SU750614A1 - Method and device for preparing for contact exposure - Google Patents

Method and device for preparing for contact exposure Download PDF

Info

Publication number
SU750614A1
SU750614A1 SU772439404A SU2439404A SU750614A1 SU 750614 A1 SU750614 A1 SU 750614A1 SU 772439404 A SU772439404 A SU 772439404A SU 2439404 A SU2439404 A SU 2439404A SU 750614 A1 SU750614 A1 SU 750614A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
substrate
photomask
template
vacuum
slice
Prior art date
Application number
SU772439404A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Ульрих Детлеф
Вестфаль Петер
Эскольд Дитер
Штельценмюллер Хельмут
Original Assignee
Феб Электромат (Инопредприятие)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Феб Электромат (Инопредприятие) filed Critical Феб Электромат (Инопредприятие)
Application granted granted Critical
Publication of SU750614A1 publication Critical patent/SU750614A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

1536978 Positioning photo-sensitive material ELEKTROMAT VEB 14 Jan 1977 [19 Jan 1976] 01615/77 Heading G2A A circular semi-conductor slice having a photosensitive coating, which is exposed to a template in a contact or near contact printing process, is aligned with the template by upwardly flexing the rim of the slice concentrically about its centre and pressing the flexed rim into contact with the template. As shown, slice 3 is held by vacuum on a work-table 1, which is mounted on a vacuumlockable spherical bearing 7 in a vertically movable holder 9; and is upwardly flexed at its rim by upward movement of a stepped girth ring 10, as a result of the application of vacuum to a cavity 13. A rubber sealing ring 18 may be employed to enable application of vacuum between slice 3 and template 5 during contact printing.

Description

II

Изобретение относитс  к технологии производства полупроводниковых приборов методом фотолитографии и может использоватьс  дл  повышени  качества контактного экспонировани .The invention relates to the production technology of semiconductor devices by the method of photolithography and can be used to improve the quality of contact exposure.

Известен способ подготовки к контактному экспонированию, включающий прижим подложки к фотошаблону дл  выравнивани  их поверхностей, фиксацию подложкодержател  в этом положении, совмещение их рисунков, повторный прижим подложки к фотощаблону дл  экспонировани  1.A known method of preparing for contact exposure includes attaching the substrate to the photomask to align their surfaces, fixing the substrate holder in this position, aligning their designs, and re-pressing the substrate to the photomask to expose 1.

Устройство дл  осуществлени  известного способа содержит подложкодержатель, узел фиксации подложкодержател , шаблонодержатель , узел совмещени , вакуумнопневматическую систему.A device for carrying out a known method comprises a substrate holder, a fixing unit of a substrate holder, a template holder, an assembly unit, a vacuum-pneumatic system.

Недостатком известного технического решени   вл етс  то, что при прижиме подложки к фотощаблону дл  выравнивани  их поверхности происходит интенсивный износ фотощаблона.A disadvantage of the known technical solution is that when the substrate is pressed against the photomask to level their surface, intensive wear of the photoglass occurs.

Из известных технических решений наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  способ подготовки к контактному экспонированию, включающий прижим подложки к фотошаблону дл  выравнивани  их поверхности, фиксацию подложкодержател  в этом положении, создание микрозазора между подложкой и фотошаблоном , совмещение их рисунков, повJ торный прижим подложки к фотощаблону дл  экспонировани  2.Of the known technical solutions, the closest in technical essence to the present invention is a method of preparing for contact exposure, including pressing the substrate to a photo pattern to align their surface, fixing the substrate holder in this position, creating a micro gaps between the substrate and the photomask, combining their designs, retaining pressure of the substrate to the photomask for exposure 2.

Способ осуществл ют устройством, содержащем подложкодержатель, узел фиксации подложкодержател , шаблонодержатель , узел совмещени , вакуумно-пневма10 тическую систему.The method is carried out with a device comprising a substrate holder, a fixing unit of the substrate holder, a template holder, an assembly unit, a vacuum-pneumatic system.

Недостатком способа  вл етс  большой износ фотошаблона.The disadvantage of this method is the large wear of the photomask.

Цель изобретени  - уменьшить износ фoтouJaблoнa.The purpose of the invention is to reduce the wear of the photo of the Jablon.

Это достигаетс  благодар  тому, что в способе подготовки к контактному экспонированию , включающем прижим подложки к фотошаблону дл  выравнивани  их поверхностей , фиксацию подложкодержател  в этом положении, создание микрозазо20 ра между подложкой и фотошаблоном, совмещение их рисунков, повторный прижим подложки к фотощаблону дл  экспонировани , перед прижимом подложки к фотошаблону дл  выравнивани  их поверхностейThis is due to the fact that in the method of preparing for contact exposure, including pressing the substrate to the photomask to align their surfaces, fixing the substrate holder in this position, creating a microspace between the substrate and the photomask, combining their designs, re-pressing the substrate to the photo pattern for exposure, pressing the substrate to the photomask to align their surfaces

периферийную часть подложки упруго отгибают по направлению к фотошаблону, а после фиксации подложкодержател  возвращают периферийную часть подложки в исходное положение.the peripheral part of the substrate is elastically folded towards the photomask, and after fixing the substrate holder, the peripheral part of the substrate is returned to its original position.

Такой способ может быть осуществлен устройством, содержащим подложкодержатель , узел фиксации подложкодержател , щаблонодержатель, узел совмещени , вакуумно-пневматическую систему, которое снабжено кольцом, установленным концентрично подложкодержателю с возможностью перемещени  вдоль его оси симметрии, причем на боковой поверхности подложкодержател  выполнено кольцевое углубление, а кольцо снабжено буртиком, образующим совместно с кольцевым углублением полость, соединенную с . вакуумно-пневматической системой.Such a method can be implemented with a device containing a substrate holder, a fixing unit for a substrate holder, a pattern holder, an assembly unit, a vacuum-pneumatic system that is equipped with a ring that is mounted concentrically with the substrate holder so that it can move along its axis of symmetry, with an annular recess on the side surface of the substrate holder, and a ring provided with a collar, forming together with an annular recess cavity, connected with. vacuum-pneumatic system.

На фиг. 1 изображено устройство дл  плоско-параллельного ориентировани  полупроводникового диска относительно фотощаблона в осесимметрическсм разрезе; на фиг. 2 - то же, после ориентации.FIG. 1 shows a device for a plane-parallel orientation of a semiconductor disk relative to a photo substrate in an axisymmetric section; in fig. 2 - the same, after orientation.

Устройство содержит подложкодержатель , выполненный в виде прижимного стола 1, к поверхности 2 прижима которого прижимаетс  посредством вакуума подложка (полупроводниковый диск 3). Напротив поверхности 2 прижима находитс  шаблонодержатель 4 дл  лежащего в параллельной плоскости фотошаблона 5. Прижимной стол 1 выполнен поворотным с помощью чащеобразной опоры 6, наход щейс  внутри гнезда 7 и состо щей из полусферы 8 и сферической чащи 9. Концентрично прижимному столу 1 размещено наружное кольцо 10, которое может перемещатьс  вдоль общей симметрической оси относительно прижимного стола 1. Обща  поверхность соприкосновени  11, выполн юща  функцию направл ющей, расположена ступенчато, так что прижимной стол 1 принимает форму гриба, а наружное кольцо 10 - форму Чащи. Полость 12, образованна  поверхност ми стола 1 и наружного кольца, соединена с системой откачки посредством канала 13. Канал 14 соединен с откачной системой.The device comprises a substrate holder made in the form of a pressing table 1, the substrate (semiconductor disk 3) is pressed against the pressure surface 2 of which is pressed by vacuum. Opposite the presser surface 2, the template holder 4 is located for the photomask 5 lying in a parallel plane. The presser table 1 is made rotatable with the aid of a more often support 6 inside the socket 7 and consisting of a hemisphere 8 and a spherical thickening 9. The outer ring 10 is concentric with the presser table 1 which can move along a common symmetrical axis relative to the pressing table 1. The common contact surface 11, which functions as a guide, is arranged in steps, so that the pressing table 1 accepts a mushroom shape, and an outer ring 10 - form a thicket. The cavity 12 formed by the surfaces of the table 1 and the outer ring is connected to the pumping system via channel 13. Channel 14 is connected to the pumping system.

Принцип действи  и технологические операции заключаютс  в следующем.The principle of operation and technological operations are as follows.

При наложении полупроводникового диска 3 поверхность прилегани  наружного кольца 10 находитс  снизу поверхности 2 прижима . При ориентировании поверхность прилегани  наружного кольца 10 приподнимаетс  на определенную величину над поверхностью 2 прижима с помощью пониженного давлени , создаваемого в полости 12 через канал 13. При этом полупроводниковый диск 3 на столе 1 прижимаетс  к поверхности 2 прижима через канал 14 и легко концентрически изгибаетс  по кромке. В этом положе НИИ за счет откачки через канал 15 ориентируютс  полусфера 7 и прижимной стол 1.When applying a semiconductor disk 3, the surface of the adjoining outer ring 10 is located below the pressing surface 2. When orienting, the adjoining surface of the outer ring 10 is raised by a certain amount above the pressing surface 2 by means of reduced pressure created in the cavity 12 through the channel 13. At the same time, the semiconductor disk 3 on the table 1 is pressed against the pressing surface 2 through the channel 14 and is easily concentrically bent along the edge . In this position, the research institutes due to pumping through the channel 15 orient the hemisphere 7 and the presser table 1.

После осуществлени  ориентации полупроводникового диска 3 к фотошаблону 5 поверхность прилегани  наружного кольца 10 снова опускаетс  путем вентилировани  полости 12. Благодар  этому полупроводниковый диск 3 возвращаетс  в верхнее исходное положение и находитс  на рассто нии позиционировани  от фотощаблона 5. После позиционировани  может быть установлено рассто ние дл  экспонировани  за счет движени  всей опоры 6. За счет движени  опоры 6 вверх вентилировани  полости 12 через канал 13 и аннулировани  полости 12 между фотошаблоном 5 и полупроводниковым диском 3 может быть осуществлена контактна  копи .After the semiconductor disk 3 is oriented to the photomask 5, the abutment surface of the outer ring 10 is lowered again by ventilating the cavity 12. Due to this, the semiconductor disk 3 returns to the upper initial position and is located at a positioning distance from the photogame 5. After positioning, the distance for exposure can be set due to the movement of the entire support 6. Due to the movement of the support 6 upwardly venting the cavity 12 through the channel 13 and canceling the cavity 12 between the photomask 5 and along The semiconductor disk 3 can be carried out contact mines.

В другом конструктивном варианте выполнени  изобретени  на поверхности прилегани  наружного кольца 10 находитс  резиновое уплотнение 16.In another constructive embodiment of the invention, a rubber seal 16 is placed on the surface of the abutment of the outer ring 10.

Резиновое уплотнение 16 при контактной копии уплотн ет фотощаблон 5. Дл  позиционировани  наружное кольцо 10 опускаетс  настолько, что резиновое уплотнение 16 не соприкасаетс  с фотош;аблоном 5. Кроме того, дальнейщее опускание наружного кольца 10 облегчает съем полупроводникового диска 3 со стола 1. Все положени  могут ориентироватьс  посредством прижимного приспособлени .The rubber seal 16 at the contact copy seals the phototechnique 5. For positioning, the outer ring 10 is lowered so that the rubber seal 16 does not come in contact with the photo frame; with the ablon 5. Furthermore, further lowering of the outer ring 10 facilitates the removal of the semiconductor disk 3 from the table 1. All positions can be oriented by means of a clamping device.

Благодар  изобретению уменьшаютс  вход щие в контакт поверхности соприкосновени  фотошаблона и полупроводникового диска, уменьщаетс  опасность загр знени  и повреждени  и повышаетс  производительность и качество структур полупроводника . Тем самым значительно снижаютс  эксплуатационные расходы на изготовление полупроводниковых конструктивных элементов.Thanks to the invention, the contacting surfaces of the contact between the photomask and the semiconductor disk are reduced, the risk of contamination and damage is reduced, and the productivity and quality of the semiconductor structures are improved. This significantly reduces the operating costs for the manufacture of semiconductor structural elements.

Claims (2)

1.Способ подготовки к контактному экспонированию , включающий прижим подложки к фотошаблону дл  выравнивани  их поверхностей, фиксацию подложкодержа5 тел  в этом положении, создание микрозазора между подложкой и фотошаблоном, совмещение их рисунков, повторный прижим подложки к фотошаблону дл  экспонировани , отличающийс  тем, что, с целью уменьшени  износа фотошаблона, перед прижимом подложки к фотошаблону дл  в:ыравнивани  их поверхностей, периферийную часть подложки упруго отгибают по направлению к фотошаблону, а после фиксации подложкодержател  возвращают периферийную1. A method of preparing for contact exposure, including pressing the substrate to the photomask to align their surfaces, fixing the substrate containing 5 bodies in this position, creating a microgap between the substrate and the photomask, combining their designs, re-pressing the substrate to the photomask for exposure, characterized in that In order to reduce the wear of the photomask, before pressing the substrate to the photomask to: Align their surfaces, the peripheral part of the substrate is elastically bent towards the photomask, and after fixation lozhkoderzhatel peripheral return 5 часть подложки в исходное положение.5 part of the substrate to its original position. 2.Устройство дл  осуцаествлени  способа по п. 1, содержащее подложкодержатель, узел фиксации подложкодержател , шаблонодержатель , узел совмещени , вакуумно2. The device for the implementation of the method according to claim 1, comprising a substrate holder, a fixing unit of the substrate holder, a template holder, an assembly unit, vacuum
SU772439404A 1976-01-19 1977-01-12 Method and device for preparing for contact exposure SU750614A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD19086176A DD123848A1 (en) 1976-01-19 1976-01-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU750614A1 true SU750614A1 (en) 1980-07-23

Family

ID=5503310

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772439404A SU750614A1 (en) 1976-01-19 1977-01-12 Method and device for preparing for contact exposure

Country Status (6)

Country Link
CS (1) CS211450B1 (en)
DD (1) DD123848A1 (en)
DE (1) DE2701106A1 (en)
FR (1) FR2338509A1 (en)
GB (1) GB1536978A (en)
SU (1) SU750614A1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD151387A1 (en) 1980-06-02 1981-10-14 Erich Adler METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATIC TRANSPORT AND LOCATION ORIENTATION OF DISK FORMULA OBJECTS
CN109794427B (en) * 2019-02-03 2024-06-04 东莞市粤蒙电子科技有限公司 Sorting equipment

Also Published As

Publication number Publication date
FR2338509B3 (en) 1980-12-26
FR2338509A1 (en) 1977-08-12
CS211450B1 (en) 1982-02-26
DE2701106A1 (en) 1977-07-28
GB1536978A (en) 1978-12-29
DD123848A1 (en) 1977-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3955163A (en) Method of positioning a semiconductor wafer for contact printing
GB1509574A (en) Automatic positioning system and method
US3645622A (en) Method and apparatus for aligning a photomask
US6232023B1 (en) Contact exposure process and device
US4522489A (en) Device for photolithographically treating a thin substrate
TW201622060A (en) Holding device, lithography apparatus, and method for manufacturing item
SU750614A1 (en) Method and device for preparing for contact exposure
US4006909A (en) Semiconductor wafer chuck with built-in standoff for contactless photolithography
JPH06326174A (en) Vacuum suction device for wafer
US3475097A (en) Mask alignment tool
JPH0697674B2 (en) Ball contact type wafer chuck
US4669871A (en) Photographic printing plate and method of exposing a coated sheet using same
JPS60189745A (en) Contact exposing method
US4623608A (en) Method and apparatus for coating a selected area of the surface of an object
US3521955A (en) Chuck assembly and mask holder for an improved mask alignment machine
JPH05318310A (en) Wafer placing method and placing device
US4027969A (en) Method and device for simultaneous screening of sets of color-separated half-tone negatives
JP2544866B2 (en) Method and apparatus for aligning a semiconductor memory cube with a contact mask
US4019231A (en) Method for attaching a shadow or photographic mask to a flangeless, curved faceplate of a color television picture tube
JPS6346569B2 (en)
JP2007164023A (en) Exposure method and exposure device
JPS60189746A (en) Exposing device
GB1286793A (en) Process and apparatus for the parallel alignment of a semi-conductor wafer relative to a mask
JPS62193138A (en) Wafer chuck
CN220543870U (en) Backlight sucker and exposure equipment