Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и мокет быть использовано при наладке, контроле и диагностике цифровых устройств, выпол ненных на интегральных микросхемах. Известен логический зонд, содержащий входной повторитель, пороговые устройства, дешифратор, многоэлементный индикатор, элементы И, элемент ИЛ ждущий мультивибратор, формирователь коротких импульсов, генераторы втекающего и вытекающего тока нагрузки и RS-триггеры 1 . Однако этот.зонд обладает ограниченными функциональными возможност ми В частности, он не обеспечивает самоконтроль в случае отсутстви контакта между входом зонда и провер емым выводом схемы. Кроме того, в режиме изменени состо ни контролируемого устройства известное устройство формирует сигнал, который может вызвать неоднозначную реакцию объекта контрол , т.е. известный зонд не обеспечивает достаточную достоверность испытаний . Наиболее близким техническим решением к предлагаемому вл етс многофункциональный логический зонд, содержащий (юрмирователи импульсов, ком-параторы , деши()ратор, многоэлементный индикатор, повторитель. С помощью известного зонда изменить состо ние элементов провер емого устройства без нарушени их св зей путем засыпки в провер емую точку устройства зондирующего импульса тока. При этом пол рность импульсов выбираетс автоматически и всегда противоположна состо нию в провер емой точке. Возможна работа зонда и в режиме синхронного зондировани , когда зондирующий импульс, тока Формируетс в момент прихода импульса на вход синхронизации зонда 2.The invention relates to instrumentation technology and may be used in setting up, monitoring and diagnosing digital devices performed on integrated circuits. A logical probe is known that contains an input repeater, threshold devices, a decoder, a multi-element indicator, AND elements, an IL element, a waiting multivibrator, a shaper of short pulses, a generator of flowing and flowing load current and RS-triggers 1. However, this probe has limited functionality. In particular, it does not provide self-control if there is no contact between the probe input and the circuit output being checked. In addition, in the state change mode of the monitored device, the known device generates a signal that can cause an ambiguous reaction of the control object, i.e. known probe does not provide sufficient reliability tests. The closest technical solution to the proposed one is a multifunctional logical probe containing (pulse pulsers, switches, deshes (), multi-element indicator, repeater. Using a well-known probe, change the state of the elements of the device being tested without disrupting their connections the tested point of the device of the current probe pulse. In this case, the polarity of the pulses is selected automatically and always opposite to the state at the tested point. Probe operation is also possible in the synchronous mode th probe when the probe pulse, the current generated at the moment of arrival of the pulse at the input of the synchronization probe 2.