TH4178B - การควบคุมหน่วยทำความเย็น - Google Patents

Abstract

ขอบเขตวงจรทดสอบ สำหรับเครื่องควบคุมิเล็กทรอนิกส์ขหงหน่วยทำความเย็นวงจรทดสอบที่กล่าวถึงมีขอบเขตการต่อเข้ากับแผงทดสอบกับสวิตช์ควบคุม และแสดงตำแหน่งบอกค่าการทดสอบด้วยอุปกรณ์การอ่านค่าควบคุมอีเล็กทรอนิกส์ ข้อกำหนดไมโครโปรเซสเซอร์(microprocessor ) คือลอจิกโปรแกรม(logic program ) ซึ่งต้องมีการประมวลค่าในเรื่องขั้นความจุของหน่วยทำความเย็น สภาวะการปฏิบัติงานของหน่วย การแสดงผลวินิจฉัยของหน่วยกรรมวิธีทดสอบสำหรับทดสอบทั้งมวลของอินพุท(input ) และเอ้าท์พุท ( output) ของไมโครโปรเซสเซอร์

Claims (4)

1. กรรมวิธีของการทดสองการควบคุมอีเล็กทรอนิกของหน่วยทำความเย็นจากแผงทดสอบซึ่งสร้างไว้ในนั้น ซึ่งมีส่วนแสดงแบบดิจิตอล สวิทช์คบคุมส่วนแสดงแบบดิจิตอลส่วนรับรู้สภาวะจำนวนหนึ่งและวงจรทดสอบลอจิกซึ่งมีวิธีการซึ่งตั้งโปรแกรมไว้ล่วงหน้าที่ประกอบไปด้วยขั้นตอนของ: การต่อไฟฟ้าสัญญาณเอ้าท์พุทของส่วนรับรู้สภาวะจำนวนหนึ่งเข้ากับอินพุทของส่วนควบคุมไมโครโปรเซสเซอร์ การผลิตชุดสัญาณทดสอบจากวิธีการที่โปรแกรมไว้ล่วงหน้าของวงจรทดสอบลอจิกของไมโครโปรเซสเซอร์ การดำเนินการกับสวิทช์ควบคุมการแสดงแบบดิจิตอล เพื่อเลื่อนชุดสัญญาณทดสอบดังกล่าวขึ้นไปโดยลำดับ และ การแสดงชุดสัญญาณทดสอบบนส่วนแสดงแบบดิจิตอลในขณะที่สวิทช์ควบคุมส่วนแสดงแบบดิจิตอลถูกใช้งาน

2. กรรมวิธีดังในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่งชุดสัญญาณทดสอบดังกล่าวถูกแสดงไว้เป้นตัวเลขรหัสบนส่วนแสดงแบบดิจิตอลที่แผงทดสอบ และชุดขั้นตอนตัวเลขถูกแสดงโดยลำดับหนึ่งชุดก่อนแต่ละสัญญาณทดสอบ

3. กรรมวิธีดังในข้อถือสิทธิ 1 ที่ซึ่ง การผลิต การดำเนินการและการแสดงชุดสัญญาณการทดสอบดังกล่าวจะเกิดขึ้นเฉพาะในขั้นตอนเริ่มแรกของส่วนควบคุมอิเล็กทรอนิก

4. กรรมวิธีดังในข้อถือสิทธิ3 ที่ซึ่งขั้นตอนเริ่มแรกดังกล่าวจะเกิดขึ้นโดยทั่วไปในภายในสองนาทีหลังจากการเริ่มเปิดหน่วยทำความเย็น