸部714a-b在仪表710上形成并适于接合在传感器容器700的盖子704上形成的槽口720。在所例示的实施例中，当传感器容器700部分地插入到传感器容器开口712中时，槽口720允许传感器容器700的基部702从盖子704移除。在可替换的实施例中，槽口720可以放置到传感器容器700的基部702上，从而需要使用者在将传感器容器700的一部分插入到传感器容器开口712中之前从传感器容器700移除测试传感器。

槽口720只在传感器容器700一部分上的使用便于校准标签706利用位于仪表710传感器容器开口712中自动校准组件(未示出)的正确定位。如此，当期望或需要校准标签706的单个和特定定位时，可以使用槽口720。

如从上述实施例可见，包含在校准标签上的编码的校准信息可以通过集成仪表直接从传感器容器读取和确定而不需要将传感器容器插入到集成仪表中。因此，上述设备允许集成仪表自动地确定用于包含在传感器容器内的测试传感器的校准信息，其中所述传感器容器适于允许使用者独立地从传感器容器中取出测试传感器并且将被取出的测试传感器插入到集成仪表中。

集成仪表能够自动地确定用于被插入的测试传感器的校准信息而不需要使用者键入校准信息或放置和插入校准芯片或其他装置到集成仪表中。因为传感器容器包括直接位于其上的校准标签，当使用者打开传感器容器以取出测试传感器时，使用者必须具有校准标签。在一些实施例中，所述集成仪表被设计为需要使用者在流体样本可以被分析之前并且在测试传感器被插入集成仪表之后将校准标签接触到自动校准组件。这可以帮助确保为被插入到集成仪表中的特定测试条提供恰当的校准信息。

如上所述，感测触点是一种电触点并且在感测触点和任意其他校准触点之间的连续性可以被用于建立在标签和自动校准组件之间建立的接触。在一种可替换的方法中，标签上不使用触点，而是使仪器具有类似开关的按钮，当通过容器与自动校准组件建立机械接触时，该按钮被激活。在任一实施方式中，微控制器均将反复试图读取标签直至检查到有效的校准代码或者通过感测机构确定所述标签已被取出。

以上实现方式使测试传感器容器咬合在仪器的外部上或以其他方式附着到仪器外部(或使仪器附着到瓶子)并且使标签接触校准组件。然后，两者保持连接直至全部传感器均被用过并且旧瓶子由新瓶子取代。这种集成传感器不仅可以存储在仪器中，而且还可以降低在以具有与上一个瓶子不同的校准代码的新瓶子进行测试之前测试器不使标签接触校准组件的可能性。可选实现方式将使校准标签瞬间与校准组件接触。一旦微控制器传送了校准信息，标签就可以取回，仪表记住并使用所传送的信息。

可替换的实施例A

一种用于确定流体样本中分析物浓度的测试系统，包括：

具有基部和盖子的传感器容器，该传感器容器适于在其中封入多个测试传感器，该传感器容器包括附着于其上的校准标签，校准标签包括位于其上的多个电触点，该电触点适于将校准信息编码在校准标签上；及

具有在其上形成的传感器容器开口的测试设备，传感器容器开口具有位于其中的自动校准组件，该自动校准组件在测试设备的外部，自动校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件，

其中该测试设备适于响应接合电触点的校准元件而确定在校准标签上编码的校准信息，在编码的校准信息被确定时，传感器容器的一部分保持在仪表的外部。

可替换的实施例B

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中校准标签连接到传感器容器的盖子。

可替换的实施例C

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成数字电路。

可替换的实施例D

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成模拟电路。

可替换的实施例E

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中校准元件是从自动校准组件延伸的校准引脚。

可替换的实施例F

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中测试设备包括至少一个延伸部。

可替换的实施例G

根据可替换的实施例F所述的测试系统，其中传感器容器包括适于由至少一个延伸部接合的槽。

可替换的实施例H

根据可替换的实施例G所述的测试系统，其中传感器容器包括至少一个适于由至少一个延伸部接合的槽口。

可替换的实施例I

根据可替换的实施例G所述的测试系统，其中传感器容器包括至少一个适于位于至少一个延伸部上的翼部。

可替换的实施例J

根据可替换的实施例A所述的测试系统，其中测试设备包括至少两个传感器容器开口。

可替换的实施例K

一种用于确定流体样本中分析物浓度的测试系统，包括：

具有基部和盖子的传感器容器，该传感器容器包括附着于其上的校准标签，校准标签包括位于其上的多个电触点，多个电触点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环，多个电触点中的第二电触点经由导电轨迹连接到第二环，且多个电触点中的第三电触点与第一环和第二环都断开，校准信息基于电触点与第一环和第二环的连接和断开而被编码在校准标签上；及

具有位于其内部的微处理器和在其上形成的传感器容器开口的测试设备，传感器容器开口具有位于其中的自动校准组件，该自动校准组件在测试设备的外部，自动校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件，微处理器适于响应与测试设备外部的多个校准元件接合的多个电触点而确定被编码在校准标签上的校准信息。

可替换的实施例L

根据可替换的实施例K的测试系统，其中测试设备还包括位于其中的存储器设备，该存储器设备与微处理器通信，该存储器设备适于存储用于其上预定义校准代码的查找表。

可替换的实施例M

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成数字电路。

可替换的实施例N

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成模拟电路。

可替换的实施例O

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中多个校准元件是从自动校准组件延伸部的校准引脚。

可替换的实施例P

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中校准标签包括感测触点，多个电触点通常位于该感测触点周围，该感测触点适于由在自动校准组件上形成的感测引脚接合，感测触点与感测引脚适于通知微处理器多个校准元件与多个电触点接合。

可替换的实施例Q

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中测试设备是集成仪表。

可替换的实施例R

根据可替换的实施例K所述的测试系统，其中多个电触点中的第三电触点指示用于校准标签的索引位置。

虽然本发明易受到各种修改和可替换的形式，但本发明的具体实施例和方法以示例的方式显示在附图中并在本文中详细说明。然而，应该理解，这不旨在将本发明限制为所公开的特定形式或方法，而是相反，旨在覆盖落入由所附权利要求限定的本发明的精神和范围内的全部修改、等价物和可替换物。

Claims (18)

1、一种用于确定流体样本中分析物浓度的测试系统，包括：

传感器容器，具有基部和盖子，该传感器容器适于在其中封入多个测试传感器，该传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签包括多个位于其上的电触点，该电触点适于将校准信息编码在校准标签上；以及

测试设备，具有在其上形成的传感器容器开口，该传感器容器开口具有位于其中的自动校准组件，该自动校准组件位于测试设备的外部，自动校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件，

其中测试设备适于响应接合电触点的校准元件而确定编码在校准标签上的校准信息，在确定编码的校准信息时，传感器容器的一部分保持在仪表外部。

2、如权利要求1所述的测试系统，其中校准标签附着到传感器容器的盖子。

3、如权利要求1所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成数字电路。

4、如权利要求1所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成模拟电路。

5、如权利要求1所述的测试系统，其中校准元件是从自动校准组件延伸的校准引脚。

6、如权利要求1所述的测试系统，其中测试设备包括至少一个延伸部。

7、如权利要求6所述的测试系统，其中传感器容器包括适于由至少一个延伸部接合的槽。

8、如权利要求7所述的测试系统，其中传感器容器包括适于由至少一个延伸部接合的至少一个槽口。

9、如权利要求7所述的测试系统，其中传感器容器包括适于位于至少一个延伸部上的至少一个翼部。

10、如权利要求1所述的测试系统，其中测试设备包括至少两个传感器容器开口。

11、一种用于确定流体样本中分析物浓度的测试系统，包括：

传感器容器，具有基部和盖子，该传感器容器包括附着于其上的校准标签，该校准标签包括位于其上的多个电触点，多个电触点中的第一电触点经由导电轨迹连接到第一环，多个电触点中的第二电触点经由导电轨迹连接到第二环，且多个电触点中的第三电触点与第一和第二环断开，校准信息基于电触点与第一环和第二环的连接和断开而被编码在校准标签上；以及

测试设备，具有位于其内部的微处理器和在其上形成的传感器容器开口，该传感器容器开口具有位于其中的自动校准组件，该自动校准组件在测试设备的外部，该自动校准组件包括适于与校准标签上的多个电触点通信的多个校准元件，微处理器适于响应接合测试设备外部的多个校准元件的多个电触点而确定编码在校准标签上的校准信息。

12、如权利要求11所述的测试系统，其中测试设备还包括位于其中的存储器设备，该存储器设备与微处理器通信，该存储器设备适于存储用于其上预定义校准代码的查找表。

13、如权利要求11所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成数字电路。

14、如权利要求11所述的测试系统，其中测试设备和自动校准组件形成模拟电路。

15、如权利要求11所述的测试系统，其中多个校准元件是从自动校准组件延伸的校准引脚。

16、如权利要求11所述的测试系统，其中校准标签包括感测触点，多个电触点通常位于该感测触点的周围，该感测触点适于由在自动校准组件上形成的感测引脚接合，该感测触点与感测引脚适于通知微处理器多个校准元件与多个电触点接合。

17、如权利要求11所述的测试系统，其中测试设备是集成仪表。

18、如权利要求11所述的测试系统，其中多个电触点中的第三电触点指示用于校准标签的索引位置。

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