TH64830B - แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต - Google Patents
แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิตInfo
- Publication number
- TH64830B TH64830B TH901002942A TH0901002942A TH64830B TH 64830 B TH64830 B TH 64830B TH 901002942 A TH901002942 A TH 901002942A TH 0901002942 A TH0901002942 A TH 0901002942A TH 64830 B TH64830 B TH 64830B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- height
- plate
- defect
- magnetic
- main surface
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (09/03/61) แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งมีการควบคุมรูปร่างกับจำนวนของตำหนิที่ผิวหน้าและ สามารถยับยั้งการเกิดข้อบกพร่องของอุปกรณ์ HDD ที่มีการติดตั้งหัวแม่เหล็กซึ่งแบล็งค์ไฮต์มี ขนาดเล็กมากในลักษณะของหัว DFH ได้ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กของการประดิษฐ์นี้ ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 ไมโครเมตร ขึ้นไป และไม่เกิน 0.3 ไมโครเมตร เมื่อตรวจจับแสงที่กระจายจากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดย ฉายแสง เลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 ไมโครเมตร ความยาวคลื่น 405 นาโนเมตร และ กำลัง 25 มิลลิวัตต์ มีน้อยกว่า 50 แห่งต่อ 24 เซนติเมตร.ยกกำลัง2 และไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุดของ ตำหนิดังกล่าวของเส้นโค้งแบริ่งที่ สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ใช้กล้องจุลทรรศน์แรง อะตอมของตำหนิดังกล่าวจนถึง 45 เปอร์เซนต์ อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเส้นสมมุติซึ่ง เชื่อมต่อจากจุดสูงสุดของตำหนิดัง กล่าว 45 เปอร์เซนต์ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งมีการควบคุมรูปร่างกับจำนวนของตำหนิที่ผิวหน้าและ สามารถยับยั้งการเกิดข้อบกพร่องของอุปกรณ์ HDD ที่มีการติดตั้งหัวแม่เหล็กซึ่งแบล็งค์ไฮต์มี ขนาดเล็กมากในลักษณะของหัว DFH ได้ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กของการประดิษฐ์นี้ ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 Um ขึ้นไป และไม่เกิน 0.3 Um เมื่อตรวจจับแสงที่กระจายจากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดยฉายแสง เลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 Um ความยาวคลื่น 405nm และกำลัง 25mW มีน้อยกว่า 50 แห่งต่อ 24cm2 และไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุดของตำหนิดังกล่าวของเส้นโค้งแบริ่งที่ สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมของตำหนิดังกล่าวจนถึง 45% อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเสนสมมุติซึ่งเชื่อมต่อจากจุดสูงสุดของตำหนิดัง กล่าว 45%
Claims (1)
1. แผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งเป็นแผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กที่มีผิวหน้าหลัก มีลักษณะจำเพาะ คือ ความหยาบของผิวหน้า Ra ไม่เกิน 0.15nm เมื่อวัดขอบเขตการวัด ของมุม 2 Um x 2 Um ด้วยความละเอียด 256x256 พิกเซลของผิวหน้าหลักดังกล่าวโดยใช้กล้อง จุลทรรศน์แรงอะตอม ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 Um ขึ้นไปและไม่เกิน 0.3 Um เมื่อตรวจจับแสงที่กระจาย จากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดยฉายแสงเลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 Um ความยาวคลื่น 405nm และกำลัง 25mW ที่ผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวมีน้อยกว่า 50 แห่งจุด 24cm2 และในจำนวนตำหนิทั้งหมดที่ได้มีการตรวจจับดังกล่าว ไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุด ของตำหนิดังกล่าว (ความสูงของ 0%) ของเส้นโค้งแบริ่งที่สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ ใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมจนถึง 45% อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเส้นสมมุติซึ่ง เชื่อมต่อจุดสูงสุดของตำหนิดังกล่าว (ความสูง 0%) กับจุดของความสูงที่ 45%
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH112980A TH112980A (th) | 2012-03-20 |
| TH64830B true TH64830B (th) | 2018-09-12 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MY153605A (en) | Substrate for magnetic disk and magnetic disk | |
| CN109975319B (zh) | 一种平面光学元件表面质量快速检测装置及其方法 | |
| CN104296969B (zh) | 一种激光损伤阈值标定方法 | |
| MY158962A (en) | Glass substrate for a magnetic disk and magnetic disk | |
| CN111203805A (zh) | 全自动修复玻璃划痕的方法 | |
| JPH07509785A (ja) | 表面のピット及びマウンド検出,識別装置及び方法 | |
| WO2021227134A1 (zh) | 吸收性缺陷单光束光热测量装置和测量方法 | |
| JP5337578B2 (ja) | 微細凹凸パターンの欠陥判定方法、および、パターンドメディアの欠陥判定方法 | |
| US8895165B2 (en) | Method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, glass substrate for a magnetic disk, method of manufacturing a magnetic disk, and magnetic disk | |
| Sheng et al. | Defects localization using the data fusion of laser Doppler and image correlation vibration measurements | |
| JP5308212B2 (ja) | ディスク表面欠陥検査方法及び装置 | |
| TH64830B (th) | แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต | |
| TH112980A (th) | แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต | |
| Su et al. | Tribological and dynamic study of head disk interface at sub-1-nm clearance | |
| CN116297527A (zh) | 一种快速检测光学元件表面热敏性缺陷分布的方法 | |
| TWI473963B (zh) | 一維掃瞄表面形貌量測裝置與方法 | |
| CN103727887A (zh) | 非相干成像玻璃测厚方法 | |
| SG160307A1 (en) | Magnetic disk substrate and magnetic disk | |
| CN105388215B (zh) | 一种钢板超声波检测缺陷位置记录装置 | |
| TW200938803A (en) | Device and method for testing thickness and gaps of transparent objects by means of dual optical probes | |
| CN102980844A (zh) | 一种激光薄膜元件用光学基板清洗后表面检测方法 | |
| JP2010025876A (ja) | 微小距離測定方法および微小距離測定装置 | |
| CN104880161B (zh) | 一种利用椭偏参数测量固体材料表面粗糙度的方法 | |
| CN210802468U (zh) | 一种双探头四激光束焦点定位装置 | |
| CN110887844B (zh) | 基于光热弱吸收测试评价单晶硅强光元件综合性能方法 |