SU974117A2 - Device for checking part optical surfaces - Google Patents

Device for checking part optical surfaces Download PDF

Info

Publication number
SU974117A2
SU974117A2 SU813270064A SU3270064A SU974117A2 SU 974117 A2 SU974117 A2 SU 974117A2 SU 813270064 A SU813270064 A SU 813270064A SU 3270064 A SU3270064 A SU 3270064A SU 974117 A2 SU974117 A2 SU 974117A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical surfaces
diaphragm
polaroid
diffuser
part optical
Prior art date
Application number
SU813270064A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Павлович Голиков
Марк Лазаревич Гурари
Сергей Игоревич Прытков
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8584
Предприятие П/Я В-2431
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8584, Предприятие П/Я В-2431 filed Critical Предприятие П/Я В-8584
Priority to SU813270064A priority Critical patent/SU974117A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU974117A2 publication Critical patent/SU974117A2/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к иэмерителВной технике и может быть использовано дл  контрол  оптических поверхностей деталей.The invention relates to an instrumentation technique and can be used to control the optical surfaces of parts.

По основному авт. св. № 664022 известно устройство дл  контрол  оптических поверхностей деталей, содержащее последовательно расположенные источник света, конденсор, рассеиватель , устанавливаемый перед контролируемой поверхностью на рассто нии , меньшем, чем ее фокусное рассто ние, и пространственный модул тор излучени , а также оптическую систему,расположенную между рассеивателем и пространственным модул тором излучени  таким образом, что этот модул тор оптически сопр жен с. поверхностью рассеивател  According to the main author. St. No. 664022, a device for monitoring optical surfaces of parts is known, comprising a successive light source, a condenser, a diffuser mounted in front of the test surface at a distance less than its focal length, and a spatial radiation modulator, as well as an optical system located between the scatterer. and a spatial radiation modulator in such a way that this modulator is optically conjugated with. surface diffuser

Недостатком известного устройства  вл етс  низка  точность контро- , л , поскольку контраст интерферограмм получаемых в устройстве, невысок.A disadvantage of the known device is the low accuracy of the control, l, since the contrast of the interferograms obtained in the device is low.

Цель изобретени  - повышение точности контрол .The purpose of the invention is to improve the accuracy of control.

Эта цель достигаетс  тем, что устройство снабжено пол роидом, расположенным перед рассеивателем со стороны контролируемой поверхности, диафрагмой, установленной между оптической системой и пространственным модул тором излучени  и имеющей два отвер сти , пол роидами, расположенными на входах отверстий диафрагмы, и блоком вращени  плоскости пол ризации , установленным на выходе одного из отверстий диафрагмы.This goal is achieved by the fact that the device is equipped with a polaroid located in front of the diffuser on the side of the monitored surface, a diaphragm installed between the optical system and the spatial radiation modulator and having two openings, polaroids located at the openings of the aperture holes positioned at the exit of one of the orifices of the diaphragm.

На чертеже изображена принципиальна  схема устройство дл  контро10 л  оптических поверхностей деталей.The drawing shows a schematic diagram of a device for controlling the optical surfaces of parts.

Устройство содержит источник 1 света, конденсор 2, рассеиватель 3, пол роид 4, проектирующую оптическую систему 5, диафрагму 6 с двум  The device contains a source of light 1, a condenser 2, a diffuser 3, a polaroid 4, a projection optical system 5, a diaphragm 6 with two

15 отверсти ми, на входе одного отверсти  расположен пол роид 7, на выходе его же - блок 8 вращени  плоскости пол ризации, а во втором отверстии установлен пол роид 9, а также прост20 ранственный модул тор 10 излучени .15 holes, a polaroid 7 is located at the inlet of one hole, the polarization plane of the polarization plane 8 is located at the outlet, and a polaroid 9 is installed in the second hole, as well as a spatial radiation modulator 10.

Рассто ние между рассеивателем 3 и контролируемой деталью 11 выбираетс  как можно меньшим (1-20 мм. Плоскость пол роида 4 полностью пе25 рекрывает контролируемую поверхность детали 11 Блок 8 вращени  плоскости пол ризации настраиваетс  так, что плоскость пол ризации света поворачиваетс  на 90Р при прохождении The distance between the diffuser 3 and the test piece 11 is chosen as small as possible (1-20 mm. The plane of the polaroid 4 completely blocks the test surface of the part 11. The block 8 of rotation of the polarization plane is adjusted so that the plane of polarization of the light rotates 90P when passing

30 этого блока.30 of this block.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Предварительно взаимно ориентируют пол роиды 4, 7 и 9 так, чтобы оси пол ризации пол роидов 4 и 7 были ортогональны, а оси пол ризации пол роидов 4 и 9 - параллельны. При такой ориентировке пол роидов через одно из отверстий диафрагмыThe polaroids 4, 7, and 9 are preliminarily mutually oriented so that the polarization axes of polaroids 4 and 7 are orthogonal, and the polarization axes of polaroids 4 and 9 are parallel. With this orientation, the floor of the roid through one of the holes in the diaphragm

6(в котором установлены пол роид6 (in which the floor is installed

7и-блок 8 вращени  плоскости пол ризации ) проходит только свет, отразившийс  от (рассеивател  3, а свет, отраженный поверйтюстыо детали 11, гаситс . В то же врем , через второе отверстие диафрагмы б проходит свет, отраженный как рассеивателем 3, так7 and block 8 of rotation of the polarization plane) only the light reflected from (diffuser 3 is transmitted, and the light reflected by surface details 11 is extinguished. At the same time, light reflected by the diffuser 3 passes through the second opening of the diaphragm

и деталью 11.and detail 11.

Затем записывают на пространственном модул торе 10 излучени  голограмму контролируемой детали 11 в ее исходном положении. При записи голограммы опорным пучком  вл етс  свет, прошедший через пол роид 7 и блок 8 вращени  плоскости -пол ризации, а предметным пучком - свет, прошед1дай через пол роид 9.Then, a hologram of the monitored part 11 in its initial position is recorded on the spatial modulator of radiation 10. When recording a hologram, the reference beam is the light that has passed through the polaroid 7 and the 8-rotation unit of the –polarization plane, and the object beam is the light that passes through the polaroid 9.

После записи голограммы перемещаю деталь 11 так, чтобы центр кривизны ее поверхности оставалс  неподвижным При этом на пространственном модул торе 10 излучени  наблюдают интерферограмму сдвига поверхности детали 11, а по расположению и форме полос этой интерферограммы оценивают качесво контролируемой поверхности детали 11.After recording the hologram, I move the part 11 so that the center of curvature of its surface remains stationary. At the spatial radiation modulator 10, the interferogram of the surface of the part 11 is observed, and the quality and quality of the controlled surface of the part 11 is estimated from the position and shape of the bands of this interferogram.

Повь Ц1ение точности контрол  достигаетс  за счет того, что в отличие от основного авторского свидетельства , в котором на пространственном модул торе излучени  получаетс  спеклинтерферограмма контролируемой поверхности , в описываемом устройстве записываетс  голографическа  интерферограмма по схеме с боковым опорным пучком, что обеспечиваетс  введе ниём диафрагмы 6, причем угол между опорным и предметным пучками определ етс  как рассто нием, между отверст ми диафрагмы б, таки рассто нием от этой диафрагмы до пространственного модул тора 10 излучени . Контраст полос голографической интерферограмкы выше, чем контраст полос спекл-интерферограммы в силу принципиальных особенностей этих способов получени  интерферограмм. Введение в схему диафрагмы 6 с двум  отверсти ми должно быть с необходимостью дополнено введением пол роидов 4 и 7 и блока 8 вращени  плоскости пол ризации, так как только они позвол ют создать в описываемой схеме опорный пучок дл  записи голограммы , в котором отсутствует свет, отраженный поверхностью контролируемой детали 11. Это необходимо Дл  работы устройства, так как упом нутый опорный пучок используетс  также и дл  восстановлени  голограммы, и поэтому не должен измен тьс  при перемещении детали 11, иначе получение интерферограммы будет невозможн6 .The accuracy of control is achieved due to the fact that, unlike the main author's certificate, in which a spectrinterferogram of the test surface is obtained on a spatial radiation modulator, in the described device a holographic interferogram is recorded using a scheme with a lateral reference beam, which ensures the insertion of a diaphragm 6, and the angle between the reference and object beams is defined as the distance between the holes of the diaphragm b, and the distance from this diaphragm to the spatial distance blowing torus 10 radiation. The contrast of the bands of the holographic interferogram is higher than the contrast of the bands of the speckle interferogram due to the fundamental features of these methods of obtaining interferograms. The introduction of the diaphragm 6 with two holes must be supplemented by the introduction of the polaroids 4 and 7 and the block 8 of rotation of the polarization plane, since they only allow you to create a reference beam in the scheme described for recording a hologram that does not have reflected light. the surface of the monitored part 11. This is necessary. For operation of the device, since the said reference beam is also used to reconstruct the hologram, and therefore should not be changed when the part 11 is moved, otherwise the production of interferograms will nevozmozhn6.

Таким образом, совокупность упом нутых отличительных признаков описанного устройство позвол ет повысить контраст интерферограмм, что, в свою очередь приводит к повышение точности контрол  оптических поверхностей деталей.Thus, the combination of the aforementioned distinctive features of the described device allows increasing the contrast of interferograms, which, in turn, leads to an increase in the accuracy of control of the optical surfaces of the parts.

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР 664022, кл. GOI В 11/24, 1978 (прототип).1. USSR author's certificate 664022, cl. GOI B 11/24, 1978 (prototype).
SU813270064A 1981-03-30 1981-03-30 Device for checking part optical surfaces SU974117A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813270064A SU974117A2 (en) 1981-03-30 1981-03-30 Device for checking part optical surfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813270064A SU974117A2 (en) 1981-03-30 1981-03-30 Device for checking part optical surfaces

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU664022 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU974117A2 true SU974117A2 (en) 1982-11-15

Family

ID=20951310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813270064A SU974117A2 (en) 1981-03-30 1981-03-30 Device for checking part optical surfaces

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU974117A2 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1104041A (en) Wavefront reconstruction using a coherent reference beam
CA2033194A1 (en) Wavelength detecting apparatus
SU974117A2 (en) Device for checking part optical surfaces
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
SU1017923A1 (en) Device for checking aspheric surfaces
GB1524830A (en) Flow measurement apparatus
SU1645809A1 (en) Method of inspecting quality of lenses and objectives
SU1543277A1 (en) Device for monitoring the centring of optical system
SU894351A1 (en) Interferometer for checking concave parabolic surfaces
SU1368623A1 (en) Interferometer for checking shape of concave optical aspherical surfaces
SU996857A1 (en) Interferometer for optical surface shape checking
SU1712779A1 (en) Method for creation of interferogram for controlling lenses and objectives
SU1100497A2 (en) Device for measuring geometric parameters of mirror optical elements
KR20020049493A (en) Method and device to fabricate holographic gratings with large area uniformity
SU991151A1 (en) Radial shift interferometer
SU1062731A1 (en) Device for checking lenses
SU1717958A1 (en) Device and method for control of surface form
SU1065684A1 (en) Interferrometer for checking optical surfaces
RU2062977C1 (en) Diffraction interferometer
SU1523909A1 (en) Method and apparatus for checking shape of surface
SU1208474A1 (en) Holographic interferometer
SU1046606A1 (en) Interferometer for measuring non-planeness and non-rectilinearity of surface
SU994966A1 (en) Phase object interprogram producing method
RU2025691C1 (en) Method of holographic check of wave aberrations of lenses and objectives
SU875209A1 (en) Interferrometer for measuring non-planeness and non-rectilinearity of surfaces