SU656109A1 - Storage unit checking device - Google Patents

Storage unit checking device

Info

Publication number
SU656109A1
SU656109A1 SU772451376A SU2451376A SU656109A1 SU 656109 A1 SU656109 A1 SU 656109A1 SU 772451376 A SU772451376 A SU 772451376A SU 2451376 A SU2451376 A SU 2451376A SU 656109 A1 SU656109 A1 SU 656109A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
block
memory
address
memory block
unit
Prior art date
Application number
SU772451376A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Нина Иосифовна Вариес
Борис Евгеньевич Гласко
Анатолий Константинович Култыгин
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1178
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1178 filed Critical Предприятие П/Я А-1178
Priority to SU772451376A priority Critical patent/SU656109A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU656109A1 publication Critical patent/SU656109A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к области запоминающих устройств.The invention relates to the field of storage devices.

Одно из известных устройств дл  контрол  блоков пам ти содержит блок формировани  адресов, соединенный с адресными входами провер емого блока пам ти, блок сравнени , соединенный с выходом провер емого блока пам ти и с числовой шиной записи , блок фиксации ошибок, соединенный с блоком сравнени , и блок управлени , соединенный с провер емым блоком пам ти управл ющими шинами считывани  и записи, а также числовой шиной записи 1.One of the known devices for monitoring memory blocks contains an address generation unit connected to the address inputs of a checked memory block, a comparison block connected to the output of the memory block being checked and a numeric write bus, an error fixing block connected to the comparison block, and a control unit connected to the readable memory block by the read and write control buses as well as the numeric write bus 1.

Недостатком этого устройства  вл етс  то, что оно не обеспечивает комплектование одноразр дных блоков пам ти с дефектами дл  объединени  их в полноразр дные блоки пам ти с исправлением ошибок.A disadvantage of this device is that it does not provide for the acquisition of one-bit memory blocks with defects for combining them into full-sized memory blocks with error correction.

Из известных устройств наиболее близким по техническому решению к данному изобретению  вл етс  устройство дл  контрол  блоков пам ти, содержащее последовательно соединенные блок сравнени , блок контрол  и блок регистрации, один из выходов которого подключен к у.правл юш.ему входу блока пам ти, элемент И, входы которого соединены с выходами блока сравнени  и блока пам ти, а выход - со входом блока регистрации, блок формировани  адресов, один из входов которого подключен к первому выходу блока управлени , а выход - к выходу устройства 2.Of the known devices, the closest in technical solution to this invention is a device for monitoring memory blocks, comprising a series-connected comparison unit, a control unit and a registration unit, one of whose outputs is connected to the control input of the memory unit, element And, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison unit and the memory unit, and the output - to the input of the registration unit, the address generation unit, one of the inputs of which is connected to the first output of the control unit, and the output - to the output of the device 2.

В этом устройстве контроль и комплектование одноразр дных блоков пам ти с дефектами в полноразр дное запоминающее устройство с исправлением ошибок производитс  при условии, что по каждому адресу полноразр дного запоминающего устройства должно быть не более 1 ошибки. В этом устройстве блок пам ти состоит из двух блоков. При этом информаци  о дефектах провер емого блока пам ти хранитс  в первом блоке пам ти, а информаци  о дефектах уже подобранных блоков пам ти дл  данного комплекта хранитс  во втором блоке пам ти. В случае отсутстви  ошибки в провер емом блоке пам ти по какому-либо адресу записываетс  по этому адресу в первый блок пам ти «О, а при возникновении ошибки по этому адресу - соответственно записываетс  «. Одновременно по тому же адресу считываетс  информаци  изIn this device, the control and acquisition of one-bit memory blocks with defects in a full-size memory device with error correction is performed under the condition that there should be no more than 1 error at each address of the full-size memory device. In this device, the memory block consists of two blocks. In this case, information about defects of the checked memory block is stored in the first memory block, and information about defects of already selected memory blocks for this set is stored in the second memory block. If there is no error in the checked memory block at any address, it is written to this address in the first memory block, "O, and if an error occurs at that address, it is recorded accordingly." At the same time, the same address is used to read information from

второго блока пам ти и поступает на вход элемента И, на второй вход которого подаетс  сигнал с провер емого блока пам ти. Если при этом имеетс  ошибка по какомулибо адресу в провер емом блоке пам ти и в одном из проверенных и подобранных ранее блоков пам ти, то возбуждаетс  блок регистрации, и провер емый одноразр дный блок пам ти считаетс  «негодным дл  данного комплекта. Если же провер емый блок пам ти «годен, то при повторном переборе адресов происходит считывание информации из первого блока пам ти и запись этой информации во второй блок пам ти только по тем адресам, по которым в провер емом блоке пам ти была ошибка.the second memory block and is fed to the input of the element I, to the second input of which a signal is fed from the checked memory block. If there is an error at any address in the checked memory block and in one of the previously checked and picked up memory blocks, then the registration block is excited, and the checked single-bit memory block is considered "unsuitable for this set. If the checked memory block is valid, then when re-searching the addresses, information is read from the first memory block and this information is written to the second memory block only at those addresses that had an error in the checked memory block.

Таким образом, недостатком этого устройства  вл етс  необходимость хранени  информации об ошибках провер емого блока пам ти и информации об ошибках подобранных блоков пам ти дл  данного полноразр дного комплекта в двух дополнительных блоках пам ти, что приводит к усложнению устройства и снижает его надежность.Thus, the disadvantage of this device is the need to store information about the errors of the monitored memory block and the error information of selected memory blocks for this full-size set in two additional memory blocks, which complicates the device and reduces its reliability.

Целью насто шего изобретени   вл етс  упрошение устройства дл  контрол  блоков пам ти и повышение его надежности.The purpose of the present invention is to simplify the device for monitoring memory blocks and increase its reliability.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что устройство содержит группы элементов И и элементы ИЛИ, выходы которых подключены к адресным входам блока пам ти, входызлементов И первой группы соединены с выходами блока сравнени  и блока формировани  адресов и вторым выходом блока управлени , входы элементов И второй группы подключены к выходу блока формировани  адресов и третьему выходу блока управлени , выходы элементов И обеих групп соединены со входами элементов ИЛИ, другой выход блока регистрации соединен со входом блока управлени  и другим входом блока формировани  адресов.The goal is achieved in that the device contains groups of AND elements and OR elements whose outputs are connected to the address inputs of the memory block, AND elements of the first group are connected to the outputs of the comparison unit and the address generation unit and the second output of the control unit, the inputs of the AND elements of the second group are connected to the output of the address generation unit and the third output of the control unit, the outputs of the elements And of both groups are connected to the inputs of the OR elements, the other output of the registration block is connected to the input of the control unit and another they input address generating unit.

Блок-схема устройства представлена на чертеже.The block diagram of the device shown in the drawing.

Устройство дл  контрол  блоков пам ти содержит блок управлени  1, блок сравнени  2,. соединенный с провер емым блоком пам ти 3, блок формировани  адресов 4, блок контрол  5, блок регистрации 6, блок пам ти 7, логический элемент И 8, две группы элементов И 9 и 10 соответственно, элементы ИЛИ 11.A device for monitoring memory blocks comprises a control unit 1, a comparison unit 2 ,. connected to a verifiable memory block 3, an address generation unit 4, a control unit 5, a registration unit 6, a memory unit 7, an AND 8 logical element, two groups of AND 9 and 10 elements, respectively, OR 11 elements.

Один из входов блока 4 соединен с первым выходом блока 1. Выходы элементов ИЛИ 11 подключены к адресным входам блока 7, входы элементов И первой группы 9 соединены с выходами блока сравнени  2 и блока 4 и вторым выходом блока 1. Входы элементов И второй групПы 10 подключены к выходу блока 4 и третьему выходу блока 1. Выходы элементов И 9 и 10 соединены со входами элел ентов ИЛИ 11. Один из выходов блока 6 подключен к управл юше656109One of the inputs of block 4 is connected to the first output of block 1. The outputs of the elements OR 11 are connected to the address inputs of block 7, the inputs of elements AND of the first group 9 are connected to the outputs of the comparison block 2 and block 4 and the second output of block 1. The inputs of the elements AND the second group 10 connected to the output of block 4 and the third output of block 1. The outputs of the elements 9 and 10 are connected to the inputs of the elec- tants OR 11. One of the outputs of block 6 is connected to the control 6565109

му входу блока 7, другой выход - к входу блока 1 и входам блока 4.mu input block 7, the other output - to the input of block 1 and the inputs of block 4.

Принцип работы устройства заключаетс  в следующем.The principle of operation of the device is as follows.

5 Перед началом контрол  и комплектовани  провер емых блоков пам ти предварительно записываетс  «О в блок пам ти 7 по всем адресам, после чего блок формировани  адресов 4 устанавливаетс  в «О д (цепи предварительного обнулени  на чертеже не показаны).5 Before starting the monitoring and picking of the checked memory blocks, it is preliminarily written "O to the memory block 7 at all addresses, after which the forming unit of the addresses 4 is set to" O d (the preliminary zero circuits are not shown in the drawing).

При пуске устройства блок формировани  адресов 4 вырабатывает сигналы, обеспечи .ваюшие перебор всех адресов провер емого блока пам ти 3 и блока пам ти 7. 5 При первом переборе адресов блок управлени  1 формирует сигнал, отпираюший элементы И 10, так что адресные входы провер емого блока 3 и блока пам ти 7 оказываютс  включенными параллельно. При этом блок управлени  формирует на числовых шинах записи импульсы числа, соответствуюшие записи «1 и «О по каждому адресу провер емого блока пам ти 3, а на управл ющих шинах записи - считывани - соответствующие импульсы записи и считывани .When the device is started up, the address forming unit 4 generates signals providing the enumeration of all the addresses of the checked memory block 3 and the memory block 7. 5 At the first search of the addresses, the control unit 1 generates a signal that opens the AND 10 elements, so that the address inputs of the checked block 3 and memory block 7 are turned on in parallel. At the same time, the control unit generates number pulses on the numeric write buses, the corresponding write "1 and" О for each address of the checked memory block 3, and on the control write write buses - the corresponding write and read pulses.

При обнаружении ошибки (дефекта) в провер емом блоке пам ти 3 по какому-либо адресу с блока сравнени  2 сигнал поступает на блок контрол  5, который вырабатывает сигнал, возбуждаюший блок регистрации 6, если число ошибок превышает некоторое заданное число. При этом провер емый блок пам ти считаетс  «негодным и бракуетс .If an error (defect) in the checked memory block 3 is detected at any address from the comparison block 2, the signal goes to the control unit 5, which generates a signal that energizes the recording unit 6 if the number of errors exceeds a certain number. In this case, the checked memory block is considered "unusable and rejected.

Если же число ошибок было меньше заданного, то на вход блока пам ти 7 поступает сигнал с блока регистрации 6, привод щий к считыванию информации из блока пам ти 7 по тому же адресу.If the number of errors was less than the specified value, then a signal from the recording unit 6 is sent to the input of the memory block 7, which leads to reading information from the memory block 7 at the same address.

Считанный сигнал из блока пам ти 7 поступает на вход элемента И 8, на другой вход которого поступает сигнал с блока сравнени  2. При наличии ошибки в провер емом блоке пам ти 3 и считывании «1 из блока пам ти 7 (что соответствует наличию дефекта по данному адресу в одном из 5 подобранных ранее блоков пам ти дл  данного полноразр дного комплекта блоков пам ти ) элемент И.8 вырабатывает сигнал, возбуждающий блок регистрации 6, а провер емый блок пам ти 3 считаетс  «негодным дл  данного комплекта полноразр дных блоков пам ти и откладываетс  в массив одноразр дных блоков пам ти, которые будут участвовать в комплектовании следующих полноразр дных блоков пам ти.The read signal from the memory block 7 is fed to the input of the AND element 8, to another input of which the signal from the comparison block 2 arrives. If there is an error in the checked memory block 3 and reading "1 from memory block 7 (which corresponds to the presence of a defect in This address in one of the 5 previously selected memory blocks for this full-size set of memory blocks, element E.8 produces a signal that excites the recording unit 6, and the checked memory block 3 is considered "unsuitable for this set of full-sized memory blocks and is deposited in m assisting one-bit memory blocks that will be involved in picking the following full-size memory blocks.

Если провер емый блок пам ти 3 оказываетс  «годным дл  данного комплекта полноразр дного запоминающего устройства, то блок регистрации 6 формирует сигнал, который возбуждает блок формировани  адресов 4 и блок управлени  1, который вырабатывает сигнал, привод щий к запиранию элементов И 10 и открыванию элементов И 9. Через группу элементов И 9 и элемент ИЛИ 11 на адресные входы блока пам ти 7 код адреса с блока формировани  адресов 4 попадает только в том случае, если блок сравнени  2 зафиксирует ошибку (дефектный запоминающий элемент) в провер емом блоке пам ти 3. Одновременно с блока регистрации 6 поступает сигнал, привод щий к записи «1 по этому адресу в блок пам ти 7.If the tested memory block 3 is "usable for this set of full-size storage devices, then the recording unit 6 generates a signal that excites the address generation unit 4 and the control unit 1, which generates a signal leading to locking the AND 10 elements and opening the elements AND 9. Through the group of elements AND 9 and element OR 11 to the address inputs of the memory block 7, the address code from the address generation block 4 gets only if the comparison block 2 detects an error (defective storage element) in the wire The memory unit 3 is being detected. Simultaneously from the recording unit 6, a signal is received leading to the entry "1" at this address in the memory unit 7.

Описанное устройство дл  контрол  блоков пам ти позвол ет значительно упростить устройство за счет исключени  дорогосто щего оборудовани .The described device for controlling memory blocks allows the device to be significantly simplified by eliminating expensive equipment.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 341687, кл. G 11 С 29/00, 1971.1. USSR author's certificate number 341687, cl. G 11 C 29/00, 1971. 2.За вка № 2345189/24,кл. G 11 С 29/00, 1976, по которой прин то положительное2. For the number 2345189/24, cl. G 11 C 29/00, 1976, according to which the positive is accepted 5 решение о выдаче авторского свидетельства.5 decision on issuing copyright certificate.
SU772451376A 1977-02-14 1977-02-14 Storage unit checking device SU656109A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772451376A SU656109A1 (en) 1977-02-14 1977-02-14 Storage unit checking device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772451376A SU656109A1 (en) 1977-02-14 1977-02-14 Storage unit checking device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU656109A1 true SU656109A1 (en) 1979-04-05

Family

ID=20695121

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772451376A SU656109A1 (en) 1977-02-14 1977-02-14 Storage unit checking device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU656109A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3216449B2 (en) Self-diagnosis device for semiconductor memory failure
SU656109A1 (en) Storage unit checking device
JP3570388B2 (en) Memory diagnostic device and diagnostic method
JPS6227479B2 (en)
KR100282776B1 (en) Method for detecting error happend address in memory
JPH04339399A (en) Relief address analyzing circuit for memory tester
JP2808983B2 (en) Memory diagnosis method
SU555438A1 (en) Associative storage device
SU970480A1 (en) Self-checking memory device
RU1812551C (en) Analyzer of errors for devices for control of redundant memory
SU926724A2 (en) Storage testing device
SU1200347A1 (en) Device for checking address circuits of memory block
JPS58195971A (en) Error detecting system of comparing circuit
JP2822439B2 (en) Semiconductor memory test equipment
SU963107A2 (en) Storage unit testing device
JP2808303B2 (en) IC device test equipment
SU1432528A2 (en) Apparatus for monitoring the functioning of logical modules
SU1674269A1 (en) Main memory unit with error correction
JPH05334202A (en) Check method for ram
SU970475A1 (en) Memory having error detection and correction capability
JPS5963099A (en) Diagnostic system of memory
SU1211810A1 (en) Device for diagnostic checking of of memory
SU1005188A1 (en) Associative storage matrix
JPS63239545A (en) Memory error detecting circuit
JPH0955100A (en) Test circuit device for semiconductor integrated circuit