TW200537185A - An apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel - Google Patents

Description

200537185 九、發明說明： 【發明所屬技術領域】 善檢面板之裝謝 •— 【先前技術】 傻示iLCD)裝置藉由控制經由此裝置所透射光線數量以響應於影 像b虎而』不旦面。由於此LCD裝置之特徵，例如··輕 ==:=r 一 _裝置通常使綴 細嫩峨，發展成 此主動轉m顯示裝置之製造方法包括町過程··基板 程、基板圖案化触、配向薄卿成/雜 / 檢視過程、修補過程、以及安裝過程。 土板接口/U入過私、 板圖基板表面之雜質去除。此基 區，其中此雜線連接至象料線與閉極線間所界定之像素 在配向薄臈形成/磨擦過程期間，將配向薄模 以及=^；^聽_層，娜絲配^叙1方向 200537185 施。 在此修補過程期間確定：此基板是否無法通過檢視過程而可以修補。 在此安裝過程期間，將此包括積體電路例如安裝於其上之問極驅動 1C與資料驅動1C之帶載體封裝TCP連接至液晶面板。此積體電路亦可使 用晶片上玻璃(C0G)技術、或使用TCP之帶自動接合(TAB)技術，而直接 裝於基板上。 〃第1圖說明在檢視過程期間所使用之自動探測檢視裝置6Q。如同於 第1圖中說明，此自動探測檢視裝置60包括··探測單元1〇 i^背 BU。 /、 此探測單兀10在檢視過程期間提供來自發電機與控制器（未圖示）之 φ 信號，用於驅動液晶面板。此探測單元10包括:探測器底部14其具有一 孔，其中將被檢視之液晶面板插入；印刷電路板(pcB)底部18，其安裝於 探測β底部14之相鄰邊緣；多個TCP區塊16連接至pcb底部18 ;以及 多個採測區塊12，連接至TCP區塊16。此外，各探測區塊12具有操縱器 24 ’其在船夜晶面板2安裝於探測單元1〇巾時，減少所產生之碰撞與磨 擦力。 此背光單元BU包括··背光2〇，其將光線照射在液晶面板2後表面上； 以及背光殼體22，將背光2〇固定於其上。 此根據習知技術之使用自動探測檢視裝置6〇之液晶面板2之檢視方 法如下。首先，將液晶面板2插入於探測單元1〇之孔中，以致於操縱器 # 24與液晶面板2之邊緣與角落接合，且在液晶面板2之塾26與探測區塊 12,形成接觸。此背光2〇從電源(未圖示)接收電力且產生光線而傳送至 液晶面板2。然後，此從信號驅動器與控制器（未圖示）所產生之檢視信號 經由PCB底部18切換至各TCP區塊16。此檢視信號藉由TCP區塊16經 由板測區塊12傳送至液晶面板2之墊26，以及然後供應至連接至墊26 之信號線。此操作者使用裸眼根據信號驅動器之信號控制，以檢查在液晶 面板上所產生不良像素，以及檢視液晶面板之像素驅動。 因此’在習知技術檢視方法中，根據操作者之視覺以確定不良像素。 此導致在此檢視過程期間、取決於實施此檢視之操作者之健康遇眼睛情況 而產生誤差。此外，當曝露於光線時眼睛容易疲勞。因此，由背光所產生 200537185 之光線會增加操作者之視覺疲勞。 檢視結果可靠度降低之問題。 因此’由於其結果並不均勻，而會有此 此外，由於此背光20使用線光線發射而非表面光線發射，此由 20曰所產生之光線並非均勻地照射於液晶面板2之整個表面上。因此，在 央之亮度與液晶面板邊緣之亮度不同。因此，此液晶面板並非 【發明内容】 因此，本發明是有關用於檢視液晶顯示面板之裝置與方法，1實質上 避免由於習知技術之限制與缺點所產生之一或多個問題。 /、、 本發明之優點在於增加檢視過程之可靠度。

本發明之其他雛與優蹄在以下描述帽細綱，其_部份將由以 下，明而為、或可由實施本發明崎知。本發明之此倾其他優點可 撰寫綱、巾請專繼圍、以及所關式憎職出之結構 為達成此跟據本發明目的之此等與其他優點，如同在此實現與廣泛說 明者，此用於檢視液晶顯示面板之裝置包括：探測單元，其將檢^見信號施 加f液晶面板；光源，其將光線照射至液晶面板；光板，其堆疊在^與 液晶面板之間；以及光學线，其從液晶面板接收檢視信號與資料。〜、 在本發明之另-觀點中，提供一種方法以檢視液晶，其包括：均句地 照射此液晶面板，以驅練號供應液晶硫，以光學裝置掃描 ， 處理此掃描資料鱗定液晶面板巾之缺陷，以及歸此所_之缺陷。 應瞭解以上本發明一般性說明與以下詳細說明為典範與說明，^ 在於提供本發明進一步之說明。 /、、 此等所附圖式其包括於本說明書中作為其一部份以提供本發明進一 步瞭解，此等附圖用於說明本發明之實施例，且與此等描述一起用於 本發明之原理。 ' 【實施方式】 現在詳細說明本發明之較佳實施例，而在附圖中說明其例。 第2圖概要圖其說明一種裝置用於檢視根據本發明第一實施例之液 晶顯示面板。如同於第2圖中說明，此裝置包括：光學資料處理器4〇，其 8 200537185 從被檢視之液晶面板獲得倾域理此資料；以及自動探測驗視 其握住此被檢視之面板且在檢視過程期間將驅動信號供應此面板。°。 =於第3圖中說明，光學資料處理器4〇包括：攝影機&，例如， 電何搞δ裝置(CCD)攝雜；控繼置44，祕麟職42在水平 $方向巾鶴；以及f料處理裝置5G，跡處職攝影機42所躺^ 此攝，42可在線攝影機模式中操作，其中此攝影機以一條線 ，之方式城液晶面板；及/或此攝影機可在區域攝影機模式帽作，並 中此攝影卿驗晶面板之贱狀區域。輯雜42齡㈣之率 大約每秒1000個晝面。 、 疋午

控制裝置44將攝影機42在垂直方向中移動，以便從面板控制隹點， 以及將攝影機42在垂直方向中移動，以便掃描此面板。 . 貝料處理裝置50包括視覺硬體56，其處理從攝影機42傳送之資料· ，面=示器54顯示經由視覺硬體56所處理之晝面；以及缺陷圖5識 在所檢視液晶面板1〇2中之缺陷。 飞 鱗於第-4圖中說明，此自動探測檢視器80包括··背光9G，其從外 «源(未圖示)接收電力以產生絲；f光殼體92，將背光㈣定於盆 ΐ擴散板94堆疊在背* 9〇上；稜鏡板96，其堆疊在擴散板94上了 凡7〇與驅動器（未圖示），此驅動器將電力與驅動信號供應至探測 lb背光90將光線照射於液晶面板1〇2之後表面。此由背光9〇所產生 30Hz ^ 60Hz 〇 90 a以防止由背光9〇所產生之光線漏出，且改善發光效率。 ，，板94將由背光⑽所產生之光線擴散。因此，此通過擴散板之光 1照射在棱鏡板％之整個表面上。此入射於稜鏡板96之光線通過 it 且轉換，以致於從棱鏡板96之上表面垂直射出。因此，從稜鏡 板96射出之光線具有均勻亮度。 奸則單780 m罙測器底部74，其具有孔而可將液晶面板102 中，印刷電路板⑺底部78，其安裝於探測器底部74相鄰之 、，象上；多個TCP區塊76連接至PCB底部78 ;以及多健測區塊72連 200537185 接至TCP區塊76。此外，探測區塊72具有操縱器84，其在當將液晶面板 102插入於探測單元70中時可以減少此兩者間之碰撞與磨擦力。 驅動器（未圖示）包括：電力驅動器，其將電力供應至探測單元7〇， 此探測單元70將信號供應至液晶面板1〇2 ;以及信號驅動器，其產生信 號用於驅動液晶面板之像素。 σ 在第8圖中說明根據本發明第一實施例之檢視液晶顯示面板之方 法。如同於第8圖中所示，在步驟800，此液晶面板1〇2與探測單元7〇 接合。當插入時，在液晶面板1〇2之邊緣形成墊86，其與探測區塊巧接 合。在步驟802，此背光90將光線均勻地照射在液晶面板1〇2之後表面。 更特定而言，此從背光90所產生之光線通職散板94，且此擴散之光線 然後通過稜鏡板96，以致於此從稜鏡板所射出之光線垂直入射於液晶面 板102之後表面。然後，在步驟8〇4，將驅動信號經由探測區塊巧供應 至面板。此攝影機42以一條線一條線及/或一個區域一個區域之方式 液晶，板102，以及在步驟806將此所掃描資料經由電纔別傳送至資才= 處理器50。此資料處理器5〇將從攝影機所接收之掃描資料處理，以摘測 在面板中之缺陷。此缺關52然後在顯示ϋ上顯示_測之缺陷 '接 供操作者確認。 促 第5圖概要圖其說明一種裳置用於檢視根據本發明第二實施 3挺如罢同於第5圖中說日月，此根據本發明第二實施例之液晶顯示 ^置=檢視裝置之結構鱗與第2圖中所示之檢财置之結構元件相 二加了頻率轉換器198。因此’將此等相同結構元件之詳 頻率賴II 198將從背光9G所絲光狀鮮娜。例如 ίϋ斤產生光線之頻率（其可以在30HZ至40HZ之範圍中）調整成.實ΐ上 間之差異所產生之閃爍。 了以防止由於頻率 鮮t目較Γ此根據第二實施例之檢視裝置，此根據本發，-實施例之柃 ί而會產光聽生光線之鮮與™獲得掃描資料速率間= 第9圖巾說根據本發明第二實關之液晶顯示面板之檢視方 200537185

法。如同於第9圖中說明，在步驟9〇1液晶面板1〇2與探測單元7〇接合。 當插入液晶面板時，在液晶面板102之邊緣形成墊86，其與探測區塊 接合。然後，將此液晶面板均勻地照射。更特定而言，，將從背光9〇所 產生光線之鮮調整成：實質上等域影機42之照相鮮。織在步驟 905，此經調整頻率光線通過擴散板94，且此擴散之光線然後通過棱鏡板 96，以致於此從賴:板所射出之光線垂直人射於液晶面板1〇2之後表面。 在步驟907，將軸信號經由探測區塊72供應至液晶面板1〇2。此攝影機 42以一條線一絲及/或一個區域一個區域之方式掃描液晶面板⑽，以 及在步驟909將此所掃描資料經由電纜58傳送至資料處理器5〇。在步驟 91卜此資料處理器將所傳送之資料處理，以偵測在面板中之缺陷。此缺 陷圖在顯示器上顯示所偵測之缺陷，以提供操作者確認。 、 第7圖中說明液晶面板之典型結構。如同於第7圖中說明，此液晶面 板包括:上基板210、下基板220、注入於上基板21〇與下基板22〇間之 液曰a材料堆嚙在下基板220後表面上之第一偏極板228、以及堆疊在上 基板210前表面上之第二偏極板224。 在上基板210上形成：濾色片204、共同電極2〇6、以及黑色矩陣2〇2。 ，下基板220上形成··信號線例如資料線218、閘極線212等。此外，在 資料線218與閘極線212之交點形成薄膜電晶體(TFT)216，以及在資料線 218與閘極線212之間所界定之像素區形成像素電極214。如同以上說明， 將液晶材料208注入於上基板21〇與下基板220之間。 “此堆疊在下基板220後表面上之第一偏極板228將從背光單元所產生 之光線偏極化，以致於其由下基板220通過。 =一偏極板224將此通過液晶材料208之偏極化光線再偏極化，以致 於使彳于使用者可以將此偏極化光線辨識為晝面。 如同以上說明，此根據本發明之液晶顯示裝置之檢視裝置使用光學 板，例如:、擴散板與稜鏡板以解決不規則亮度之問題，因此可以將由背光 斤^生之光線均勻地照射在液晶面板之整個表面。此外，此根據本發明第 例之液晶顯示裝置之檢視裝置可以藉由：將所產生光線之頻率調 =貝上等於_機之照相頻率，而將由於：背光所產生光線之頻率與攝 衫機解間差異所造成之閃爍去除。 200537185 對於热習此技術人士為明顯，可以對本發 3離本發明之精神與範圍。因此，^ 與其等同物之範财之修正與變化。 料跑括在申睛專利耗圍 【圖式簡單說明】 。1為ΐ視圖’f說明f知技術裝置用於檢視液晶顯示面板； 既-圖’其綱-種裝置用於檢視根據本發明第—實施例之液晶 顯7F面板， 第3圖詳細圖’其說明第2圖中所示之攝影機；

第4圖詳細圖，其說明第2圖中所示之檢視裝置； 第5圖概要®，其朗—师置胁檢視根據本發明第三實施例之液晶 顯示面板； 第6圖詳細圖’其說明第5圖中所示之檢視裝置； 第7圖詳細圖’其說明第2與5圖中所示之液晶面板； 第8圖為流糊，魏鼠根據本發明第_實施例之液晶顯示面板之檢 視方法；以及 第9圖為流程圖，其說明此根據本發明第二實施例之液晶顯示面板之檢 視方法。 2 10 12 14 16 18 20 22 24 26 40 【主要元件符號說明】 液晶面板 探測單元 探測區塊 探測器底部 帶載體封裝(TCP)區塊 印刷電路板(PCB)底部 背光 ~ 背光殼體 操縱器 墊 光學資料處理器 12 200537185 42 攝影機 44 控制裝置 50 資料處理裝置 52 缺陷圖 54 畫面顯示器 56 視覺硬體 58 電纜 60 自動探測檢視裝置 70 探測單元 72 探測區塊 74 探測器底部 76 帶載體封裝(TCP)區塊 78 印刷電路板(PCB)底部 80 自動探測檢視器 84 操縱器 86 墊 90 背光 92 背光殼體 94 擴散板 96 稜鏡板 102 液晶面板 198 頻率轉換器 202 黑色矩陣 204 渡色片 206 共同電極 208 液晶材料 210 上基板 212 閘極線 214 像素電極 200537185 216 薄膜電晶體 218 資料線 220 下基板 224 第二偏極板 228 第一偏極板 800 、 802 步驟 804 、 806 步驟 808 、 810 步驟 901 、 903 步驟 905 、 907 步驟 909 、 911 步驟 913 步驟 BU 背光單元

Claims (1)

1. 200537185 十、申請專利範圍： 1· 一種用於檢視液晶顯示裝置之裝置，包括： 探測單元，其對液晶面板施加檢視信號； 光源，其發射光線照射液晶面板； 光學板，堆疊於光源與液晶面板之間，其將由光源所產生光線擴散， 且改變此擴散光線之射出角度；以及 光學系統，其接收有關由於照射光線而在液晶面板上顯示畫面之檢 視信號與資料。 2·如申請專利範圍第1項之裝置，其中 此光學板包括：擴散板，其將由光源所產生之光線擴散，以及棱鏡 板’其將由擴散板所擴散光線之射出角度改變。 3·如申請專利範圍第1項之裝置，更包括 頻率調整裝置，用於調整由光源所產生光線之頻率。 4·如申請專利範圍第3項之裝置，其中 頻率調整裝置，調整由光源所產生光線之頻率實質上等於光學系統 之照相頻率。 5·如申請專利範圍第1項之裝置，其中 此光學系統包括：至少一個線電荷耦合裝置攝影機，其藉由以一條 線一條線地掃描液晶面板而獲得資料；以及區域電荷耦合裝置攝影 機，其藉由以一區域一區域地掃描液晶面板而獲得資料。 6·如申請專利範圍第1項之裝置，其中 此探測單元包括·· 探測器底部； 印刷電路板(PCB)底部，安裝於探測器底部之邊緣； 15 200537185 帶載體封裝區塊，其連接至驅動電路； 探測區塊，連接至液晶面板，將驅動檢視信號從帶載體封裝供應至 液晶面板；以及 操縱器，用於在將液晶面板插入於探測單元中時，減少所產生之碰 撞與磨擦力。 7·如申請專利範圍第1項之裝置，更包括 資料處理器，用於處理由光學系統所獲得之資料；以及 畫面顯示裝置，用於顯示在晝面上之處理資料。 H 8·如申請專利範圍第7項之裝置，其中 此資料處理器在畫面顯示裝置上顯示在液晶面板中所偵測之缺陷。 9·種用於檢視液晶顯示面板之方法，其包括以下步驟· 將光線均勻地照射在液晶顯示面板之後表面； 以驅動信號供應液晶顯示面板； 以光學裝置掃描此液晶顯示面板； 處理由光學裝置所獲得之掃描資料，以確定麵晶顯示面板中之缺 陷；以及 將此所偵測之缺陷顯示於顯示裝置上。 10·如申#專利範圍第9項之方法，其中此均勻照射液晶顯示面板包括： 從光源產生光線； 將此光線通過擴散板；以及 將此、、二擴放之光線通過棱鏡板，以致於此由稜鏡板射出之光線垂直 入射於液晶顯示面板之後表面。 11·如申請專利範圍第1〇項之方法，更包括 調整此由光源所產生光線之頻率實質上等於光學裝置之照相頻率。 16 200537185 12. 如申請專利範圍第9項之方法，其中 此光學裝置是電荷耦合裝置攝影機。 13. 如申請專利範圍第9項之方法，其中 此光學裝置一條線一條線地掃描此液晶顯示面板。 14. 如申請專利範圍第9項之方法，其中 此光學裝置掃描此液晶顯示面板之預定區域。

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