SU785807A1 - Tester for logic devices - Google Patents
Tester for logic devices Download PDFInfo
- Publication number
- SU785807A1 SU785807A1 SU782703478A SU2703478A SU785807A1 SU 785807 A1 SU785807 A1 SU 785807A1 SU 782703478 A SU782703478 A SU 782703478A SU 2703478 A SU2703478 A SU 2703478A SU 785807 A1 SU785807 A1 SU 785807A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- probe
- indicator
- inverter
- additional
- indicators
- Prior art date
Links
Description
(54) ПРОБНИК ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЛОГИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ(54) PROBE FOR CHECKING LOGICAL DEVICES
ff
Изобретение относитс к электроиэмерительной технике и может быть использовано при создании устройств ,; дл проверки и отладки вычислительных устройств на интегральных микросхемах .The invention relates to electrical measuring equipment and can be used to create devices; for testing and debugging computing devices on integrated circuits.
Известен логический пробник, содержащий контактнью зонды и.последовательно соединенные эталонную микросхему ) элементы сравнени , элемент ИЛИ, кнопочный перек.шочатель, триггер и индикатор 11 .A logical probe is known that contains contact probes and, successively connected, a reference chip, a comparison element, an OR element, a push button switch, a trigger, and an indicator 11.
Недостатком этого устройства вл етс сложность кинематической зонда и невысока надежность и оперативность проверки.A disadvantage of this device is the complexity of the kinematic probe and the low reliability and speed of verification.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс пробник дл проверки логических устройств содержащий щуп, выход которого соединен с входом делител напр жени , и к одному из выходов которого подключены последовательно соединенные первый инвертор, второй инвертор и индикатор низкого потенциала, а к другому выходу - последовательно соединенные третий инвертор и индикатор высокого потенциала, и шину питани , соединенную с входами питани индикаторов 2.Closest to the invention, the technical entity is a probe for testing logic devices containing a probe whose output is connected to the input of a voltage divider, and to one of the outputs of which are connected in series the first inverter, the second inverter and the low potential indicator, and the other output a third inverter and a high potential indicator connected in series, and a power bus connected to the power inputs of the indicators 2.
Недостатком этого устройства вл етс низка достоверность обнаружени последовательности импульсов и невозможность обнаружени одимоч5 ных и редко следующих импульсов.A disadvantage of this device is the low reliability of the detection of a sequence of pulses and the impossibility of detecting single and rarely following pulses.
Целью изобретени вл етс повышение надежности пробника в работе и расширение его функциональных возможностей .The aim of the invention is to increase the reliability of the probe in operation and expand its functionality.
10 Дл достижени этой цели пробник дл проверки логических устройств, содержащий щуп, выход которого соединен с входом делител напр жени , к одному из выходов которого10 To achieve this goal, a probe for testing logic devices containing a probe whose output is connected to the input of a voltage divider, to one of the outputs of which
5 подключены последовательно соединенные первый инвертор, второй инвертор и индикатор низкого потенциала, а к другому выходу - последовательно го , единенные третий инвертор и мндика20 тор высокого потенциала, и шину питани , соединенную с входами питани индикаторов, снабжен трем дополнительными индикаторами и двум триггерами , счетный вход одного из которых соединен с выходом щупа, его единичный выход - с входом первого дополнительного индикатора, а нулевой выход - с входами второго дополнцтель ,ного индикатора и другого триггера,5 are connected in series the first inverter, the second inverter and the low potential indicator, and the other output is connected in series, the unified third inverter and the high potential terminal and the power bus connected to the indicator power inputs are equipped with three additional indicators and two triggers, counting the input of one of which is connected to the output of the probe, its single output is connected to the input of the first additional indicator, and the zero output is connected to the inputs of the second complementary indicator and another trigger,
30 .выход которого соединен с входом30. The output of which is connected to the entrance
третьего дополнительного индикатора, пр|1чем входы питани дополнительных индикаторов соединены с шиной питаниof the third additional indicator, when | the power inputs of the additional indicators are connected to the power bus
На чертеже представлена структурна электрическа схема устройства. Оно содержит щуп 1, делитель напр жени 2, первый инвертор 3, второй инвертор 4, третий инвертор 5, триггеры 6 и 7, индикатор 8 низкого по тенциала , индикатор 9 высокого потенциала , первый дополнительный индикатор 10, второй дополнительный индикатор 11, третий дополнительный индикатор 12 и шину 13 питани .The drawing shows a structural electrical circuit of the device. It contains a probe 1, voltage divider 2, first inverter 3, second inverter 4, third inverter 5, triggers 6 and 7, low potential indicator 8, high potential indicator 9, first additional indicator 10, second additional indicator 11, third additional indicator 12 and power bus 13.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
С провер емого устройства на пробник подаетс питание Ер(+5В), при этом должен загоретьс один из двух, дополнительных индикаторов 10 и 11 единичного или нулевого состо ний первого триггера 6. Индикаторы 8 и 9 низкого и высокого потенциалов не должны гореть, так как инверторы 4 и 5 закрыты при неподключенном к провер емому устройству щупе пробника. Третий дополнительный индикатор 12 единичного состо ни второго триггера 7 может гореть или не гореть в зависимости от состо ни этого триггера . В данном пробнике наличие индикации именно двух выходов триггера 6 позвол ет однозначно судить о присутствии или отсутствии напр жени питани в провер емом устройстве .From the tested device to the probe, power is supplied to Ер (+ 5V), one of the two, additional indicators 10 and 11 of the single or zero state of the first trigger 6 should light up. The indicators 8 and 9 of low and high potentials should not be lit, since Inverters 4 and 5 are closed when probe probe is not connected to the device under test. The third additional indicator 12 of the single state of the second trigger 7 may or may not light up depending on the state of this trigger. In this probe, the presence of an indication of exactly two outputs of the trigger 6 allows one to unambiguously judge the presence or absence of the supply voltage in the tested device.
Убедившись в наличии напр жени питани в провер емом устройстве по дополнительным индикаторам 10 или 11 выходов первого триггера 6, можно провер ть логическое состо ние интересующих нас микросхем путем касани щупом соответствующих выводов этих микросхем.Having ascertained the presence of supply voltage in the device under test using the additional indicators 10 or 11 of the outputs of the first trigger 6, one can check the logical state of the chips of interest to us by touching the corresponding pins of these chips with the stylus.
В случае низкого потенциала (00 ,8) В на контакте провер емой микросхемы инвертор 3 закрываетс , открыва тем самым инвертор 4, что вызывает , загорание индикатора 8 низкого потенциала. Инвертор 5 по-прежнему остаетс закрытым, и индикатор 9 высокого потенциала не горит.In the case of a low potential (00, 8) B on the contact of the tested chip, the inverter 3 closes, thereby opening the inverter 4, which causes the low potential indicator 8 to light up. Inverter 5 is still closed and high potential indicator 9 is off.
При наличии высокого потенциала (2-5) В на провер емом контакте, открываетс инвертор 5 и загораетс индикатор 9 высокого потенциала/ инвертор 3 остаетс открытым, а инвертор 4 - закрытьам и индикатор 8 низкого потенциала не горит.If there is a high potential (2-5) V at the tested contact, the inverter 5 opens and the high potential indicator 9 / inverter 3 lights up and the inverter 4 closes and the low potential indicator 8 does not light up.
Если на провер емом выводе присутствует последовательность импульсов ) то триггеры 6 и 7 начнут перебрасыватьс , и дополнительные индикаторы 10, 11 и 12 будут зажигатьс и гаснуть в соответствии с логическими состо ни ми этих триггеров (при достаточно высокой частоте следовани импульсов глаз будет воспринимат одновременное свечение дополнительныIf a sequence of pulses is present on the checked output, then the triggers 6 and 7 will begin to be thrown, and the additional indicators 10, 11 and 12 will light up and go out according to the logical states of these triggers (at a sufficiently high pulse frequency the eyes will see a simultaneous luminescence additional
индикаторов 10, 11 и 12). В этом случае будут светитьс и индикаторы 8 и 9, но индикатор 8 низкого потенциала будет светитьс значительно рче jiieM индикатор 9 высокого потенциала, так как в последовательности импуль сов большее врем присутствует низки потенциал. В случае обратной пол рности импульсов рче будет светитьс индикатор 9 высокого потенциала. Таким образом, пробник позвол ет фиксировать не только последовательность импульсов, но и определ ть их пол рность .indicators 10, 11 and 12). In this case, the indicators 8 and 9 will also be illuminated, but the low potential indicator 8 will be much shorter than the high potential indicator 9, since in the pulse train a longer time is present. In the case of the opposite polarity of the pulses, the high potential indicator 9 will be illuminated. Thus, the probe makes it possible to fix not only a sequence of pulses, but also to determine their polarity.
В случае ожидани по влени одиночного импульса в определенный момент времени на провер емом выводе, например проверка генератора одиночных импульсов или по вление какоголибо признака после выполнени соответствующей операции, необходимо надежно коснутьс этого вывода, о чем будет свидетельствовать свечение индикатора низкого 8 или высого 9 потенц алов в зависимости от пол рности ожидаемого импульса, и заметить пор док свечени дополнительной индикации единичных выходов индикаторов 10 и 12 триггеров 6 и 7 соответственно , после этого, в контролируемый момент времени нуж«о лишь зафиксировать изменени в свечении индикации триггеров б и 7, чтобы судить о количестве прошедших импульсов.In case of waiting for the appearance of a single pulse at a certain point in time at the inspected output, for example, checking a single pulse generator or the appearance of any sign after performing the corresponding operation, it is necessary to reliably touch this output, as indicated by the glow of the low 8 or high 9 potential indicator. depending on the polarity of the expected pulse, and notice the order of luminescence of the additional indication of the single outputs of the indicators 10 and 12 of the flip-flops 6 and 7, respectively, after this th, in controlled time nuzh "of a change in the luminescence capture triggers the indicating and 7 b to judge the amount of transmitted pulses.
Таким образом, данный пробник позвол ет обнаружива:ть одиночные лмпульсы и их пол рность, а также группу импульсов в количестве, не кратном четырем.Thus, this probe can detect: single single pulses and their polarity, as well as a group of pulses in an amount not a multiple of four.
Кроме того, пробник позвол ет зафиксировать изменение уровн потенциала в контролируемый момент времени, при этом происходит не только возможное изменение свечени индикации триггеров 6 и 7, но и смена свечени индикаторов низкого потенциала на высокий (или наоборот), а по изменению свечени индикации триггеров б и 7 можно судить о.том, сколько раз происходила смена уровней потенциало в контролируемый момент времени.In addition, the probe makes it possible to fix the change in the potential level at a controlled time, and not only the possible change in the glow of the trigger 6 and 7, but also the change of the glow of the low potential indicators to high (or vice versa), and by changing the glow of the trigger indication will occur. and 7 it can be judged by how many times there was a change in the potential levels at a controlled time.
Использование пробника обеспечит повышение надежности и оперативности контрол работы провер емых микросхе и увеличение числа контролируемых параметров, что расшир ет его функциональные возможности.The use of a probe will provide an increase in the reliability and efficiency of monitoring the operation of the microcircuit being tested and an increase in the number of monitored parameters, which expands its functionality.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782703478A SU785807A1 (en) | 1978-12-29 | 1978-12-29 | Tester for logic devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782703478A SU785807A1 (en) | 1978-12-29 | 1978-12-29 | Tester for logic devices |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU785807A1 true SU785807A1 (en) | 1980-12-07 |
Family
ID=20801382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782703478A SU785807A1 (en) | 1978-12-29 | 1978-12-29 | Tester for logic devices |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU785807A1 (en) |
-
1978
- 1978-12-29 SU SU782703478A patent/SU785807A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3838339A (en) | Logic test probe and indicator circuit | |
US4145651A (en) | Hand-held logic circuit probe | |
US3628141A (en) | Self-contained probe for delineating characteristics of logic circuit signals | |
US3833853A (en) | Method and apparatus for testing printed wiring boards having integrated circuits | |
KR100440366B1 (en) | Testable Circuits and Test Methods | |
SU785807A1 (en) | Tester for logic devices | |
US4009437A (en) | Net analyzer for electronic circuits | |
DE69012954D1 (en) | Method and device for oscillator-like error detection in a level-sensitive query design system. | |
CA1172698A (en) | Testing of integrated circuits | |
SU857938A1 (en) | Device for testing electromagnetic switching apparatus for durability | |
US10139448B2 (en) | Scan circuitry with IDDQ verification | |
SU938221A1 (en) | Multi-function logic probe | |
SU382983A1 (en) | AUTOMATIC TEST DEVICE | |
SU951311A1 (en) | Logic circuit state analysis device | |
SU1709318A1 (en) | Device for checking digital units | |
SU761934A1 (en) | Phase shift digital meter | |
GB2058366A (en) | Improvements in or Relating to the Testing of Integrated Circuits | |
SU783726A1 (en) | Device for testing integrated microcircuits with memory | |
SU673940A1 (en) | Arrangement for reliability testing of semiconductor diode terminals | |
SU920788A1 (en) | Device for registering equipment operating time | |
SU1552137A1 (en) | Apparatus for checking cmos logic circuits | |
SU687422A1 (en) | Device for automatic diagnosis of radioelectronic apparatus units | |
SU646279A1 (en) | Arrangement for checking integrated circuit contacting | |
SU779942A1 (en) | Logic circuit testing device | |
SU1108373A1 (en) | Probe for checking logic devices in emitter-coupled integrated circuits |