TH24743B - วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก - Google Patents

วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก

Info

Publication number
TH24743B
TH24743B TH1003554A TH0001003554A TH24743B TH 24743 B TH24743 B TH 24743B TH 1003554 A TH1003554 A TH 1003554A TH 0001003554 A TH0001003554 A TH 0001003554A TH 24743 B TH24743 B TH 24743B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
metal substrate
magnetic head
substrate
curvature
head support
Prior art date
Application number
TH1003554A
Other languages
English (en)
Other versions
TH48888A (th
Inventor
ทานากา นายเอทสึชิ
โอโมเต นายโตชิฮิโก
อาซาโน นายทาเคชิ
ทูโจ นายยาซูฮิซา
Original Assignee
นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางสาวสนธยา สังขพงศ์
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า นายธเนศ เปเรร่า นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์ นางสาวสนธยา สังขพงศ์
นายธเนศ เปเรร่า
Filing date
Publication date
Application filed by นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางสาวสนธยา สังขพงศ์, นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า นายธเนศ เปเรร่า นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์ นางสาวสนธยา สังขพงศ์, นายธเนศ เปเรร่า filed Critical นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
Publication of TH48888A publication Critical patent/TH48888A/th
Publication of TH24743B publication Critical patent/TH24743B/th

Links

Abstract

DC60 (04/12/43) ชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ถูกนำมาจาก ซับสเทรต ขนาดยาวที่ทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิม ซึ่ง ชิ้นทดสอบ ถูกจัดวางขนานกับทิศทางตามความกว้าง TD ของ ซับสเทรต บริเวณใกล้กับ ปลายด้านหน้าของซับ สเทรต จากนั้น การแปรเปลี่ยนระหว่างความโค้งของ ชิ้นทดสอบ ถูกวัด ซับสเทรต ซึ่งการแปรเปลี่ยนความ โค้ง เป็น 0.002 [1/มม.] หรือน้อยกว่า ถูกเลือกเป็นซับสเทรตที่ ใช้ในการผลิตส่วนประกอบรองรับหัว แม่เหล็ก ในขณะที่ ซับสเทรตที่เลือกไว้ถูกลำเลียงใน ทิศทาง ตามความยาวของมัน ชั้นฉนวนและชั้นตัวนำ ถูกวางซ้อนบนซับสเทรต เพื่อก่อรูปส่วนประกอบ รองรับหัวแม่เหล็กจำนวนหนึ่ง ชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ถูกนำมาจาก ซับสเทรต ขนาดยาวที่ทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิม ซึ่ง ชิ้นทดสอบ ถูกจัดวางขนานกับทิศทางตามความกว้าง TD ของ ซับสเทรต บริเวณใกล้กับ ปลายด้านหน้าของซับ สเทรต จากนั้น การแปรเปลี่ยนระหว่างความโค้งของ ชิ้นทดสอบ ถูกวัด ซับสเทรต ซึ่งการแปรเปลี่ยนความ โค้ง เป็น 0.002 [1/มม.] หรือน้อยกว่า ถูกเลือกเป็นซับสเทรตที่ ใช้ในการผลิตส่วนประกอบรองรับหัว แม่เหล็ก ในขณะที่ ซับสเทรตที่เลือกไว้ถูกลำเลียงใน ทิศทาง ตามความยาวของมัน ชั้นฉนวนและชั้นตัวนำ ถูกวางซ้อนบนซับสเทรต เพื่อก่อรูปส่วนประกอบ รองรับหัวแม่เหล็กจำนวนหนึ่ง

Claims (7)

1. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก ประกอบด้วยขั้นตอนของ การวัดการแปรเปลี่ยนความโค้งในทิศ ทางตามความกว้างของซับสเทรตโลหะขนาดยาว ใน บริเวณบางส่วน การเลือกซับสเทรตโลหะ ซึ่งการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวไม่มากกว่าค่าที่ กำหนดไว้ และ การก่อรูปส่วนประกอบรองรับหัว แม่เหล็กจำนวนหนึ่งโดยการก่อรูปชั้นฉนวนและชั้น ตัวนำ อย่างเป็นลำดับบนซับสเทรตโลหะที่เลือกไว้ ดังกล่าวในขณะที่ลำเลียงซับสเทรตโลหะดังกล่าว ใน ทิศทางตามความยาว ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการวัดความเปลี่ยนแปลงความโค้งดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนของ การสกัดแยกชิ้นทดสอบคล้ายแถบจำนวนหนึ่งที่ถูกยื่นออก และถูกจัดไว้ตามทิศทางตามความ กว้างของบริเวณบางส่วนดังกล่าวของซับสเทรตโลหะขนาดยาวดังกล่าว การเซตจุดวัดสามจุด หรื่อมากกว่าบนชิ้นทดสอบที่ถูกสกัดแยกไว้ดังกล่าวแต่ละชิ้นตามทิศทาง ความยาวของมัน การวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือ มากกว่าดังกล่าวที่ถุกเซตไว้บนชิ้นทดสอบดังกล่าาวแต่ ละชิ้น การทำให้ความโค้งของชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ละชิ้นบนพื้นฐานของความสูงของจุดวัด สามจุด หรือ มากกว่าดังกล่าวที่ถูกวัดสำหรับชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ละชิ้น และ การคำนวณการเปลี่ยนแปลงความโค้งดังกล่าวจากความโค้งของชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ดังกล่าว 2. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งค่าที่กำหนดไว้ ดังกล่าวเป็น 2.0x10 ยกกำลัง -3 มม. ยกกำลัง -1 3. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก ตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งค่าที่กำหนดไว้ ดังกล่าวเป็น 1.0x10 ยกกำลัง -3 มม. ยกกำลัง -1 4. วิธีการผลิตส่วนประกอบหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของ การก่อรูปส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กจำนวน หนึ่งดังกล่าวประกอบด้วยขั้นของตอนการก่อรูป ส่วนประกอบรอง รับหัวแม่เหล็กจำนวนหนึ่งดังกล่าวบนซับสเทรตโลหะดังกล่าวใน ลักษณะที่ว่า ทิศทางตามความยาวของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กจำนวนหนึ่งดังกล่าวขนานกับทิศทางตาม ความกว้างของ ซับสเทรตโลหะดังกล่าว 5. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะ ดังกล่าวทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิมที่มีความหนาไม่น้อยกว่า 15 ไมครอน และไม่มากกว่า 50 ไมครอน 6. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะ ดังกล่าวทำด้วยเหล็กกล้าไร้ สนิมที่มีความกว้างไม่น้อยกว่า 100 มม. และไม่มากกว่า 500 มม. 7. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของ การคำนวณการเปลี่ยนแปลงความโค้งดังกล่าว ประกอบด้วยขั้นตอน ของการทำให้ได้ความแตกต่าง ระหว่างค่าสูงสุด และค่าต่ำสุดของความโค้งของชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าวเป็นการเปลี่ยนแปลง ความโค้งดังกล่าว 8. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของ การแยกชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าวออกประกอบด้วยขั้นตอนของการกัดบริเวณบางส่วนดังกล่าว ของซับสเทรตโลหะขนาดยาวดังกล่าวเพื่อขจัดบริเวณบางส่วนดังกล่าวออกยกเว้นชิ้นทดสอบจำนวน หนึ่งดังกล่าว 9. วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของ การวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนของการวัดความสูงของ จุดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวที่ถูกเซตไว้บนชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ละชิ้นโดยใช้เลเซอร์ไมโคร สโคป 1 0. วิธีสำหรับการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก ประกอบด้วยขั้นตอนของ การวัดการแปรเปลี่ยนความโค้งในทิศทางตามความกว้างของ ซับสเทรตโลหะขนาดยาวใน บริเวรบางส่วน และ การเลือกซับสเทรตโลหะซึ่ง การแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวไม่มาก กว่าค่าที่กำหนดไว้เป็น ซับสเทรต โลหะสำหรับส่วนประกอบรอง รับหัวแม่เหล็ก ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการวัดความแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนของ การสกัดแยกชิ้นทดสอบคล้ายแถบจำนวนหนึ่งที่ถูกยื่นออก และถูกจัดไว้ตามทิศทางตามความ กว้างของบริเวณบางส่วนดังกล่าวของซับสเทรตโลหะขนาดยาวดังกล่าว การเซตจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าบนชิ้นทดสอบที่ถูกแยก ไว้ดังกล่าวแต่ละชิ้นตามทิศทาง ตามความยาวของมัน การวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือ มากว่าดังกล่าวที่ถูกเซตไว้บนชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ ละชิ้น การทำให้ความโค้งของชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ละชิ้นบนพื้นฐานของความสูงของจุดวัด สามจุด หรือ มากว่าดังกล่าวที่ถูกวัดสำหรับชิ้นทดสอบดังกล่าวแต่ละชิ้น และ การคำนวณการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวจากความโค้งของชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่ง ดังกล่าว 1
1. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งกำหนดค่าดังกล่าวไว้เป็น 2.0 x 10-3 มม.-1 1
2. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งค่าที่กำหนดไว้ดังกล่าว เป็น 1.0x10 ยกกำลัง -3 มม.-1 1
3. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะดังกล่าวทำด้วยเหล็กกล้าไร้สนิมที่มีความหนาไม่มากว่า 15 ไมครอน และไม่ มากกว่า 50 ไมครอน 1
4. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งซับสเทรตโลหะดังกล่าวทำด้วยเหล็ก กล้าไร้สนิมที่มีความกว้างไม่น้อยกว่า 100 มม. และไม่ มาก กว่า 500 มม. 1
5. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการคำนวณการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าวประกอบด้วยขั้นตอนการทำ ให้ได้ความแตกต่างระหว่างค่าสูงสุด และค่าต่ำสุดของความโค้งของชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าว เป็นการแปรเปลี่ยนความโค้งดังกล่าว 1
6. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการสกัดแยกชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าวออกประกอบด้วยขั้นตอนของ การกัดบริเวณบางส่วนดังกล่าวของซับสเทรตโลหะขนาดยาวดังกล่าวเพื่อขจัดยริเวณบางส่วน ดังกล่าวออกยกเว้นชิ้นทดสอบจำนวนหนึ่งดังกล่าว 1
7. วิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะของส่วนประกอบรองรับหัวแม่ เหล็กตามข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งขั้นตอนดังกล่าวของการวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวประกอบด้วย ขั้นตอนการวัดความสูงของจุดวัดสามจุด หรือมากกว่าดังกล่าวที่ถูกเซตไว้บนชิ้นทดสอบดังกล่าว แต่ละชิ้นโดยใช้เลเซอร์ไมโครสโคป
TH1003554A 2000-09-18 วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก TH24743B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH48888A TH48888A (th) 2002-01-08
TH24743B true TH24743B (th) 2008-10-21

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7049811B2 (en) Test circuit having parallel drive segments and a plurality of sense elements
US7994781B2 (en) Eddy current sensor with concentric segments
JP3343860B2 (ja) 渦電流探傷プローブ
JPWO2000008458A1 (ja) 渦電流探傷プローブ
US20070236214A1 (en) Primary windings having multiple parallel extended portions
US20040066188A1 (en) Material condition assessment with spatially periodic field sensors
US20030164700A1 (en) High resolution hidden damage imaging
KR101521762B1 (ko) 금속 제조 공정에서 금속 재료들에서의 크랙 검출을 위한 배열체
CN114485522B (zh) 一种〈100〉晶向硅单晶研磨片表面损伤层厚度的测试方法
TH24743B (th) วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก
TH48888A (th) วิธีการผลิตส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก และวิธีการตรวจสอบซับสเทรตโลหะสำหรับส่วนประกอบรองรับหัวแม่เหล็ก
Raja et al. Influence of crack length on crack depth measurement by an alternating current potential drop technique
JP3055374B2 (ja) 積層セラミックコンデンサの方向識別方法
NL8020516A (nl) Wervelstroomsonde voor een niet-destruktieve testinrichting voor pijpen en openingen in werkstukken en een werkwijze voor het vervaardigen daarvan.
JP2003043016A (ja) 非破壊き裂深さ判定法
US20140139236A1 (en) Measuring metal line spacing in semiconductor devices
CN217155330U (zh) 一种检测治具
Qu et al. Eddy current measurement of the thickness of top Cu film of the multilayer interconnects in the integrated circuit (IC) manufacturing process
Swastika et al. Cold-formed section residual stress determination using cos-alpha x-ray diffraction technique and elastic stress–Strain relations
US12399001B2 (en) Method for measuring surface parameter of copper foil, and method for sorting copper foil
NO20150286A1 (en) Method for detection of degradiation in metal structures
JP2002221514A (ja) 渦電流探傷プローブ
US11408720B2 (en) Device and method for measuring thickness of dielectric layer in circuit board
KR200214606Y1 (ko) 반도체 패키지 리드 검사용 치구
CN116380318A (zh) 一种铜带残存应力快速检测方法