TH6515B - ระเบียบวิธีและอุปกรณ์จับเพื่อการทดสอบสำหรับรอยวงจรบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้ - Google Patents
ระเบียบวิธีและอุปกรณ์จับเพื่อการทดสอบสำหรับรอยวงจรบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้Info
- Publication number
- TH6515B TH6515B TH9501000481A TH9501000481A TH6515B TH 6515 B TH6515 B TH 6515B TH 9501000481 A TH9501000481 A TH 9501000481A TH 9501000481 A TH9501000481 A TH 9501000481A TH 6515 B TH6515 B TH 6515B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- bottom plate
- plate
- top plate
- shaft
- movement
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract 9
- 238000007792 addition Methods 0.000 claims 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 2
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 claims 2
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 claims 2
- 238000009417 prefabrication Methods 0.000 claims 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 claims 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract 1
Abstract
กลไกจะได้รับการจัดเตรียมสำหรับการทดสอบรอยวงจรที่ทอดตัวไปตามแนวขั้นฐานที่อ่อนตัวด้ ซึ่งด้รับการป้อนในทิศทางตามยาวระหว่างแผ่นด้านบนและแผ่นด้านล่าง แผ่นด้านบนจะรวมถึงช่องเปิดด้านบนจำนวนมากที่ทอดตัวไปบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้และเซมเนต์ด้านบนจำนวนหลายเซกเมนต์ซึ่งทอดตัวไปเช่นเดียวกันบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้ระหว่างช่องเปิดที่อยู่ข้างเคียงกันแผ่นด้านล่างจะรวมถึงเซกเมนต์ด้านล่างที่ทอดตัวไปข้างใดช่องเปิดด้านบนและช่องเปิดด้านล่างจะทอดตัวไป้างใต้เซกเมนต์ด้านบน จะเคลื่อนโพรบทดสอบด้านบนสองโพรบไปบนขั้นฐานที่อ่อนตัวได้ จะทำการทดสอบบนทั้งสองด้านของชั้นฐานที่อ่อนตัวได้เมื่อทำโพรบเข้ามาสัมผัสกับจุดทดสอบในบริเวณที่เข้าถึงได้ผ่านช่องเปิดด้านบนและด้านล่าง ด้วยเซกเมนต์ที่ทอดตัวไปตามแนวช่องเปิดบนด้านที่ตรงข้ามกันของชั้นฐานที่อ่อนตัวได้ที่จัดเตรียมพื้นผิวเพื่อการรองหลังสำหรับการสัมผัสของโพรบ อาจนำระเบียบวิธีแบบแสดงโพรบมาใช้เพื่อกำหนดหาลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าของรอยวงจรที่ทอดตัวไประหว่างจุดทดสอบ หรืออาจนำระเบียบวิธีแบบหนึ่งโพรบมาให้เพื่อกำหนดหาความเก็บประจุระหว่างรอยวงจรและแผ่นบริเวณวงจรบนชั้นฐานอาจได้รับการทำให้เคลื่อนที่ไประหว่างแผ่นใสชุดลำดับของการเคลื่อนที่เพิ่มขึ้นเพื่อเผยจุดต่าง ๆ ผ่านช่องเปิดตามต้องการที่จะทำให้กระบวนการทดสอบเสร็จสมบูรณ์
Claims (1)
1.เครื่องสำเร็จของข้อถือสิทธิข้อ 20: ซึ่งในนั้น ชั้นด้านบนและด้านล่างที่นำไฟฟ้าดังกล่าวจะประกอบด้วยโลหะที่หนา 0.013 นิ้ว และ ซึ่งในนั้น ชั้นด้านบนและชั้นด้านล่างที่เป็นฉนวนประกอบด้วยวัสดุชนิดเทอร์โมพลาสติกที่หนา 0.002 นิ้ว
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH20083A TH20083A (th) | 1996-08-20 |
| TH6515B true TH6515B (th) | 1997-03-17 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0166409B1 (en) | Ic test equipment | |
| US5152654A (en) | Hot melt adhesive applicator | |
| EP0317213A2 (en) | Device for transferring printed circuit board | |
| US4858527A (en) | Screen printer with screen length and snap-off angle control | |
| KR100709598B1 (ko) | 전기 검사 장치 | |
| CN1056449C (zh) | 柔性基片上的电路迹线的测试装置和方法 | |
| US6099224A (en) | Mechanism for connecting book binding and paper supplying machines | |
| DE59306145D1 (de) | Vorrichtung zum lagerichtigen Zuführen von Teststreifen zu einer Analyseeinrichtung | |
| WO1999037438A1 (en) | Printed circuit board support system | |
| US4538104A (en) | In-circuit test apparatus for printed circuit board | |
| TH6515B (th) | ระเบียบวิธีและอุปกรณ์จับเพื่อการทดสอบสำหรับรอยวงจรบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้ | |
| TH20083A (th) | ระเบียบวิธีและอุปกรณ์จับเพื่อการทดสอบสำหรับรอยวงจรบนชั้นฐานที่อ่อนตัวได้ | |
| JPH11508413A (ja) | 基板に構成部材を配置する方法及びこの方法を実施するための構成部材配置機械 | |
| US3153812A (en) | Apparatus for simultaneous bi-axial orientation of plastic film | |
| US4797610A (en) | Electronic test fixture | |
| CN209342865U (zh) | 一种卧式飞针测试主机 | |
| US4706602A (en) | Solder coater board clamp | |
| KR102164882B1 (ko) | 회전 궤도형 수직 도금장치 | |
| TW381180B (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| KR102432815B1 (ko) | 피검사물 지지 장치 및 이를 이용한 검사 방법 | |
| CN100452946C (zh) | 印刷电路板中的导电图案的制造方法以及制造装置 | |
| US2696589A (en) | Means for detecting scratches in lacquer coatings | |
| TW589451B (en) | Circuit board testing apparatus and method | |
| JPH1016431A (ja) | 製本装置の表紙位置決め装置 | |
| CN209102832U (zh) | 一种可实现四线测试的治具 |