SU890067A1 - Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра - Google Patents
Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра Download PDFInfo
- Publication number
- SU890067A1 SU890067A1 SU792789981A SU2789981A SU890067A1 SU 890067 A1 SU890067 A1 SU 890067A1 SU 792789981 A SU792789981 A SU 792789981A SU 2789981 A SU2789981 A SU 2789981A SU 890067 A1 SU890067 A1 SU 890067A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- controlled
- interferometer
- branch
- compensator
- Prior art date
Links
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
I
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и предназначено дл контрол выпуклых сферических и асферических поверхностей.
Известен интерферометр дл контрол формы выпуклых сферических поверхностей , содержащий источник излучени , последовательно установленные телескопическую систему, полупрозрачное зеркало, объектив, компенсатор и сферическое зеркало 1.
Недостатком известного интерферометра вл етс невысока точность контрол , обусловленна высокими требовани ми , предъ вл емыми к компенсатору в части его остаточных аберраций .
Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс интерферометр дл контрол качества выпуклых поверхностей линз.большого диаметра , содержащий источник излучени
и фокусирующую систему, образующие осве1ительную ветвь, объектив и регистратор интерференционной картины, образующие наблюдательную ветвь, элемент разделени светового noToka на .два, в одном из которых расположено эталонное сферическое зеркало, вл ющеес эталонной ветвью, а в другом компенсатор и жидкостна линза, образующие рабочую ветвь Г2.
Это интерферометру присуща недостаточно высока точность контрол вследствие значительной удаленности эталонной ветви от рабочей, а также. вследствие применени иммерсионной жидкости со строго определенным показателем преломлени .
Цель изобретени - повышение точности и производительности контрол , а также расширение диапазона контролируемых поверхностей.
Указанна цель достигаетс тем, что жидкостна линза выполн етс с показателем преломлени , отличным от .показател преломлени контролируемой линзы, и располагаетс между контролируемой линзой и компенсатором, компенсатор выполнен с вогнутой поверхностью и обращенным вогнутой поверхностью к источнику излучени ,а последовательно расположенные по ходу излучени компенсатор, контролируе-. ма и жидкостна линзы образуют систему с отрицательной оптической силой. Кроме того, интерферометр снабжен линзой, установленной с возможностью перемещени вдоль оптической оси интерферометра между компенсатором и элементом разделени светового потока .на . чертеже представлена оптическа схемй интерферометра. Интерферометр содержит источник 1 излучени и фокусирующую систему 2, образующие осветительную ветвь, объектив 3 и регистратор и интерференци онной картины, образующие наблюдател ную ветвь, элемент 5 разделени светового потока на два, в одном -из которых расположено эталонное сферическое зеркало 6, вл ющеес эталонной ветвью, а в другом компенсатор 7 и жидкостна линза 8, выполненна из иммерсионной жидкости с показателем преломлени , отличным от показател преломлени контролируемой линзы 9. и расположенна между контролируемой линзой 9 и компенсатором 7 выполненным с вогнутой поверхностью 10 и обращенным вогнутой поверхностью к источнику 1 излучени , а последовательно располагаемые по ходу излучени компенсатор 7 контролируема линза 9 и жидкостна линза 8 образуют систему с отрицательной оптическо силой, и линзу 11, установленную с возможностью перемещени вдоль оптической оси интерферометра между компенсатором 7 и элементом 5 разделени светового потока на два. Интерферометр работает следующим образом., Излучение от источника 1 под действием элементов 2,5,7,11 и поверхности контролируемой линзы 9, контак тирук цей с жидкостной линзой 8, пада
нормально на контролируемую поверхность К линзы Э частично отражаетс от нее, а частично проходит к эталонной поверхности Э эталонного сферического зеркала 6;
Волновой фронт, созданный излучением , отраженным от контролируемой поверхности К линзы 9, интерферирует
Claims (1)
- стей, жидкостна линза выполн етс с показателем преломлени , отличным от показател преломлени контролируемой линзы, и располагаетс между контролируемой линзой и компенсатором , компенсатор выполнен с вогнутой поверхностью и обращенным вогнутой поверхностью к источнику излучени . 74 с эталонным волновым фронтом. идущим от поверхности Э. По виду интерференционной картины, дл регистрации которой используют объектив 3 и регистратор k интерференционной картины, суд т о форме контролируемой поверхности К.. Перемещением линзы 11 вдоль оптической оси при смене контролируемых линз достигаетс устранение остаточнь1х аберраций, вызванных изменением конструктивных элементов контролируемой линзы, что повышает производительность контрол . Таким образом, повышение точности контрол достигнуто за счет совмещени эталонной и рабочей ветвей интеоферометра , так как эталонное сферическое зеркало расположено непосредственно за контролируемой поверхностью j поэтому остальные элементы интерферометра практически не внос т погрешности в результаты контрол , а также за счет снижени требований к показателю преломлени иммерсионной жидкости. Кроме того, данный интерферометр позвол ет контролировать высокоапертурные сферические поверхности, что расшир ет диапазон его применени . Формула изобретени 1. Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра, содержащий источник излучени и фокусирующую систему, образующие осветительную ветвь, объектив и регистратор интерференционной картины , образующие наблюдательную ветвь, элемент разделени светового потока на два, в одном из которых расположено эталонное сферическое зеркало, вл ющеес эталонной ветвью, а в другом - компенсатор и жидкостна линза, образующие рабочую ветвь, отличающийс тем, что, с целью повышени точности и производительности контрол , а также расширени диапазона контролируемых поверхно
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792789981A SU890067A1 (ru) | 1979-07-04 | 1979-07-04 | Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792789981A SU890067A1 (ru) | 1979-07-04 | 1979-07-04 | Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU890067A1 true SU890067A1 (ru) | 1981-12-15 |
Family
ID=20837928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792789981A SU890067A1 (ru) | 1979-07-04 | 1979-07-04 | Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU890067A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004057295A3 (en) * | 2002-12-20 | 2004-11-11 | Zeiss Carl Smt Ag | Device and method for the optical measurement of an optical system, a container therefor, and a microlithography projection exposure machine |
-
1979
- 1979-07-04 SU SU792789981A patent/SU890067A1/ru active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004057295A3 (en) * | 2002-12-20 | 2004-11-11 | Zeiss Carl Smt Ag | Device and method for the optical measurement of an optical system, a container therefor, and a microlithography projection exposure machine |
US7408652B2 (en) | 2002-12-20 | 2008-08-05 | Carl Zeiss Smt Ag | Device and method for the optical measurement of an optical system by using an immersion fluid |
US8120763B2 (en) | 2002-12-20 | 2012-02-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device and method for the optical measurement of an optical system by using an immersion fluid |
US8836929B2 (en) | 2002-12-20 | 2014-09-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Device and method for the optical measurement of an optical system by using an immersion fluid |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2661658A (en) | Optical system for increasing the working distances of microscope objectives | |
GB1320671A (en) | Incident-light dark ground illumination systems for microscopes | |
SU890067A1 (ru) | Интерферометр дл контрол выпуклых поверхностей линз большого диаметра | |
US3843227A (en) | Light dissecting optical system | |
ATE3590T1 (de) | Messkopf fuer ein densitometer. | |
ATE12843T1 (de) | Optisches system mit mehreren vergroesserungen. | |
SU523274A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена | |
GB135853A (en) | Spherically and Chromatically Corrected Objective with Anastigmatic Planeing of the Image and of Great Intensity of Light. | |
SU274418A1 (ru) | Интерферометр для контроля аберраций оптических систем | |
SU1026002A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы выпуклых сферических поверхностей | |
SU1084597A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых эллипсоидов вращени | |
SU235341A1 (ru) | Интерферометр для контроля оптических систем | |
SU844995A1 (ru) | Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли | |
SU706689A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества высокоапертурных вогнутых сферических поверхностей | |
GB551391A (en) | Improvements in or relating to variable power telescopes | |
SU1128110A2 (ru) | Интерферометр сдвига | |
GB632466A (en) | Improvements relating to microscopes | |
SU1226041A1 (ru) | Интерферометр дл контрол цилиндрических поверхностей | |
SU415482A1 (ru) | ||
SU823845A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формыВОгНуТыХ СфЕРичЕСКиХ пОВЕРХНОСТЕй | |
SU1300316A1 (ru) | Устройство дл определени фокусного рассто ни объективов | |
SU920367A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU911144A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы выпуклых сферических поверхностей | |
SU684296A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических деталей | |
SU1104362A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей |