Изобретение относитс к неразруша щему контролю и может быть использовано дл контрол качества склейки неметаллических покрытий с металлическими основани ми. Известны ультразвуковой теневой импедансный и другие способы дефектоскопии , используемые дл контрол качества приклейки неметаллических покрытий к металлу 1 . Недостатками этих способов вл ютс необходимость двухстороннего , доступа к контролируемому изделию у первого или возможность контрол изделий с жесдкими покрыти ми небольши толщин у второго и . Наиболее близким к предлагаемому вл етс ультразвуковой и пульсный зеркально-теневой способ дефектоскоПИИ , заключающийс в том, что в контролируемом изделии возбуждают с помощью излучател ультразвуковые колебани , принимают с помощью прием ника донный сигнал и по ослаблению его амплитуды суд т о наличии дефекта 2 . Недостатком Известного способа в л етс невозможность контрол двухслойных изделий, скорость распростра нени ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к его вводу слое которых больше, чем в верхнем из-за сложности разделени в времени ультразвуковых колебаний, распростран ющихс пр мо по покрытию, и донного сигнала. Цель изобретени - возможность контрол двухслойных изделий, скорость распространени ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к его эводу слое которых больше,чем в верхнем. Поставленна цель достигаетс тем, что измер ют скорость распространени ультразвука в нижнем слое, а рассто ние между излучателем и приемником выбирают из соотношени L - рассто ние между излугде . чателем и приемником; h. - толщина покрыти ; С„ , Ц - скорости распространени ультразвуковых колебани впокрыти х и материале основани соответственно f,, - длительность эондирукще го импульса-. Способ осуществл етс следух цим образом. Измер ют скорость ультразвуковых колебаний в материале основани . Излучатель и приемник устанавливают на поверхности двухслойного издели со стороны покрыти , имеющего скорость распространени ультразвукоках колебаний меньшую, чем скорость распространени ультразвуковых колебаний в основании на рассто нии L, выбранном из указанного выще соотношени . Сканируют по поверхности покрыти системой излучатель-приемник, возбуж да при этом с помощью излучател ультразвуковые колебани в изделии и принима с помощью приёмника донный сигнал, и по ослаблению его амплитуды суд т о наличии дефекта. Возбужденные в двухслойном изделии ультразвуковые колебани могут прийти к приемнику или пр мо по покрытию , или пройд , сквозь покрытие в основание, отразившись от его противоположной поверхности , и пройд обратно сквозь основание в покрытие Размещение излучател и приемника на рассто нии L, выбранном из указан ного выше соотношени , позвол ет четко разделить во времени два этих сигнала, так как донный сигнал в это случае приходит к приемнику первым, что позвол ет регистрировать его ослабление. Соотнесение дл определени L получено путем сравнени времени распространени сигнсшов в обоих случа х . Таким образом, использование пред лагаемого способа позвол ет осуществл ть контроль двухслойных изделий, у которых скорость распространени ультразвуковых колебаний в покрытии меньше скорости распространени ультразвуковых колебаний в основании при одностороннем доступе к контролируемому изделию. Формула изобретени Ультразвуковой импульсный зеркально-теневой способ дефектоскопии, заключактщйс в том, что в контролируемом изделии возбуждают с помощью излучател ультразвуковые колебани , принимают с помощью приемника донный сигнал и по ослаблению его амплитуды суд т о наличии дефекта, отличающийс тем, что, с целью возможности контрол двухслойных изделий , скорость распространени ультразвуковых колебаний в нижнем по отношению к их вводу слое которых больше , чем в верхнем; измер ют скорость распространени ультразвука в нижнем слое, а рассто ние между излучателем и приемником выбирают из соотношени H-tr Сп 1 1 Сп L -.рассто ние между излучателем и приемником; h - толщина покрыти ; С ,-Cj, - скорость распространени ультразвуковых колебаний в покрытии и материале, основани соответственно; tj, - длительность зондирующего импульса. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Приборы дл неразрушакицего контрол качества материалов и изделий. Справочник. М., Ма111иностроение, 1976, т. 2, с. 254-278.