TH48888A - วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก - Google Patents
วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กInfo
- Publication number
- TH48888A TH48888A TH1003554A TH0001003554A TH48888A TH 48888 A TH48888 A TH 48888A TH 1003554 A TH1003554 A TH 1003554A TH 0001003554 A TH0001003554 A TH 0001003554A TH 48888 A TH48888 A TH 48888A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- metal substrate
- magnetic head
- curvature
- substrate
- head support
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract 44
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims 25
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims 25
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims abstract 5
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims abstract 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 17
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims 6
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims 3
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000003801 milling Methods 0.000 claims 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (04/12/43) ชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ถูกนำมาจาก ซับสเทรต ขนาดยาวที่ทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิม ซึ่ง ชิ้นทดสอบ ถูกจัดวางขนานกับทิศทางตามความกว้าง TD ของ ซับสเทรต บริเวณใกล้กับ ปลายด้านหน้าของซับ สเทรต จากนั้น การแปรเปลี่ยนระหว่างความโค้งของ ชิ้นทดสอบ ถูกวัด ซับสเทรต ซึ่งการแปรเปลี่ยนความ โค้ง เป็น 0.002 [1/มม.] หรือน้อยกว่า ถูกเลือกเป็นซับสเทรตที่ ใช้ในการผลิตส่วนประกอบรองรับหัว แม่เหล็ก ในขณะที่ ซับสเทรตที่เลือกไว้ถูกลำเลียงใน ทิศทาง ตามความยาวของมัน ชั้นฉนวนและชั้นตัวนำ ถูกวางซ้อนบนซับสเทรต เพื่อก่อรูปส่วนประกอบ รองรับหัวแม่เหล็กจำนวนหนึ่ง ชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ถูกนำมาจาก ซับสเทรต ขนาดยาวที่ทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิม ซึ่ง ชิ้นทดสอบ ถูกจัดวางขนานกับทิศทางตามความกว้าง TD ของ ซับสเทรต บริเวณใกล้กับ ปลายด้านหน้าของซับ สเทรต จากนั้น การแปรเปลี่ยนระหว่างความโค้งของ ชิ้นทดสอบ ถูกวัด ซับสเทรต ซึ่งการแปรเปลี่ยนความ โค้ง เป็น 0.002 [1/มม.] หรือน้อยกว่า ถูกเลือกเป็นซับสเทรตที่ ใช้ในการผลิตส่วนประกอบรองรับหัว แม่เหล็ก ในขณะที่ ซับสเทรตที่เลือกไว้ถูกลำเลียงใน ทิศทาง ตามความยาวของมัน ชั้นฉนวนและชั้นตัวนำ ถูกวางซ้อนบนซับสเทรต เพื่อก่อรูปส่วนประกอบ รองรับหัวแม่เหล็กจำนวนหนึ่ง
Claims (7)
1. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งกำหนดค่าดังกล่าวไว้เป็น 2.0 x 10-3 มม.-1 1
2. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งค่าที่กำหนดไว้ดังกล่าว เป็น 1.0x10 ยกกำลัง -3 มม.-1 1
3. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะดังกล่าวทำด้วยเหล็กกล้าไร้สนิมที่มีความหนาไม่มากว่า 15 ไมครอน และไม่ มากกว่า 50 ไมครอน 1
4. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะดังกล่าวทำด้วยเหล็ก กล้าไร้สนิมที่มีความกว้างไม่น้อยกว่า 100 มม. และไม่ มาก กว่า 500 มม. 1
5. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการคำนวณการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนการทำ ให้ได้ความแตกต่างระหว่างค่าสูงสุด และค่าต่ำสุดของความโค้งของชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าว เป็นการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าว 1
6. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการสกัดแยกชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าวออกประกอบด้วยขั้นตอนของ การกัดบริเวณบางส่วนดังกล่าวของซับสเทรตโลหะขนาดยาวดังกล่าวเพื่อขจัดยริเวณบางส่วน ดังกล่าวออกยกเว้นชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าว 1
7. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวประกอบด้วย ขั้นตอนการวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวที่ถูกเซตไว้บนชิ้นทดสอบดังกล่าว แต่ละชิ้นโดยใช้เลเซอร์ไมโครสโคป
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH48888A true TH48888A (th) | 2002-01-08 |
| TH24743B TH24743B (th) | 2008-10-21 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7049811B2 (en) | Test circuit having parallel drive segments and a plurality of sense elements | |
| JP3343860B2 (ja) | 渦電流探傷プローブ | |
| US7994781B2 (en) | Eddy current sensor with concentric segments | |
| JPWO2000008458A1 (ja) | 渦電流探傷プローブ | |
| US20070236214A1 (en) | Primary windings having multiple parallel extended portions | |
| KR101521762B1 (ko) | 금속 제조 공정에서 금속 재료들에서의 크랙 검출을 위한 배열체 | |
| US20040066188A1 (en) | Material condition assessment with spatially periodic field sensors | |
| US20030164700A1 (en) | High resolution hidden damage imaging | |
| CN114485522B (zh) | 一种〈100〉晶向硅单晶研磨片表面损伤层厚度的测试方法 | |
| TH48888A (th) | วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก | |
| TH24743B (th) | วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก | |
| NL8020516A (nl) | Wervelstroomsonde voor een niet-destruktieve testinrichting voor pijpen en openingen in werkstukken en een werkwijze voor het vervaardigen daarvan. | |
| Raja et al. | Influence of crack length on crack depth measurement by an alternating current potential drop technique | |
| JP6631593B2 (ja) | 耐候性鋼の腐食予測方法および鋼構造物の腐食予測方法 | |
| JP3055374B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサの方向識別方法 | |
| JP2003043016A (ja) | 非破壊き裂深さ判定法 | |
| US20140139236A1 (en) | Measuring metal line spacing in semiconductor devices | |
| KR101277838B1 (ko) | 선재의 표면크랙깊이 측정방법 | |
| CN111044604B (zh) | 一种acfm单轴磁信号评估方法 | |
| NO20150286A1 (en) | Method for detection of degradiation in metal structures | |
| Qu et al. | Eddy current measurement of the thickness of top Cu film of the multilayer interconnects in the integrated circuit (IC) manufacturing process | |
| CN217155330U (zh) | 一种检测治具 | |
| Swastika et al. | Cold-formed section residual stress determination using cos-alpha x-ray diffraction technique and elastic stress–Strain relations | |
| KR102711820B1 (ko) | 구리박의 표면 파라미터의 측정 방법 및 구리박의 선별 방법 | |
| JP2002221514A (ja) | 渦電流探傷プローブ |