SU609154A1 - Контактное устройство - Google Patents

Контактное устройство

Info

Publication number
SU609154A1
SU609154A1 SU762383410A SU2383410A SU609154A1 SU 609154 A1 SU609154 A1 SU 609154A1 SU 762383410 A SU762383410 A SU 762383410A SU 2383410 A SU2383410 A SU 2383410A SU 609154 A1 SU609154 A1 SU 609154A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probes
contact device
probe
block
parts
Prior art date
Application number
SU762383410A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Васильевич Лукьяненко
Александр Петрович Морозов
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2347
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2347 filed Critical Предприятие П/Я В-2347
Priority to SU762383410A priority Critical patent/SU609154A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU609154A1 publication Critical patent/SU609154A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к технологическому оборудованию электронной техники и может быть использовано в контактных устройствах дл  испытаний и контрол  интегральных схем в корпусах с планарным расиоложением выводов .
Известно контактное устройство, содержащее диэлектрическое основание с размещенными на нем упругими контактами 1.
Коитакты устройства, выполненные путем штамповки из пластинчатого материала, имеют резко выраженные зоны концентрации напр жений , что в процессе многократного подключени  приводит к потере ими упругих свойств. Устройство  вл етс  не достаточно износоустойчивым 11 сложным по конструкции .
Известно также контактное устройство, содержащее колодку, в которой выполнены отверсти , и токопровод щие зонды из упругого материала, каждый из которых имеет изогнутый участок в средней части и пр молинейные концевые участки, один из которых неподвижно закреплен в колодке, а второй расположен в отверстии колодки. Устройство имеет также узел поджати , служащий дл  настройки первоначального усили  сжати  зондов 2.
Целью изобретени   вл етс  упрощение конструкции и повыщение эксплуатационной
надежности. Поставленна  цель достигаетс  тем, что пр молинейные концевые участки зонда расположены под углом друг к другу, а изогнутый участок вып}жлой частью обращен к верщнне угла, при этом второй концевой участок зонда размещен в отверстии с возможностью смещени  но оси последнего.
На чертеже изображено устройство в сечении .
Устройство представл ет собой разъемную конструкцию и состоит из колодки и токопровод щих зондов. Колодку составл ют детали 1, 2, 3. Между детал ми 1 и 3, 2 и 3 устанавливаютс  держатели 4 и 5. Держатели 4 совместно с детал ми 2 и 3 обеспечивают жесткое закрепление одних из концов зондов 6. Вторые концы зондов 6 размещены в отверсти .х, образованных междз плоскост ми деталей 1 и 3 колодки и держателей 5. В этих
отверсти х концы зондов 6 могут смещатьс  по оси последних. Зонды 6 имеют пр молинейные концевые участки, располо кенные под углом друг к другу и изогнутый средний участок , обращенный выпуклой частью к верщине этого угла.
Работа устройства заключаетс  в следующем .
Контролируемый объект подводитс  к зондам со стороны их нодвижных концов. Под
действием осевого усили  зодны, прогиба сь
в средней части, обеспечивают необходимое контактное давление. Изменением первоначального радиуса кривизны средней части зонда можно регулировать степень нажати  зондов дл  выбора оптимального контактного давлени . В своей рабочей части зонды не нмеют зон опасных напр женнй. Последнее повышает их износоустойчивость. Со стороны жестко закрепленных концов зопды включаютс  в схему.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР №463245, кл. Н 05К7/12, 09.01.74.
2.Авторское свидетельство СССР №352429, кл. Н 05К 13/06, 31.08.70.
Ш1ь
SU762383410A 1976-07-07 1976-07-07 Контактное устройство SU609154A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762383410A SU609154A1 (ru) 1976-07-07 1976-07-07 Контактное устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762383410A SU609154A1 (ru) 1976-07-07 1976-07-07 Контактное устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU609154A1 true SU609154A1 (ru) 1978-05-30

Family

ID=20669605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762383410A SU609154A1 (ru) 1976-07-07 1976-07-07 Контактное устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU609154A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU181310U1 (ru) * 2018-04-06 2018-07-10 Юрий Вячеславович Лакиза Герметичное устройство с тоководом
RU212241U1 (ru) * 2018-04-06 2022-07-12 акционерное общество "Научно-производственный комплекс "Северная заря" Герметичное устройство с тоководом

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU181310U1 (ru) * 2018-04-06 2018-07-10 Юрий Вячеславович Лакиза Герметичное устройство с тоководом
RU198066U1 (ru) * 2018-04-06 2020-06-16 Юрий Вячеславович Лакиза Герметичное устройство с тоководом
RU212241U1 (ru) * 2018-04-06 2022-07-12 акционерное общество "Научно-производственный комплекс "Северная заря" Герметичное устройство с тоководом

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20210123950A1 (en) Probe card for high frequency applications
EP0164672A2 (en) A multiple mode buckling beam probe assembly
US7154284B2 (en) Integrated circuit probe card
KR101667929B1 (ko) 실리콘 러버 소켓
US4177425A (en) Multiple contact electrical test probe assembly
CN112119315B (zh) 高频高性能探针卡
KR960018588A (ko) 프로우브장치
KR880008033A (ko) Ic 칩 테스트 장치
DE59810835D1 (de) Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle
KR920007537B1 (ko) 압력발생부재를 포함하는 전기 커넥터 조립체
US5084672A (en) Multi-point probe assembly for testing electronic device
EP0304868A3 (en) Multiple lead probe for integrated circuits in wafer form
DE3479341D1 (en) Adapter for a printed-circuit board testing device
SU609154A1 (ru) Контактное устройство
DE69925456D1 (de) Prüfsockel
DE3472461D1 (en) Contact device
US4812745A (en) Probe for testing electronic components
SU989626A1 (ru) Контактное устройство
CA2167062A1 (en) Adapter with solid body
KR100725456B1 (ko) 웨이퍼 검사용 프로브 카드
US4723059A (en) Tachometer switch
SU1734245A1 (ru) Контактное устройство
KR100280544B1 (ko) 반도체 웨이퍼 검사용 프로브카드
SU1499535A1 (ru) Подключающее устройство
SU928683A1 (ru) Гибкий контактный соединитель