TH112980A - แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต - Google Patents
แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิตInfo
- Publication number
- TH112980A TH112980A TH901002942A TH0901002942A TH112980A TH 112980 A TH112980 A TH 112980A TH 901002942 A TH901002942 A TH 901002942A TH 0901002942 A TH0901002942 A TH 0901002942A TH 112980 A TH112980 A TH 112980A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- height
- plate
- defect
- magnetic
- main surface
- Prior art date
Links
Abstract
DC60 (09/03/61) แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งมีการควบคุมรูปร่างกับจำนวนของตำหนิที่ผิวหน้าและ สามารถยับยั้งการเกิดข้อบกพร่องของอุปกรณ์ HDD ที่มีการติดตั้งหัวแม่เหล็กซึ่งแบล็งค์ไฮต์มี ขนาดเล็กมากในลักษณะของหัว DFH ได้ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กของการประดิษฐ์นี้ ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 ไมโครเมตร ขึ้นไป และไม่เกิน 0.3 ไมโครเมตร เมื่อตรวจจับแสงที่กระจายจากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดย ฉายแสง เลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 ไมโครเมตร ความยาวคลื่น 405 นาโนเมตร และ กำลัง 25 มิลลิวัตต์ มีน้อยกว่า 50 แห่งต่อ 24 เซนติเมตร.ยกกำลัง2 และไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุดของ ตำหนิดังกล่าวของเส้นโค้งแบริ่งที่ สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ใช้กล้องจุลทรรศน์แรง อะตอมของตำหนิดังกล่าวจนถึง 45 เปอร์เซนต์ อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเส้นสมมุติซึ่ง เชื่อมต่อจากจุดสูงสุดของตำหนิดัง กล่าว 45 เปอร์เซนต์ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งมีการควบคุมรูปร่างกับจำนวนของตำหนิที่ผิวหน้าและ สามารถยับยั้งการเกิดข้อบกพร่องของอุปกรณ์ HDD ที่มีการติดตั้งหัวแม่เหล็กซึ่งแบล็งค์ไฮต์มี ขนาดเล็กมากในลักษณะของหัว DFH ได้ แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กของการประดิษฐ์นี้ ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 Um ขึ้นไป และไม่เกิน 0.3 Um เมื่อตรวจจับแสงที่กระจายจากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดยฉายแสง เลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 Um ความยาวคลื่น 405nm และกำลัง 25mW มีน้อยกว่า 50 แห่งต่อ 24cm2 และไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุดของตำหนิดังกล่าวของเส้นโค้งแบริ่งที่ สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมของตำหนิดังกล่าวจนถึง 45% อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเสนสมมุติซึ่งเชื่อมต่อจากจุดสูงสุดของตำหนิดัง กล่าว 45%
Claims (1)
1. แผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กซึ่งเป็นแผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กที่มีผิวหน้าหลัก มีลักษณะจำเพาะ คือ ความหยาบของผิวหน้า Ra ไม่เกิน 0.15nm เมื่อวัดขอบเขตการวัด ของมุม 2 Um x 2 Um ด้วยความละเอียด 256x256 พิกเซลของผิวหน้าหลักดังกล่าวโดยใช้กล้อง จุลทรรศน์แรงอะตอม ตำหนิซึ่งมีการตรวจจับขนาด 0.1 Um ขึ้นไปและไม่เกิน 0.3 Um เมื่อตรวจจับแสงที่กระจาย จากผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวโดยฉายแสงเลเซอร์ซึ่งมีเส้นผ่าศูนย์กลางจุดแสง 5 Um ความยาวคลื่น 405nm และกำลัง 25mW ที่ผิวหน้าหลักของแผ่นดังกล่าวมีน้อยกว่า 50 แห่งจุด 24cm2 และในจำนวนตำหนิทั้งหมดที่ได้มีการตรวจจับดังกล่าว ไม่มีตำหนิซึ่งบริเวณจากจุดสูงสุด ของตำหนิดังกล่าว (ความสูงของ 0%) ของเส้นโค้งแบริ่งที่สามารถได้โดยการพล็อตเส้นโค้งแบริ่งที่ ใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมจนถึง 45% อยู่ที่บริเวณซึ่งสูงของความสูงตำหนิกว่าเส้นสมมุติซึ่ง เชื่อมต่อจุดสูงสุดของตำหนิดังกล่าว (ความสูง 0%) กับจุดของความสูงที่ 45%
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH112980A true TH112980A (th) | 2012-03-20 |
| TH64830B TH64830B (th) | 2018-09-12 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MY153605A (en) | Substrate for magnetic disk and magnetic disk | |
| US6388744B1 (en) | Disc-shaped recording medium inspection apparatus and method | |
| Shimizu et al. | Nano-scale defect mapping on a magnetic disk surface using a contact sensor | |
| US8895165B2 (en) | Method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, glass substrate for a magnetic disk, method of manufacturing a magnetic disk, and magnetic disk | |
| JP5308212B2 (ja) | ディスク表面欠陥検査方法及び装置 | |
| TH112980A (th) | แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต | |
| Su et al. | Tribological and dynamic study of head disk interface at sub-1-nm clearance | |
| CN211527337U (zh) | 一种实时检测玻璃幕墙在役状态的光栅贴片 | |
| TH64830B (th) | แผ่นสำหรับจานแม่เหล็กและวิธีการผลิต | |
| SG160307A1 (en) | Magnetic disk substrate and magnetic disk | |
| US20050022586A1 (en) | High speed glide test for screening magnetic disc micro-waviness and a system therefor | |
| CN105388215B (zh) | 一种钢板超声波检测缺陷位置记录装置 | |
| TW200938803A (en) | Device and method for testing thickness and gaps of transparent objects by means of dual optical probes | |
| CN102980844A (zh) | 一种激光薄膜元件用光学基板清洗后表面检测方法 | |
| JP2012172999A (ja) | パターン形状検査方法及びその装置 | |
| CN110887844B (zh) | 基于光热弱吸收测试评价单晶硅强光元件综合性能方法 | |
| Zhu et al. | Flying height measurement considering the effects of the slider-disk interaction | |
| TH59544B (th) | แผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กและจานแม่เหล็ก | |
| TH114256A (th) | แผ่นแก้วสำหรับจานแม่เหล็กและจานแม่เหล็ก | |
| JP2014071919A (ja) | 情報記録媒体または情報記録媒体用ガラス基板の検査装置、及び情報記録媒体または情報記録媒体用ガラス基板の検査方法 | |
| JP2013211069A5 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法、及び情報記録媒体用ガラス基板 | |
| Suzuki | Prediction of glide avalanche based on composite roughness | |
| Yanabe et al. | Measurement of sliding behavior of a magnetic head slider in CSS test | |
| Pan et al. | Effect of Flying Pitch and Roll Angles on Lubricant Transfer Between Disk and Slider | |
| JPS6291874A (ja) | 磁気デイスクの平坦性検査方法 |