TW200532854A - Organic vertical transistor and process for fabricating the same - Google Patents

Organic vertical transistor and process for fabricating the same Download PDF

Info

Publication number
TW200532854A
TW200532854A TW094102079A TW94102079A TW200532854A TW 200532854 A TW200532854 A TW 200532854A TW 094102079 A TW094102079 A TW 094102079A TW 94102079 A TW94102079 A TW 94102079A TW 200532854 A TW200532854 A TW 200532854A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
organic
electrode
vertical
source
film
Prior art date
Application number
TW094102079A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Okada
Shigeki Naka
Hiroyoshi Onnagawa
Original Assignee
Japan Science & Tech Agency
Nat University Corp Toyama Uni
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Science & Tech Agency, Nat University Corp Toyama Uni filed Critical Japan Science & Tech Agency
Publication of TW200532854A publication Critical patent/TW200532854A/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/468Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/491Vertical transistors, e.g. vertical carbon nanotube field effect transistors [CNT-FETs]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

200532854 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於有機垂直型電晶體及其製造方法。 【先前技術】 近年來,作為可在輕量、有彈性之塑膠基板上製作之 电曰日體’有機電晶體之研究非常盛行。為實現有機電晶體 之南驅動此力’以不受微影限制而能短通道化之垂直型結 構較佳,其研究非常盛行。
目前,已有將習知單結晶矽(Si)系之靜電感應電晶體 (SIT)及非晶質Si系之靜電感應電晶體適用於有機材料之 電晶體(參考下列專利文獻i、非專利文獻1},而現在,亦 進行與有機EL元件之積層結構的研究。此外,亦提出了 一種垂直型構造之電荷注入控制型有機電晶體(參考下列專 利文獻2、非專利文獻2)。作為場效電晶體(FET),提出了 一種頂底層接觸(T〇p & Bottom Contact)型FET(參考下列 專利文獻3、非專利文獻3),成功達成通道長0·5 " m之電 晶體動作。此外,亦揭示了一種在壓花(emb〇ss)形成之v 形槽中斜向形成電晶體構造之方法(參考下列非專利文獻 4)。此外,更有在以光阻膜厚所規定之垂直型區域的fet 製造方法(參考下列專利文獻5)。 又’亦有可在玻璃基板上形成之使用非晶質si的垂直 型電晶體(參考下列非專利文獻6)之報告,此外,亦有電 晶體垂直化的提案、各種元件構造與高驅動能力化、以及 谋求降低閘極(G)—源極(S)、汲極(D)間之寄生電容進行自 5 200532854 我整合,而積體化成自我整合化電晶體的高性能電路特& (參考下列非專利文獻7)。 進一步的,在下列專利文獻4中揭示了具有正六角構 造之垂直型電晶體,在下列專利文獻5中揭示了具有短通 道構造之電晶體,在下列專利文獻6中揭示了具有新的問 狀構造之有機電晶體,在下列專利文獻7中揭示了相對源 極/有機半導體/汲極之垂直型構造,具有絕緣膜/問電 極構造之有機垂直型電晶體。 • (專利文獻 1)US 公開 2004 - 0004215A1 (專利文獻2)特開2003 — 101 104號公報 (專利文獻3)特開2003 — 25 8265號公報 (專利文獻4)特開2004 — 1 1 1872號公報 (專利文獻 5)US 公開 2002- 0171 125A1 (專利文獻 6)US 公開 2003 - 0015698A1 (專利文獻7)特開2004 — 15 007號公報 (非專利文獻1)工藤及其他Thin Slid Films,vol. 331, • 51(1998) 5 (非專利文獻2)中山健一,藤本慎也,平本昌宏,橫山 正明,,,電荷注入控制型有機電晶體,,,第48回應用物理學 關係連合講演會講演預稿集,29a 一 zg_2(2〇〇i) (非專利文獻3)吉田學,植村聖,小世健仁,牛島洋史, 錄田义央’為提幵FET特性之新的有機電晶體元件構造 之設計”,第49回應用物理學關係連合講演會講演預稿集, 27a- 3(2002) 6 200532854 (非專利文獻 4)Ν· Stutamann, R.H. Friend, H.
Sirringhaus,’’Self—Aligned,Vertical — Channel, Polymer Field 一 Effect Transistors”,Science,vol. 299,pp. 1881 — 1884,(2003) (非專利文獻 5)R· Parashkov,E· Becker,S. Hartmann,G. Ginev, D. Schneider 5 H. Krautwald 5 T. Dobbertin 5 D.
Metzdorf, F. Brunetti, C. Schildknecht, A. Kammoun, M. Brandes, T. Riedl, H. 一H. Johannes 5 and W. Kowalsky, “ Vertical channel all—organic thin — film transistors”,Appl. Phys· • Lett., vol. 82, No. 25, pp. 4579-4580, (2003) (非專利文獻 6)内田及其他 IEEE Electron Device Letters EDL - 5(1984)105 (非專利文獻 7)H· Okada,Y· Uchida,K· Arai,S. Oda and M. Matsumura, “Vertical — Type Amorphous — Silicon MOSFET IC,s”,IEEE Electron Devices,vol· 35,No. 7,pp· 919,(1988) (非專利文獻8)守屋及其他平成15年秋季第64回應 用物理學會學術講演會,lp—YL — 7(2003) • (非專利文獻9)門倉貞夫,“何謂對向靶式濺鍍?”, NFTS 與 FTS 技術比較,2003. 4. 8 > FTS Corp. (非專利文獻10)近松及其他,第64回應用物理學會學 術講演會,lp— YL — 8(2003) 如以上所示,先前雖提出了各種垂直型電晶體之製作 方法,但若考慮有機電晶體之實用化、電路試作等的話, 則藉由活性層圖案化之積體化是一必要之課題。此外,在 考慮以有機電晶體來驅動之元件、例如大面積液晶顯示器 7 200532854 或有機電致發光元件時,為了得到大的㈣mm 化疋不可欠缺的。另-方面,為了實現短通道電晶體時, 隨者電晶體微細化所產生之斷路電流的增加是非常令人憂 心的。例如,在蓄積動作模式之電晶體動作中,在低電流 區域會有歐姆電流、在高雷、、☆ 隹问電,现區域則有為空間電荷限制電 流的流動。因此,當從閘電極/閘絕緣膜構造脫離、因問 電場而無法空乏化之源-沒間的半導體層截面積增加時, 會導致大的斷路電流,而無法作為電晶體使用。 為以有機電晶體來實現垂直構造時之條件,以下是 必須或較佳的,⑴而動作、⑺藉由間電極圖案’來將間 絕緣膜/有機半導體層加以圖案化、(3)為降低寄生電容, 透過絕緣物將源極、沒極形成於垂直方向、⑷藉由在源極 /絕緣膜/汲極構造之兩側,形成包圍作為通道之有機半 導體/閘極絕緣體/閘極電極’來對—對源_汲極區域,使 通道寬為二倍的構造、(5)源—汲極間之絕緣膜,係在價電 子帶附近包含多個局部位準之膜,能抑制背間極⑻咖⑷ 攀效應、(6)垂直構造係45。〜75。之傾斜構造、⑺源極/ 絕緣膜/沒極垂直構造形成後,進行為了形成良好有機層 的界面活性劑處理、(8)使用可平滑加工之三層構造光阻來 對源極/絕緣膜/汲極垂直構造進行加工、(9)使用鋁作為 閘極絕緣膜等。(1)〜(4)之全部條件為基本,而有(5)〜(9) 之各種組合之有機垂直型電晶體構造,到目前仍沒有報 告。 本發明有鑑於上述狀況,提供一種有機垂直型電晶體 8 200532854 及其製造方法,其易於積體化,且能在提昇導通電流、降 • 低斷路電流之同時謀求短通道化。 【發明内容】 本發明為達成上述目的, (1)本發明之有機垂直型電晶體,其特徵在於,具有·· 源極電極,係在基板上積層於垂直方向;源極一汲極電極 間絕緣膜,係在該源極電極上積層於垂直方向;汲極,係 在該源極一汲極間絕緣膜上積層於垂直方向;有機半導體 _活性層,係在該基板上之水平方向、分別與該源極電極、 。玄源極一汲極電極間絕緣膜、該汲極電極之兩側接觸的方 式積層;閘極絕緣膜,係以和該有機半導體活性層接觸之 方式積層;以及閘極電極,係以和該閘極絕緣膜接觸之方 式積層;該閘極電極、該閘極絕緣膜、及該有機半導體活 性層係分別予以加工。 (2) 上述(1)之有機垂直型電晶體中,係使用有機導電性 高分子膜來作為該源極一汲極電極。 (3) 上述(2)之有機垂直型電晶體中,該有機導電性高分 子膜為聚(乙烯二氧基噻吩聚(苯乙烯磺酸酯)膜。 (4) 上述(2)之有機垂直型電晶體中,該有機導電性高分 子膜為噻吩膜。 (5) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該電晶體之 閘極絕緣膜為Al2〇3或偏離其化學計量組成的材料。 (6) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該電晶體之 閘極絕緣膜為Ta2〇s或偏離其化學計量組成的材料。 9 200532854 ⑺上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該有機半導 體活性層為並五笨。 (8) 上述(1)〜⑷之有機垂直型電晶體中,言亥源極一汲 極電極間絕緣膜為聚〜3〜己基噻吩。 (9) 上述⑴〜(4)之有機垂直型電晶體中,Μ極—汲 極電極間絕緣膜係氮化矽膜。 (10) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該源極一汲 極電極間絕緣膜係有機絕緣性材料。 i ⑴)上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,$閘極電極 係使用有機導電性高分子膜。 (12) 上述(11)之有機垂直型電晶體中,該閘極電極之有 機導電性高分子膜為聚(乙烯二氧基噻吩)/聚(苯乙烯磺酸 酯)膜。 (13) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該基板為玻 璃基板。 (14) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,該基板為塑 _膠基板。 (15) 上述(1)〜(12)之有機垂直型電晶體中,該垂直型 構造之形成角度與基板面之夾角為45。到75。。 (16) 上述(1)〜(12)之有機垂直型電晶體中,係在該有 機導電性高分子膜之形成前,實施可以提昇膜質之表面處 理。 (17) 上述(16)之有機垂直型電晶體中,該表面處理為界 面活性劑處理。 200532854 (18) 上述(17)之有機垂直型電晶體中,該界面活性劑處 理為六甲基二矽氮烷處理。 (19) 上述(17)之有機垂直型電晶體中’該界面活性劑處 理為十八烷基氣矽烷處理。 (20) 上述(1)〜(4)之有機垂直型電晶體中,在該源極電 極/該源極一汲極電極間絕緣膜/該汲極電極之加工,係 使用三層光阻加工。 (21) 本發明之有機垂直型電晶體之製造方法,係製作 _ 上述(1)〜(2〇)中任一項之有機垂直型電晶體。 (22) 本發明之有機垂直型電晶體之製造方法,其特徵 為··係在垂直方向積層加工之源極一汲極部中,垂直形成 有機半導體活性層/閘極絕緣層/閘極電極,使用微影與 乾式#刻進行圖案化與加工,使成為積層體構造。 【實施方式】 源極電極,係在基板上積層於垂直方向;源極一汲極 電極間絕緣膜,係在該源極電極上積層於垂直方向;汲極, _係在該源極一汲極間絕緣膜上積層於垂直方向;有機半導 體活性層,係在該基板上之水平方向、分別與該源極電極、 該源極一汲極電極間絕緣膜、該汲極電極之兩側接觸的方 式積層,閘極絕緣膜,係以和該有機半導體活性層接觸之 方式積層’以及閘極電極,係以和該閘極絕緣膜接觸之方 式積層;並藉由分別對上述閘極電極、上述閘極絕緣膜、 上述有機半導體活性層加工,使得易於積體化,且謀求短 通道化。 200532854 以下’詳細說明本發明之實施形態。 圖1係顯示本發明實施例之有機垂直型電晶體的示意
此圖中,1為基板,2為在基板丨上積層於垂直方向的 源極電極,3為在源極電極2上積層於垂直方向的源、一汲 極電極間絕緣膜,4為在源一汲極電極間絕緣膜3上積層 於垂直方向的汲極電極,5為在基板丨上之水平方向、以 和源極電極2、源一汲極電極間絕緣膜3、汲極電極4之 側面接觸之方式積層的有機半導體活性層,6為以和該有 機半導體活性層5接觸之方式積層的閘極絕緣膜,7為以 和該閘極絕緣膜6接觸之方式積層的閘極電極。 如前所述,此有機垂直型電晶體,在源極電極2上具 有源一汲極電極間絕緣膜3、及汲極電極4。此源—沒極 電極間絕緣膜3之膜厚,為電晶體之通道長。之後,藉由 有機半導體活性層5、閘極絕緣膜6、閘極電極7之^成 加工,完成有機垂直型電晶體。
, … γ服m,| 土尽 :),可 使用如:以蒸鍍系為中心研究之並五苯或是塗布型聚合體 之聚-3-己基噻吩等各種有機材料。閘極絕緣膜6雖以不合 對有機半導體活性層5造成損傷之膜較佳,但作為材料系: 可以使用具有絕緣性之各種無機、有機材料系。至於源極 電極2、汲極電極4、閘極電極7,則不綸|^ n J +,無機、有機而可 使用各種材料系。不過,就閘極電極7 /而g,則必須考慮 工作函數對電晶體之闕值電壓的影響。 a 此外,就源極電極 12 200532854 2汲極電極4、閘極電極7而言,必須能對通道中傳導之 電洞、或電子載體進行歐姆注入。就源—沒極電極間絕緣 版3而吕’若不選擇適當種類之材料的話,則在施加汲極 電塵時,相對於有機半導體活㈣5之閘極電極會在相反 側之源—沒極電極間絕緣膜3產生通道,而有所謂背間極 效應的問題。為了防止此效應,本發明中,以石夕等在半導 體價電子帶附近有局部準位之絕緣膜的石夕氮化膜(SiN)較為
合適。此外’若此部份為有機半導體層的話,在低電流時 會導致歐姆電流、在高電流時則會導致大幅增加空間電荷 限制電流之斷路電流,無法實用。 其久,考慮源極電極2/源一汲極電極間絕緣膜3/汲 °電★ t $狀。當僅考慮藉由縮短垂直型fET之通道長 度來提昇性能時,雖然就縮短實效通道長之觀點來看以垂 直形成較佳’但是反過來說,在蒸鑛製程時無法往側面形 成膜此夕卜在幵)狀加工時雖有會導致金屬與半導體間之 接觸電阻上昇之氣4卜石卢& # 汁 化奴生成的問題,為除去此之Αι·濺鍍, 在完全垂直形狀時會有該效果消失的缺點。綜合以上觀 乂,考慮如下。由有效通道長之觀點來看,當角度為45。 以下時通道長& h5倍,由於此時本質(intrinsic)響應速度 舁通道長之平方成反比,因此為2倍,會失去垂直構造之 有效性。因此需I 4 S。I、,L i , 而要45以上之傾斜角。濺鍍率,在離子入
射角為7 0 °時為畏士 L 馬敢大此外,就蒸鍍而言,若假設對垂直 方向形成25%以上之膜厚時,最好是& 75 5。以下。由這 』觀點來看’ | 70。左右應為最佳值。就範圍來說,可確 13 200532854 認在45°到75。左右具有效性。 在實際之構造製作時,藉由將在加工時形成之光罩材 料往橫方向後退之條件最佳化,可進行錐狀之形狀加工以 及角度控制。 在有機半導體層形成時,因為基板之材料與性質,薄 膜开/成日守之各性質會產生變化。例如,有機半導體材料代 表之並五笨,可藉由在基板上實施疎水性處理,使並五苯 分子由基板突起排列,而形成多結晶狀態之媒。此時表面 處理劑,可以使用六甲基二錢㉟(HMDS)、十八烧基氯 矽烧(OTS)等之界面活性劑。此外,鐘於多結晶之性質, 在電極材料上之形成時,其結晶粒徑會產生差異。例如在 Au上之結晶粒徑會變小,導致實際上接觸電阻之上昇。 形成垂直型構造之S件時,必須形成具有良好直線性 曲度在數十奈米以下)之圖案。完成此要求的一個方法, 阻法。本方法’係使用於以乾式敍刻進行半 合 乂及過去一段時期用於次微米化 法P導體聰FET製作時之微細加工。以下,說明本方 構、A例。'^’依序形成下部光阻/Si。〆上部光阻之 =之::將上部光阻圖案化,並使用來對-2進行乾 下部光_者’以上部光阻、Si02作為光罩藉由氧電漿對 且向行加工。此處’光阻係藉由氧電漿而垂直加工, 數十:米4則㈣留自由基的擴散長。即使上部光罩係以 行加Γ 订的形狀,下部光阻亦可藉由側邊韻刻來進 而加工成平滑的形狀。將以此方式加工之光阻作 200532854 為先草,來進行垂直構造之 /汲極電極之加工,即能 /源-汲極間絕緣膜 能在平坦之構造上开,成雷 Μ亮直線形狀的截面,亦
心成電日日體用有機丰I 揭示之材料’例如Si〇2,亦可 日。此處’所 士曰八® ^擇其他之絕緣膜SiN, 或疋金屬之鈦膜等各種材料 联 且研你丨由/ 、 並不特別限定為上述材料。 二—’糸於源極電極2使用Cr膜/Ta膜/Cr膜、 ;源膜二極電極間絕緣膜3使用sm、於汲極電極4使用 二 外,於問極絕緣膜6使用A说(氧化⑷。 =亦就使用Ta2〇3(组氧化膜)來作為此閘極絕緣膜材料之 情形作了檢討。與使用氧化紹時之狀況相較,藉由Μ 之使用’在同一閘極絕緣膜膜厚之情況下閉極容量會增3 大’進而使互導增加。藉此,即能謀求有機垂直型電晶^ 之電流驅動能力之增加,而有使用電晶體容量或主動驅= 2象之液晶元件、有機EL元件等之驅動時反應時間變短 寻叙點。為了間早地製作電晶體構造,光罩雖為=片,作 可充分確認有機垂直型電晶體之基本動作。又,閘極電極 7係使用Mo膜/ Cr膜,並盡可能的避免在圖案化時,光 阻之溶劑以及顯影時之水溶液浸入内部。 以下,顯示實際的有機垂直電晶體之製程順序。 圖2係顯示本發明之實施例的有機垂直型電晶體製程 截面圖’圖2(g)係圖3所不之A — A’線之截面圖。 (1)首先,如圖2(a)所示’在玻璃基板11上形成由 膜12A/Ta膜12B/Cr膜12C所構成之源極電極12。此 源極電極12之下部Cr膜12A,具有在之後之乾式餘刻時 15 200532854 不致於加工至玻璃基板n上之加工的蝕刻擋止功能。也 就是說,藉由在有機垂直型電晶體之製作時在基板上殘留 下部Cr膜12A,即能使基板保持平坦,不僅能以高良率製 作有機垂直型f晶H,且有機垂直型電晶體製作後之配線 亦谷易中間之Ta膜12B的使用,係考慮低電阻化的結 果上邛之Cr膜12C,係源極餘刻時的乾式姓刻用光罩。 ⑺接著,如圖2(b)所示,使用硝酸錄鈽溶液對源極電 極1 2之上邛Cr膜12C進行光阻加工後,以此上部&膜工% 作為光罩,以電㈣刻方式對TaM 12B進行乾燥加、工。 又,發揮㈣擋止功能之下部〇膜12A,在此製程之後亦 會殘留。 〇·5μηι形成作為絕緣 亦同樣地確認可以進 (3)接著,如圖2(c)所示,以膜厚 膜之SiN膜13。此膜厚為l.0/m時, 行此製程。 所谨!Γ著,如圖2(d)所示,形成由w/cw 所構成之沒極電極14。
(5) 接著,如圖2(e)所;^ , lyl ; β不,使用硝酸銨鈽溶液對汲極電 極14之上部Cr膜14β 电
延仃先阻後,以此上部Cr膜MB
作為先罩,藉由使用CF 士了〒 4祝體之反應性離子蝕刻法來垂直
加工Ta膜14Α以及SiN 4, ^ ^ ^ 犋13。此時之加工形狀,係從基 板十面之角度70。之錐 氟化_, 〇工。之後,為了除去蝕刻時之 亂化厌進订Ar濺鍍。 (6) 再如圖2(f)所示 石笑腾κ 化成作為有機半導體活性層之並 五本膑15、作為閘極絕
輝之由Al2〇3膜16、Mo膜17A 16 200532854 /Cr臈17B所形成之間極電極ί7β此處,源極電極】2/ 源一汲極電極間絕緣臈13/汲極電極14之側壁部之形狀, ,接近垂直於基板U,但確認了可藉由蒸鑛方式形成並五 苯膜15。此外,由於在源—汲極間施行7〇。之錐形加工, 因此即使從垂直方向進行有機半導體活性層15以後之薄 膜形成’亦確認了電晶體可以充分動作。為形成均勾性更 佳之薄臈,最好是能使玻璃基板U _來進行旋轉蒸鑛 的方法。不過,由於會使裝置大型化,因此最好是進行錐 开/加工。並五苯膜15形成時之基板溫度&贼。又,在 形成作為閘電極17之M〇m 17A、Cr们⑺後,即使進 =光阻塗佈與顯影’亦未產生溶液染入圖案下以及圖案剝 落的情形。 、特別疋並五苯為有機膜,雖然密合性不佳,但是在光 阻塗佈、與顯影等浸於溶劑之製程中亦不會造成剝落。 ⑺接著’如圖2(g)所示,使用乾式蝕刻加工閘極電極 7、閘極絕緣冑16、即有機半導體活性層15。藉此,在 :部:源極電们2、汲極電極14即顯現出來。之後,藉 進行濺鍍蝕刻,將Cr膜12A圖案化。 由於係W上述以構成,特別是源極電極1 絕緣膜 &極t極U t側壁部之形狀’相對基板接近垂直, =能在該側壁部以蒸鍍方式形成並五笨_ Η是非常重 要的。 圖3 局圖。21 係頌不本發明實施例之有機垂直型電晶體的佈 為源極電極圖案、22為汲極電極圖案、23為閘 17 200532δ54 極電極圖案。 在圖2所示之流程後,藉由進行絕緣膜之形成、接觸 窗之形成、配線之形成,即能製造使用有機垂直型電晶體 之積體電路。 藉由上述製程所製作之本發明之有機垂直型電晶體, 可以得到閘極電壓在一5V時之導通電流為7/χΑ,經調整所 得之電場效果移動度為0.025 cm2/Vs之數值。 此外,於本發明之有機垂直型電晶體之源極電極或是 # 沒極電極,如上述非專利文獻10中所述般,藉採用聚(乙 烯二氧基噻吩)/聚(苯乙烯磺酸酯)(上述非專利文獻8)或 是Pt、Ni、Co、Au、Pd、W等高工作函數材料,能謀求 更進一步之高性能化。 又’作為有機半導體活性層,若使用並六苯 (Hexacene)、並七苯(Heptacene)等的話,能謀求更高的移 動度。 又,就閘極電極而言,以某種程度之低電阻化較佳。 •然而,即使有機垂直型電晶體之移動度提昇至1 cm2/ Vs, 考量其導通電阻高達數kQ/ mm,作為薄片電阻有數百q / □(單位面積)即足夠。亦可以使用有機導電性高分子膜 之1(乙細一氧基瞳吩)/聚(苯乙稀績酸g旨)[ped〇T / PS S] 膜。此外,作為基板,並不僅是單純的支持電晶體,為提 昇元件之可靠性,還希望能有低透濕性及阻氣(Gas barrier) 性等。因此’通常雖係使用玻璃基板,但若是滿足條件的 話,亦可以使用具有彈性之塑膠基板。 18 200532^54 再者,作為閘極絕緣膜,並沒有限定為αι2〇3、Ta2〇5, 亦可使用該等之偏離其化學計量組成的材料(例如,因蒸鍍 及濺鍍等材料形成法而產生組成偏離之Α10χ、Ta0x亦可)。 再者,不僅是除上述以外之無機膜,亦可使用絕緣性有機 膜之氰基乙基黏稠性多糖等作為閘極電極絕緣膜。 此外,作為本發明主要技術之閘極電極絕緣膜積層技 術,可以適用上述非專利文獻9中所示之對向電極型濺鍍、 電子迴旋加速器共鳴(ECR)型化學汽相成長、ECR濺鍍等 鲁各種技術。 如鈿所述,根據本發明,可獲得大電流,謀求更高性 能之電晶體。 又,本發明並不限於上述實施例,可根據本發明之要 旨而有種種變形,此等並沒有從本發明之範圍排除。 根據本發明,於有機垂直型電晶體中,係將有機半導 體活型層/閘極絕緣膜/閘極電極形成為包住在垂直方向 積層加工之源一汲極部,藉由使用微影與乾式触刻之圖案 鲁化、加工,而獲得可積層之結構,且得到大電流。 【圖式簡單說明】 第1圖’係顯示本發明實施例之有機垂直型電晶體的 示意圖。 第2圖(a)〜(g),係顯示本發明實施例之有機垂直型電 晶體之製程截面圖。 第3圖,係顯示本發明實施例之有機垂直型電晶體的 佈線圖。 200532δ54 【主要元件代表符號】 1 基板 2,12 源極電極 3 源一汲極電極間絕緣膜 4, 14 沒極電極 5 有機半導體活性層 6 閘極絕緣膜 7 閘極電極 11 玻璃基板 12Α Cr膜 12Β Ta膜 12C Cr膜 13 SiN膜 15 並五苯膜
20

Claims (1)

  1. 200532δ54 十、申請專利範圍: 1 · 一種有機垂直型電晶體,其特徵在於,具有·· ⑷源極電極,係在基板上積層於垂直方向; ⑻源極1極電極間絕緣膜,係在該源極電 於垂直方向; 償增 ⑷;及極,係纟該源極_沒極間絕緣膜上積層於垂直方 方向、以 、該汲極
    (d)有機半導體活性層,係在該基板上之水平 分別與該源極電極、該源極—沒極電極間絕緣膜 電極之兩側接觸的方式積層; (e)閘極絕緣膜 式積層;以及 係以和該有機半導體活性層接觸之方 ⑴閘極電極,係以和該閘極絕緣膜接觸之方式積層; ω該閘極電極、該閘極絕緣膜、及該有機半導體活性 層係分別予以加工。 21 200532δ54 化學計量組成的材料。 6 ·如申明專利範圍第}到4項中任一項之有機垂直型 .電晶體,其中,該電晶體之閘極絕緣膜為^ A或偏離其 化學計量組成的材料。 7·如申請專利範圍第β 4項中任一項之有機垂直型 電晶體,其中,該有機半導體活性層為並五苯。 + 8·如申請專利範圍第項中任一項之有機垂直型 電晶體,其中,該源極—汲極電極間絕緣膜為聚_3—己 φ 基噻吩。 +曰9·如申請專利範圍第1至“項中任-項之有機垂直型 %晶體’其中’該源極-汲極電極間絕緣膜為氮化矽膜。 u 10·如巾請專利範圍第丨到4項中任一項之有機垂直 i H其中’該源極_沒極電極間絕緣膜為有機絕緣 性材料。 u /1 ·如申請專利範圍第i到4項中任一項之有機垂直 鲁i包日日體,其中,該閘極電極係使用有機導電性高分子膜。 12 ·如申請專利範圍第丨丨項之有機垂直型電晶體,其 7 ’该閑極電極之有機導電性高分子膜為聚(乙烯二氧基噻 吩)/聚(苯乙烯磺酸酯)膜。 1 3 ·如申請專利範圍第丨到4項中任一項之有機垂直 型電晶體,其中,該基板為玻璃基板。 14 ·如申請專利範圍第1到4項中任一項之有機垂直 型電晶體,其中,該基板為塑膠基板。 1 5 ·如申請專利範圍第1到4項中任一項之有機垂直 22 200532^54 尘电曰曰豸其中,该垂直構造之形成角度與基板面之夾角 為 45° 到 75° 。 16 士申明專利範圍第1到4項中任一項之有機垂直 ^電晶體’其中,係在該有機導電性高分子膜之形成前, 實施可以提昇膜質之表面處理。 中 浚申明專利範圍第丨6項之有機垂直型電晶體 ,違表面處理為界面活性劑處理。 其 中 18如申明專利範圍第17項之有機垂直型電晶體 該界面活性劑處理為六甲基二矽烷胺處理。 中 19·如申請專利範圍帛17$之有機垂直型電晶體 該界面活性劑處理為十八烷基氣矽烷處理。 型雷2曰0辨如申請專利範圍第1到4項中任一項之有機垂直 型電晶體’其中,在該源極電極/該源極—沒極電極間絕 緣膜/該汲極電極之加工,係使用三層光阻加工。 2卜-種錢垂直型電晶體之製造方法,其特徵在於·· 係用來製作申請專利範圍第1到2〇 垂直型電晶體。 中任-項之有機 22· -種有機垂直型電晶體之製造方法,其特徵在於: 係在垂直方向積層加工之源極—汲極部中,垂直 :機半導體活性層/閘極絕緣層/間極電極,: 乾式餘刻進行圖案化與加工’以成為積體構造。Λ 十一、圓式: 如次頁。 23
TW094102079A 2004-03-17 2005-01-25 Organic vertical transistor and process for fabricating the same TW200532854A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004075571 2004-03-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW200532854A true TW200532854A (en) 2005-10-01

Family

ID=34993981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094102079A TW200532854A (en) 2004-03-17 2005-01-25 Organic vertical transistor and process for fabricating the same

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPWO2005091376A1 (zh)
TW (1) TW200532854A (zh)
WO (1) WO2005091376A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8258554B2 (en) 2009-11-10 2012-09-04 National Chiao Tung University Pressure detector and pressure detector array
TWI557915B (zh) * 2014-03-05 2016-11-11 財團法人國家實驗研究院 垂直式電晶體元件及其製作方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2432714A (en) * 2005-10-06 2007-05-30 Seiko Epson Corp Thin film transistor and method for fabricating an electronic device
CN100466323C (zh) * 2005-12-28 2009-03-04 中国科学院化学研究所 一种非平面沟道有机场效应晶体管
DE602007007003D1 (de) 2006-03-24 2010-07-22 Merck Patent Gmbh Organische Halbleiterformulierung
US20070254402A1 (en) * 2006-04-27 2007-11-01 Robert Rotzoll Structure and fabrication of self-aligned high-performance organic fets
KR101824124B1 (ko) * 2009-11-28 2018-02-01 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치 및 그 제작 방법
IL229837A0 (en) * 2013-12-08 2014-03-31 Technion Res & Dev Foundation electronic means
EP2924754B1 (en) * 2014-03-28 2021-10-20 Novaled GmbH Method for producing an organic transistor and organic transistor
US9805935B2 (en) 2015-12-31 2017-10-31 International Business Machines Corporation Bottom source/drain silicidation for vertical field-effect transistor (FET)
US10002962B2 (en) 2016-04-27 2018-06-19 International Business Machines Corporation Vertical FET structure
US9812567B1 (en) 2016-05-05 2017-11-07 International Business Machines Corporation Precise control of vertical transistor gate length
US9653575B1 (en) 2016-05-09 2017-05-16 International Business Machines Corporation Vertical transistor with a body contact for back-biasing
US9842931B1 (en) 2016-06-09 2017-12-12 International Business Machines Corporation Self-aligned shallow trench isolation and doping for vertical fin transistors
US9853127B1 (en) 2016-06-22 2017-12-26 International Business Machines Corporation Silicidation of bottom source/drain sheet using pinch-off sacrificial spacer process
US10217863B2 (en) 2016-06-28 2019-02-26 International Business Machines Corporation Fabrication of a vertical fin field effect transistor with an asymmetric gate structure
US10243073B2 (en) 2016-08-19 2019-03-26 International Business Machines Corporation Vertical channel field-effect transistor (FET) process compatible long channel transistors
US9704990B1 (en) 2016-09-19 2017-07-11 International Business Machines Corporation Vertical FET with strained channel
US10312346B2 (en) 2016-10-19 2019-06-04 International Business Machines Corporation Vertical transistor with variable gate length

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3376302B2 (ja) * 1998-12-04 2003-02-10 株式会社東芝 半導体装置及びその製造方法
JP3955409B2 (ja) * 1999-03-17 2007-08-08 株式会社ルネサステクノロジ 半導体記憶装置
JP2001244467A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Hitachi Ltd コプラナー型半導体装置とそれを用いた表示装置および製法
GB2373095A (en) * 2001-03-09 2002-09-11 Seiko Epson Corp Patterning substrates with evaporation residues
JP2003249656A (ja) * 2002-02-22 2003-09-05 Canon Inc 有機薄膜トランジスタ素子とその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8258554B2 (en) 2009-11-10 2012-09-04 National Chiao Tung University Pressure detector and pressure detector array
TWI557915B (zh) * 2014-03-05 2016-11-11 財團法人國家實驗研究院 垂直式電晶體元件及其製作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2005091376A1 (ja) 2008-05-08
WO2005091376A1 (ja) 2005-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200532854A (en) Organic vertical transistor and process for fabricating the same
US6847048B2 (en) Organic thin film transistor (OTFT)
TWI412125B (zh) 電子元件及電子元件之製法
Puigdollers et al. Pentacene thin-film transistors with polymeric gate dielectric
JP5274594B2 (ja) 自己整合されたデュアル応力層を用いるcmos構造体及び方法
TWI374545B (en) Manufacturing method of thin film transistor and thin film transistor, and display
US9559168B2 (en) Field effect transistors and methods of forming same
US8193032B2 (en) Ultrathin spacer formation for carbon-based FET
JP2011517075A (ja) 有機薄膜トランジスタ
US7259047B2 (en) Method for manufacturing organic thin-film transistor with plastic substrate
TW200843118A (en) Ambipolar transistor design
Han et al. Graphene technology with inverted-T gate and RF passives on 200 mm platform
Oh Organic thin-film transistors using pentacene and SiOC film
CN111863808B (zh) 基于肖特基-欧姆混合漏电极的单片异质集成Cascode晶体管及制作方法
CN108807553B (zh) 一种基于二维半导体材料的同质pn结及其制备方法
US20070181871A1 (en) Organic thin film transistor using ultra-thin metal oxide as gate dielectric and fabrication method thereof
JP4433746B2 (ja) 有機電界効果トランジスタ及びその製造方法
CN107644906B (zh) 一种黑磷场效应晶体管及其制造方法
CN108376740A (zh) 复合沟道晶体管及其制备方法
CN105633169A (zh) 基于InAs材料的铁电场效应晶体管及其制备方法
JP2007053147A (ja) 有機半導体装置及びその製造方法
Xiong et al. A novel self-aligned offset-gated polysilicon TFT using high-/spl kappa/dielectric spacers
US7648852B2 (en) Low-voltage organic thin film transistor and fabrication method thereof
KR100666760B1 (ko) 비휘발성 메모리 유기 박막 트랜지스터 소자 및 그 제조방법
JP2003086805A (ja) 薄膜トランジスタ、電気絶縁膜及びそれらの製造方法