TW201406347A - 電化學試片讀取裝置及方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種電化學試片讀取裝置及電化學試片讀取方法，用以檢測血液中的血糖含量。電化學試片讀取裝置包含殼體、顯示器、供電化學試片及記憶校準片插入之插槽、電流檢知轉換迴路、微處理器等。前述之記憶校準片中搭載有同一批電化學試片的識別資訊，除了提供識別資訊之外，另可作為承載資料之記憶卡以及補正誤差之校正卡。
Description
本發明係有關於一種應用於生物檢測的試片讀取裝置及試片讀取方法，特別是有關於一種電化學試片讀取裝置及電化學試片讀取方法。
隨著文明社會的演進，糖尿病的發生率與盛行率有逐年攀升的趨勢，罹病年齡更是逐年降低，近年來於臺灣地區一直是高居十大死因的前五名，而事實上，十大死因中之心臟病、高血壓及中風亦皆與糖尿病息息相關。緣此，醫界不斷進行糖尿病相關之臨床試驗以尋求有效治療機制，並倡導良好的血糖控制能減低糖尿病併發症的產生，故血糖檢測已不僅止於實驗室中對於血漿血糖值的測定，更多的血糖檢測儀已發展至提供使用者進行居家檢測的小型血糖機，患者可自我監測血糖，快速得知結果，進而決定治療變動，縮短住院時間，並可減少不必要的門診，係為糖尿病治療史上的重要里程碑。
血糖檢測系統可區分為光學式與電化學式，光學式係利用葡萄糖氧化酶(glucose oxidase, GOD)與血液中之葡萄糖作用後產生過氧化氫，過氧化氫再與試劑(含Horseradish peroxidase HRPO)反應產生顏色，該顏色可以反射光度計或吸收光度計測定，但使用這套系統時必須將紅血球去除以避免紅血球反應，不僅過程中易發生污染，缺少精確的操作更將使結果產生很大差異。為了提高準確性，近年來的產品已改進為不必去除紅血球之葡萄糖脫氫酶(Glucose Dehydrogenase, GDH)電化學法，將反應產生的電流轉換為血糖數值而顯示於螢幕上，此方法不僅避免光學比色所引起的誤差，並簡化了患者操作的步驟，縮短測定時間，更減少了用血量，價格也相對便宜，故電化學式系統的使用漸趨普遍。
此外，許多文獻也指出，使用於居家照護的小型血糖機在儀器品質可靠，且患者使用正確的情況下，其正確的血糖值檢測記錄將是提供臨床上決定治療措施的重要參考。為確保檢測結果的正確性，儀器製造商目前已發展出可使用一外加校正晶片的血糖機，該校正晶片用以儲存試片類型、批號及保存期限等識別資訊。在進行檢測時，將對應於檢測試片類型及批號的校正晶片插入檢測儀，檢測儀讀取校正晶片中的識別資訊，且將這些識別資訊顯示於檢測儀上，由使用者自行確認所欲使用之檢測試片與儀表所顯示的類型、批號是否相同，以及試片是否超過使用期限。由於校正晶片亦可搭載該批號所屬試片的檢測值校正資訊，因此必須使用與該校正晶片同批號的檢測試片進行檢測，以確保最正確的檢測結果。
然而，任何檢測儀器均存在老化問題，而一旦儀器開始老化，所讀取之檢測結果恐怕受到影響而失去準確性，故如何有效查證檢測結果是否正確，以及檢測後如何有效進行檢測值的校正，以解決儀器老化問題，係為目前儀器製造商所欲改善的目標。
為了改善並解決上述先前技術不盡理想之處，本發明提供一種電化學試片讀取裝置及讀取方法，用以讀取記憶校準片中所搭載之識別資訊及電化學試片所釋放的檢測訊號。本發明所提供之裝置包含殼體、顯示器、插槽、電流檢知轉換迴路、微處理器等，顯示器設置於殼體上用以顯示檢測結果，插槽提供記憶校準片及電化學試片插入位置，電流檢知轉換迴路設置於殼體內部，用以檢測記憶校準片之標準電阻與電化學試片之流體反應區所產生的檢測訊號，微處理器亦設置於殼體內部，包含資料庫模組及運算模組，資料庫模組中儲存有複數筆記憶校準片識別的類型及批號，將所得之檢測訊號比對資料庫模組所記載之複數筆資訊，並根據所對應之批號的計算公式與試劑校正資料計算產生檢測結果。其中，記憶校準片具有複數個金屬接腳以供電化學試片讀取裝置辨識，接著讀取其記憶晶片中所載之識別資訊及標準電阻參數值，識別資訊包含：電化學試片的類型、批號、使用期限、所屬批號的計算公式與試劑校正資料等，另外，透過讀取記憶校準片上所設置之標準電阻而獲得標準電阻訊號，將其與標準電阻參數值相比較所產生的校準偏差值作為檢測誤差的補償值，自動校正電化學試片讀取裝置檢測電化學試片時所發生之檢測誤差情況。而電化學試片具有複數個電極以供電化學試片讀取裝置辨識並讀取其流體反應區中所產生的檢測訊號，再經由比對、運算及自動校正程序而獲得正確的血糖檢測值。
因此，本發明之主要目的係提供一種電化學試片讀取裝置及讀取方法，當電化學試片讀取裝置辨識為記憶校準片時，除了讀取記憶校準片中所搭載的識別資訊，並可將這些識別資訊儲存至電化學試片讀取裝置中，此方法不同於過去儀器必需同時插入校正試片與檢測試片才可完成檢測，可解決因校正試片遺失而無法取得相關資訊所造成的不便。
本發明之次要目的係提供一種電化學試片讀取裝置及讀取方法，當電化學試片讀取裝置辨識為記憶校準片時，除了讀取記憶校準片中所載之識別資訊並寫入電化學試片讀取裝置之外，還進一步設置標準電阻於記憶校準片上，及儲存標準電阻參數值於記憶校準片之記憶晶片中，透過讀取記憶校準片上所設置之標準電阻而獲得標準電阻訊號，將其與所儲存之標準電阻參數值相比較而求得校準偏差值，並依此校準偏差值自動校正檢測誤差，故可改善因儀器老化或接觸不良所導致的誤差問題，進而提升檢測結果的正確性。
本發明之再一目的係提供一種電化學試片讀取方法，用以偵測檢體於電化學試片上產生化學反應後所釋放的檢測訊號，將此檢測訊號經轉換、比對、計算以及校準後顯示檢測結果而完成試片測試程序。
本發明之又一目的係提供一種記憶校準片的讀寫方法，用以讀取記憶校準片所搭載之識別資訊及標準電阻參數值，並讀取記憶校準片上所設置標準電阻之標準電阻訊號，接著依標準電阻參數值與標準電阻訊號比較結果來進行儀器的校正而完成記憶校正程序，爾後也可隨時將儀器中所記錄之檢測履歷回存入記憶校準片中保存，除了儲存同批多筆電化學試片的檢測履歷外，另可記載不同時期各批記憶校準片的識別資訊與各批電化學試片的檢測履歷，故可作為長時間記錄檢測結果之病歷儲存卡，有助於遠端醫療諮詢及醫療追蹤。
由於本發明係揭露一種電化學試片讀取裝置及讀取方法，所利用之生化檢測原理，已為相關技術領域具有通常知識者所能明瞭，故以下文中之說明，不再作完整描述。同時，以下文中所對照之圖式，係表達與本發明特徵有關之結構示意，並未亦不需要依據實際尺寸完整繪製，盍先敘明。
首先請參考圖1A、1B及圖2A、2B，於本發明所提出之一第一實施例中，一電化學試片讀取裝置100係用於讀取記憶校準片10與電化學試片20，詳言之，係用以讀取記憶校準片10所載之識別資訊及電化學試片20所發出的檢測訊號，此電化學試片讀取裝置100包含記憶校準片10、殼體101、顯示器102、插槽103、電流檢知轉換迴路104、微處理器105及操作按鍵106。
本發明之顯示器102係設置於殼體101上，用以顯示檢測結果。插槽103係設置於殼體101上，提供記憶校準片10及電化學試片20相對插槽103插入，其中，插槽103所包含的複數個腳位1031、1032用以提供記憶校準片10形成之金屬接腳區11與電化學試片20形成之電極區21連接。電流檢知轉換迴路104係設於殼體101內部，透過插槽103讀取電化學試片20之流體反應區22所釋放的流體反應訊號。微處理器105設置於殼體101內部，包含資料庫模組1051及運算模組1052，資料庫模組1051儲存有複數筆識別資訊、標準電阻參數值、標準電阻訊號及流體反應訊號，各筆識別資訊包含不同批次電化學試片20的類型、批號、計算公式、有效期限與試劑校正資料等，運算模組1052則是根據電化學試片20之類型與批號，比對儲存於資料庫模組1051中對應此類型與批號的電化學試片20之識別資訊，並讀取其所屬之計算公式及試劑校正資料等，爾後經運算獲得此流體反應訊號所代表的檢測結果，並將所產生之檢測結果顯示於顯示器102上。另外，電化學試片讀取裝置100設有操作按鍵106，提供檢測過程中步驟選擇的操作。
本發明之記憶校準片10上設置有金屬接腳區11及記憶晶片12，記憶晶片12中搭載了同類型與同批次之電化學試片20的識別資訊，包含電化學試片20的類型、批號、使用期限、計算公式及試劑的校正資料等；金屬接腳區11用以與電化學試片讀取裝置100之插槽103連接，提供電化學試片讀取裝置100辨識及資料傳輸的功能。
記憶校準片10利用金屬接腳區11中複數個金屬接腳1101、1102與插槽103中的腳位1031、1032連接，其中金屬接腳1101與腳位1031連接，而金屬接腳1102與腳位1032連接，以提供電化學試片讀取裝置100辨識為記憶校準片10。當電化學試片讀取裝置100辨識為記憶校準片10時，啟動此電化學試片讀取裝置100(前述啟動方式可以分為自動或手動，其中，自動啟動為本實施例常用的方式之一)，接著，電化學試片讀取裝置100開始讀取記憶校準片10之記憶晶片12中所搭載的識別資訊，爾後將這些識別資訊傳輸並儲存至電化學試片讀取裝置100之微處理器105的資料庫模組1051中，以便後續據以比對同批電化學試片20所發出的流體反應訊號、並提供運算模組1052計算出檢測結果。
此外，本發明之記憶校準片10上所設置的記憶晶片12，可將所載之識別資訊自動傳輸並儲存至微處理器105的資料庫模組1051中，並可將儲存於資料庫模組1051中之複數筆檢測履歷傳輸且儲存至記憶校準片10之記憶晶片12中，因此，本發明所使用之記憶晶片12除可執行將識別資訊傳輸並儲存至電化學試片讀取裝置100之資料庫模組1051外，還可將儲存於資料庫模組1051中的檢測履歷回存至記憶校準片10之記憶晶片12中，即執行雙向傳輸與儲存檢測履歷的功能。以及，本發明之記憶校準片10另可作為介面記憶體使用，將檢測履歷與使用資訊等記錄進行輸出，如若搭配解碼器傳送並可進行遠端解讀。
本發明之電化學試片20設置有電極區21及流體反應區22，利用電極區21中至少兩個電極2101、2102與插槽103中的腳位1031、1032連接，其中電極2101與腳位1031連接，而電極2102與腳位1032連接，以提供電化學試片讀取裝置100辨識為電化學試片20。電極區21中並設有複數個電極2103、2104與流體反應區22中的血液樣本221連接，以檢測血液樣本221因化學反應所產生的流體反應訊號。當電化學試片讀取裝置100經比對後判定為正確的電化學試片20時，甫啟動此電化學試片讀取裝置100，接著，始將血液樣本221注入電化學試片20上之流體反應區22，由於設有複數個電極2103、2104與流體反應區22中的血液樣本221連接，當血液樣本221因發生化學反應而產生流體反應訊號時，透過電化學試片20之電極區21與電化學試片讀取裝置100之插槽103腳位的連接，可將此流體反應訊號傳導至電化學試片讀取裝置100中，經由電流檢知轉換迴路104讀取電化學試片20之流體反應區22所產生的流體反應訊號，並將此流體反應訊號與資料庫模組1051中所儲存的複數筆識別資訊進行比對，之後交由運算模組1052依此電化學試片20所對應之計算公式與試劑校正資料進行計算，並將計算結果顯示於顯示器102上。倘若電化學試片讀取裝置100經比對後判定為錯誤的電化學試片20時，則無法自動啟動此電化學試片讀取裝置100，此時退出電化學試片20並顯示離開操作模式，以確保檢測過程中使用正確的電化學試片20。
此種將本發明之記憶校準片10所載之識別資訊自動儲存至電化學試片讀取裝置100中，便於據以比對所欲使用之電化學試片20是否正確，相較於過去所使用的檢測儀器，必須是在校準片存在的條件下才能進行試片的檢測，本發明記錄了所有讀取過的識別資訊，不僅可避免使用者因遺失校準片而無法取得當批試片的識別資訊，更有效提升了檢測上的便利性。再則，本發明之記憶校準片10可藉由解碼器執行離機判讀以進行遠距離的醫療相關服務，並可透過連線以提供遠端醫療諮詢，對於居家照護及偏遠地區之醫療行為具有很大的幫助。
請再次參考圖1A、1B及圖2A、2B，於本發明所提出之第二實施例中，除了如上述第一實施例所示，將記憶校準片10所載之識別資訊自動儲存至電化學試片讀取裝置100中，以提供所欲使用之電化學試片20所需資訊之外，為使檢測結果更為準確，本發明係進一步於記憶校準片10上設置標準電阻13及在記憶校準片10上設置記憶晶片12儲存標準電阻參數值以協助校正電化學試片讀取裝置100因儀器老化所產生的檢測誤差。
請參考圖1A及圖1B，當記憶校準片10以複數個金屬接腳1101、1102與插槽103中的腳位1031、1032連接，而被電化學試片讀取裝置100辨識為記憶校準片10時，電化學試片讀取裝置100除讀取記憶校準片10之記憶晶片12中所搭載的識別資訊，包含電化學試片20的類型、批號、使用期限、計算公式、試劑校正資料之外，並讀取儲存於記憶晶片12中之標準電阻參數值，且將所讀取之識別資訊與標準電阻參數值皆儲存至微處理器105之資料庫模組1051中。另外，記憶校準片10上所設置的標準電阻13係與金屬接腳區11中的金屬接腳1103連接，而電化學試片讀取裝置100透過其插槽103中的腳位1031、1032與記憶校準片10之金屬接腳區11連接以讀取記憶校準片10之標準電阻13所產生的訊號，將此訊號傳遞至電化學試片讀取裝置100之電流檢知轉換迴路104中，爾後交由微處理器105進行運算以取得標準電阻訊號，再將此標準電阻訊號與已儲存於資料庫模組1051中之標準電阻參數值相比較以獲得校準偏差值，接著將此校準偏差值回存至電化學試片讀取裝置100之資料庫模組1051中，並以此校準偏差值作為後續電化學試片讀取裝置100檢測電化學試片20時所使用之補償值，即用以自動校正電化學試片讀取裝置100於檢測電化學試片20時所產生的檢測誤差。
因此，請繼續參考圖1A及圖1B，本發明之第二實施例之電化學試片讀取裝置100，除讀取記憶校準片10之記憶晶片12中所搭載關於電化學試片20之識別資訊之外，另讀取儲存在記憶晶片12中標準電阻13之標準電阻參數值，並將識別資訊與標準電阻參數值皆儲存至資料庫模組1051中，以便後續據以比對所欲使用之電化學試片20並運算產生檢測結果，另一方面，電化學試片讀取裝置100係透過連接記憶校準片10上之標準電阻13而獲得標準電阻訊號，經與標準電阻參數值比較後產生校準偏差值，將此校準偏差值回存至電化學試片讀取裝置100之資料庫模組1051中，以告知電化學試片讀取裝置100本身存在有檢測誤差，而所求出的校準偏差值將作為後續電化學試片20受檢時的補償值，意即由電化學試片讀取裝置100以自動補償的方式，在校準偏差值尚處於容許的範圍內時，以此校準偏差值針對標準電阻訊號進行補償，而依此校正機制所獲得的檢測結果，將更為準確且更具有參考價值。
請參考圖2A及圖2B，根據上述之電化學試片讀取裝置100的校正程序，當電化學試片20以其電極區21所形成之複數個電極2101、2102與插槽103中的腳位1031、1032連接時，電化學試片讀取裝置100會先依前述之電極與腳位的連接關係辨識是否確實為電化學試片，接著，再進行電化學試片20的識別資訊比對，藉以判定是否為正確的電化學試片，若為正確的電化學試片，則啟動電化學試片讀取裝置100並進入操作模式，待樣本輸入流體反應區22後經化學反應產生流體反應訊號，透過電流檢知轉換迴路104讀取所釋放之流體反應訊號。並藉由電化學試片讀取裝置100之自動補償誤差程序，將上述校準偏差值補償至流體反應訊號，爾後交由運算模組1052計算出檢測結果。
舉例來說，在進行血糖測試之前，會先以記憶校準片10執行校正程序，假設原記憶校準片10與電化學試片讀取裝置100連接後所應測得的標準電阻訊號為「150」，與資料庫模組1051中所儲存之標準電阻參數值「150」一致，則經比較後所獲得的補償值為「0」，代表此時電化學試片讀取裝置100之檢測讀值係屬正確。然而，經長期使用難免發生機器老化或與試片接觸不良情況，此時所測得的標準電阻訊號可能降為「145」，則透過與儲存於資料庫模組1051中的標準電阻參數值「150」比較後，獲得一校準偏差值為「5」，將此校準偏差值「5」自動回存至電化學試片讀取裝置100之資料庫模組1051中以作為後續檢測電化學試片20時其檢測結果的補償值，並提供電化學試片讀取裝置100所存在之誤差警告，而在校準偏差值尚處於容許的範圍內時，自動補償電化學試片20的檢測讀值。
此種一則將記憶校準片10所搭載的識別資訊包含電化學試片20之類型、批號、使用期限與對應於批號的計算公式等資訊自動存入電化學試片讀取裝置100中，便於據以比對所欲使用之電化學試片20是否正確，再則提供電化學試片讀取裝置100自動補償檢測誤差的功能，除了提供檢測上的便利性，更提高了檢測結果的準確性。
本發明進一步提供電化學試片讀取方法，其是運用前面所提及的電化學讀取裝置100，故接下來請根據圖1A、1B及圖2A、2B之結構示意圖，並參考圖3A及圖3B之步驟流程圖。
請參考圖3A，係本發明根據一實施例所提出之一記憶校準片10讀取方法的步驟流程圖，所包含的步驟如下：
步驟301：插入記憶校準片10於電化學試片讀取裝置100的插槽103中。
步驟302：當記憶校準片10之金屬接腳區11與電化學試片讀取裝置100之插槽103連接後辨識為記憶校準片10時，此記憶校準片10之複數個金屬接腳1101、1102會被開放為資料傳輸腳。
步驟303：接著啟動電化學試片讀取裝置100 (前述啟動方式可以分為自動或手動，其中，自動啟動為本實施例常用的方式之一)。
步驟304：一方面，讀取記憶校準片10之記憶晶片12中所載之識別資訊，此識別資訊包含同類型及批次之電化學試片20的類型、批號、計算公式、有效期限與試劑校正資料等，以及讀取一儲存於記憶晶片12中之標準電阻參數值。
步驟305：另一方面，透過插槽103中的腳位與記憶校準片10之金屬接腳區11連接以偵測記憶校準片10上的標準電阻13，讀取標準電阻訊號，並與標準電阻參數值相比較以求出校準偏差值。
步驟306：將此校準偏差值存至電化學試片讀取裝置100之資料庫模組1051中，並將此校準偏差值作為後續進行電化學試片20檢測時的補償值，自動補償檢測誤差。
步驟307：完成記憶校正程序。
步驟308：可選擇將電化學試片讀取裝置100中所儲存的檢測履歷、設定警示資訊及操作資訊等，回存入記憶校準片10之記憶晶片12中。
步驟309：完成資料保存程序。
請參考圖3B，係本發明根據一實施例所提出之一電化學試片20讀取方法的步驟流程圖，所包含的步驟如下：
步驟321：插入電化學試片20於電化學試片讀取裝置100的插槽103中。
步驟322：當電化學試片20之電極區21與電化學試片讀取裝置100之插槽103連接後辨識為電化學試片20時，此電化學試片20的複數個電極2101、2102會作為測試腳而被致能。
步驟323：接著比對電化學試片20之識別資訊，以判定是否為正確的電化學試片20。
步驟3241：當判定為正確的電化學試片20時，則啟動電化學試片讀取裝置100(跳至步驟325)。
步驟3242：若判定為錯誤的電化學試片20，則退出電化學試片20並離開操作模式。
步驟325：輸入檢體(血液或體液)至電化學試片20之流體反應區22。
步驟326：電化學試片讀取裝置100進入測試操作模式，讀取電化學試片20上流體反應區22所產生的流體反應訊號。
步驟327：將上述記憶校準片讀取方法中步驟305及步驟306所求出之校準偏差值自動補償至此流體反應訊號，交由運算模組1052計算後顯示其檢測結果於顯示器102上。
步驟328：完成測試程序。
以上所述僅為本發明之實施例，並非用以限定本發明之申請專利權利；同時以上的描述，對於熟知本技術領域之專門人士應可明瞭及實施，因此其他未脫離本發明所揭示之精神下所完成的等效改變或修飾，均應包含在申請專利範圍中。
100．．．電化學試片讀取裝置
10．．．記憶校準片
11．．．金屬接腳區
1101、1102、1103．．．金屬接腳
12．．．記憶晶片
13．．．標準電阻
20．．．電化學試片
21．．．電化學試片之電極區
2101、2102、2103、2104．．．電極
22．．．流體反應區
101．．．殼體
102．．．顯示器
103．．．插槽
1031、1032．．．插槽中之腳位
104．．．電流檢知轉換迴路
105．．．控制模組
1051．．．資料庫模組
1052．．．運算模組
106．．．操作按鍵
301、302、303、304、305、306、307、308、321、322、323、3241、3242、325、326、327、328．．．步驟
圖1A為一結構示意圖，係根據本發明第一及第二實施例提出之一電化學試片讀取裝置及使用於其中的記憶校準片。
圖1B為一結構示意圖，係根據本發明第一及第二實施例提出之一電化學試片讀取裝置中插槽的腳位與記憶校準片的金屬接腳之連接關係。
圖2A為一結構示意圖，係根據本發明第一及第二實施例提出之一電化學試片讀取裝置及使用於其中的電化學試片。
圖2B為一結構示意圖，係根據本發明第一及第二實施例提出之一電化學試片讀取裝置中插槽的腳位與電化學試片的電極之連接關係。
圖3A為一步驟流程圖，係根據本發明之一實施例所提出之記憶校準片的讀取方法。
圖3B為一步驟流程圖，係根據本發明之一實施例所提出之電化學試片的讀取方法。
10．．．記憶校準片
11．．．金屬接腳區
12．．．記憶晶片
13．．．標準電阻
100．．．電化學試片讀取裝置
101．．．殼體
102．．．顯示器
103．．．插槽
104．．．電流檢知轉換迴路
105．．．微處理器
1051．．．資料庫模組
1052．．．運算模組
106．．．操作按鍵
Claims (10)
- 一種電化學試片讀取裝置(100)，用以檢測一電化學試片(20)，包含：
ㄧ記憶校準片(10)，其具有一金屬接腳區(11)、一記憶晶片(12)及ㄧ標準電阻(13)，其中，該記憶晶片(12)載有該電化學試片(20)之一識別資訊及該記憶校準片(10)之一標準電阻參數值；
一殼體(101)；
ㄧ顯示器(102)，設置於該殼體(101)上；
一插槽(103)，設置於該殼體(101)上，提供該記憶校準片(10)及該電化學試片(20)插入，該插槽(103)包含複數個腳位(1031、1032)；
一電流檢知轉換迴路(104)，設置於該殼體(101)內，該電流檢知轉換迴路(104)透過該插槽(103)讀取該記憶校準片(10)之該標準電阻(13)的一標準電阻訊號及該電化學試片(20)之ㄧ流體反應區(22)所釋放的ㄧ流體反應訊號；以及
一微處理器(105)，具有:
一資料庫模組(1051)，儲存有複數筆該識別資訊、該標準電阻參數值、該標準電阻訊號及該流體反應訊號；及
一運算模組(1052)，讀取該資料庫模組(1051)中該電化學試片(20)之該識別資訊，將該流體反應訊號與該識別資訊比對並計算產生一檢測結果；
其中，該記憶校準片(10)以該金屬接腳區(11)與該插槽(103)連接，俾使該電化學試片讀取裝置(100)辨識該記憶校準片(10)，並讀取該記憶晶片(12)中所載之該識別資訊與該標準電阻參數值，以及讀取該標準電阻(13)之該標準電阻訊號。 - 根據申請專利範圍第1項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中藉由將該標準電阻訊號與該標準電阻參數值相比較以產生一校準偏差值，當該電化學試片(20)與該插槽(103)連接時，將依該校準偏差值補償該電化學試片讀取裝置(100)檢測該電化學試片(20)時所產生之檢測誤差。
- 根據申請專利範圍第1項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中該記憶校準片(10)之該記憶晶片(12)所載之該識別資訊包含該電化學試片(20)的類型、批號、計算公式、有效期限與試劑校正資料。
- 根據申請專利範圍第1項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中當該記憶校準片(10)以該金屬接腳區(11)形成之複數個金屬接腳(1101、1102)與該插槽(103)中之該等腳位(1031、1032)連接時，啟動該電化學試片讀取裝置(100)，該電化學試片讀取裝置(100)讀取該記憶校準片(10)中所載之該識別資訊及該標準電阻參數值，並將該識別資訊及該標準電阻參數值傳輸且儲存至該電化學試片讀取裝置(100)之該資料庫模組(1051)中。
- 根據申請專利範圍第4項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中當該記憶校準片(10)與該電化學試片讀取裝置(100)連接時，該電化學試片讀取裝置(100)透過該電流檢知轉換迴路(104)讀取該記憶校準片(10)之該標準電阻(13)的該標準電阻訊號，並將該標準電阻訊號交由該微處理器(105)儲存及運算。
- 根據申請專利範圍第1項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中當該電化學試片(20)以該電極區(21)形成之複數個電極(2101、2102)與該插槽(103)中的該等腳位(1031、1032)連接，俾使該電化學試片讀取裝置(100)辨識該電化學試片(20)。
- 根據申請專利範圍第6項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中當該電化學試片(20)被辨識時，啟動該電化學試片讀取裝置(100)，藉由該電流檢知轉換迴路(104)讀取該電化學試片(20)之該流體反應區(22)所釋放之該流體反應訊號。
- 根據申請專利範圍第7項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中該流體反應訊號係透過該檢測偏差值進行補償後，再交由該運算模組(1052)計算出該檢測結果。
- 根據申請專利範圍第1項所述之電化學試片讀取裝置(100)，其中該記憶校準片(10)之該記憶晶片(12)，進一步包含將已儲存於該資料庫模組(1051)中之複數筆檢測履歷存取至該記憶晶片(12)中之功能，即執行電化學試片讀取裝置(100)與記憶校準片(10)之間雙向傳輸的功能。
- 一種電化學試片的讀取方法，包含下列步驟：
一記憶校準片的讀取步驟，包含：
提供一電化學試片讀取裝置(100)，其上設有一插槽(103)；
提供一記憶校準片(10)，該記憶校準片(10)上設有一金屬接腳區(11)；
將該記憶校準片(10)插入該插槽(103)中，該記憶校準片(10)之該金屬接腳區(11)的複數個金屬接腳(1101、1102)被開放成資料傳輸腳，並啟動該電化學試片讀取裝置(100)；
讀取儲存於該記憶校準片(10)之一記憶晶片(12)中之一識別資訊及一標準電阻參數值，該識別資訊包含同批生產之一電化學試片(20)的類型、批號、計算公式、有效期限與試劑校正資料，並將該識別資訊及該標準電阻參數值儲存至該電化學試片讀取裝置(100)之一資料庫模組(1051)中；
檢測該記憶校準片(10)上之一標準電阻(13)之一標準電阻訊號，與該標準電阻參數值比對後求出一檢測偏差值，並將該檢測偏差值存入該資料庫模組(1051)中，作為後續一運算模組(1052)補償該電化學試片(20)之一檢測結果的一補償值；以及
將該電化學試片讀取裝置(100)中之檢測履歷、設定警示資訊及操作資訊，回存入該記憶晶片(12)中而完成記憶校準片之讀寫程序；以及
一電化學試片的讀取步驟，包含：
提供一電化學試片讀取裝置(100)，其上設有一插槽(103)；
提供一電化學試片(20)，該電化學試片(20)上設有一電極區(21)；
將該電化學試片(20)插入該插槽(103)中，該電化學試片(20)之該電極區(21)的複數個電極(2101、2102)被致能，並啟動該電化學試片讀取裝置(100)；
輸入一檢體於該電化學試片(20)之一流體反應區(22)進行檢測；
進入一測試操作模式，讀取該電化學試片(20)之該流體反應區(22)所產生之一流體反應電流訊號；
補償該電化學試片(20)之該流體反應訊號；以及
運算並輸出一檢測結果而完成電化學試片(20)之測試程序。
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