TH38513A - How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method - Google Patents

How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method

Info

Publication number
TH38513A
TH38513A TH9801004357A TH9801004357A TH38513A TH 38513 A TH38513 A TH 38513A TH 9801004357 A TH9801004357 A TH 9801004357A TH 9801004357 A TH9801004357 A TH 9801004357A TH 38513 A TH38513 A TH 38513A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
ohms
openings
contacts
metal
aluminum
Prior art date
Application number
TH9801004357A
Other languages
Thai (th)
Inventor
อี. ลันดี้ นายวอลเตอร์
ซี. อิชแมน นายอิริค
Original Assignee
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายธเนศ เปเรร่า
Filing date
Publication date
Application filed by นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายธเนศ เปเรร่า filed Critical นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
Publication of TH38513A publication Critical patent/TH38513A/en

Links

Abstract

DC60 (15/12/41) วิธีการพอกสะสมโลหะที่อุณหภูมิค่อนข้างต่ำ จะถูกเปิดเผยสำหรับการเติม โลหะลงไปในช่อง เปิด ที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มและ/หรือ รูผ่านหรือ ช่องเปิดที่เป็น ทางผ่านอย่างแน่นอนและสมบูรณ์ ระหว่างชั้นสร้างสภาพโลหะที่ถูกเว้นช่วงออก จากกัน ในโครงสร้างกึ่งตัวนำ วิธีการจะรวมเอาขั้นตอนใน กระบวนการไว้หลาย ขั้นตอน โดยรวมไปถึง การ สร้างชั้นติตาเนียมหรือชั้นโลหะ ที่มีติตาเนียมเป็น ส่วน ประกอบหลักที่ช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน จากนั้นก็เป็นการ สร้างชั้นผลึกเริ่มต้น ของโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่มเป็นส่วนประกอบ หลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอนคอปเปอร์ เพื่อเติมช่อง เปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มเป็นบางส่วน และ/ หรือ รูผ่าน และชั้นปกคลุมโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่ม เป็นส่วนประกอบหลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอน คอปเปอร์ เพื่อเติมช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน อย่างสมบูรณ์ วิธีการพอกสะสมโลหะที่อุณหภูมิค่อนข้างต่ำ จะถูกเปิดเผยสำหรับการเติมโลหะลงไปในช่อง เปิด ที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือ รูผ่านหรือ ช่องเปิดที่เป็นทางผ่านอย่างแน่นอนและสมบูรณ์ ระหว่างชั้นสร้างสภาพโลหะที่ถูกเว้นช่วงออกจากกัน ในโครงสร้างกึ่งตัวนำ วิธีการจะรวมเอาขั้นตอนใน กระบวนการไว้หลายขั้นตอน โดยรวมไปถึง การ สร้างชั้นติตาเนียมหรือชั้นโลหะ ที่มีติตาเนียมเป็น ส่วนประกอบหลักที่ช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน จากนั้นก็เป็นการสร้างชั้นผลึกเริ่มต้น ของโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่มเป็นส่วนประกอบ หลัก อาทิเช่นอลูมินั่มซิลิคอนคอปเปอร์ เพื่อเติมช่อง เปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มเป็นบางส่วน และ/หรือ รูผ่าน และชั้นปกคลุมโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่ม เป็นส่วนประกอบหลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอน คอปเปอร์ เพื่อเติมช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่านอย่างสมบูรณ์ DC60 (15/12/41) Deposition method at relatively low temperature. Will be revealed for the filling. Metal into openings with ohms and / or through holes or openings that are The way through is absolutely and completely Between the layers, the metallurgical conditions are spaced apart in the semiconductor structure. The method will include steps in The process is in many steps, including the creation of the titanium or metal layer. With titanium as the main component at openings with ohms contacts And / or through hole Then it is Create the initial crystal layer Of metals that are metals containing aluminum as the main component, such as aluminum, silicon, copper To fill in the channel Opens with partial ohms and / or through-holes and alumina-based metal cladding layers. It is the main component, for example, aluminum, silicon, copper, to fill openings with ohms contacts. And / or completely through holes. Method for deposition of metals at relatively low temperatures. It is revealed for the addition of metal into openings with ohms and / or through holes or pass-through openings absolutely and completely. Between the layers forming a metal that is spaced apart. In semiconductor structures The method will include steps in A multi-step process, including the creation of the titanium or metal layer. With titanium Main components at openings with ohms contacts And / or through hole Then it was the initial crystallization. Of metals that are metals containing aluminum as the main component, such as aluminum, silicon, copper To fill in the channel Opens with partial ohms and / or through-holes and alumina-based metal cladding layers. It is the main component, for example, aluminum, silicon, copper, to fill openings with ohms contacts. And / or through hole completely

Claims (1)

1. วิธีการเติมโลหะลงไปในช่องเปิด ที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มที่ถูกกำหนดตำแหน่ง ภายในชั้นคั่นฉนวนที่ถูกสร้างบน สับสเตรตกึ่งตัวนำ ซึ่งประกอบดวย ขั้นตอนดังต่อไปนี้ การสร้างหน้าสัมผัสแบบโอห์มที่ส่วนผิวหน้าที่โผล่ออกมา ของสับสเตรตกิ่งตัวนำดังกล่าว ภายในช่องเปิดในชั้นคั่นฉนวน ดังกล่าว การสร้างชั้นที่ประกอบด้วย โลหะที่มีติตาเนียมเป็นส่วน ประกอบหลักบนหน้าสัมผัสแบบโอห์มที่เป็นโลหะดังกล่าว บนส่วน ด้านข้างของช่องเปิดดังกล่าว และบนผิวหน้าด้านบนของชั้น คั้นฉนวนดังกล่าว การสร้างชั้นผลึกเริ่มต้นที่เป็นโลหะ ที่มีอลแท็ก :1. How to add metal to the opening? With positional ohms contacts Inside the insulation separator layer that is built on Substrate semi-conductor Which consist of The steps are as follows. Generation of ohms contacts on exposed surface Of such conductors Inside the opening in the insulating separator layer, creating a layer consisting of Metal with titanium Main assembly on the aforementioned metal ohms contacts on the side part of the opening. And on the top surface of the layer Squeeze such insulation. Creating an initial crystalline layer of a metal with a gold tag:
TH9801004357A 1998-11-10 How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method TH38513A (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH38513A true TH38513A (en) 2000-05-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4530152A (en) Method for encapsulating semiconductor components using temporary substrates
US3456335A (en) Contacting arrangement for solidstate components
KR940016626A (en) Semiconductor device and manufacturing method
US10153228B2 (en) Semiconductor device
KR960026643A (en) Wiring Manufacturing Method of Semiconductor Device
US4023197A (en) Integrated circuit chip carrier and method for forming the same
JPH0441519B2 (en)
KR890007386A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
KR930003256A (en) How to Form a Metallized Wiring Layer in a Semiconductor Integrated Circuit
TH38513A (en) How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method
US7565739B2 (en) Method of making zinc-aluminum alloy connection
US10129987B2 (en) Circuit carrier and a method for producing a circuit carrier
KR19990069376A (en) Wiring Formation Method of Semiconductor Device
KR100445409B1 (en) Metal wiring formation method of semiconductor device
KR930003841B1 (en) Integrated wiring making method using hole filling of metal liquid
KR19980054455A (en) Metal wiring formation method of semiconductor device
KR100457409B1 (en) Metal wiring formation method of semiconductor device
JPH0342837A (en) Manufacturing method of semiconductor device
KR930024103A (en) Manufacturing Method of Semiconductor Device
KR100546287B1 (en) Method for manufacturing a semiconductor device having a copper pad
KR100315025B1 (en) Metal wiring formation method of semiconductor device
JP2007305715A (en) Wiring board manufacturing method
KR980005478A (en) Metal wiring formation method of semiconductor device
KR960039284A (en) Wiring Formation Method of Semiconductor Device
JPH0260138A (en) Board for semiconductor element mounting use