SU844998A1 - Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий - Google Patents

Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий Download PDF

Info

Publication number
SU844998A1
SU844998A1 SU792814444A SU2814444A SU844998A1 SU 844998 A1 SU844998 A1 SU 844998A1 SU 792814444 A SU792814444 A SU 792814444A SU 2814444 A SU2814444 A SU 2814444A SU 844998 A1 SU844998 A1 SU 844998A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
components
tensor
mechanical stresses
determining values
hologram
Prior art date
Application number
SU792814444A
Other languages
English (en)
Inventor
Геннадий Иванович Быковцев
Михаил Николаевич Осипов
Original Assignee
Куйбышевский Государственный Универ-Ситет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Куйбышевский Государственный Универ-Ситет filed Critical Куйбышевский Государственный Универ-Ситет
Priority to SU792814444A priority Critical patent/SU844998A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU844998A1 publication Critical patent/SU844998A1/ru

Links

Landscapes

  • Holo Graphy (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ КОМПОНЕНТ ТЕНЗОРА МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ
1
Изобретение относитс  к области измерени  механических напр жений оптическими методами.
Известен способ определени  механических напр жений оптически прозрачных объектов, заключающийс  в просвечивании объекта излучени  с круговой пол физацией, получении голограммы нагруженного ц ненагруженного объекта и определени  по голограмме механических напр жений 1. Однако этот способ не позвол ет определить величины компонент напр жений, что снижает точность измерений.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  способ определени  величины компонент тензора механических напр жений в плоских фазовых объектах, заключающийс  в том, что объект освещают когерентным излучением, получают голограмму интенсивности нагруженного и ненагруженного объекта и по голограмме определ ют компоненты тензора механических напр жений 2.
Недостатком этого способа измерений  вл етс  низка  чувствительность способа к планарным напр жени м в объекте, что снижает точность/измерений.
Целью данного изобретени   вл етс  повышение точности определени  величины компонент тензора механических напр жений . С этой целью поверхность объекта, обращенную к падающему излучению матируют дл  получени  голограммы, объект освещают излучением с круговой пол ризацией , восстанавливают изображени  опорным и неразведенными пучками с круговой пол ризацией.
Способ реализуетс  устройством, показанным на чертеже.
Устройство состоит из оптического квантового генератора (ОКГ) 1, светоделител  2, пол ризаторов 3, 4, предметного и опорного пучков 5 и 6, коллиматоров 7, 8 опорного и предметного пучков, 5 и 6, коллиматоров 7, 8 опорного и предметного пучков, фокусирующей линзы 9 и голограммы 10.
Способ осуществл етс  следующим образом .
Пучок ОКГ 1 делитс  светоделителем 2 на предметный и опорный пучки 5 и 6, которые пол ризуютс  пол ризаторами 3 и 4, соответственно, обеспечивающими круговую пол ризацию пучков. Получают голограмму нагруженного и ненагруженного объекта 11
с предварительно матированной поверхностью 12, обращенной к падающему излучению , и восстанавливают изображени  опорным и неразведенным пучками с круговой пол ризацией. По восстановленным голограммой 10 изображени м определ ют компоненты тензора механических напр жений .
Применение данной последовательности операций повышает точность определени  компонент тензора механических напр жений , так как позвол ет раздельную регистрацию напр жений по разным направлени м и увеличивает чувствительность способа.

Claims (2)

1.Патент США № 3831436, кл. 73.88, 1974.
2.Авторское свидетельство СССР
№ 567946, кл. G 01 В 11/16, 1972 (прототип ).
SU792814444A 1979-08-31 1979-08-31 Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий SU844998A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792814444A SU844998A1 (ru) 1979-08-31 1979-08-31 Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792814444A SU844998A1 (ru) 1979-08-31 1979-08-31 Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU844998A1 true SU844998A1 (ru) 1981-07-07

Family

ID=20848322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792814444A SU844998A1 (ru) 1979-08-31 1979-08-31 Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU844998A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Rastogi Techniques of displacement and deformation measurements in speckle metrology
US4340306A (en) Optical system for surface topography measurement
CA1163797A (en) Laser interferometer
JP4188515B2 (ja) 光学式形状測定装置
JPS6036003B2 (ja) 被検査表面の検査方法
KR930016767A (ko) 응력으로 유도된 단일모드-광전관의 복굴절에 의한 섬유광학적 힘 측정방법
JPH0663867B2 (ja) 波面状態検出用の干渉装置
JP2732849B2 (ja) 干渉測長器
US3561876A (en) Detecting and measuring apparatus using polarization interferometry
SU844998A1 (ru) Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий
US4725142A (en) Differential holography
JPH03128411A (ja) 光学的形状測定装置
KR20180041168A (ko) 대상 표면의 토포그라피를 도출하기 위한 방법 및 장치
GB1190564A (en) Method of and Means for Surface Measurement.
Burch Laser speckle metrology
US5926295A (en) Holographic process and device using incoherent light
DE69022243D1 (de) Optisches phasenmessabtastmikroskop.
JPS63128211A (ja) スペ−シング測定方法
JP3040140B2 (ja) 色収差測定方法及び測定装置
Tiziani Heterodyne interferometry using two wavelengths for dimensional measurements
SU1582005A1 (ru) Способ определени распределени крутизны неровностей плоского шероховатого объекта
Kakunai et al. Measurement of three components of a displacement vector using heterodyne holographic interferometry
RU2090838C1 (ru) Голографический способ определения рельефа поверхности
SU744294A1 (ru) Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени
JPH044966Y2 (ru)