SU761849A1 - Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 - Google Patents
Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 Download PDFInfo
- Publication number
- SU761849A1 SU761849A1 SU772517136A SU2517136A SU761849A1 SU 761849 A1 SU761849 A1 SU 761849A1 SU 772517136 A SU772517136 A SU 772517136A SU 2517136 A SU2517136 A SU 2517136A SU 761849 A1 SU761849 A1 SU 761849A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- fixed
- interferometer
- perot interferometer
- fabri
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к оптическим измерительным приборам и может быть использовано в оптическом приборостроении, в лазерной технике, в метрологии и др.
Известен интерферометр Фабри-Перо с регулируемым параметром (сканирующие интерферометры Фабри-Перо), содержащий корпус с полупрозрачным зеркалом и подвижную обойму, входящую в корпус, со вторым полупрозрачным зеркалом.
Расстояние между зеркалами изменяется путем поступательного перемещения подвижного зеркала, размещенного в корпусе, при этом зеркала должны оставаться строго параллельными друг другу (с ошибкой 15 менее 1" или 0,07 мкм) [1].
Недостатком таких интерферометров является трудность сохранения параллельности зеркал при сканировании.
Наиболее близким к изобретению яв- 20 ляется интерферометр Фабри-Перо с регулируемым параметром, содержащий корпус с закрепленным в нем полупрозрачным зеркалом, подвижную относительно корпуса обойму, в которой закреплено второе по- 25 лупрозрачное зеркало, расположенное параллельно первому, и узел компенсации непараллельное™ [2].
Недостаткам этого интерферометра является сложность конструкции и юстировки 30
2
электронно-оптических, пьезоэлектрических и механических узлов, входящих в состав интерферометра.
Целью изобретения является упрощение 5 конструкции и юстировки интерферометра.
Указанная цель достигается’ тем, что в известном интерферометре Фабри-Перо с регулируемым параметром, содержащим корпус с закрепленным в нем полупрозрач10 ным зеркалам, подвижную относительно корпуса обойму, в которой закреплено второе полупрозрачное зеркало, расположенное параллельно первому, и узел компенсации непараллельное™ зеркал, узел компенсации выполнен в виде двух линз, закрепленных в обойме так, что светоделительная поверхность полупрозрачного зеркала находится в общем фокусе линз.
На чертеже изображен интерферометр, продольный разрез.
Интерферометр имеет корпус 1, в котором закреплено полупрозрачное зеркало 2, подвижную обойму 3, соосно входящую в корпус. В обойме закреплены линза 4, второе полупрозрачное зеркало 5 и вторая линза 6. Зеркало 5 находится в общем фокусе линз 4 и 6. Все оптические элементы и арматура симметричны относительно оптической оси интерферометра. Обойма имеет возможность перемещаться в корпусе,
761849
3
обеспечивая изменение параметра интерферометра.
Устройство работает следующим образом.
Коллимированный пучок 7 света входит в интерферометр параллельно его оптической оси, проходит частично через зеркало 2 и фокусируется линзой 4 на ' светоделительную поверхность полупрозрачного зеркала 5, при этом часть лучей проходит через него, а часть возвращается обратно и, претерпев несколько отражений от зеркал 2 и 5, проходит сквозь зеркало 5 и интерферирует с той частью лучей, которая прошла через зеркало 5, не претерпев отражений. Все лучи, прошедшие через зеркало 5, коллимируются линзой 6, имеющей с линзой 4 общий фокус, совпадающий со светоделптельной плоскостью зеркала 5, и выходит из интерферометра в виде пучка параллельных лучей. Параметр / интерферометра, т. е. расстояние между светоделительными поверхностями зеркал 2 и 5, изменяется при перемещении обоймы 3 вдоль оси.
Перекос полупрозрачного зеркала 5 относительно оптической оси, вызванный неточностью изготовления корпуса и обоймы, практически не изменяет направления отраженных от зеркала 5 лучей и не нарушает распределения фаз ввиду малых размеров участка зеркала 5, на котором линза 4 сфокусирует пучок. Разность оптических длин лучей, отраженных от противоположных краев сфокусированного пучка,будет много меньше перекоса зеркал.
Так, например, если перекос зеркала 5 относительно зеркала 2 составит даже 0,63 мкм (длина волны Не—Не лазера) и, следовательно, разность фаз лучей несфокусированного пучка на краях зеркала достигнет 2п, то при сфокусированном пучке (когда его размеры, например, в 100 раз меньше несфокусированного) разность фаз составит всего 2л/100 и, следовательно, лучи будут эффективно интерферировать.
Устройство может работать в отраженном свете, для чего необходимо заменить полупрозрачное зеркало 5 зеркалом со 100%-ным отражением, а линзу 6 убрать.
Выполнение узла компенсации непараллельности зеркал в виде двух линз, закрепленных в подвижной обойме так, чтобы светоделительная поверхность полупрозрачного зеркала, расположенного в обойме, находилась в общем фокусе линз, позволяет упростить конструкцию и технологию изготовления, а также сборку и юстировку интерферометра. Время, затрачиваемое на проектирование, изготовление и юстировку, сокращается в 5—10 раз благодаря тому, что узел компенсации представляет собой чисто оптическую систему без применения электроники.
Claims (1)
- Формула изобретенияИнтерферометр Фабри-Перо с регулируемым параметром, содержащий корпус с закрепленным в нем полупрозрачным зеркалом, подвижную относительно корпуса обойму, в которой закреплено второе полупрозрачное зеркало, расположенное параллельно первому, и узел компенсации непараллельности зеркал, отличающи йс я тем, что, с целью упрощения его конструкции и юстировки, узел компенсации выполнен в виде двух линз, закрепленных в обойме так, что светоделительная поверхность второго полупрозрачного зеркала находится в общем фокусе двух линз.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772517136A SU761849A1 (ru) | 1977-08-15 | 1977-08-15 | Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772517136A SU761849A1 (ru) | 1977-08-15 | 1977-08-15 | Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU761849A1 true SU761849A1 (ru) | 1980-09-07 |
Family
ID=20721951
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772517136A SU761849A1 (ru) | 1977-08-15 | 1977-08-15 | Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU761849A1 (ru) |
-
1977
- 1977-08-15 SU SU772517136A patent/SU761849A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2150770B1 (en) | Optical distance sensor | |
KR101232204B1 (ko) | 등경로 간섭계 | |
EP2290318B1 (en) | Apparatus for OCT imaging with axial line focus for improved resolution and depth of field | |
US7466427B2 (en) | Vibration-resistant interferometer apparatus | |
US6084672A (en) | Device for optically measuring an object using a laser interferometer | |
Ruprecht et al. | Confocal micro-optical distance sensor: principle and design | |
US7889354B2 (en) | Interferometric measuring device | |
JPH01284704A (ja) | 表面の微細構造を測定する方法とその装置 | |
JP2010237183A (ja) | 低コヒーレンス干渉計及び光学顕微鏡 | |
JPS61195317A (ja) | 干渉スペクトロメータ | |
JPH043806B2 (ru) | ||
JPH083576B2 (ja) | 光学式結像装置及びマスクパタ−ン結像装置 | |
SU761849A1 (ru) | Интерферометр фабри-перо с регулируемым параметром 1 | |
Sternberg et al. | A new type of Michelson interference spectrometer | |
JP2004294155A (ja) | 屈折率及び厚さの測定装置ならびに測定方法 | |
US3740150A (en) | Surface measurement by interferometer | |
JPH0789052B2 (ja) | 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計 | |
US3162713A (en) | Interference microscope | |
US2734419A (en) | Interferometer | |
JPS6242327Y2 (ru) | ||
RU2815604C1 (ru) | Оптическая система формирования изображения кодирующей структуры измерительной шкалы | |
SU848996A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качествапОВЕРХНОСТЕй,ОпРЕдЕлЕНи АбЕРРАцийКРупНОгАбАРиТНыХ ОпТичЕСКиХ элЕМЕНТОВи иССлЕдОВАНи пРОзРАчНыХ НЕОдНОРОдНОСТЕй | |
JPS6117908A (ja) | 3次元形状測定装置 | |
SU842398A1 (ru) | Устройство дл контрол плоскостностипРОзРАчНыХ дЕТАлЕй | |
US3402633A (en) | Long path multiple beam interferometer |