SU888127A1 - Logic unit testing device - Google Patents

Logic unit testing device Download PDF

Info

Publication number
SU888127A1
SU888127A1 SU802892235A SU2892235A SU888127A1 SU 888127 A1 SU888127 A1 SU 888127A1 SU 802892235 A SU802892235 A SU 802892235A SU 2892235 A SU2892235 A SU 2892235A SU 888127 A1 SU888127 A1 SU 888127A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
driver
control
information
Prior art date
Application number
SU802892235A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Федор Фридрихович Шнайдер
Александр Григорьевич Ташлинский
Валерий Павлович Туробов
Original Assignee
За витель Г. Ташлинский и В П. Туробов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by За витель Г. Ташлинский и В П. Туробов filed Critical За витель Г. Ташлинский и В П. Туробов
Priority to SU802892235A priority Critical patent/SU888127A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU888127A1 publication Critical patent/SU888127A1/en

Links

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ Изобретение относитс  к области автоматики и вычислительной техники. ; Известно устройство, содержащее регист теста, формирователи входных и выходных сигналов, коммутатор и блок сравнени  Cl Недостатком этого устройства  вл етс  то, что оно не обеспечивает подачу на входы провер емого логического узла управл ющих сигналов, задержанных относительно момента изменени  потенциальных сигналов тестовой информации. Известно также устройство 2, содержащее запоминающее устройство (ЗУ-), регистр теста, устройство записи, первым входом подключенное к выходу ЗУ, а выходом - ко входу регистра теста, последовательно соединенные первый элемент задержки , формирователь входного воздействи , второй элемент задержки и формирователь строб-импульса, а также  чейки по числу разр дов, кажда  из которых состоит из устройств сравнени , переключател , элемента И, входного формировател , выходом подключенного к первому(54) DEVICE FOR THE CONTROL OF LOGICAL The invention relates to the field of automation and computer technology. ; A device containing a test register, input and output signal drivers, a switch and a comparison unit Cl is known. A disadvantage of this device is that it does not provide control inputs to the inputs of the logical unit under test that are delayed relative to the moment of change of the potential test information signals. It is also known a device 2, containing a memory device (memory), a test register, a recording device, the first input connected to the output memory, and the output to the input of the test register, connected in series the first delay element, the input action driver, the second delay element, and the gate driver -pulse, as well as cells by the number of bits, each of which consists of comparison devices, a switch, an AND element, an input shaper, an output connected to the first

Claims (2)

УЗЛОВ входу устройства сравнени , выходного формировател , вход которого подключен ко второму входу устройства сравнени , а выход - через переключатель ко входу входного формировател  и к соответствующему контакту провер емого узла. Управл ющие входы всех устройств сравнени  объединены и подключены к входу формн ровател  строб-импульса. Первые входы элементов И подключены к входу формировател  входного воздействи , а второй вход устройства записи и вход первого элемента задержки соединены с управл ющим входом устройства дл  контрол  уэг лов ЭВМ. Недостатком этого устройства  вл етс  то, что в случае необходимости каналов с импульсными воздействи ми на потенциальные и наоборот оно имеет низкое быстродействие, св занное с необходимостью установки переключателей. Целью изобретени   вл етс  повышение быстродействи . 8 Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство Ш1Я контрол  логических узлов, содержащее блок пам ти, блок записи, регистр теста, два элемента задержки , формирователь входного воздействи , формирователь стробировани , группу  чеек, кажда  из которых содержит элемент И, переключатель, элемент сравнени , входной формирователь, выходной формирователь, причем выход блока пам ти соединен с информационным входом блока записи, управл ющий вход которого соединен со входом первого элемента задержки и  вл етс  информационным вхо1дом устройства, выход первого элемента 1 задержки соединен со входом формировател  входного воздействи , выход которого соединен со входом второго элемента задержки и с первым управл ющим входом каждого элемента И, выход второго элемента задержки соединен со входом формировател  стробировани , выход кото рого соединен с управл ющим входом элемента сравнени  ка шой  чейки, ВЫЙ информационный вход которого сое- дртен соответственно с выходом выходного формировател , а второй информационный вход каждого элемента сравнени  соединен с выходом входного формировател  той же  чейки, вход которого соеди нен с соответствующим контактом провер емого узла и с выходным контактом переключател  той же  чейки, входной контакт которого соединен с выходом вы ходного формировател  то; же  чейки/, выход блока записи соединен со входом регистра теста, управл ющие выходы которого соединены соответственно со вторыми управл ющими входами каждого эле мента И, в каждую  чейку введен элемен сложени  по модулю два, первый вход которого соединен с выходом элемента И, второй вход - с информационным -выходом регистра теста, а выход элемента с входом выходного формировател . Функциональна  схема устройства дл  контрол  логических узлов и провер емый узел 1 показаны на чертеже. Устройство дл  контрол  логических узлов содержит блок пам ти 2, регистр теста 3, блок записи 4, элемент задерж; ки 5, формирователь входного воздействи  6, элемент задержки 7 и формирователь стробировани  8. Устройство содержит также  чейки 9 по числу разр дов, кажда  из которых состоит из элемента сравнени  10,- переключател  11, выходного формировател  12, входного форми7 ровател  13, элемента И 14 и элемента сложени  по модулю два 15. Устройство работает следующим образом . Провер емый узел 1 имеет И контактов , каждый из которых может быть входным или выходным, что фиксируетс  соответствено замкнутым или разомкнутым положением переключател  11. На каждый контакт может быть подана информаци  потенциальна  или импульсна . По сигналу управлени  с входа 16 устройства тестова  информаци  из блока пам ти 2 через блок записи 4 поступает в регистр теста 3. Каждый канал регистра теста 3 имеет два разр да, первый из которых  вл етс  информационным, второй - управл ющим . Управл ющий разр д определ ет, какой сигнал будет подан на вход провер емого узла в данном тесте. Логическа  единица соответствует импульсному сигналу, логический нуль - потенциальному. Логический нуль должен присутствовать на всех управл ющих разр дах теста, соответствующих выходам логического устройства и незадействованным контактам. Информационный разр д задает логи-. ческий уровень, подаваемый на вход провер емого узла, если данный контакт этого узла, потенциальный, импульс, если контакт импульсный и эталонную информацию , если контакт выходной. Если на выходе информационного разр да - логический нуль, то пол рность импульса на выходе элемента сложени  по модулю два совпадает с пол рностью входного импульса, если на выходе разр да - логическа  единица, то пол рность импульса на выходе элемента сложени  по модулю два инверсна входному импульсу . Логические сигналы с информационных разр дов регистра теста- 3 через элемент сложени  по модулю два поступают на выходь формировател  12 и элемента сравнени  10. Если переключатель 11 разомкнут, то на второй вход элемента сравнени  10 поступает логический.уровень с выхода провер емого узла. Если переключатель 11 замкнут, то через формирователь 12 сформированный логический уровень поступает на вход провер емого узла и через формирователь 13 на второй вход схемы сравнени  10. Через промежуток времени , определ емый элементом задержки 5, формирователь входных воздействий 6 фор58 мирует на входах элемента И 14 импульс который проходит лишь через те элементы И 14, на управл ющем входе которого логическа  единица. Далее импульс посту пает на вход элемента сложени  по модулю два, и затем импульс необходимой пол рности с выхода элемента 15 поступает через формирователь 12 и переключатель 11 на вход провер емого узла. Сигнал с выхода формировател  6 через эле- мент задержки 7 поступает также на формирователь 8, импульс с выхода которого поступает на входы элементов сравнени  10, контролиру  состо ние выходов в опр деленный момент времени внутри интервала подачи тестов. Длительность стробирующих импульсов меньше, чем длительность импульсов вход ных воздействий. Это позвол ет повысить быстродействне в случае необходимости смены каналов с импульсными сигналами на потенциальные и наоборот, что достигаетс  за счет программного управлени  режимом работы каналов и пол рностью импульсов. Формула изобрет е н и   Устройство дл  контрол  логических узлов, содержащее блок пам ти, блок записи, регистр теста, два элемента задержки , формирователь входного воздействи , формирователь стробировани , груп пу  чеек, кажда  из которых содержит элемент И, переключатель, элемент, сравнени , входной формирователь, выходной формирователь, причем выход блока пам ти соединен с информационным входом блока записи, управл ющий вход которого соединен со входом первого элемента за74 держки и  вл етс  управл ющим входом устройства, выход первого элемента задержки соединен со входом формировател  входного воздействи , выход которого соединен со входом второго элемента задержки и с первым управл ющим входом каждого элемента И, выход второго элемента задержки соединен со входом формировател  стробировани , выход которого соединен с управл ющим входом элемента сравнени  каждой  чейки, первый информационный вход которого соединен с выходом выходного формировател  той же  чейки, а второй информационный вход каждого элемента сравнени  соединен соответственно с выходом входного формировател  той же  чейки, вход которого соединен с соответствующим контактом провер емого узла и с выходным контактом переключател  той же  чейки, входной контакт которого соединен с выходом выходного формировател , выход блока записи соединен с входом регистра теста, управл$пощие- выходы которого соединены соответственно с управл ющими входами каждого элемента И, отличающеес  тем, что,о с целью повьшхени  быстродействи , в каждую  чейку введен элемент сложени  по модулю два, перыый вход которого соединен с выходом элемента И, второй вход - с информационным выходом регистра теста, а выход - с входом выходного формировател . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 39О526, кл. G Об F 11/О4, 1973. KNOTS to the input of the comparison device, the output driver, the input of which is connected to the second input of the comparison device, and the output through a switch to the input of the input driver and to the corresponding contact of the tested node. The control inputs of all the comparison devices are combined and connected to the input gate gate pulse generator. The first inputs of the And elements are connected to the input of the input action shaper, and the second input of the recording device and the input of the first delay element are connected to the control input of the device for controlling the computer. A disadvantage of this device is that, if necessary, channels with impulse effects on potential and vice versa, it has a low speed associated with the need to install switches. The aim of the invention is to increase speed. 8 The goal is achieved by the fact that the device includes a logical block containing a memory block, a recording block, a test register, two delay elements, an input driver, a gating driver, a group of cells, each of which contains an AND element, a switch, a comparison element. , the input driver, the output driver, the output of the memory unit is connected to the information input of the recording unit, the control input of which is connected to the input of the first delay element and is an information input The output of the first delay element 1 is connected to the input of the input action generator, the output of which is connected to the input of the second delay element and to the first control input of each element And, the output of the second delay element is connected to the input of the gate generator, the output of which is connected to the control input of the comparison cell of your cell, whose information input is connected to the output of the output shaper, respectively, and the second information input of each comparison element is connected to the output m input formers of the same cell, the input of which Cpd nen checked with corresponding contact emogo node and the output terminal of the same switch cell input terminal coupled to an output you Khodnev the shaper; the same cell /, the output of the recording unit is connected to the input of the test register, the control outputs of which are connected respectively to the second control inputs of each element I, the addition module modulo two is entered into each cell, the first input of which is connected to the output of element I, the second input - with informational - the output of the test register, and the output of the element with the input of the output driver. The functional diagram of the device for controlling logical nodes and the checked node 1 are shown in the drawing. The device for controlling logical nodes contains a memory block 2, a test register 3, a write block 4, a delay element; 5, an input driver 6, a delay element 7, and a gate driver 8. The device also contains cells 9 according to the number of bits, each of which consists of a comparison element 10, - switch 11, output generator 12, input generator 13, and 14 and an addition element modulo two 15. The device operates as follows. The tested node 1 has AND contacts, each of which can be input or output, which is fixed by the corresponding closed or open position of the switch 11. The potential or pulse information can be supplied to each contact. According to the control signal from input 16 of the device, test information from memory 2 through recording block 4 enters test register 3. Each channel of test register 3 has two bits, the first of which is information, the second one is control. The control bit determines which signal will be applied to the input of the tested node in this test. A logical unit corresponds to a pulse signal, a logical zero to a potential one. Logic zero must be present on all control bits of the test, corresponding to the outputs of the logic device and unused contacts. Information bit sets logi-. The cus level applied to the input of the tested node, if the given contact of this node is potential, impulse, if the contact is impulse and reference information, if the contact is output. If the output of the information bit is a logical zero, then the polarity of the pulse at the output of the addition element modulo two coincides with the polarity of the input pulse; if the output of the discharge is a logical one, then the polarity of the pulse at the output of the additive modulo two is inverse to the input impulse. Logical signals from the information bits of the register of test-3 through the addition module modulo two are fed to the output of the imaging unit 12 and the comparing element 10. If the switch 11 is open, then the second input of the comparing element 10 receives a logical level from the output of the tested node. If the switch 11 is closed, then through the shaper 12 the generated logic level is fed to the input of the tested node and through the shaper 13 to the second input of the comparison circuit 10. After a period of time determined by delay element 5, the shaper of input actions 6 forms 58 at the inputs of the And 14 element the impulse that passes only through those elements of AND 14, at the control input of which a logical unit. Next, the impulse is delivered to the input of the addition element modulo two, and then the impulse of the required polarity from the output of the element 15 is fed through the driver 12 and the switch 11 to the input of the tested node. The signal from the output of the imaging unit 6 through the delay element 7 is also fed to the imaging unit 8, the pulse from the output of which is fed to the inputs of the elements of comparison 10, monitors the state of the outputs at a certain time within the test feed interval. The duration of gating pulses is shorter than the duration of the pulses of input actions. This makes it possible to increase the speed in case of the need to change channels with pulsed signals to potential signals and vice versa, which is achieved through program control of the channel operation mode and polarity of pulses. Formula of the Invention A device for controlling logical nodes, comprising a memory block, a recording block, a test register, two delay elements, an input driver, a gate driver, a group of cells, each of which contains an element And, a switch, an element, a comparison, the input driver, the output driver, the output of the memory unit is connected to the information input of the recording unit, the control input of which is connected to the input of the first grip element 74 and is the control input of the device, the output of the first The delay element is connected to the input of the input action generator, the output of which is connected to the input of the second delay element and to the first control input of each element And, the output of the second delay element is connected to the input of the gate driver, the output of which is connected to the control input of the comparison element of each cell, the first information input of which is connected to the output of the output shaper of the same cell, and the second information input of each element of the comparison is connected respectively to the output of the input The same driver of the same cell, the input of which is connected to the corresponding contact of the tested node and the output contact of the switch of the same cell, whose input contact is connected to the output of the output driver, the output of the recording unit is connected to the input of the test register, the control output is connected to with the control inputs of each element AND, characterized in that, for the purpose of improving speed, an addition element modulo two is inserted into each cell, the first input of which is connected to the output of the element AND, Torah input - to the test data output register and output - to the input of the output driver. Sources of information taken into account during the examination 1. USSR author's certificate number 39О526, cl. G About F 11 / O4, 1973. 2.Авторское свидетельство СССР № 656О65, кл. Q 06 F 11/04, 1979 (прототип).2. USSR author's certificate number 656O65, cl. Q 06 F 11/04, 1979 (prototype).
SU802892235A 1980-03-07 1980-03-07 Logic unit testing device SU888127A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802892235A SU888127A1 (en) 1980-03-07 1980-03-07 Logic unit testing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802892235A SU888127A1 (en) 1980-03-07 1980-03-07 Logic unit testing device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU888127A1 true SU888127A1 (en) 1981-12-07

Family

ID=20881906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802892235A SU888127A1 (en) 1980-03-07 1980-03-07 Logic unit testing device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU888127A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5182468A (en) Current limiting clamp circuit
SU888127A1 (en) Logic unit testing device
SU656065A2 (en) Multichannel arrangement for test checking of electronic computer digital units
SU1179346A1 (en) Device for checking logic units
SU869034A1 (en) Pulse distributor
SU1160260A1 (en) Method of condition inspection of antifriction bearings
RU2010323C1 (en) Device for static modelling condition of test object
SU1241225A1 (en) Device for determining parameters of pulse signals
SU1597881A1 (en) Device for checking discrete signals
SU1636997A1 (en) Staircase voltage generator
RU2030115C1 (en) Electronic key of morse code
SU983757A1 (en) Storage testing device
SU875608A1 (en) Device for programmed delay of pulses
SU1166107A1 (en) Control unit
SU1501100A1 (en) Function generator
SU917329A1 (en) Pulse pair selector
SU1290287A1 (en) Information input device
SU503263A1 (en) Graphic reading device
SU477441A1 (en) Device for adjusting the sensitivity of the information transmission path
SU864584A1 (en) Multichannel pulse counter
SU1508213A1 (en) Device for registering faults
SU1103352A1 (en) Device for generating pulse trains
SU1180896A1 (en) Signature analyser
SU1013960A1 (en) Two-processor system checking device
SU1491308A1 (en) Pulsed gate with control signal storage