TW200814027A - A near field optical recording device and a method of operating a near field optical recording device - Google Patents

Description

200814027 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於近場記錄裝置之領域。尤其，本發明係關 於一種近場光學記錄裝置，其包括： 一光源， 一折射光學元件，其係配置成用以將光從該光源朝向該 光學記錄載體加以導引， 一傾斜誤差伺服迴路，其包括一關於相對於該光學記錄 載體之折射光學元件傾斜的傾斜誤差信號， 及一傾斜伺服增益設定，其係施加於該傾斜誤差信號。 【先前技術】 在一光學記錄裝置中，可記錄於一光學記錄載體上之最 大資料翁度與聚焦於該光學記錄載體上之雷射點的大小反 向依比例調整。該點大小係由兩光學參數之比例所決定， 亦即’該裝置之光源（通常為一雷射）的波長及用以將光從 該光源導引至一光學記錄載體之折射光學元件（通常為一 物鏡）的數值孔徑（NA)。在一習知光學元件中，該數值孔 徑限制在小於1 · 〇的一數值。然而，在近場光學記錄中， 可藉由使用例如一固體浸沒透鏡（SIL)當作該折射光學元件 而使該數值孔徑大於1 ·0，因此允許在一光學記錄載體上 進一步擴充至較大儲存資料密度。一大於h〇之數值孔徑 僅在離該固體浸沒透鏡一極短距離（通常為一小於光波長 十分之一之距離）内可用。結果，於操作期間，必須將該 固體浸沒透鏡及光學記錄載體彼此保持在數十奈米内。該 120257.doc 200814027 折射光學元件與該光學記錄載體間之距離（氣隙）係由一氣 隙控制系統使用習知聚焦及循軌致動器組合一非常靈敏之 間隙誤差信號加以精確控制，該間隙誤差信號係從該反射 光的一偏光偵測導出。 一近場光學記錄系統進一步說明於SpiE學報第538〇卷第 209至223頁F. Zijp等人之光學資料儲存器2〇〇4中，其中配 置一具有系統數值孔徑1 ·9之裝置協同沒有覆蓋層的一 5〇 GB光學記錄載體（第一表面光學記錄載體）。 有關光學頭之更一般資訊可在Marcel Dekker Inc·之光學 工程百科全書 DOI: 1〇.1〇81/E_E〇E 12〇〇〇9664 (2〇〇3)中找 到。有關循軌致動器、伺服機制、物鏡及光徑前進之節次 與本申請案尤其相關。 各種種類之光學記錄載體可結合一近場記錄裝置而使 用。有些光學記錄載體包括一覆蓋層，以保護儲存在該光 學記錄載體上之資料。 有關已知近場光學記錄裝置的一問題為，該折射光學元 件必須相對於該光學記錄載體而非常精確對準。 【發明内容】 本發明之一目的係提供一近場光學記錄裝置中之折射光 學元件的傾斜控制，本發明能夠提供較習知系統更佳之傾 斜控制，藉以改良相對於該光學記錄載體之折射光學元件 的對準。 此目的係根據本發明而達成，其中該傾斜伺服增益設定 係可調整’以回應該折射光學元件與該至少一資料層間之 120257.doc 200814027 —距離的一改變。 在本發明之一另一具體實施例中，該近場記錄裴置進一 步包括一用於傾斜伺服增益調整而改良該傾斜伺服增益之 至少一預定值以回應該折射光學元件與該至少一資料層間 之一距離之一改變的構件。

"對於習知光學系、统，已研究在一光學記錄裝置中用以將 光‘引至一光學記錄载體之折射光學元件之傾斜的控制。 然而丄由於近場操作之折射光學元件與該光學記錄載體間 的所而近接性，所以近場記錄系統具有關聯於該傾斜之特 別問題。當使用一固體浸沒透鏡(SIL)之透鏡時，由於其形 狀，亦出現特別問題。大部分固體浸沒透鏡(sil)之透鏡係 半球狀或超半球狀。為了在此類小卫作距離獲得夠大邊際 以用於相對於該固體浸沒透鏡之扁平側之光學記錄載體之 ^、斜該固體汉α透鏡通常具有具—小扁平尖端（經常直 =40 μηι)的-圓錐狀。然而，即使當該固體浸沒透鏡之 =罪近表面的大小從一毫米縮減至數十微米時，該最大允 許傾斜角度仍非常小（通常為〇·〇7。，最多至大約〇·2。）。此 與目前光學記錄裝詈#m ^ ^ 置後不冋，其中更大之光學記錄載體的 機械傾斜係可能（例如I 如敢大至1。或以上）。對於近場系統， 機械傾斜邊際更小，路+ 所以精確測量及直接校正碟片傾斜既 困難又昂貴。再者，发# 右該固體浸沒透鏡之前表面未正確垂 直於該光軸，則即使哕虚 、 從系碟片相對於該光轴完美對準，仍將 導致一系統故障（由掣、生告 、田表仏製程所致，其的確可為該情況）。 在實驗近場裝置中，對上 對旱可要求冗長之對準試誤法。在一 120257.doc 200814027 商用驅動器中，此將無法接受。 該傾斜問題之較早解決方案（例 部具有以下缺點：於 乂 “、、.，"έ法或多點法）全 片間之對準必需足！^ \用别’ 111體浸沒透鏡與碟 要求-預對準牛/好。因為機械傾斜邊際非常緊，此 上進行=預對準必需在-靜態光學記錄载體 且其必須促成該透鏡與該载 對準之傾斜測量可藉由使用較早發明之： 上之預對準係一缺點，因為以加tit 靜態碟片 9加該驅動器的啟動時間。 再者，促成該透鏡盥磾#Γ :既士 $ 处兄/、蜾月接觸可潛在導致該系統之損壞及 故障。 本發明中使㈣傾斜誤差㈣料。該近場光學記錄裝 置之此子系統係一調整該折射光學元件（用以將光導引至 該光學記錄載體之）之傾斜的構件，其係藉由债測傾斜且 然後使用此當作該折射光學元件移動之輸入。該折射光學 • 元件之此移動可使用例如一致動器進行。藉此達成該傾斜 之調整及補償。該習知傾斜誤差伺服迴路包括一傾斜誤差 信號及一傾斜誤差增益設定。在一商用裝置中，在先前技 術系統之傾斜誤差增益設定係由工廠調整至該裝置的一最 佳值，其與該折射光學元件及該光學記錄載體間之距離無 關。在本發明中，藉由一種用於傾斜伺服增益調整之構件 使此增益設定可調整。藉由用於傾斜伺服調整之構件使不 同狀況之傾斜伺服增益的（一)預定值可用並且加以實施。 該等數值係根據該折射光學元件與該光學記錄載體的一資 120257.doc 200814027 料層間之距離所決定及實施。在不同距離，不同傾斜增益 設定值係對於該近場光學記錄裝置之操作的最佳值。（稍 後將解釋）。使用較適當之增益設定值增加該傾斜調整的 精確度。因為本發明可在不同距離實施，則其亦可能避免 一預對準或粗略傾斜調整步驟。 在本發明之一另一具體實施例中，該折射光學元件與該 至少一資料層間之距離包括該折射光學元件與該光學記錄 載體之一頂部表面間的一氣隙。該氣隙距離影響為測量該 傾斜而產生之傾斜信號的靈敏度。該折射光學元件與該光 學記錄載體愈靠近，該傾斜信號變得愈強，然而其依舊根 據違載體之波動隨著該光學記錄載體之旋轉頻率而保持週 期性。對於用以產生傾斜信號之單一光點及對於多點配 置，將見到此行為。 一近場光學記錄系統中之氣隙經常使用一間隙誤差信號 (GES)加以控制。該間隙伺服系統開始於該折射光學元件 離該光學記錄載體之相對較大距離（例如，數百nm)。相較 於δ亥折射光學元件在例如4〇 nm的一工作距離之時，在此 距離之傾斜的精確度要求較不緊。使用在一特殊距離之傾 斜信號，可進行該傾斜的一第一校正。在一靜止碟片上， 该傾斜信號將為直流（d.c·)，在一旋轉碟片上，該傾斜信 號在本質上將為交流c )。在該間隙誤差信號之控制下， 可將該折射光學元件朝向該光學記錄載體移動。當該距離 改變時，該傾斜信號將改變，而且可藉由用於傾斜伺服調 整之構件在該傾斜伺服迴路中實施傾斜伺服增益的一預定 120257.doc •10- 200814027 值，以最佳化該傾斜校正效能。此最佳化的_ 整該傾斜伺服Μ，以便將該傾斜㈣迴路的-整體辦 設定調整至-最佳b此等步驟可重複並增量，： 射光學元件與該光學記錄載體相距所需工作距離，其^ -步驟將該傾斜調整㈣至較f容限。亦可較頻繁地進: 該等步驟，直到該調整程序持續而且”進行中”。 仃

在本發明之一另一具體實施例中，該折射光學元件與該 至少一資料層間之距離包括該光學記錄载體之一頂部表面 與該至少一資料層間的一層深度。在習知光學裝置中，於 一資料層之裝置焦點係藉由移動該裝置之物鏡使其更靠近 或較遠離該光學記錄載體而達成。由於近場系統之約束， 其中該近場僅在該光學記錄載體附近可用，此對焦機制無 法使用。當該近場系統在一多層光學記錄載體上將焦點從 一層移至另一層（實際上折射光學元件與考慮之資料層間 之距離的一改變）時，在該折射光學元件之出口面的光點 大小改變。此影響該傾斜信號（稍後將見到）。提供傾斜词 服增盈之預定值補償點大小之改變，而且允許該傾斜補償 的一致效能。 在本發明之一另一具體實施例中，該折射光學元件與該 至少一資料層間之距離包括該光學記錄載體之一覆蓋層的 一層深度。光學記錄載體具有不同類型。有些係所謂第— 表面碟片，其中該資料係在該光學記錄載體之最上表面讀 取或寫入。其他包括一覆蓋層，其係放置在該資料層上用 以保護該資料免於損壞及污物的一透明層。該覆蓋層可在 120257.doc 11 200814027 厚度上變化。此導致該折射光學元件與該資料層間的一距 離變化，其亦影響該資料層上之近場光學記錄裝置的焦 點。如上述之類似點大小改變及傾斜信號靈敏度可藉由提 供傾斜伺服增益之預定值以允許該傾斜補償的一致效能加 以影響。

在本發明之一另一具體實施例中，將該傾斜伺服增益之 至少一預定值儲存於該裝置的一非揮發性記憶體組件中。 因為取決於例如氣隙距離或覆蓋層厚度，該傾斜伺服增益 之值可從該傾斜信號的已測量或已計算靈敏度數值加以導 出。藉由將該等數值儲存於該近場光學記錄裝置的一非揮 發性記憶體中，能夠使此等數值可供作為本發明的部分。 然後當折射光學元件至資料層之距離在對應於關於傾斜飼 服增益值的距離之時，可在適當瞬時擷取該（等）值。 η 增益之至少-預定值。於―焦點從—層跳越至另一層期 間，有利的是，同物㈣適料傾斜伺服增益設^ 例如’此等中間設^可藉由從目前與下—層之設定進行内 插而導出。以此方式’該傾斜飼服效能（例如，穩定性）保 持最佳（亦即’相同之整體增益）。 7種操作-近場光學記錄裝置之方法，其包括下列步 提供一用於傾斜伺服增益調整之構件 決定該折射光學元件與該至少一資料層間之距離 使用該用於傾斜飼服增㈣整之構件施加該傾斜飼服增 120257.doc -12- 200814027 益設定以回應此距離。 在本發明之-另—具體實關巾，操作—光學記錄裝置 之方法包括下列額外步驟： 七：供5亥傾斜伺服增益之至少一預定值。 【實施方式】 圖1中顯示一典型近場記錄裝置之光徑的佈局。來自一 雷射1之光係沿著一光束整形光學元件2之系統而導引。光 傳遞通過-非偏光分光器3及一偏光分光器4。此等分光器 係結合間隙誤差信號及傾斜偵測系統5與尺1?資料及推挽信 號系統6與正向感測偵測器7而使用，其係准許在光學記錄 載體8循軌及控制光點（未顯示）入射之系統。光傳遞通過四 分之一波長板9,而且通過用於該光學記錄載體8上之光點 (未顯示）的一焦點調整之透鏡系統1 〇。相對於光徑之雋點 調整之方向係以箭號11加以指示。光係藉由一透鏡系統12 聚焦於該光學記錄載體8。此透鏡系統12包括該折射光學 元件，通常為一SIL(固體浸沒）透鏡13，其係該光於入射該 光學記錄載體8前所歷經之最後透鏡元件。 所產生及所偵測之該傾斜信號5係經受取決於該固體浸 〉又透鏡13與该光學§己錄載體8間之距離的變化。此距離可 採用該固體浸沒透鏡13與該光學記錄載體8間一氣隙之形 式，抑或其可採用該光學記錄載體内的一深度（例如一覆 蓋層厚度或從一資料層移至另一資料層之距離的一改變） 之形式。 圖2之圖表顯示該傾斜信號如何隨著該固體浸沒透鏡13 120257.doc -13- 200814027 與該光學記錄載體8間之氣隙縮減而改變。在圖表中，該 傾斜回應係週期性，該光學記錄載體8的一旋轉週期係以 前號21加以指示。在該圖表中，該氣隙於7〇 nm與30 nm間 變化。在一較大氣隙，該傾斜信號回應小於在一較小氣隙 之傾斜信號回應。因此促成該固體浸沒透鏡13愈靠近該光 學記錄載體8，該傾斜信號對傾斜愈靈敏。 圖2中之特定範例源自經驗。在此經驗中，使用一數值 孔徑=1.45之透鏡讀出具有一3 μιη覆蓋層的一 CuSi光學記 錄載體。此組態在該固體浸沒透鏡之底部產出大約丨5 μπι 的一散焦點大小。由於該光學記錄載體之非扁平性，在該 碟片上’該傾斜信號將變化，而隨著該旋轉頻率呈週期性 (以箭號21加以指示）。測量各種氣隙之傾斜信號顯示較小 氣隙具有一強烈增量（然而該實際傾斜角保持相同）。比較 該實驗發現，靈敏度與具有理論值之氣隙顯示良好的一致 性。對於一多點傾斜測量，發現一類似行為。 為了達成一致而且精確之傾斜調整，本發明提供一種用 於傾斜伺服增盈調整之構件，其實施一或多個傾斜伺服增 益值’藉以補償由距離改變所造成的傾斜信號改變。 圖3亦關於氣隙之課題。機械傾斜容限取決於該固體浸 沒透鏡尖端直徑：一較大之直徑要求較精確之對準。不同 固體浸沒透鏡尖端直徑之此效應係以直線31及32加以指示 (實線=40 μηι，虛線=1〇〇 μπι)，其代表用以防止機械接觸 所要求之傾斜精確度（因為第2因數小於該機械容限，所以 任意選擇）。虛曲線33係多點傾斜信號（15 μηι之點分離）之 120257.doc -14· 200814027 精確度對氣隙的一數值範例。此範例係從對具有一3 覆 蓋層的一可記錄近場光學記錄載體之氣隙之實際間隙誤差 信號相依性於數值孔徑<45所導出：在大氣隙，該相 依性為弱（GES幾乎恆定），所以該傾斜信號不如較小氣隙 精確，其中該GES顯示一強相依性。其他碟片類型顯示一 類似行為。（注意：對於非常小之氣隙，該GES再度為水平 走向，導致該傾斜信號精確度的一劣化。此等氣隙小於最 _ 佳讀出及記錄所需，而且為了良好傾斜控制，較佳地應避 免）。從該圖式，顯然該傾斜精確度較所有相關氣隙之機 械傾斜容限（30至150 nm，甚至100 nm尖端）的要求為佳（更 小數值）。 圖4a及4b顯示多層光學記錄載體41及42，其中資料層 43 44、45、46在光學記錄載體41上，而且資料層47及48 在光學記錄载體42上。接著一固體浸沒透鏡的位於該等光 學記錄載體之上方。對於多層之讀出及記錄，在該固體浸 鲁 沒透鏡49之出口表面的點大小強烈取決於欲讀取或寫入 之資料層的深度。對於具有一 3陶之覆蓋厚度及2 _之間 隔物層厚度的一 4層碟片，在該固體浸沒透鏡的之點大小 的典型數值範圍從大約15至45 μπι。此係參閱圖4之a及b部 分加以討論。 在圖4a中，以L1所指示之光束在資料層“上聚焦。在固 體浸沒透鏡49之出口面的對應散焦光點大小係以箭號A1加 以指不。當該光點焦點改變至資料層43而且該光束如藉由 2所扣示而移動時，在該固體浸沒透鏡之出口面的散焦 120257.doc -15· 200814027 光點大小係以箭號AW以指示。#讀取或寫人不同層時， 該氣隙AG保持恆定，與例如CD及DVD之早期光學記錄裝 置相比’丨中該聚焦動作係藉由改變透鏡與碟片間之距離 加以處理。在近場光學記錄裝置中，此聚焦動作係藉由例 如-致動準直儀透鏡或一液晶單元抑或一組合而實現。因 此在一近場光學記錄裝置中，當該折射光學元件與該資料 層間之距離進行改變時’在該固體浸沒透鏡仂之出口面的 散焦，點大Λί、將改變H點以、因㈣之傾斜信號改變 而改變。藉由本發明’此等改變可藉由使用—適當傾斜飼 服增益值加以補償，以確保該裝置的一致操作。 圖仆中見到有關該光學記錄載體之覆蓋層厚度之改變的 -類似效應。可採㈣等資料層47及48代表—光學記錄載 體之第-資料層的兩個可能位置’層47具有一深於資料層 48之覆盍層。光束L4AL3顯示在該固體浸沒透鏡的之出口 面之兩個可能覆蓋層深度的光點位置。與該等光束MU 關聯之關聯點大小各別為A4及A3。點大小A3小於點大小 A4’結果該傾斜信號改變。藉由本發明，此等改變可使用 :適當之傾斜伺服增益值加以補償，以確保該裝置的一致 操作。 圖5顯示對於各種覆箠s # 盍層厗度及氣隙之傾斜信號靈敏 度。對於該圖式中之資料，在該㈣浸沒透鏡之對應點大 小為6、12及18 μιη。對认主上丄 對於較大之點大小及焦點深度，該傾 斜靈敏度增加。例如若希望在該裝置飼服迴路中保持整體 增益恆定，為了恆定之姑里^ & X置效月b，该傾斜伺服增益設定將 120257.doc -16 - 200814027 必須對應地變小。 一圖6示意性說明根據本發明之-具體實施例的-種操作 一近場光學記錄裝置之方法。—種根據本發明之方法開於 於提供-用於傾斜舰增益調整之構件的步驟61。此構件 允許於該裝置操作期間而非工廠生產及設㈣間改變該傾 斜伺服增益。其次，應知道（若可用或者有必要，甚至可 =含m傾斜伺服增益之至少一預定值，使該傾斜祠服增 孤的i好工作值可用力對應於例如該固體浸沒透鏡與該 光予z錄載體間之距離的—或多個狀況。此係有關在裝置 #作期間考慮不同靈敏度時恆定施加—增益值之情形的一 改良。提供該（等）數值62, @且可將其包含於例如該近場 光學記錄裝置的-非揮發性記憶體紕件中。該近場記錄裝 置能夠決定該折射光學元件與該至少—資料層間之距離 63。通常此距離測量係使用一間隙誤差信號加以達成。隨 著距離之決定完成，可實施適當傾斜伺服增益設定。使用 用於傾斜伺服增盈調整之構件施加所需傾斜伺服增益值 64 ’違傾斜伺服增益設定對應於此距離。 圖7顯示合併本發明之一具體實施例之圖丨之近場光學記 錄裝置。與圖1關聯之標示保持相同。現在該裝置具有至 該傾斜伺服迴路71之間隙誤差信號所導出之傾斜誤差信號 及距離信號的輸入信號72。此等輸入信號72來自該間隙誤 差k號及傾斜彳貞測之糸統5。根據本發明，該裝置亦進一 步包括一用於傾斜伺服增益調整之構件73。此處顯示此裝 置與該傾斜伺服迴路71整合，但可為與該傾斜伺服迴路結 120257.doc -17- 200814027 構分開定位的一獨位裝置。該用於傾斜伺服增益調整之構 件73設定該傾斜伺服增益，而且將此信號用於該傾斜伺服 迴路71中，以提供該固體浸沒透鏡13之傾斜補償的輸出 74 ° 【圖式簡單說明】 將參閱圖式而進一步闡明本發明。 圖1顯示一近場光學記錄裝置之光徑的一示意圖。 圖2顯示在一折射光學元件與一光學記錄載體間之氣隙 的傾斜信號相依性。 圖3顯示該傾斜精確度要求與氣隙大小之關係。 圖4(包括圖4a及4b)說明改變在一多層光學記錄載體之層 間焦點對在―固體浸沒透鏡出口面之光點大小的效應。 圖5顯示傾斜靈敏度係該光學記錄载體之覆蓋層厚度及 一折射光學記錄與-光學記錄載體間之氣隙的-函數。 圖6示意性說明根據本發明之一具體實施例的一種操作 φ 一近場光學記錄裝置之方法。 圖7顯示合併本發明之一具體實施例之圖丨之近場光學記 錄裝置。 【主要元件符號說明】 1 ^ 雷射 2 光束整形光學元件 非偏光分光器 4 偏光分光器 5 、 間隙誤差信號及傾斜偵測之系統 120257.doc 200814027

6 RF資料及推挽信號之系統 7 正向感測偵測器 8 光學記錄載體 9 四分之一波長板 10 焦點調整之透鏡系統 11. 指示焦點調整方向之箭號 12 透鏡系統 13 固體浸沒透鏡 21 指示該光學記錄載體之一旋轉週期之 箭號 31 指示40 μηχ之固體浸沒透鏡尖端直徑 之效應之直線 32 指示100 μηι之固體浸沒透鏡尖端直 徑之效應之直線 33 顯示相對於氣隙之傾斜信號精確度 之數值範例之曲線 41 多層光學記錄載體 42 多層光學記錄載體 43 資料層 44 資料層 45 資料層 46 資料層 47. 資料層 48 資料層 49 固體浸沒透鏡 61 根據本發明之方法步驟 120257.doc -19- 200814027 62 根據本發明之方法步驟 63 根據本發明之方法步驟 64 根據本發明之方法步驟 71 傾斜伺服迴路 72 傾斜伺服迴路之輸入信號 73 傾斜伺服增益調整之構件 74 傾斜補償之輸出 Al，A2, A3及 A4 指示在固體浸沒透鏡出口 光點大小之箭號 AG 氣隙 Ll，L2, L3及 L4 光束 面之散焦 120257.doc 20·

Claims (1)

1. 200814027 十、申請專利範圍： 1. 一種近場光學記錄裝置，該裝置係配置成用以協同包括 至少一資料層的一光學記錄載體，該裝置包括： 一光源， 一折射光學元件，其係配置成用以將光從該光源朝向 ——- 該光學記錄載體加以導引， 一傾斜誤差伺服迴路，其用以提供有關相對於該光學 ^^— — — 〜 記錄載體之折射光學元件之傾斜的一傾斜誤差信號， • 及一傾斜伺服增益設定，其係施加於該傾斜誤差信 —--------------------------------------W--------— 號， 其特徵為， 該傾斜伺服增益設定係可調整，以回應該折射光學元 件與該至少一資料層間之一距離的一改變。 2. 如請求項1之近場光學記錄裝置，該近場光學記錄裝置 進一步包括一用於傾斜伺服增益調整之構件，其用以回 應該折射光學元件與該至少一資料層間之一距離的一改 變，以實施該傾斜伺服增益之至少一預定值。 3. 如請求項1之近場光學記錄裝置，其中該折射光學元件 與該至少一資料層間之距離包括該折射光學元件與該光 學記錄載體之一頂部表面間的一氣隙。 4. 如請求項1之近場光學記錄裝置，其中該折射光學元件 與該至少一資料層間之距離包括該光學記錄載體之一頂 部表面與該至少一資料層間的一層深度。 5. 如請求項1之近場光學記錄裝置，其中該折射光學元件 120257.doc 200814027 與該至少一資料層問夕 、 之距離包括該光學記錄載體之一覆 蓋層的一層深度。 6.如明近場光學記錄裴置中該傾斜伺服增益 預疋值係館存於該裝置的—非揮發性記憶體組 件中。 ’其中自動計算該傾斜 之方法，其包括下列步 7.如請求項1之近場光學記錄裝置 飼服增益之至少一預定值。

   8· —種操作一近場光學記錄裝置 驟： -提供一用於傾斜伺服增益調整之構件 -決定該折射光學元件與該至少—資料層間之距離 -回應此距離’使用該用於傾斜伺服増益調整之構件 施加該傾斜伺服增益設定。 9·如請求項8之用以操作一光學記錄裝置 、乃法’其包括 下列額外步驟： -提供該傾斜伺服增益之至少一預定值。 120257.doc -2-