SU864968A1 - Устройство дл контрол дефектов оптических деталей - Google Patents
Устройство дл контрол дефектов оптических деталей Download PDFInfo
- Publication number
- SU864968A1 SU864968A1 SU782704445A SU2704445A SU864968A1 SU 864968 A1 SU864968 A1 SU 864968A1 SU 782704445 A SU782704445 A SU 782704445A SU 2704445 A SU2704445 A SU 2704445A SU 864968 A1 SU864968 A1 SU 864968A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- laser
- photodetector
- focusing lens
- mirror
- defects
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, содержащее лазер, последовательно установленные по ходу излучени фокусирующую линзу, плоское отражающее зеркало, блок сканировани , фотоприемник и блок регистрации, отличающеес тем, что, с целью повьпиени чувствительности и оперативности контрол , в него дополнительно введен селективный фильтр в виде вогнутого зеркгша с отверстием, установленного по ходу излучени за фокусирующей линзой под углом к оптической оси лазера и служащего дл разделени зеркально отраженного и диффузно рассе нного света, причем фотоприемник (Л расположен в фокусе зеркала. 00 Oi 4 СО о:) 00
Description
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение при контроле дефектов, а также контроля дефектов поверхности подложек интегральных схем и напыленных отражающих поверхностей.
Известно устройство для контроля дефектов оптических деталей, содержащее лазер, фокусирующую линзу, систему сканирования, собирающую линзу для рассеянного дефектом света, фотоприемник. Контроль дефектов производится при перемещении исследуемой поверхности поперек сфокусированного сканируемого луча. Рассеянный дефектом световой поток собирается на фотоприемник C1J.
Однако его применение ограничено контролем дефектов плоских отражающих поверхностей.
Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является устройство для контроля дефектов оптических деталей, содержащее лазер, последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую линзу, плоское отражающее зеркало, блок сканирования, фотоприемник и блок регистрации t2].
При контроле дефектов оптических деталей типа линз с целью поддержания постоянным положенияί фокуса на детали, фокусирующая линза перемещается с помощью шагового двигателя вдоль оптической оси.
Недостаточная чувствительность контроля дефектов с помощью этого устройства обусловлена тем, что регистрация сигнала осуществляется по методу светового поля, когда приемник излучения работает в режиме постоянной засветки, что приводит к снижению его чувствительности и -Повышению инерционности.
Кроме того, переход с одного типа деталей на другой с разными радиусами кривизны затруднен необходимостью перестройки закона перемещения фокусирующей линзы.
Цель изобретения - повышение чувствительности и оперативности контроля дефектов оптических деталей.
Это достигается тем, что в известном устройстве для контроля дефектов оптических деталей, содержащем лазер, последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую линзу, плоское отражающее зеркало, блок сканирования, фотоприемник и блок регистрации, дополнительно введен селективный фильтр в виде вогнутого зеркала с отверстием, установленного по ходу излучения за .фокусирующей линзой под углом к оптической оси лазера и служащего для разделения зеркально отраженйо5 го и диффузно рассеянного света, причем фотоприемник расположен в фокусе зеркала.
На чертеже представлена, принципиальная схема устройства для кон10 троля дефектов оптических.деталей.
Устройство содержит лазер 1, фо кусирующую линзу 2, плоское отражающее зеркало 3, расположенное за исследуемой деталью, размещенное 15 на столе 4, связанном с приводом 5, обеспечивающим спиральное сканирование детали лучом лазера, селективный фильтр в виде вогнутого зеркала 6, с отверстием для падающего луча, 2Q расположенное между исследуемой деталью и фокусирующей линзой 2 под углом к оптической оси лазера, фотоприемник 7, установленный в фокусе зеркала б, и блок 8 регистрации.
Устройство работает следующим образом.
Луч лазера 1 фокусируется линзой 2 на исследуемую деталь и через отверстие в зеркале 6 падает на плоское отражающее зеркало 3 сквозь исследуемую деталь. В случае отсутствия дефекта на детали отраженный луч возвращается через отверстие в зеркале 6. При наличии в детали дефекта типа царапины или 35 пузырька световой поток, рассеянный и отраженный дефектом,отражается от плоского зеркала 3, собирается вогнутым зеркалом 6 и направляется на фотоприемник 7. Сигналы 4Q о наличии дефекта в виде импульсов различной амплитуды регистрируются блоком 8 регистрации. Размеры дефектов определяются по величине амплитуды импульса, поскольку 45 величина диффузно рассеянного светового потока от дефекта пропорциональна его размерам. Контроль всей поверхности детали осуществляется при спиральном перемещении ее относительно луча с помощью электропривода.
Данное устройство позволяет определять размеры дефектов оптических деталей, их подсчет, автоматически контролировать оптические де55 тали с чистотой поверхности от 1 до 9а класса, выявляя дефекты шириной 0,004 мм (ГОСТ 11141-76), и значительно, в 2,5 раза повысить чувствительнрсть контроля.
ВНИИПИ Заказ 1064/3 Тираж 823 Подписное
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул.Проектная, 4
Claims (1)
- УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯДЕФЕКТОВ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, содержащее лазер, последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую линзу, плоское отражающее зеркало, блок сканирования, фотоприемник и блок регистрации, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности и оперативности контроля, в него дополнительно введен селективный фильтр в виде вогнутого зеркала с отверстием, установленного по ходу излучения за фокусирующей линзой под углом к оптической оси лазера и служащего для разделения зеркаль· но отраженного и диффузно рассеянного света, причем фотоприемник расположен в фокусе зеркала.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782704445A SU864968A1 (ru) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | Устройство дл контрол дефектов оптических деталей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782704445A SU864968A1 (ru) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | Устройство дл контрол дефектов оптических деталей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU864968A1 true SU864968A1 (ru) | 1984-01-30 |
Family
ID=20801802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782704445A SU864968A1 (ru) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | Устройство дл контрол дефектов оптических деталей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU864968A1 (ru) |
-
1978
- 1978-12-26 SU SU782704445A patent/SU864968A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Oswald D.R. Munro D.F Laser Scan T.echni(ue Electronic Materials surface evalution J. of Electr. Materials, 1,1974, p. 3. 2. Baker Z.R. Biddies Ъ.У. Surface inspection of optical and semiconductor components. Opt. Eng, 15, 3, 1976, c. 244-246. шгкоюачл 1з.:::-;/.з ilbl«OiL4. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4402607A (en) | Automatic detector for microscopic dust on large-area, optically unpolished surfaces | |
ATE335998T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung von teilchen unter benutzung der reflexion eines mehrfachabtastenden strahls | |
JPH0329318B2 (ru) | ||
JPS6352032A (ja) | 透明材料要素を表面の不整及び吸蔵について試験するために照明する装置 | |
US4099051A (en) | Inspection apparatus employing a circular scan | |
JP3520356B2 (ja) | 磁気ディスクの磁気膜欠陥検査装置 | |
SU864968A1 (ru) | Устройство дл контрол дефектов оптических деталей | |
US4772127A (en) | Surface inspection apparatus | |
JPS587964B2 (ja) | キヨリソクテイソウチ | |
JPS61288143A (ja) | 表面検査装置 | |
JP2000509825A (ja) | 光走査デバイス | |
JPH03115844A (ja) | 表面欠点検出方法 | |
EP0051899A1 (en) | Apparatus for automatically detecting and evaluating the characteristics of prints | |
JPS57161642A (en) | Inspecting device for defect of surface | |
CN214898335U (zh) | 基底背面缺陷检测装置 | |
SU1712843A1 (ru) | Устройство дл контрол дефектов оптических деталей | |
RU1789851C (ru) | Устройство дл контрол толщины плоских объектов | |
SU1702178A1 (ru) | Устройство дл измерени шероховатости полированной поверхности образца | |
JP2565748B2 (ja) | 自動追尾方式の光波距離計測装置 | |
JPH08304052A (ja) | レンズの検査方法及び装置 | |
SU1469344A1 (ru) | Устройство дл определени размеров малых объектов | |
FR2402185A1 (fr) | Procede de jaugeage de la surface d'un profil | |
SU326492A1 (ru) | Устройство для контроля дефектов внутренней поверхности трубы | |
JP2875624B2 (ja) | 測量機 | |
JPS5949533B2 (ja) | ケツカンケンシユツソウチ |