TH134148A - ชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำ - Google Patents
ชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำInfo
- Publication number
- TH134148A TH134148A TH702000124F TH0702000124F TH134148A TH 134148 A TH134148 A TH 134148A TH 702000124 F TH702000124 F TH 702000124F TH 0702000124 F TH0702000124 F TH 0702000124F TH 134148 A TH134148 A TH 134148A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- conductivity
- inductance
- connector
- conduction
- determination
- Prior art date
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 102000004196 processed proteins & peptides Human genes 0.000 claims 1
- 108090000765 processed proteins & peptides Proteins 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 abstract 2
- 238000000429 assembly Methods 0.000 abstract 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 abstract 1
Abstract
DC60(19/03/56) เพื่อจัดให้มีชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำซึ่งแต่ละอย่างสามารถ ตรวจจับการเกิดการชำรุดในแพทเทิร์นการเดินสายหลายแบบได้อย่างแน่นอนด้วยต้นทุนที่ต่ำ ได้จัดให้มีชุดเครื่องทดสอบการนำ100ที่จัดโครงแบบให้ทดสอบการนำของแพทเทิร์นการ เดินสายหลายแบบที่มีขั้วต่อที่หนึ่งและขั้วต่อที่สองและยังมีชุดเดินสายหลายอันที่เชื่อมต่อขั้วต่อ ที่หนึ่งกับขั้วต่อที่สองเข้าด้วยกันทางไฟฟ้าโดยชุดเครื่องทดสอบการนำมีลักษณะเด่นตรงที่มีส่วน ตรวจวัดความเหนี่ยวนำ110ที่วัดค่าความเหนี่ยวนำระหว่างขั้วต่อที่หนึ่งกับขั้วต่อที่สองส่วนตัดสิน กำหนดการนำ120ที่เปรียบเทียบค่าความเหนี่ยวนำกับระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำ และเมื่อค่าความเหนี่ยวนำมากกว่าระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำก็จะตัดสินว่าเกิด การชำรุดขึ้นในแพทเทิร์นการเดินสายหลายแบบและเมื่อค่าความเหนี่ยวนำไม่มากกว่าระดับเริ่ม เปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำก็จะตัดสินว่าไม่มีการชำรุดเกิดขึ้นในเพทเทิร์นการเดินสาย หลายแบบส่วนจัดเก็บ130ที่จัดเก็บระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำและ ส่วนแสดงผล140ที่แสดงผลการตัดสินกำหนดที่ดำเนินการโดยส่วนตัดสินกำหนดการนำ120 เพื่อจัดให้มีชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำ ซึ่งแต่ละอย่างสามารถ ตรวจจับการเกิดชำรุดในแพทเทิร์นการเดินสายหลายแบบได้อย่างแน่นอนด้วยต้นทุนที่ต่ำ ได้จัดให้มีชุดเครื่องทดสอบการนำ 100 ที่จัดโครงแบบให้ทดสอบการนำของแพทย์เทิร์นการ เดินสายหลายแบบที่มีขั้วต่อที่หนึ่งและขั้วต่อที่สอง และยังมีชุดเดินสายหลายอันที่เชื่อมต่อขั้วต่อ ที่หนึ่งกับขั้วต่อที่สองเข้าด้วยกันทางไฟฟ้า โดยชุดเครื่องทดสอบการนำมีลักษณะเด่นตรงที่มีส่วน ตรวจวัดความเหนี่ยวนำ 110 ที่วัดค่าความเหนี่ยวขั้วต่อที่หนึ่งกับขั้วต่อที่สอง ส่วนตัดสิน กำหนดการนำ 120 ที่เปรียบเทียบค่าความเหนี่ยวนำกับระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินใจกำหนดการนำ และเมื่อค่าความเหนี่ยวนำมากกว่าระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำก็ตัดสินว่าเกิด การชำรุดขึ้นในแพทเทิร์นการเดินสายหลายแบบ และเมื่อค่าความเหนี่ยวนำไม่มากกว่าระดับเริ่ม เปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำก็จะตัดสินว่าไม่มีการชำรุดเกิดขึ้นในเพทเทิร์นการเดินสาย หลายแบบ ส่วนจัดเก็บ 130 ที่จัดเก็บระดับเริ่มเปลี่ยนสำหรับตัดสินกำหนดการนำ และ ส่วนแสดงผล 140 ที่แสดงกผลการตัดสินกำหนดที่ดำเนินโดยส่วนตัดสินกำหนดการนำ 120
Claims (1)
1. ชุดเครื่องตรวจสอบการนำสำหรับตรวจสอบการนำของแพทเทิร์นการเดินสายหลาย แบบที่มีขั้วต่อที่หนึ่งและขั้วต่อที่สอง และยังมีชุดเดินสายหลายอันที่เชื่อมต่อขั้วต่อที่หนึ่งกับขั้วต่อที่ สองเข้าด้วยกันทางไฟฟ้า โดยมีลักษณะเฉพาะคือประกอบรวมด้วย: หน่วยตรวจวัดความเหนี่ยวนำที่วัดค่าความเหนี่ยวนำระหว่างขั้วต่อแท็ก :
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH93567S TH93567S (th) | 2009-02-20 |
| TH134148A true TH134148A (th) | 2014-05-29 |
| TH93567B TH93567B (th) | 2014-05-29 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8482310B2 (en) | Test method for passive device embedded printed circuit board | |
| US20120229158A1 (en) | Apparatus for testing a semiconductor device and method of testing a semiconductor device | |
| KR101961536B1 (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
| US20160054373A1 (en) | Insulation inspection apparatus and insulation inspection method | |
| JP2011007687A (ja) | 基板検査方法 | |
| KR101483952B1 (ko) | 와이어 하네스 검사방법 | |
| TH134148A (th) | ชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำ | |
| JP5875815B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
| CN204405779U (zh) | Aps仪器组件多功能线路检测仪 | |
| JP5844096B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
| JP2014219335A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
| CN118130914A (zh) | 探针卡接触电阻测试结构及方法 | |
| CN110361601B (zh) | 一种lcd器件管脚电性指标快速测试方法 | |
| CN212965264U (zh) | 一种用于带断线检测功能的耐压机电路 | |
| CN101071158A (zh) | 一种在线测试仪的继电器测试方法 | |
| CN208384021U (zh) | 奇偶分开式排线质量测试装置 | |
| TH93567B (th) | ชุดเครื่องทดสอบการนำและวิธีการทดสอบการนำ | |
| CN205749751U (zh) | 一种nfc/wpc二合一线圈的检测装置 | |
| CN201697969U (zh) | 印刷电路板碳墨阻值测试装置 | |
| EP4624965A1 (en) | An automated process for testing a wire harness | |
| EP1710593A2 (en) | Process for the preparation and automatic performance of sequence of measurements and tests on an electrical installation | |
| CN219179589U (zh) | 一种应用于ic测试机的检测装置 | |
| JP5687943B2 (ja) | 短絡検査装置および短絡検査方法 | |
| JP6222966B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
| EP4624946A1 (en) | A wire harness automated diagnosis system and method |