SU1594459A1 - Logic circuit tester - Google Patents

Logic circuit tester Download PDF

Info

Publication number
SU1594459A1
SU1594459A1 SU884366910A SU4366910A SU1594459A1 SU 1594459 A1 SU1594459 A1 SU 1594459A1 SU 884366910 A SU884366910 A SU 884366910A SU 4366910 A SU4366910 A SU 4366910A SU 1594459 A1 SU1594459 A1 SU 1594459A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
trigger
analyzer
channels
Prior art date
Application number
SU884366910A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Борис Васильевич Лавриненко
Наталья Александровна Ващенко
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2141
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2141 filed Critical Предприятие П/Я В-2141
Priority to SU884366910A priority Critical patent/SU1594459A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1594459A1 publication Critical patent/SU1594459A1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем. Цель изобретени  - повышение достоверности контрол  достигаетс  путем исключени  ложного срабатывани  устройства контрол  в случае короткого замыкани  по входу объекта контрол  на единичный уровень. Логический пробник содержит клеммы дл  подключени  контролируемой микросхемы 1 и эталонной микросхемы 2, N каналов, каждый из которых содержит анализаторы 3 и 4, элемент И-НЕ 5, RS-триггер 6, элементы И-ИЛИ 7 и 8, схему 9 сравнени , элемент ИЛИ 10, кнопку 11, RS-триггер 12, индикатор 13. В результате введени  элементов 3.1,...,3.N,5.1,...,5.N, 7.1,...,7.N и 8.1,...,8.N обеспечиваетс  автоматическое обнаружение входа и выхода контролируемой схемы, сравнение значений на ее выходах и исключение ложного срабатывани  в случае, когда на выводе эталонной микросхемы состо ние обрыв, а на выводе контролируемой - единица. 1 табл. 1 ил.This invention relates to an instrumentation technique and can be used in the control of microcircuits. The purpose of the invention is to increase the reliability of the control by eliminating the false triggering of the control device in the event of a short circuit on the input of the control object to a single level. The logic probe contains terminals for connecting a monitored chip 1 and a reference chip 2, N channels, each of which contains analyzers 3 and 4, the element AND-NE 5, the RS flip-flop 6, the elements AND-OR 7 and 8, the comparison circuit 9, the element OR 10, button 11, RS-trigger 12, indicator 13. As a result of the introduction of elements 3.1, ..., 3.N, 5.1, ..., 5.N, 7.1, ..., 7.N and 8.1, ..., 8.N provides automatic detection of the input and output of the monitored circuit, the comparison of the values at its outputs and the elimination of false alarms when there is a break on the output of the reference chip, on the withdrawal of controlled - unit. 1 tab. 1 il.

Description

Заказ 2826Order 2826

Тираж 562Circulation 562

ПодписноеSubscription

РЧИИПИ Государственного комитета по изобретени м и открыти м при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35/Раушска  наб., д. 4/5RCIIPI of the State Committee for Inventions and Discoveries at the State Committee on Science and Technology of the USSR 4/5, Moscow, Zh-35 / Raushsk nab. 113035

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Логический пробник, содержащий клеммы для подключения эталонной и контролируемой микросхем, вход "На1594459Logic probe containing terminals for connecting the reference and controlled circuits, input "Na 1594459 чальная установка , элемент ИЛИ, первый Κδ-триггер, индикатор, п-каналов, каждый из которых содержит первый анализатор, второй КЗ-триггер, элемент сравнения, выход которого соединен с η-входом элемента ИЛИ, выход последнего соединен с 5-входом первого КЗ-триггера, К-вход которого соединен с входом "Начальная установка", прямой выход - с входом индикатора, 3-вход второго КЗ-триг15initial setting, the OR element, the first Κδ-trigger, the indicator, n-channels, each of which contains the first analyzer, the second CZ-trigger, the reference element, the output of which is connected to the η-input of the OR element, the output of the last is connected to the 5-input of the first KZ-trigger, To-input of which is connected to the input "Initial installation", direct output - to the input of the indicator, 3-input of the second KZ-trigger15 2020 гера соединен с выходом первого йНАлизатора, К-вход - с входом "Сброс"Hera is connected to the output of the first scanner, K-input - to the input "Reset" устройства, К-входом второго К5-триггера, каждого· из (п-1) каналов устройства, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля,, в каждый из η каналов дополнительно введены второй Ю анализатор, элемент И-НЕ, первый и второй элементы И-ИЛИ, выходы которых соединены с входами элемента сравнения, а их первые входы соединены с прямым выходом первого КЗтриггера, второй вход первого элемента И-ИПИ соединен с первым входом элемента И-НЕ и выходом второго анализатора, третий вход первого элемента И-ИЛЙ соединен с вторьм входом второго элемента Й-ИЛИ и инверсным выходом второго КЗ-триггера, четвертый вход первого элемента И-ИЛИ соединен с входом второго анализатора и с клеммой для подключения контрот лируемой микросхемы, пятый вход первого элемента И-ИЛИ соединен .с выходом элемента И-НЕ, второй вход которого подключен к третьему входу втогрого элемента И-ИЛИ и к соответст- ; 30 вующей клемме для подключения эталон- ной микросхемы.the device, the K-input of the second K5-flip-flop, each of the (n-1) channels of the device, characterized in that, in order to increase the reliability of the control, a second U analyzer, the NAND element, the first is added to each of the η channels and the second AND-OR elements, the outputs of which are connected to the inputs of the comparison element, and their first inputs are connected to the direct output of the first KTrigger, the second input of the first I-IPI element is connected to the first input of the NAND element and the output of the second analyzer, the third input of the first element E-ILY is connected to the second entrance of the second The Y-OR element and the inverse output of the second short-circuit trigger, the fourth input of the first AND-OR element is connected to the input of the second analyzer and to the terminal for connecting a controllable microcircuit, the fifth input of the first AND-OR element is connected to the output of the AND-NES element, the second the input of which is connected to the third input of the firing element AND-OR and to the corresponding; 30 terminal for connecting the reference chip. 2525 Значение сигнала на выводеSignal Output Value и и 1 .гоand 1 .go и, и о ι 1and, and about ι 1 и0 и о 1,1and 0 and about 1.1 и, и, о о 1and, and, about 1 и0 и, о о ιand 0 and oh oh и ит 10 оand and t 10 about • ·υ0 ив о о 1• · υ 0 and in about a 1 и, и0 0 0 1and, and 0 0 0 1 и и„ ι о ιand and „ι о ι I 1 о о 1 1 о 1 1I 1 about 1 1 about 1 1 II о о 1 1 о 1 1 о о о 1 0 1 1 0 1II o o 1 1 o 1 1 o o o 1 0 1 1 0 1
SU884366910A 1988-01-18 1988-01-18 Logic circuit tester SU1594459A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884366910A SU1594459A1 (en) 1988-01-18 1988-01-18 Logic circuit tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884366910A SU1594459A1 (en) 1988-01-18 1988-01-18 Logic circuit tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1594459A1 true SU1594459A1 (en) 1990-09-23

Family

ID=21351017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884366910A SU1594459A1 (en) 1988-01-18 1988-01-18 Logic circuit tester

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1594459A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР (Р 483633, кл. G 01 R 31/28, 1973. Авторское свидетельство СССР № 1.112327, кл, G 01 R 31/28, 1984. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910000738B1 (en) Semiconductor integrated circuit adapted to carry out operation test
KR880001417B1 (en) Data engtry keyboard apparatus
KR850000793A (en) Semiconductor (ROM)
EP0010599A1 (en) Shift register latch circuit operable as a D-type edge trigger and counter comprising a plurality of such latch circuits
US5386159A (en) Glitch suppressor circuit and method
SU1594459A1 (en) Logic circuit tester
JPS57133656A (en) Semiconductor integrated circuit incorporated with test circuit
EP0506462B1 (en) Test signal output circuit for LSI
DE3480887D1 (en) INTEGRATED DIGITAL MOS SEMICONDUCTOR CIRCUIT.
JPH0644031B2 (en) Test circuit
SU970280A1 (en) Multi-function logic probe
JPS57210500A (en) Semiconductor storage device
SU1018064A1 (en) Logic circuit tester output assembly
SU940090A1 (en) Output assembly of tester for checking logic blocks
SU1649549A1 (en) Test generator output block
SU1205274A1 (en) Generator of single pulses
SU1211715A1 (en) Information input device
SU1218351A1 (en) Apparatus for inspecting accuracy of electric wiring
SU783726A1 (en) Device for testing integrated microcircuits with memory
SU1056089A1 (en) Device for checking integrated microcircuits
SU978085A1 (en) Device for checking integrated circuit contacting
SU1732301A1 (en) Output assembly of tester
SU1078420A1 (en) Information input device
SU834703A1 (en) Device for majority selection of asynchronous signals
SU708268A2 (en) Arrangement for automatic monitoring of electric circuits