SU754522A1 - Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1 - Google Patents

Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1 Download PDF

Info

Publication number
SU754522A1
SU754522A1 SU782632709A SU2632709A SU754522A1 SU 754522 A1 SU754522 A1 SU 754522A1 SU 782632709 A SU782632709 A SU 782632709A SU 2632709 A SU2632709 A SU 2632709A SU 754522 A1 SU754522 A1 SU 754522A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
objective lens
electrons
electron microscope
multiplier
secondary electrons
Prior art date
Application number
SU782632709A
Other languages
English (en)
Inventor
Ivan F Anaskin
Evgenij V Ageev
Pavel A Stoyanov
Original Assignee
Ivan F Anaskin
Evgenij V Ageev
Pavel A Stoyanov
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ivan F Anaskin, Evgenij V Ageev, Pavel A Stoyanov filed Critical Ivan F Anaskin
Priority to SU782632709A priority Critical patent/SU754522A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU754522A1 publication Critical patent/SU754522A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

Изобретение относится к электронной микроскопии, в частности, к просвечивающим растровым электронным микроскопам. с
Известен растровый электронный микроскоп, содержащий осветительную систему , фокусирующую систему с объектодержателем, расположенным в зазоре между полюсными наконечниками объективной линзы, отклоняющую ’ систему, систему регистрации сигналов с объекта, включающую детекторы отраженных, вторичных электронов и вилеоконтролъное устройство. -
. 1
В данном электронном микроскопе изображение во вторичных электронах формируется -благодаря их сбору с по-1 мощью фокусирующего магнитного поля, соЬдаваемого соленоидом, расположен- ; ный в магнитопроводе объективной линзы. Каналы полюсных наконечников которой имеют сравнительно большие размеры, обусловленные размерами размещенного в них соленоида М· <
Такое конструктивное выполнение объективной линзы является причиной возникновения сферических и хроматических аберраций, в связи с чем данный прцбор обладает существенными ;
2
недостатками - сравнительно .низкой разрешающей способностью.
Наиболее близким по технической сущности является просвечивающий растровый, электронный микроскоп, содержащий осветительную и фокусирующие системы, объектодержатель, расположенный в зазоре между полюсными наконечниками объективной линзы, от клоняющую систему,детекторы прошедших, вторичных и отраженных электронов и видеоконтрольное устройство.
В устройстве изображение во вторичных электронах формируется путем их сбора с помощью магнитного поля объективной линзы с несимметричными полюсными наконечниками рЗ .
Недостатком этого устройства является его недостаточная разрешающая способность, так как используемая в нем объективная линза с несимме тричными полюсными Наконечниками не обеспечивает полного сбора вторичных электронов и не является оптимальной в отношении аберраций.
Целью изобретения является повышение разрешающей способности просвечивающего растрового электронного
микроскопа.
3
754522
4
Указанная цель достигается тем, что в качестве объективной линзы установлен трубчатый умножитель вторичных электронов,, расположенный между объектодержателем и детектором вторичных электронов и снабженный кольцевым сцинтиллятором и проводящим экраном, изолированным друг от друга и установленными по оси микроскопа .
На чертеже показана конструктивная схема выполнения основных узлов устройства.
Устройство содержит - просвечивающий растровый электронный микроскоп, фокусирующую систему, включающую объективную линзу 1 с симметричными магнитопроводом и полюсными наконечниками 2, между которыми расположен объектодержатель 3 с исследуемым объектом. В канале маг-: нитопровода объективной линзы 1,. между детекторами вторичных 4 и отраженных электронов 5, расположены стигматор 6, отклоняющая система 7, трубчатый умножитель 8 вторичных электронов . Последний может быть выполнен из стекла или другого диэлектрика. Внутренняя поверхность умножителя покрывается слоем проводящего материала (например никеля, молибдена и др.), участвующего в создании ускоряющего поля с постоянным градиентом напряжения по высоте умножителя и обеспечивающего возникновение вто- . ричной электронной эмиссии. Трубчатый умножитель может также быть выполнен из высокосвпнцовистого стекла, имеющего коэффициент вторичной электронной эмиссии более 3.
Детектор 4 вторичных электронов, светопровод 9 которого состоит из кольцевой и цилиндрической частей, дополнительно снабжен кольцевым сцинтиллятором 10, подключенным к автономному источнику питания, и проводящим экраном -11, разделенными между собой изолирующим кольцом 12.
Наружные.поверхности кольцевого сцинтиллятора 10 и кольцевой части светопровода 9 детектора вторичных электронов, кроме их контактной поверхности, покрыты зеркально отражающим металлическим слоем для повышения эффективности сбора световых квантов. ' .
Зд объектодержателем 3 с противоположной стороны от детектора 5 отраженных 'электронов , расположен детектор 13 прошедших электронов. Все детекторы подключены к видеоконтрольному устройству.
Устройство работает следующим образом.
Первичный электронный пучок, сформированный осветительной системой,· фокусируется на объекте, размещенном в объектодержателе 3.
Выполнение входящей в фокусирующую систему объективной линзы 1 с симметричными полюсными наконечни- ками и магнитопроводом обеспечивает малые сферичеЪкие и хроматические аберрации, вносимые ею.
Посредством отклоняющей системы и магнитного поля объективной линзы 1 производится сканирование объекта сфокусированным электронным зондом. Первичный электронный пучок при падении на объект вызывает появление вторичных и обратно отраженных электронов. Все вторичные электроны, генерируемые объектом, концентрируются по оси микроскопа магнитным полем объективной линзы 1, стигматора 6, предназначенного для устранения ее остаточного астигматизма.
Из области магнитного поля объективной линзы вторичные электроны выводятся 'благодаря воздействию ускоряющего электрического поля трубчатого умножителя 8 вторичных электронов. От автономного источника питания на один конец вблизи объекта трубчатого умножителя вторичных электронов подается регулируемое напря.жение отрицательной полярности по отношению к потенциалу земли, а на другой - положительной полярности.
За счет разности потенциалов на концах трубчатого умножителя вторичных элементов он усиливает (с малым коэффициентом шумов)поток вторичных электронов и транспортирует его к детектору 4 вторичных электронов. Возможность изменения отрицательного потенциала, приложенного к концу трубчатого умножителя, позволяет производить отбор электронов .по энергиям и, тем самым, получать более полную информацию об объекте.
Ускоренные до необходимой энергии вторичные электроны попадают на кольцевой сцинтиллятор 10, где фокусируются электрическим полем, возникающим в пространстве между зеркально отражающим металлическим слоем кольцевого сцинтиллятора 10 и проводящим экраном 11, изолированными между собой кольцом 12, при подаче на кольцевой сцинтиллятор напряжения 6—' .15 кВ от автономного источника питания. Благодаря кольцевой форме сцинтиллятора 10, вокруг него создается электрическое поле, обладающее вращательной симметрией. После преобразования энергии вторичных электронов в световые кванты, последние по светопроводу 9 передаются далее на фотоэлектронный умножитель, где преобразуются в электрические сигналы.·
Предлагаемый просвечивающий растровый электронный микроскоп позволяет за счет снижения хроматических и сферических аберраций и обеспечения полного сбора вторичных электронов повысить разрешающую способ5
754522
6
ность электронного микроскопа при получении изображений во вторичных электронах до 0,2-0,25 нм.
Разрешающая способность предлагаемого микроскопа повышается также за счет исключения астигматизма, 5 вызванного несимметричностью электрического поля,сцинтиллятора.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Просвечивающий растровый электронный микроскоп, содержащий осветительную и фокусирующую системы, объектодержатель, расположенный в зазоре между полюсными наконечниками объективной линзы, отклоняющую систему, детекторы прошедших, вторичных и отраженных электронов и видеоконтрольное устройство, отличаю щи йс я тем, что, с целью повышения разрешающей способности, в канале объективной линзы установлен трубчатый умножитель вторичных электронов, расположенный между объектодержателем и детектором вторичных электронов и снабженный кольцевым сцинтиллятором и проводящим экраном, изолированным друг от друга и установленными по оси микроскопа.
SU782632709A 1978-06-21 1978-06-21 Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1 SU754522A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782632709A SU754522A1 (ru) 1978-06-21 1978-06-21 Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782632709A SU754522A1 (ru) 1978-06-21 1978-06-21 Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU754522A1 true SU754522A1 (ru) 1980-08-07

Family

ID=20771854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782632709A SU754522A1 (ru) 1978-06-21 1978-06-21 Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU754522A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4442355A (en) Device for detecting secondary electrons in a scanning electron microscope
McMullan An improved scanning electron microscope for opaque specimens
US3474245A (en) Scanning electron microscope
AU753825B2 (en) Gaseous backscattered electron detector for an environmental scanning electron microscope
US4587425A (en) Electron beam apparatus and electron collectors therefor
US4419581A (en) Magnetic objective lens for use in a scanning electron microscope
US4810879A (en) Charged particle energy analyzer
EP0293924B1 (en) Direct imaging monochromatic electron microscope
EP1288996A1 (en) Particle beam apparatus
GB2081501A (en) Device for detecting secondary electrons in a scanning electron microscope
US3717761A (en) Scanning electron microscope
SU754522A1 (ru) Просвечивающий. растровый электронный микроскоп 1
JPH0935679A (ja) 走査電子顕微鏡
US2348030A (en) Scanning type of electron microscope
US2354263A (en) Electron microscope
US4179609A (en) Point scattering detector
JPH03295141A (ja) 検出器
JP2000182558A (ja) 走査電子顕微鏡
Crewe Electron microscopes using field emission source
JPS60130044A (ja) 走査電子顕微鏡
Yanaka et al. A new ultra-high resolution TEM, EM-002B, with a unique UHR objective lens configuration
JPH10289681A (ja) 走査電子顕微鏡
JPS58920Y2 (ja) 走査電子顕微鏡
JPS6314374Y2 (ru)
SU1582226A1 (ru) Устройство дл контрол поверхностных микропотенциалов