SU744294A1 - Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени - Google Patents
Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени Download PDFInfo
- Publication number
- SU744294A1 SU744294A1 SU762363978A SU2363978A SU744294A1 SU 744294 A1 SU744294 A1 SU 744294A1 SU 762363978 A SU762363978 A SU 762363978A SU 2363978 A SU2363978 A SU 2363978A SU 744294 A1 SU744294 A1 SU 744294A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- light
- plane
- polarization
- rotating
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 239000010755 BS 2869 Class G Substances 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 239000013543 active substance Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 2
- 238000004873 anchoring Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J4/00—Measuring polarisation of light
- G01J4/04—Polarimeters using electric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области технической физики и касаетс способов измерени изменени азимута плоскости пол ризации светового излучени ,, вызываемых либо механическим воздействием на один из пол ризующих эле- ментов , либо воздействием на азимут ;пол ризации оптичейки активным веществом .- 10
Известен способ след щего преобразовани 1, в котором через оптически активное вещество пропускают линейно пол ризованное излучение с непрерывновращающейс плоскостью пол - j ризадии с дальнейшей механической обработкой измер емого изменени азимута плоскости пол ризации излучени путем поворота анализатора-компенсатора . Необходимость механического 20 привода ограничивает точность измерений по этому способу.
Наиболее близок к изобретению способ измерени величины оптической активности веществ, включающий полу-25 чение линейно пол ризованного излучени , поворот плоскости пол ризации оптически активньюл объектом и анешизирование положени плоскости пол ризации вращающимс пол ризующим эле- JQ
ментом с последующим делением излучени на два пучка, один из которых - рабочий - пропускают через исследуемое вещество, а другой вл етс опорным . О величине оптической активности исследуемого вещества суд т по разности аз между переменными.составл ющими интенсивности опорного и ра.-. бочего пучков .JjiJ
Необходимость делени излучени на два пучка и наличие дополнительных Ьптического и фотоэлектронного каналов делает сложным устройство и снижает точность измерений и экономичность при реализации этого способа .
Целью изобретени вл етс повышение точности и экономичности способа измерений изменени азимута плоскости пол ризации.
Дл достижен 1 указанной цели проанализированное излучение дополнительно последовательно как минимум однократно пол ризуют и измер ют взаимное смещениесопр женных временных интервалов/ образующихс между моментами максимального гашени излучани .
На фиг. 1 представлена блок-схема одного из возможных устройств дл реализации способа; на фиг. 2 - зависимость интенсивности излучени , падающего на фотоприемник, от поворота плоскости пол ризации.
Излучение источника 1 пропускают последовательно через монохроматор 2, неподвижный пол ризатор 3, измерительную кювету 4 с оптически активным веществом, вращающийс линейный пол ризатор 5, неподвижный пол ризатор б и направл ют на фотоприемник 7, электрические сигналы с которого поступают в электронно-счетное устроство 8.
При отсутствии в рабочей кювете 4 оптически активного вещества интенсивность падающего на фотоприемник 7 излучени будет мен тьс по закону:
D - 3 Q сюз V сое (Р О - сА)
где JQ - интенсивность излучени
после монохроматора 2; ok - текущее значение угла между неподвижным пол ризатором 3 и вращающимс пол ризатором 5.
Крива I на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в зависимости от угласт.
При этом временные интервалы с и t между моментами максимального гашени излучени равны между собой, а их сумма TQ : т; + tj определ ете временем полного оборота вращающегос анализатора.
Оптически активное вещество, помещенное в рабочую кюветуJ вызовет поворот плоскости пол ризации излучени на угол U oi . При этом интенсивность падающего на фотоприемник излучени будет мен тьс по закону
3«ЗдСС ().С09(00 -СЛУ
Крива II на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в этом случае, построенна ,цл частного значени дЦ 18 ВремеН ные интервалы тг и t. между моментами максимального гашени излучени уже различны и их разность характеризует изменение- азимута пол ризации , вызванное оптически активн(лм веществом .
Дл исключени вли ни нестабильности вращени пол ризатора 5 измер ют отношение разности этих интервалов к их сумме т. е. величину
7-. -г:
itr -о.
о
Эти операции осуществл ют электронно-счетное устройство 8 показани которого могут быть отградуированы непосредственно по величине д ok.
Применение способа, устран необходимость применени след щего привода и дополнительного оптического канала, упрощает габариты оптической части пол риметрических приборов, позвол выполн ть оптическую часть в виде отдельных малогабаритных датчиков, а высока разрещающа способность современных цифровых электронносчетных устройств, с их высоким быстродействием , создает возможность повышени точности и скорости измерени изменений азимута плоскости пап ризованно5 о света по изложенному способу.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ измерени изменений азимута плоскости пол ризации световогоD излучени , включающий получение линейно пол ризованного излучени , поворот плоскости пол ризации оптически активным объектом и анализирование положени плоскости пол ризации,5 вращающимс пол ризующим элементом, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерений и экономичности, проанализированное излучение дополнительно последовательд но как минимум однократно пол ризуют и измер ют взаимное смещение сопр женных временных интервалов, образующихс между моментами максимального гашени излучени .Источники информации,5 прин тые во внимание при экспертизе1,Авторское свидетельство СССР № 65654, кл. G 01 N 21/40, 1941.2,Авторское свидетельство СССРW 374972, кл. G 01 N 21/40, 1973 ( прототип).0,1 0.3OJ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU762363978A SU744294A1 (ru) | 1976-05-24 | 1976-05-24 | Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU762363978A SU744294A1 (ru) | 1976-05-24 | 1976-05-24 | Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU744294A1 true SU744294A1 (ru) | 1980-07-05 |
Family
ID=20662676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU762363978A SU744294A1 (ru) | 1976-05-24 | 1976-05-24 | Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU744294A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2527654C2 (ru) * | 2012-03-20 | 2014-09-10 | федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е.Жуковского и Ю.А.Гагарина" (г.Воронеж) | Способ определения отклонения угла наклона плоскости поляризации оптического излучения |
-
1976
- 1976-05-24 SU SU762363978A patent/SU744294A1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2527654C2 (ru) * | 2012-03-20 | 2014-09-10 | федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е.Жуковского и Ю.А.Гагарина" (г.Воронеж) | Способ определения отклонения угла наклона плоскости поляризации оптического излучения |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Azzam | Division-of-amplitude photopolarimeter (DOAP) for the simultaneous measurement of all four Stokes parameters of light | |
| CN102426058B (zh) | 一种静态干涉成像偏振仪及获得目标的偏振信息的方法 | |
| US10228287B2 (en) | Measuring polarisation via a gating frequency | |
| US6927853B2 (en) | Method and arrangement for optical stress analysis of solids | |
| Voloshin et al. | Automated measurement of birefringence: development and experimental evaluation of the techniques | |
| JPS5590843A (en) | Method of measuring contaminated gas | |
| US5517022A (en) | Apparatus for measuring an ambient isotropic parameter applied to a highly birefringent sensing fiber using interference pattern detection | |
| SU744294A1 (ru) | Способ измерени изменений азимута плоскости пол ризации светового излучени | |
| KR100336696B1 (ko) | 편광 분석장치 및 편광 분석방법 | |
| KR101091967B1 (ko) | 적분형 광검출기를 사용한 푸리에 계수 측정법 | |
| Vishnyakov et al. | Measuring the angle of rotation of the plane of polarization by differential polarimetry with a rotating analyzer | |
| Semel | A proposal for a solar magnetograph | |
| CN101561317B (zh) | 一种高精度自动测量目标对传输光束偏振态影响的系统 | |
| SU800625A1 (ru) | Способ определени механическихНАпР жЕНий B издЕли Х из диэлЕКТРи-чЕСКиХ МАТЕРиАлОВ | |
| SU895200A1 (ru) | Способ измерени параметров электронного пучка или плазмы | |
| SU693176A1 (ru) | Способ эллипсометрического контрол фазовой пластины | |
| SU412502A1 (ru) | Фотоэлектрический регистратор оптической разности хода | |
| SU843571A1 (ru) | Способ измерени нейтронных спектров | |
| RU2019796C1 (ru) | Устройство для измерения поляризационного состава излучения в реальном масштабе времени | |
| Kudenov et al. | Snapshot imaging Mueller matrix instrument | |
| SU414538A1 (ru) | ||
| JP2679810B2 (ja) | 光波長測定装置 | |
| Masetti et al. | Development and test of a new grating-polarimeter and its application in ellipsometric measurements | |
| Chang et al. | Error analysis of FLC polarization imager in full polarization state with wide spectrum | |
| RU2193168C2 (ru) | Способ измерения степени поляризации |