TR201700580A2 - Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇ - Google Patents

Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇ Download PDF

Info

Publication number
TR201700580A2
TR201700580A2 TR2017/00580A TR201700580A TR201700580A2 TR 201700580 A2 TR201700580 A2 TR 201700580A2 TR 2017/00580 A TR2017/00580 A TR 2017/00580A TR 201700580 A TR201700580 A TR 201700580A TR 201700580 A2 TR201700580 A2 TR 201700580A2
Authority
TR
Turkey
Prior art keywords
light
test
image
processor unit
light source
Prior art date
Application number
TR2017/00580A
Other languages
English (en)
Inventor
Topal Ci̇han
Original Assignee
Anadolu Ueniversitesi
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anadolu Ueniversitesi filed Critical Anadolu Ueniversitesi
Priority to TR2017/00580A priority Critical patent/TR201700580A2/tr
Priority to EP18829130.6A priority patent/EP3568690A2/en
Priority to US16/477,953 priority patent/US10983066B2/en
Priority to PCT/TR2018/050009 priority patent/WO2019009846A2/en
Publication of TR201700580A2 publication Critical patent/TR201700580A2/tr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803—Visual inspection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/90—Determination of colour characteristics
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/888—Marking defects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10024—Color image
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

Bir test objesinin (400) yapısal hata tespiti için bir test düzeneğidir. Buna göre, en az iki farklı renkte ışık yayabilen çoklu sayıdaki ışık elemanı (210) barındıran ve bir işlemci biriminden (310) aldığı sinyale göre bahsedilen ışık elemanlarının (210) ışık yayma durumunu değiştiren bir ışık kaynağını (200) içermesi, ışık elemanları (210) üstünde tanımlanan bir test yüzeyinde (220) konumlanan test objesinin (400) görüntüsünü yakalayan ve yakaladığı görüntüyü işlemci birimine (310) giriş olarak iletecek şekilde işlemci birimiyle (310) ilişkili bir görüntü yakalama aygıtını (100) içermesi, işlemci biriminin (310), aldığı görüntünün hafıza birimindeki (320) bir obje modelinden (329) farkına göre ışık kaynağının (200) onay/hata belirtir şekilde ışık elemanlarının (210) ışık yayma durumunu değiştirmesini sağlayacak şekilde konfigüre edilmiş olmasıyla karakterize edilmektedir. Şekil 1

Description

TEKNIK ALAN Bulus, görüntü yakalama aygiti tarafindan görüntülenen bir test objesinin yapisal hata tespitini yapan test düzenekleri ile ilgilidir.
Planar objelerin iki boyuttaki yapisal hatalarini tespit etmek için çesitli yöntemler kullanilmaktadir. Mevcut teknikte, bir test objesinin görüntüsünün alindigi, bu görüntünün bir hafiza birimindeki referans görüntüyle karsilastirilarak, fark olmasi durumunda ayri bir ekranda bu farka iliskin bilginin kullaniciya sunuldugu sistemler bulunmaktadir. Bu sistemlerde, objenin bir görüntü alma birimi tarafindan görüntüsü alinmakta, görüntü isleme teknikleriyle objenin olmasi gereken formundan farklarina göre hatalar belirlenmekte ve bir ekranda bu hatalara iliskin bilgiler sunulmaktadir. Operatör hem objeye hem de ekrana ayri ayri odaklandigindan, operatörün kognitif yükünü arttirmakta kullanimi zorlastirmaktadir.
Ayrica transparan unsur içeren planar objelerin hata tespiti bu tip sistemlerde transparan olmayan objelerin hata tespitine göre daha düsük dogrulukta gerçeklestirilmektedir.
Sonuç olarak, yukarida bahsedilen tüm sorunlar, ilgili teknik alanda bir yenilik yapmayi zorunlu hale getirmistir.
BULUSUN KISA AÇIKLAMASI Mevcut bulus yukarida bahsedilen dezavantajlari ortadan kaldirmak ve ilgili teknik alana yeni avantajlar getirmek üzere, bir test düzenegi ile ilgilidir.
Bulusun bir amaci, planar objelerinin hatalarinin tespit edildigi bir test düzenegi ve yöntemi ortaya koymaktir.
Bulusun diger bir amaci test operatörüne kullanim kolayligi saglayan ve test operatörünün kognitif yükünü azaltan bir test düzenegi ve yöntemi ortaya koymaktir.
Bulusun diger bir amaci transparan bölgeler içeren test objelerin de test edilebilmesini saglayan bir test düzenegi ve yöntemi ortaya koymaktir.
Yukarida bahsedilen ve asagidaki detayli anlatimdan ortaya çikacak tüm amaçlari gerçeklestirmek üzere mevcut bulus, bir test objesinin yapisal hata tespiti için bir test düzenegidir. Buna göre yeniligi, en az iki farkli renkte isik yayabilen çoklu sayidaki isik elemani barindiran ve bir islemci biriminden aldigi sinyale göre bahsedilen isik elemanlarinin isik yayma durumunu degistiren bir isik kaynagini içermesi; isik elemanlari üstünde tanimlanan bir test yüzeyinde konumlanan test objesinin görüntüsünü yakalayan ve yakaladigi görüntüyü islemci birimine giris olarak iletecek sekilde islemci birimiyle iliskili bir görüntü yakalama aygitini içermesi; islemci biriminin, aldigi görüntünün hafiza birimindeki bir obje modelinden farkina göre isik kaynaginin onay/hata belirtir sekilde isik elemanlarinin isik yayma durumunu degistirmesini saglayacak sekilde konfigüre edilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. Böylece isik kaynagi ayni zamanda kullaniciya hatayi bildirmek için kullanildigindan test operatörüne kullanim kolayligi saglamaktadir.
Bulusun tercih edilen bir yapilanmasinin özelligi, islemci biriminin, alinan görüntüden objenin test yüzeyi üstünde konumlandigi koordinatlari tespit edecek sekilde yapilandirilmis olmasi, islemci biriminin ayrica, test objesinin obje modelinden farkli oldugu hatali kisimlarin komsuluguna denk gelen test yüzeyi üzerindeki koordinatlari tespit edecek sekilde yapilandirilmis olmasi ve isik kaynaginin sözü edilen koordinatlardaki veya bu koordinatlar komsulugundaki isik elemanlarinin diger isik elemanlarindan farkli renkte isik yaymasini saglar sekilde isik yayma durumlarini degistirmesini saglayacak sekilde yapilandirilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. Böylece hatanin oldugu kisim artirilmis gerçeklik ile test operatörüne sunulmaktadir.
Bulusun tercih edilen bir diger yapilanmasinin özelligi, söz konusu objenin isigi en azindan kismen geçirebilen en az bir transparan desen içermesi, islemci biriminin; transparan desenlerin çeperlerinde hatali kisim tespit ettiginde, isik kaynaginin hatali kismi içeren transparan desene denk gelen isik elemanlarindan en az birinin diger isik elemanlarindan farkli renkte isik vermesini saglar sekilde isik yayma durumlarini degistirmesini saglayacak sekilde yapilandirilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. Böylece transparan cisimlerdeki hatalarin test operatörüne kullanim kolayligi saglayarak tespit edilmesi saglanmaktadir.
Bulusun tercih edilen bir diger yapilanmasinin özelligi, test objesinin beyaz esya ön paneli olmasi, bilhassa çamasir makinesi ön paneli olmasidir.
Bulusun tercih edilen bir diger yapilanmasinin özelligi, söz konusu isik kaynaginin elektronik bir ekran olmasidir.
Bulus ayrica, bir test objesinin yapisal hata tespiti için bir test yöntemidir. Buna göre yeniligi, a) en az iki farkli renkte isik yayabilen çoklu sayidaki isik elemani barindiran ve bir islemci biriminden aldigi sinyale göre bahsedilen isik elemanlarinin isik yayma durumunu degistiren bir isik kaynagi ile isik kaynagina bakan bir görüntü yakalama birimi arasina bir test objesinin yerlestirilmesi, b) görüntü yakalama aygiti tarafindan bahsedilen test objesinin en az bir görüntüsünün yakalanmasi ve söz konusu görüntünün islemci birimine iletilmesi, c) islemci birimi tarafindan, görüntü yakalama aygitindan alinan görüntünün bir hafiza birimindeki bir obje modeli ile karsilastirilmasi, d) islemci birimi tarafindan, alinan görüntünün obje modelinden farkina göre isik kaynaginin onay/hata belirtir sekilde isik elemanlarinin isik yayma durumunu degistirmesini saglayacak sekilde isik kaynagina sinyal gönderilmesi, adimlarini içermesidir.
Bulusun tercih edilen bir diger yapilanmasinin özelligi, e) islemci birimi tarafindan alinan görüntüden test objesinin test yüzeyi üstünde konumlandigi koordinatlarin tespit edilmesi f) islemci birimi tarafindan, test objesinin obje modelinden farkli oldugu hatali kisimlarin komsuluguna denk gelen test yüzeyi üzerindeki koordinatlarin tespit edilmesi, g) islemci birimi tarafindan; isik kaynaginin, sözü edilen koordinatlardaki veya bu koordinatlar komsulugundaki isik elemanlarinin diger isik elemanlarindan farkli renkte isik vermesini saglayacak sekilde sinyal gönderilmesi, adimlarini da içermesidir.
Bulusun tercih edilen bir diger yapilanmasinin özelligi, g adiminin h) islemci birimi tarafindan, hata olmasi durumunda isik kaynagina, hatanin bulundugu koordinatlari veya bu koordinatlar civarini isaret eden bir uyari unsuru tanimlayacak sekilde isik elemanlarinin isik yayma durumlarinin degistirmesinin saglanmasi, alt adimini içermesidir.
SEKLIN KISA AÇIKLAMASI Sekil 1! de test düzeneginin temsili görünümü verilmistir.
Sekil 2” de isik kaynaginin temsili bir görünümü verilmistir.
Sekil 3” te hafiza biriminin daha detayli temsili bir görünümü verilmistir.
Sekil 4! te test düzeneginin hata tespit etmis halinin temsili bir görünümü verilmistir.
Sekil 5, te test düzeneginin alternatif bir yapilanmasinin temsili bir görünümü verilmistir.
Sekil 6, da alternatif bir yapilanmadaki test objesinin temsili bir görünümü verilmistir.
BULUSUN DETAYLI AÇIKLAMASI Bu detayli açiklamada bulus konusu test düzenegi, sadece konunun daha iyi anlasilmasina yönelik hiçbir sinirlayici etki olusturmayacak örneklerle açiklanmaktadir.
Sekil 1'e atfen söz konusu düzenek, test objesinin (400) üstüne konuldugu bir isik kaynagini (200), test objesinin (400) görüntüsünü yakalayan bir görüntü yakalama aygitini (100), görüntü aygitindan görüntüyü alan ve bahsedilen isik kaynaginin (200) isik yayma durumunu degistirerek test objesindeki (400) hataya iliskin geri bildirim yapilmasini saglayan bir kontrol birimini (300) içermektedir. yaymasinin saglanmasi örnek olarak, açik durumdan kapali duruma getirilmesi, kapali durumdan açik duruma getirilmesi olabilmektedir.
Bahsedilen kontrol birimi (300), bir islemci birimini (310) içermektedir. Islemci birimi (310), bir hafiza birimi (320) ile veri transferi saglar sekilde ile iliskilidir. Islemci birimi (310) mikroislemci olabilmekte, genel veya özel amaçli bir islemci (CPU, GPU) olabilmekte ya da bunlarin uygun kombinasyonlari olabilmektedir. Hafiza birimi (320) de geçici olarak veya kalici olarak veri saklayabilen bir bellek (RAM, ROM) veya bunlarin uygun sekilde baglantilanmis kombinasyonlari olabilmektedir. Hafiza birimi (320) ayrica en az bir obje modelini (329) içermektedir. Bahsedilen obje modeli (329), hatasiz bir test objesinin (400) bilgisayar ortaminda olusturulmus 2 boyutlu modeli olabilmektedir. Hafiza birimi (320), farkli test objeleri için farkli modelleri içerebilmektedir. Obje modeli (329), hatasiz bir test objesinin (400) isik kaynagi (200) üzerine yerlestirildiginde görüntü yakalama aygitindan (100) görüldügü formda olabilmektedir. Kontrol birimi (300) bu örnek yapilanmada bir bilgisayardir.
Bahsedilen görüntü yakalama aygiti (100) bu örnek yapilanmada bir kameradir. Yakaladigi görüntüleri kontrol birimine (300) giris olarak göndermektedir. Kamera, isik kaynagina (200) dogrultulmustur ve isik kaynagi (200) üstünde konumlanan test objesinin (400) görüntüsünü almaktadir.
Sözü edilen isik kaynagi (200), her biri degisimli olarak en az iki farkli renkte isik yayabilen çoklu sayida isik elemanlarini (210) içermektedir. Isik elemanlarinin (210) yan yana gelerek tanimladigi bir yüzey, test yüzeyi (220) olarak tanimlanmaktadir. Test objesi (400), bu test yüzeyinde (220) konumlanmaktadir. Isik kaynagi (200) bu örnek yapilanmada bir monitördür. Isik elemanlari (210) da her bir pikselin isik yaymasini saglayan unsurlardir, test yüzeyi (220) de ekran yüzeyidir. Isik kaynagi (200) çok sayida LED'in bir araya gelip bunlarin uygun sekilde sürülmesiyle elde edilen bir tertibat da olabilmektedir.
Test objesi (400) tercihen yassi yapidadir. Test objesi (400) sekil 6'ya atfen alternatif bir yapilanmada bir transparan deseni (410) içermektedir. Transparan desen (410) en azindan kismen isigi geçirebilecek yapidadir. Test objesi (400) bu alternatif yapilanmada tercihen serigrafi ile üretilmis beyaz esya ön panelidir.
Sekil 3fe atfen hafiza birimi (320) ayrica, islemci biriminin (310) düzenegin çalismasi için gereken islemleri gerçeklestirmek üzere yürüttügü komut satirlarini barindiran fonksiyonel modülleri içermektedir. Bir veri alma modülü (321), görüntü yakalama aygitindan (100) anlik görüntülerin alinmasini saglamaktadir. Bir pozisyon belirleme modülü (322), alinan görüntüye göre test objesinin (400) test yüzeyi (220) üzerindeki konumunu belirlemektedir.
Bahsedilen pozisyon belirleme modülü (322), teknikte bilinen görüntü isleme metotlarini kullanarak test objesinin (400) konumunu belirleyebilmektedir. Sinirlayici olmamak kaydiyla pozisyon belirleme modülü (322) örnegin, boyutu ve oryantasyonu bilinen test yüzeyi (220) üzerinde kenar aramasi veya daire aramasi yapan algoritmalari içerebilmektedir.
Bir hata belirleme modülü (323) obje modeli (329) ile alinan görüntüyü karsilastirarak hatalari ve bu hatalarin test yüzeyi (220) üzerindeki konumunu belirlemektedir.
Bir hata görsellestirme modülü (324), test objesinde (400) hatalarin bulundugu bölge civarindaki test yüzeyine (220) denk gelen isik elemanlarinin (210) diger isik elemanlarindan (210) farkli isik yaymasi saglamaktadir. Ornegin objenin çeperleri civarinda eksik bir bölge varsa, eksik bölge çeperleri civarindaki isik elemanlarinin (210) kullanicinin görebilecegi sekilde farkli isik yaymasi saglanmaktadir. Ek olarak, bu isik elemanlarinin (210) hata ile iliskili bir yazi veya tik, ok gibi bir isaret formunda bir uyari unsuru (500) tanimlayacak sekilde isik yaymasi saglanabilmektedir. Test objesinin (400) belirlenen sinirlar içerisinde hatasiz olmasi durumunda da, islemci birimi (310) tarafindan isik elemanlarinin (210) onay belirten bir uyari unsuru (500) tanimlayacak sekilde isik yayma durumlarinin degistirilmesi saglanabilmektedir.
Yukarida detaylari anlatilan düzenegin çalismasi asagidaki gibidir: Test objesi (400) isik kaynaginin (200) test yüzeyi (220) üzerine yerlestirilmektedir.
Görüntü yakalama aygiti (100) test objesinin (400) görüntüsünü almakta ve islemci birimine (310) giris olarak göndermektedir. Veri alma modülü (321) araciligi ile alinan görüntüler islenerek pozisyon belirleme modülü (322) tarafindan test objesinin (400) test yüzeyi (220) üzerindeki konumunu belirlemektedir. Hata belirleme modülü (323) tarafindan test objesinin (400) obje modeliyle (329) karsilastirilmasi saglanmakta, test objesi (400) ile obje modeli (329) arasindaki farklardan yola çikarak test objesindeki (400) hatalarin bulunmasini ve bu hatalarin test yüzeyi (220) üzerindeki koordinatlarinin belirlenmesini saglamaktadir. Hata görsellestirme modülü (324), bahsedilen koordinatlar civarindaki isik elemanlarinin (210) diger isik elemanlarina (210) göre farkli renkte isik yaymasini saglamaktadir. Böylece kullanici test yüzeyi (220) üzerine yerlestirdigi cisimdeki hatayi cisim civarinda görebilmekte, kafasini farkli bir yere çevirmesi gerekmemektedir. Böylelikle hata veya onay ifadeleri, bir nevi artirilmis gerçeklik yoluyla kullaniciya sunulmaktadir.
Bu yöntem ve düzenek, beyaz esya ön paneli gibi serigrafi ile üretilen ve transparan bölgeler içeren panellerdeki milimetrik hatalarin tespit edilmesinde kullanilabilmektedir.
Transparan desen (410) çeperinde bir hata olmasi durumunda bu transparan bölge farkli renkte isiklandirilarak hatanin kullaniciya belirgin bir sekilde sunulmasi saglanabilmektedir.
Bu yöntem, yayvan herhangi bir test objesi (400) veya hatanin görülebilmesi için isik kaynagi (200) önüne yerlestirilmesi gereken herhangi bir test objesi (400) için kullanilabilmektedir.
Bulusun koruma kapsami ekte verilen istemlerde belirtilmis olup kesinlikle bu detayli anlatimda örnekleme amaciyla anlatilanlarla sinirli tutulamaz. Zira teknikte uzman bir kisinin, bulusun ana temasindan ayrilmadan yukarida anlatilanlar isiginda benzer yapilanmalar ortaya koyabilecegi açiktir.
SEKILDE VERILEN REFERANS NUMARALARI 100 Görüntü yakalama aygiti 200 Isik kaynagi 210 Isik elemani 220 Test yüzeyi 300 Kontrol birimi 310 Islemci birimi 320 Hafiza birimi 321 Veri alma modülü 322 Pozisyon belirleme modülü 323 Hata belirleme modülü 329 Obje modeli 400 Test objesi 410 Transparan desen 500 Uyari unsuru

Claims (1)

  1. ISTEMLER . Bir test objesinin (400) yapisal hata tespiti için bir test düzenegi olup özelligi; en az iki farkli renkte isik yayabilen çoklu sayidaki isik elemani (210) barindiran ve bir islemci biriminden (310) aldigi sinyale göre bahsedilen isik elemanlarinin (210) isik yayma durumunu degistiren bir isik kaynagini (200) içermesi, isik elemanlari (210) üstünde tanimlanan bir test yüzeyinde (220) konumlanan test objesinin (400) görüntüsünü yakalayan ve yakaladigi görüntüyü islemci birimine (310) giris olarak iletecek sekilde islemci birimiyle (310) iliskili bir görüntü yakalama aygitini (100) içermesi, islemci biriminin (310), aldigi görüntünün hafiza birimindeki (320) bir obje modelinden (329) farkina göre isik kaynaginin (200) onay/hata belirtir sekilde isik elemanlarinin (210) isik yayma durumunu degistirmesini saglayacak sekilde konfigüre edilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. . istem 1ie göre bir test düzenegi olup özelligi; islemci biriminin (310), alinan görüntüden objenin test yüzeyi (220) üstünde konumlandigi koordinatlari tespit edecek sekilde yapilandirilmis olmasi, islemci biriminin (310) ayrica, test objesinin (400) obje modelinden (329) farkli oldugu hatali kisimlarin komsuluguna denk gelen test yüzeyi (220) üzerindeki koordinatlari tespit edecek sekilde yapilandirilmis olmasi ve isik kaynaginin (200) sözü edilen koordinatlardaki veya bu koordinatlar komsulugundaki isik elemanlarinin (210) diger isik elemanlarindan (210) farkli renkte isik yaymasini saglar sekilde isik yayma durumlarini degistirmesini saglayacak sekilde yapilandirilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. . Istem 1ie göre bir test düzenegi olup özelligi; söz konusu objenin isigi en azindan kismen geçirebilen en az bir transparan desen (410) içermesi, islemci biriminin (310); transparan desenlerin (410) çeperlerinde hatali kisim tespit ettiginde, isik kaynaginin (200) hatali kismi içeren transparan desene (410) denk gelen isik elemanlarindan (210) en az birinin diger isik elemanlarindan (210) farkli renkte isik vermesini saglar sekilde isik yayma durumlarini degistirmesini saglayacak sekilde yapilandirilmis olmasiyla karakterize edilmesidir. . istem 1'e göre bir test düzenegi olup özelligi; test objesinin (400) beyaz esya ön paneli olmasi, bilhassa çamasir makinesi, bulasik makinesi, kurutucu veya firin ön paneli olmasidir. Istem 1ie göre bir test düzenegi olup özelligi; söz konusu isik kaynaginin (200) elektronik bir ekran olmasidir. . Bir test objesinin (400) yapisal hata tespiti için bir test yöntemi olup özelligi; a) en az iki farkli renkte isik yayabilen çoklu sayidaki isik elemani (210) barindiran ve bir islemci biriminden (310) aldigi sinyale göre bahsedilen isik elemanlarinin (210) isik yayma durumunu degistiren bir isik kaynagi (200) ile isik kaynagina (200) bakan bir görüntü yakalama aygiti (100) arasina bir test objesinin (400) yerlestirilmesi, b) görüntü yakalama aygiti (100) tarafindan bahsedilen test objesinin (400) en az bir görüntüsünün yakalanmasi ve söz konusu görüntünün islemci birimine (310) iletilmesi, c) islemci birimi (310) tarafindan, görüntü yakalama aygitindan (100) alinan görüntünün bir hafiza birimindeki (320) bir obje modeli (329) ile karsilastirilmasi, d) islemci birimi (310) tarafindan, alinan görüntünün obje modelinden (329) farkina göre isik kaynaginin (200) onay/hata belirtir sekilde isik elemanlarinin (210) isik yayma durumunu degistirmesini saglayacak sekilde isik kaynagina (200) sinyal gönderilmesi adimlarini içermesidir. . Istem 6'ya göre bir test yöntemi olup özelligi; e) islemci birimi (310) tarafindan alinan görüntüden test objesinin (400) test yüzeyi (220) üstünde konumlandigi koordinatlarin tespit edilmesi f) islemci birimi (310) tarafindan, test objesinin (400) obje modelinden (329) farkli oldugu hatali kisimlarin komsuluguna denk gelen test yüzeyi (220) üzerindeki koordinatlarin tespit edilmesi, g) islemci birimi (310) tarafindan; isik kaynaginin (200), sözü edilen koordinatlardaki veya bu koordinatlar komsulugundaki isik elemanlarinin (210) diger isik elemanlarindan (210) farkli renkte isik vermesini saglayacak sekilde sinyal gönderilmesi adimlarini da içermesidir. Istem ?ye göre bir test yöntemi olup özelligi; g adiminin h) islemci birimi (310) tarafindan, hata olmasi durumunda isik kaynagina (200), hatanin bulundugu koordinatlari veya bu koordinatlar civarini isaret eden bir uyari unsuru (500) tanimlayacak sekilde isik elemanlarinin (210) isik yayma durumlarinin degistirmesinin saglanmasi alt adimini içermesidir.
TR2017/00580A 2017-01-13 2017-01-13 Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇ TR201700580A2 (tr)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TR2017/00580A TR201700580A2 (tr) 2017-01-13 2017-01-13 Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇
EP18829130.6A EP3568690A2 (en) 2017-01-13 2018-01-11 An augmented reality-based test mechanism
US16/477,953 US10983066B2 (en) 2017-01-13 2018-01-11 Augmented reality-based test mechanism
PCT/TR2018/050009 WO2019009846A2 (en) 2017-01-13 2018-01-11 TEST MECHANISM BASED ON INCREASED REALITY

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TR2017/00580A TR201700580A2 (tr) 2017-01-13 2017-01-13 Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TR201700580A2 true TR201700580A2 (tr) 2018-07-23

Family

ID=64605922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TR2017/00580A TR201700580A2 (tr) 2017-01-13 2017-01-13 Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10983066B2 (tr)
EP (1) EP3568690A2 (tr)
TR (1) TR201700580A2 (tr)
WO (1) WO2019009846A2 (tr)

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57211044A (en) * 1981-06-19 1982-12-24 Hajime Sangyo Kk Inspecting device
US6084979A (en) * 1996-06-20 2000-07-04 Carnegie Mellon University Method for creating virtual reality
US6944331B2 (en) * 2001-10-26 2005-09-13 National Instruments Corporation Locating regions in a target image using color matching, luminance pattern matching and hue plane pattern matching
US7406190B2 (en) * 2003-07-24 2008-07-29 Lucidyne Technologies, Inc. Wood tracking by identification of surface characteristics
US7193697B2 (en) * 2005-07-25 2007-03-20 Chroma Ate Inc. Apparatus for feature detection
DE102006014345B3 (de) * 2006-03-28 2007-08-23 Siemens Ag Sichtprüfgerät und Verfahren zu dessen Konfiguration
FR2949893A1 (fr) * 2009-09-09 2011-03-11 Sidel Participations Procede d'aide a l'identification de produits non conformes tries manuellement et installation pour sa mise en oeuvre
US9074868B2 (en) * 2013-05-13 2015-07-07 General Electric Company Automated borescope measurement tip accuracy test
DE102014100699A1 (de) * 2014-01-22 2015-07-23 Krones Ag Vorrichtung zur optischen Inspektion von Verpackungsgegenständen in der Getränketechnologie
US20160016274A1 (en) * 2014-07-16 2016-01-21 Faro Technologies, Inc. Measurement device for machining center
US20160078678A1 (en) * 2014-09-12 2016-03-17 Centre De Recherche Industrielle Du Quebec Augmented reality method and apparatus for assisting an operator to perform a task on a moving object
US10275863B2 (en) * 2015-04-03 2019-04-30 Cognex Corporation Homography rectification
US9773302B2 (en) * 2015-10-08 2017-09-26 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Three-dimensional object model tagging

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019009846A2 (en) 2019-01-10
US20190369028A1 (en) 2019-12-05
US10983066B2 (en) 2021-04-20
EP3568690A2 (en) 2019-11-20
WO2019009846A3 (en) 2019-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6574163B2 (ja) 基板の異物質検査方法
TWI614483B (zh) 光源亮度檢測方法及系統
TWI484164B (zh) Optical re - inspection system and its detection method
US11574399B2 (en) Abnormal state detection device, abnormal state detection method, and recording medium
JP6682809B2 (ja) 検査システムおよび検査方法
JP2017072619A (ja) 穀粒判別に用いる操作パネル式情報端末、該穀粒判別に用いる操作パネル式情報端末と撮像装置とを組み合わせた穀粒判別システム、該穀粒判別システムのアプリケーションプログラム及び記憶媒体
JP2006118896A (ja) フレキシブルプリント配線板の外観検査方法
US7619650B2 (en) Imaging sensor that monitors operability of the imaging sensor
KR20250016246A (ko) 로봇 교시 장치, 외관 검사 시스템 및 로봇 교시 방법
JP5681555B2 (ja) 光沢品の外観検査装置、プログラム
JP2009036736A (ja) 印刷半田検査方法及び装置
JP6276092B2 (ja) 検査システムおよび検査方法
JP2008300456A (ja) 被検査体の検査システム
JP2016109462A (ja) 検査システムおよびフレキシブル照明装置
CN111033566B (zh) 用于对航空零件进行无损检查的方法及其系统
CN108811483B (zh) 组装电路板检测系统及组装电路板检测方法
TR201700580A2 (tr) Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇
WO2018131634A1 (ja) 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム
JP6508763B2 (ja) 表面検査装置
CN110500950B (zh) 检查装置
US20180003486A1 (en) An arrangement of optical measurement
JP2021009080A (ja) 検査装置、検査システム、及び検査方法
JP2012225716A (ja) 基板の外観検査装置および外観検査方法
JP6333618B2 (ja) 撮像装置と操作パネル式情報端末とを組み合わせた穀粒判別システム
JP4969900B2 (ja) 危険領域の防護装置