ШЕРОХОВАТОСТИ ПОЛИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быт использовано дл определени двух па Рс1метров шероховатости полированных поверхностей изделий. Известен рефлектометрический способ измерени шероховатости поверхности изделий, заключающийс в том, что освещают поверхность издели , помещенного в фотометрический шар, под различными углами измер ют зеркально отраженный от поверхности издели световой поток и по его величине суд т об одном высотнЬм параметре шероховатости. Предварительно производ т градуировку по образцам, аттестованным по параметру шерохо .ватости другими методами 1. Недостаток способа заключаетс в том, что он позвол ет получить информацию только об одном параметре шероховатости и требует градуировки прибора по предварительно аттестованным образцам. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому вл етс способ измерени шероховатости полированных поверхностей изделий, заключакицийс в том, что освещают повер ИЗДЕЛИЙ ноЪть издели монохроматическим излучением определенной длины волны Л, измер ют диффузно отраженный от поверхности издели световой потокЗв. измер ют общий отраженный от поверхности издели , световой поток Iox по отношению этих световых потоков суд т о среднем квадратическом отклонении высот неровностей 2. Недостаток этого способа заключаетс в том, что определ етс только один параметр шероховатости,, характеризук ций высоту микронеровностей, а параметр, определ ющий средний шаг микронеровностей - определить невозможно , так как определ емое отношение зависит только от высотного параметра , что снижает точность измерени шероховатости. Цель изобретени - повышение точности измерени шероховатости. Поставленна цель достигаетс тем, что измер ют зеркально отраженный от поверхности издели световой поток вместе с частью расположенного вокруг этого потока диффузно отраженного светового потока (I Ala)X« затем освещают поверхность издели монохроматическим излучением другой длины волны , , измер ют при этом зеркально отраженный от поверхности издели световой поток вместе с частью расположенного вокруг этого Ifoтока диффузно отраженного светового потока (I- + ,л.)д./2 и общий отраженный от поверхности издели световой поток IQX. / по отношени м (I-J + /IGX (I Э + Al9)Xa/Io)L2cyд т о среднем квадратическом отклонении и об интервале коррел ции высот неровностей. Способ может быть реализован с по мощью серийно выпускаемых спектрофотометров с интегрирующей сферой типа СФ-14 и СФ-18. На чертеже представлена принципиальна схема спектрофотометра. Спектрофотометр содержит монохроматор 1 и интегрирующую схему 2, котора включает ловушку 3, заслонку 4, приемник 5 излучени и регистрирующее устройство 6. Способ осуществл етс следующим образом. Контролируемое изделие 7 располагают в окне интегрирующей сферы 2, освещают поверхность издели 7 с по мощью монохроматора 1 монохроматиче ким излучением по крайней мере з двух длин волн Х и Xj . Установив заслон ку 4 в окно интегрирующей сферы 2, измер ют с помощью приемника 6 излу чени и регистрирующего устройства общий спектральный коэффициент отра жени P).i Установив вместо заслонки 4 ловушку 3, измер ют спек ральный коэффициент диффузного отражени PJL и РХ.ЛГ при этом в ловушк 3 попадает зеркально отраженный све уовой поток и часть расположенного вокруг этого потока диФФузно отрс1же ного светового потока ( Ы) . За тем определ ют отношени .(G.r,M ПА О f(6;-r.ii.) РХг OM . где CT- среднее квадратическое отклонение высот неровностей; Т - интеграл коррел ции высот неровностей. Решают систему уравнений и опред л ют два параметра шероховатости О иГ. Измерени могут быть проведены при более чем двух длинах волн, что позвол ет получить избыточную сиСте у уравнений и увеличить -точность опеделени параметров 6 . Использование предлагаемого способа по сравнению сизвестными позвол ет получать большую информацию о микрорельефе поверхности и приводит к увеличению точности измерени шероховатости . Формула изобретени Рефлектометрический способ измерени шероховатости полированных поверхностей изделий, заключающийс в том, что освещают поверхность издели монохроматическим излучением определенной длины волны Л, измер ют диффузно отраженный от поверхности издели световой поток Igv , измер ют общий отраженный от поверхности издели световой поток IQ, и по отношению этих световых потоков суд т осреднем квадратическом отклонении высот неровностей, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени шероховатости , измер ют зеркально отраженный От поверхности издели световой поток вмеотё с частью расположенного вокруг этого потока диффузно отргокенного светового потока (I -i + 9) затем освещают поверхность издели монохроматическим излучением другой длины волны JL, измер ют при этом зеркально отраженный от поверхности издели световой поток вместе с частью расположенного вокруг этого потока диффузно отраженного светового потока (Ig + Д1а)д. и общий отраженный от поверхности издели световой поток Io;ta ° отношени м(15--д1()./1р, и (1 + й1()д.,г. /1о.а. суд т о среднем квадратическом отклонении и об интервале коррел ции высот неровностей . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Vashist S.K.,,Rad hakrishnan V. Glass Meter бог Surface Evaluation.Indian Engineering Journal, сер. ME, 1975, V. 55, c. 144-148.