TH38513A - How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method - Google Patents
How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that methodInfo
- Publication number
- TH38513A TH38513A TH9801004357A TH9801004357A TH38513A TH 38513 A TH38513 A TH 38513A TH 9801004357 A TH9801004357 A TH 9801004357A TH 9801004357 A TH9801004357 A TH 9801004357A TH 38513 A TH38513 A TH 38513A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- ohms
- openings
- contacts
- metal
- aluminum
- Prior art date
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract 18
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 4
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims abstract 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 6
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 abstract 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 abstract 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 abstract 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 abstract 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 abstract 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract 1
Abstract
DC60 (15/12/41) วิธีการพอกสะสมโลหะที่อุณหภูมิค่อนข้างต่ำ จะถูกเปิดเผยสำหรับการเติม โลหะลงไปในช่อง เปิด ที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มและ/หรือ รูผ่านหรือ ช่องเปิดที่เป็น ทางผ่านอย่างแน่นอนและสมบูรณ์ ระหว่างชั้นสร้างสภาพโลหะที่ถูกเว้นช่วงออก จากกัน ในโครงสร้างกึ่งตัวนำ วิธีการจะรวมเอาขั้นตอนใน กระบวนการไว้หลาย ขั้นตอน โดยรวมไปถึง การ สร้างชั้นติตาเนียมหรือชั้นโลหะ ที่มีติตาเนียมเป็น ส่วน ประกอบหลักที่ช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน จากนั้นก็เป็นการ สร้างชั้นผลึกเริ่มต้น ของโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่มเป็นส่วนประกอบ หลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอนคอปเปอร์ เพื่อเติมช่อง เปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มเป็นบางส่วน และ/ หรือ รูผ่าน และชั้นปกคลุมโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่ม เป็นส่วนประกอบหลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอน คอปเปอร์ เพื่อเติมช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน อย่างสมบูรณ์ วิธีการพอกสะสมโลหะที่อุณหภูมิค่อนข้างต่ำ จะถูกเปิดเผยสำหรับการเติมโลหะลงไปในช่อง เปิด ที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือ รูผ่านหรือ ช่องเปิดที่เป็นทางผ่านอย่างแน่นอนและสมบูรณ์ ระหว่างชั้นสร้างสภาพโลหะที่ถูกเว้นช่วงออกจากกัน ในโครงสร้างกึ่งตัวนำ วิธีการจะรวมเอาขั้นตอนใน กระบวนการไว้หลายขั้นตอน โดยรวมไปถึง การ สร้างชั้นติตาเนียมหรือชั้นโลหะ ที่มีติตาเนียมเป็น ส่วนประกอบหลักที่ช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่าน จากนั้นก็เป็นการสร้างชั้นผลึกเริ่มต้น ของโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่มเป็นส่วนประกอบ หลัก อาทิเช่นอลูมินั่มซิลิคอนคอปเปอร์ เพื่อเติมช่อง เปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์มเป็นบางส่วน และ/หรือ รูผ่าน และชั้นปกคลุมโลหะที่เป็นโลหะที่มีอลูมินั่ม เป็นส่วนประกอบหลัก อาทิเช่น อลูมินั่มซิลิคอน คอปเปอร์ เพื่อเติมช่องเปิดที่มีหน้าสัมผัสแบบโอห์ม และ/หรือรูผ่านอย่างสมบูรณ์ DC60 (15/12/41) Deposition method at relatively low temperature. Will be revealed for the filling. Metal into openings with ohms and / or through holes or openings that are The way through is absolutely and completely Between the layers, the metallurgical conditions are spaced apart in the semiconductor structure. The method will include steps in The process is in many steps, including the creation of the titanium or metal layer. With titanium as the main component at openings with ohms contacts And / or through hole Then it is Create the initial crystal layer Of metals that are metals containing aluminum as the main component, such as aluminum, silicon, copper To fill in the channel Opens with partial ohms and / or through-holes and alumina-based metal cladding layers. It is the main component, for example, aluminum, silicon, copper, to fill openings with ohms contacts. And / or completely through holes. Method for deposition of metals at relatively low temperatures. It is revealed for the addition of metal into openings with ohms and / or through holes or pass-through openings absolutely and completely. Between the layers forming a metal that is spaced apart. In semiconductor structures The method will include steps in A multi-step process, including the creation of the titanium or metal layer. With titanium Main components at openings with ohms contacts And / or through hole Then it was the initial crystallization. Of metals that are metals containing aluminum as the main component, such as aluminum, silicon, copper To fill in the channel Opens with partial ohms and / or through-holes and alumina-based metal cladding layers. It is the main component, for example, aluminum, silicon, copper, to fill openings with ohms contacts. And / or through hole completely
Claims (1)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH38513A true TH38513A (en) | 2000-05-31 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4530152A (en) | Method for encapsulating semiconductor components using temporary substrates | |
| US3456335A (en) | Contacting arrangement for solidstate components | |
| KR940016626A (en) | Semiconductor device and manufacturing method | |
| US10153228B2 (en) | Semiconductor device | |
| KR960026643A (en) | Wiring Manufacturing Method of Semiconductor Device | |
| US4023197A (en) | Integrated circuit chip carrier and method for forming the same | |
| JPH0441519B2 (en) | ||
| KR890007386A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
| KR930003256A (en) | How to Form a Metallized Wiring Layer in a Semiconductor Integrated Circuit | |
| TH38513A (en) | How to create a low temperature metal filling area for ohms contacts. And for openings that are passages between the spaced metal layers And the semiconductor structure that is built from that method | |
| US7565739B2 (en) | Method of making zinc-aluminum alloy connection | |
| US10129987B2 (en) | Circuit carrier and a method for producing a circuit carrier | |
| KR19990069376A (en) | Wiring Formation Method of Semiconductor Device | |
| KR100445409B1 (en) | Metal wiring formation method of semiconductor device | |
| KR930003841B1 (en) | Integrated wiring making method using hole filling of metal liquid | |
| KR19980054455A (en) | Metal wiring formation method of semiconductor device | |
| KR100457409B1 (en) | Metal wiring formation method of semiconductor device | |
| JPH0342837A (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
| KR930024103A (en) | Manufacturing Method of Semiconductor Device | |
| KR100546287B1 (en) | Method for manufacturing a semiconductor device having a copper pad | |
| KR100315025B1 (en) | Metal wiring formation method of semiconductor device | |
| JP2007305715A (en) | Wiring board manufacturing method | |
| KR980005478A (en) | Metal wiring formation method of semiconductor device | |
| KR960039284A (en) | Wiring Formation Method of Semiconductor Device | |
| JPH0260138A (en) | Board for semiconductor element mounting use |