TH62030B - วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ - Google Patents
วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์Info
- Publication number
- TH62030B TH62030B TH501001472A TH0501001472A TH62030B TH 62030 B TH62030 B TH 62030B TH 501001472 A TH501001472 A TH 501001472A TH 0501001472 A TH0501001472 A TH 0501001472A TH 62030 B TH62030 B TH 62030B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- substrate
- laser
- area
- forming
- modified
- Prior art date
Links
- 238000013532 laser treatment Methods 0.000 title claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract 44
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims abstract 20
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims abstract 20
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims abstract 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 2
- 101100008044 Caenorhabditis elegans cut-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
Abstract
DC60 จัดให้มีวิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ ซึ่งแม้ว่าซับสเตรทที่ขึ้นรูปด้วยส่วนลามิเนตซึ่งรวมทั้ง อุปกรณ์เชิงหน้าที่จำนวนหนึ่งจะหนา ก็สามารถตัดซับสเตรทและส่วนลามิเนตด้วยความเที่ยงสูงได้ วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์นี้จะอาบซับสเตรท 4 ด้วยแสงเลซอร์ L ขณะที่ใช้ผิวหน้าท้าย 21 เป็นพื้นผิวทางเข้าแสงเลเซอร์และกำหนดที่อยู่จุดลู่เข้าแสง P อยู่ภายในซับสเตรท 4 เพื่อที่จะขึ้นรูป บริเวณดัดแปร 71, 72, 73 อยู่ภายในซับสเตรท 4 ในที่นี้ บริเวณดัดแปร HC 73 จะถูกขึ้นรูปอยู่ที่ ตำแหน่งระหว่างบริเวณดัดแปรแยกเป็นส่วน 72 ที่ใกล้ที่สุดกับผิวหน้าท้าย 21 และผิวหน้าท้าย 21 เพื่อที่จะทำให้เกิดการแตกร้าว 24 ซึ่งขยายไปตามเส้นเพื่อตัดจากบริเวณดัดแปร HC 73 ไปยังผิวหน้า ท้าย 21 ดังนั้น เมื่อแถบขยายตัวได้ถูกยึดเข้ากับผิวหน้าท้าย 21 ของซับสเตรท 4 และถูกทำให้ขยายตัว การแตกร้าวจะเลื่อนอย่างราบเรียบจากซับสเตรท 4 ไปยังส่วนลามิเนต 16 โดยทางบริเวณดัดแปรแยก เป็นส่วน 72 โดยที่สามารถตัดซับสเตรท 4 และส่วนลามิเนต 16 ไปตามเส้นเพื่อตัดด้วยความเที่ยงสูง ได้ จัดให้มีวิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ ซึ่งแม้ว่าซับสเตรทที่ขึ้นรูปด้วยส่วนลามิเนตซึ่งรวมทั้ง อุปกรณ์เชิงหน้าที่จำนวนหนึ่งจะหนา ก็สามารถตัดซับสเตรทและส่วนลามิเนตด้วยความเที่ยงสูงได้ วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์นี้จะอาบซับสเตรท 4 ด้วยแสงเลซอร์ L ขณะที่ใช้ผิวหน้าท้าย 21 เป็นพื้น ผิวทางเข้าแสงเลเซอร์และกำหนดที่อยู่จุดลู่เข้าแสง P อยู่ภายในซับสเตรท 4 เพื่อที่จะขึ้นรูปบริเวณดัด แปร 71, 72, 73 อยู่ภายในซับสเตรท 4 ในที่นี้ บริเวณดัดแปรHC 73 จะถูกขึ้นรูปอยู่ที่ตำแหน่ง ระหว่างบริเวณดัดแปรแยกเป็นส่วน 72 ที่ใกล้ที่สุดกับผิวหน้าท้าย 21 และผิวหน้าท้าย 21 เพื่อที่จะทำ ให้เกิดการแตกร้าว 24 ซึ่งขยายไปตามเส้นเพื่อตัดจากบริเวณดัดแปรHC 73 ไปยังผิวหน้าท้าย 21 ดัง นั้น เมื่อแถบขยายตัวได้ถูกยึดติดเข้ากับผิวหน้าท้าย 21 ของซับสเตรท 4 และถูกทำให้ถูกขยายตัว การแตก ร้าวจะเลื่อนอย่างราบเรียบจากซับสเตรท 4 ไปยังส่วนลามิเนต 16 โดยทางบริเวณดัดแปรยกเป็นส่วน 72 โดยที่สามารถตัดซับสเตรท 4 และส่วนลามิเนต 16 ไปตามเส้นเพื่อตัดด้วยความเที่ยงสูงได้
Claims (9)
1. วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ตามข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่งเมื่อขึ้นรูปแถวจำนวนหนึ่งของบริเวณดัดแปร ที่สอง แสงเลเซอร์เมื่อขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่หนึ่งจะมีพลังงานมากกว่าเมื่อขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่ สองที่ใกล้ที่สุดกับผิวหน้าท้ายของซับสเตรท 1
2. วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ตามข้อถือสิทธิ 11 ที่ซึ่งเมื่อขึ้นรูปแถวจำนวนหนึ่งของบริเวณดัด แปรที่สอง พลังงานของแสงเลเซอร์สำหรับขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่สองที่ไกลออกไปจากผิวหน้าท้าย ของซับสเตรทคือ 1.3 ถึง 3.3 เมื่อพลังงานของแสงเลเซอร์สำหรับขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่สองที่ใกล้ที่ สุดกับผิวหน้าท้ายของซับสเตรทคือ I 1
3. วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ตามข้อถือสิทธิ 11 ที่ซึ่งเมื่อขึ้นรูปแถวจำนวนหนึ่งของบริเวณดัด แปรที่สอง พลังงานของแสงเลเซอร์สำหรับขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่หนึ่งคือ 1.3 ถึง 3.3 เมื่อพลังงาน ของแสงเลเซอร์สำหรับขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่สองที่ใกล้ที่สุดกับผิวหน้าท้ายของซับสเตรทคือ I 1
4. วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ตามข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่งเมื่อขึ้นรูปแถวจำนวนหนึ่งของบริเวณดัดแปร ที่สอง ตำแหน่งซึ่งกำหนดที่อยู่จุดลู่เข้าแสงของแสงเลเซอร์เมื่อขึ้นรูปบริเวณดัดแปปที่สองที่ใกล้ที่สุด กับผิวหน้าท้ายของซับสเตรทจะมีระยะทางจากผิวหน้าท้าย 20 ไมโครเมตรถึง 110 ไมโครเมตร และ ตำแหน่งซึ่งกำหนดที่อยุ่จุดลู่เข้าแสงของแสงเลเซอร์เมื่อขึ้นรูปบริเวณดัดแปรที่สองที่ใกล้ที่สุดลำดับที่ สองกับผิวหน้าท้ายของซับสเตรทจะมีระยะทางจากผิวหน้าท้าย 140 ไมโครเมตรหรือต่ำกว่า 1
5. วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ตามข้อถือสิทธิ 1 ถึง 14 ข้อใดข้อหนึ่ง ซึ่งประกอบอีกต่อไปด้วยขั้น ตอนในการตัดซับสเตรทและส่วนลามิเนตไปตามเส้นเพื่อตัด 1
6. ชิบสารกึ่งตัวนำซึ่งประกอบด้วยซับสเตรท และส่วนลามิเนต ที่จัดวางอยู่บนผิวหน้าด้านหน้า ของซับสเตรท ซึ่งรวมทั้งอุปกรณ์เชิงหน้าที่ ที่ซึ่งแถวจำนวนหนึ่งของบริเวณดัดแปรที่หนึ่งซึ่งทอดตัวไปตามผิวหน้าท้ายของซับสเตรทจะ ถูกขึ้นรูปอยู่ในผิวหน้าด้านข้างของซับสเตรทเพื่อที่จะให้เป็นแบบอนุกรมอยู่ในทิศทางความหนาของ ซับสเตรท และ ที่ซึ่งอย่างน้อยที่สุดบริเวณดัดแปรที่สองหนึ่งแถวซึ่งทอดตัวไปตามผิวหน้าท้ายจะถูกขึ้นรูป อยู่ที่ตำแหน่งระหว่างบริเวณดัดแปรที่หนึ่งที่ใกล้ที่สุดกับผิวหน้าท้ายและผิวหน้าท้ายในผิวหน้าด้าน ข้าง 1
7. ชิปสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิ 16 ที่ซึ่งซับสเตรทคือซับสเตรทสารกึ่งตัวนำ และที่ซึ่งบริเวณดัด แปรที่หนึ่งและที่สองนะรวมทั้งบริเวณทำให้ผ่านกรรมวิธีหลอมเหลว 1
8. ชิปสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิ 16 หรือ 17 ที่ซึ่งส่วนปลายของบริเวณดัดแปรที่หนึ่งบนด้านผิว หน้าท้ายและส่วนปลายของบริเวณดัดแปรที่สองบนด้านผิวหน้าด้านหน้าซึ่งตรงข้ามกันจะมีระยะทาง 15 ไมโครเมตรถึง 60 ไมโครเมตรอยู่ระหว่างนั้น 1
9. ชิปสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิ 16 ถึง 18 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งบริเวณดัดแปรที่หนึ่งจะมีความกว้าง ทั้งหมด 40 ไมโครเมตรถึง [(ความหนาซับสเตรท) x 0.9] ไมโครเมตรในทิศทางความหนาของซับสเต รท
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH73736A TH73736A (th) | 2005-12-20 |
| TH62030B true TH62030B (th) | 2018-04-19 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1494271A4 (en) | PROCESS FOR DISCONNECTING A SUBSTRATE | |
| JP5548143B2 (ja) | Ledチップの製造方法 | |
| EP1983557A4 (en) | LASER BEAM PROCESSING AND SEMICONDUCTOR CHIP | |
| EP2418041B1 (en) | Laser machining device and laser machining method | |
| KR101903807B1 (ko) | 레이저 가공 방법 | |
| WO2007032392A1 (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | |
| WO2009031534A1 (ja) | 半導体レーザ素子の製造方法 | |
| ATE556807T1 (de) | Laserverarbeitungsverfahren | |
| MY146899A (en) | Laser processing method and semiconductor chip | |
| MY147331A (en) | A machining method using laser | |
| WO2008126742A4 (ja) | レーザ加工方法及び切断方法並びに多層基板を有する構造体の分割方法 | |
| CN104334312A (zh) | 使一工件中具有延伸深度虚饰的激光切割 | |
| TW201134777A (en) | Breaking method for brittle material substrate | |
| CN103635438A (zh) | 平板玻璃的切割分离方法 | |
| DE102013221822B4 (de) | Chip mit Rückseitenmetall und Verfahren zu seiner Herstellung und Halbleiterscheibe mit Rückseitenmetall | |
| TW201330082A (zh) | 使用不連續雷射刻劃線之方法及結構 | |
| TH62030B (th) | วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ | |
| TH73736A (th) | วิธีทำให้ผ่านกรรมวิธีเลเซอร์ | |
| TW201703962A (zh) | 脆性材料基板之垂直裂紋之形成方法及脆性材料基板之分斷方法 | |
| KR20170013157A (ko) | 취성 재료 기판에 있어서의 수직 크랙의 형성 방법 및 취성 재료 기판의 분단 방법 | |
| KR101256442B1 (ko) | 기판 분단 장치 | |
| US8496866B2 (en) | Chip resistor substrate | |
| TWI469209B (zh) | 半導體裝置之製造方法 | |
| CN117833009A (zh) | 一种利用半导体激光器解理芯片的设备解理巴条的工艺 | |
| TH40095B (th) | วิธีดำเนินการกระบวนการด้วยแสงเลเซอร์และชิปสารกึ่งตัวนำ |