SU828040A1 - Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness - Google Patents

Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness Download PDF

Info

Publication number
SU828040A1
SU828040A1 SU792777823A SU2777823A SU828040A1 SU 828040 A1 SU828040 A1 SU 828040A1 SU 792777823 A SU792777823 A SU 792777823A SU 2777823 A SU2777823 A SU 2777823A SU 828040 A1 SU828040 A1 SU 828040A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
detector
radiometric
flaw detector
variable thickness
memory
Prior art date
Application number
SU792777823A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Игорь Анатольевич Габрусенко
Феликс Михайлович Завьялкин
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институтэлектронной Интроскопии Притомском Ордена Октябрьской Революциии Ордена Трудового Красного Знамениполитехническом Институте Им.C.M.Кирова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институтэлектронной Интроскопии Притомском Ордена Октябрьской Революциии Ордена Трудового Красного Знамениполитехническом Институте Им.C.M.Кирова filed Critical Научно-Исследовательский Институтэлектронной Интроскопии Притомском Ордена Октябрьской Революциии Ордена Трудового Красного Знамениполитехническом Институте Им.C.M.Кирова
Priority to SU792777823A priority Critical patent/SU828040A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU828040A1 publication Critical patent/SU828040A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

ход которого соединен с управл ющим входом детектора излучени , источник опорного напр жени , введены запоминающее устройство (ЗУ), ключ и датчик времени прохождени  контролируемого издели  в поле детектора. Вход ЗУ соединен через ключ с выходом детектора, выход-с входом управл ющего усилител , а датчик времени прохождени  контролируемого издели  - со сканирующим устройством и ключом.the stroke of which is connected to the control input of the radiation detector, the reference voltage source, a memory device (memory), a key, and a transit time sensor of the monitored product in the field of the detector are entered. The memory input is connected via a key to the output of the detector, the output to the input of the control amplifier, and the sensor for the passage of the monitored product with a scanning device and a key.

На чертеже показана структурна  схема дефектоскопа. Он содержит источник ионизирующего излучени  1, сканирующее устройство 2, датчик 3 времени прохождени  зопы ожидаемого дефекта в поле зрени  детектора излучени  4, ключ 5, соедин ющий детектор излучени  с ЗУ 6, управл ющий усилитель 7, вход которого соединен с выходом ЗУ, а выход - с управл ющим входом детектора, линейный интенсиметр 8, регистратор 9 и источник опорного напр жени  10.The drawing shows a structural diagram of the flaw detector. It contains an ionizing radiation source 1, a scanning device 2, a sensor 3 for passing an expected defect in the field of view of the radiation detector 4, a switch 5 connecting the radiation detector to the memory 6, the control amplifier 7, whose input is connected to the output of the memory, and the output - with the control input of the detector, the linear intensity meter 8, the recorder 9 and the source of the reference voltage 10.

В сканирующем устройстве установлено контролируемое изделие И.The scanned device is installed controlled product I.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Излучение от радиоактивного источника 1, пройд  через контролируемое изделие И, падает на детектор излучени  4, возбужда  импульсы напр жени , которые усредн ютс  по времени линейным интепсиметром. Их среднее значение отображаетс  регистрирующим устройством 9. Выходное напр жение детектора 4 через ключ 5 подаетс  также на ЗУ 6, величина посто нной составл ющей напр жени  сравниваетс  с опорным напр жением источника 10. Их разность усиливаетс  усилителем 7, управл ющим коэффициентом передачи детектора . Сканирующее устройство перемещает изделие таким образом, что в поле зрени  детектора периодически по вл етс  зона, в которой ожидаетс  дефект (координаты этой зоны известны). Во врем  прохождени  бездефектных участков в поле зрени  детектора 4 ключ 5 замкнут. При этом цепь: ЗУ 6, усилитель 7 с источником опорного напр жени  10, поддерживает среднее значение выходного напр жени  детектораThe radiation from the radioactive source 1, after passing through the controlled product I, falls on the radiation detector 4, exciting voltage pulses that are averaged over time by a linear integrator. Their average value is displayed by the registering device 9. The output voltage of the detector 4 through the key 5 is also fed to the memory 6, the value of the DC component is compared with the reference voltage of the source 10. Their difference is amplified by the amplifier 7 controlling the transfer coefficient of the detector. The scanning device moves the product in such a way that the area in which the defect is expected to appear in the field of view of the detector (the coordinates of this area are known). During the passage of defect-free areas in the field of view of the detector 4, the key 5 is closed. The circuit: memory 6, amplifier 7 with a source of reference voltage 10, maintains the average value of the output voltage of the detector

равным опорному с точностью до ошибок регулировани . Во врем  прохождени  в поле зрени  детектора зоны ожидаемого дефекта датчик времени 3, синхронизированный с работой сканирующего устройства, отключает ЗУ 6 ключом 5. Поскольку размеры дефекта малы, а изменение толщины за врем  прохождени  дефекта незначительно , то искажени ми сигнала от дефекта,equal to the reference, up to control errors. During the passage in the field of view of the detector of the zone of the expected defect, the time sensor 3 synchronized with the operation of the scanning device disables the charger 6 with the key 5. Since the dimensions of the defect are small and the thickness change during the passage of the defect is insignificant,

0 вызванными изменением толщины, можно пренебречь. Цепь: ЗУ усилитель, отключающа с  на врем  прохождени  дефекта, не вносит искал ений в сигнал. Описываемое устройство позвол ет повысить точность определени  параметров дефектов, св занных с недопрессовкой деталей в изделии и осуществить автоматический неразрушающий контроль указанных дефектов.0 caused by a change in thickness, can be neglected. Circuit: the memory amplifier, which is disconnected for the duration of the defect, does not cause any distortions in the signal. The described device makes it possible to increase the accuracy of determining the parameters of defects associated with under-pressing of parts in the product and to carry out automatic non-destructive testing of these defects.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 313081, кл. G 01В 15/02, 1962.1. USSR Author's Certificate No. 313081, cl. G 01 B 15/02, 1962. 2.Дефектоскопи , 1975, № 6, с. 48 (прототип ).2. Defectoscopy, 1975, No. 6, p. 48 (prototype).
SU792777823A 1979-06-04 1979-06-04 Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness SU828040A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792777823A SU828040A1 (en) 1979-06-04 1979-06-04 Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792777823A SU828040A1 (en) 1979-06-04 1979-06-04 Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU828040A1 true SU828040A1 (en) 1981-05-07

Family

ID=20832720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792777823A SU828040A1 (en) 1979-06-04 1979-06-04 Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU828040A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5757246A (en) Detecting and measuring apparatus for flaw
JPS6465460A (en) Space filter type speed measuring instrument
US2511564A (en) Distortion analysis
US4031742A (en) Leak detector using mass concentration gauge
GB922035A (en) Infrared dimensional gauge
US2882785A (en) Photoelectric grading instrument
US3475681A (en) Apparatus display system for providing plural indications and threshold indications
SU828040A1 (en) Radiometric flaw detector for checking articles with variable thickness
RU2636256C2 (en) Method for measuring power and frequency of laser radiation pulses and device for its implementation
JPS56168107A (en) Surface inspecting device
JPS5773605A (en) Imeasuring device for height of reinforcement of weld of internal-surface
SU1536297A2 (en) Magnetic field converter
SU1532858A1 (en) Thermal flaw detector
SU145033A1 (en) Method for determining stresses and inhomogeneities in semiconductor crystals
SU1520424A1 (en) Thermal flaw detector
SU1573409A1 (en) Apparatus for flaw detection of articles from ferromagnetic materials
SU926533A1 (en) Device for welded joint flaw classification in radiation inspection
SU485368A1 (en) Radiometric flaw detector
SU670879A1 (en) Device for magnetic-noise inspection of ferromagnetic materials
SU1583827A1 (en) Apparatus for magnetic inspection of ferromagnetic articles
SU1597709A1 (en) Apparatus for determining physico-mechanical properties of articles from ferromagnetic materials
SU1002947A2 (en) Device for measuring width of crack in steel tape
SU845083A1 (en) Ultrasonic flaw detector
RU2034235C1 (en) Method for m depth of flaw in ferromagnetic object and device for implementation of said method
SU484453A2 (en) Fluxgate flaw detector