SU575917A1 - Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера - Google Patents

Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера

Info

Publication number
SU575917A1
SU575917A1 SU7502152254A SU2152254A SU575917A1 SU 575917 A1 SU575917 A1 SU 575917A1 SU 7502152254 A SU7502152254 A SU 7502152254A SU 2152254 A SU2152254 A SU 2152254A SU 575917 A1 SU575917 A1 SU 575917A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
phase distribution
screen
holes
interference
interference method
Prior art date
Application number
SU7502152254A
Other languages
English (en)
Inventor
Н.К. Бергер
И.А. Дерюгин
А.В. Михеенко
Original Assignee
Хабаровский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хабаровский политехнический институт filed Critical Хабаровский политехнический институт
Priority to SU7502152254A priority Critical patent/SU575917A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU575917A1 publication Critical patent/SU575917A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

первого и второго отверстий соответственно;
+ Аф7г,
где Аф - разность фаз волн от первого и второго отверстий в месте нахождени  диафрагмы фотоприемника; Афи - разность фаз в исследуемом пучке в точках, в которых наход тс  отверсти ;
Афн - разность фаз, набегающа  за счет разности хода волн от первого и второго отверстий. Измер   /, /1, Iz, найти Аф из формулы (1). Если одно отверстие зафиксировать в центре пучка, а второе перемещать поперек пучка вдоль оси к, то слагаемое Аф„ даст искомое распределение фазы ф(л:). Однако, чтобы исключить вли ние слагаемого Афн, надо приемник удалить на достаточно больщое рассто ние. По расчетам, это рассто ние должно быть около 10 м. В этом случае чувствительности фотоприемника не хватит, чтобы зарегистрировать излучение. Дл  устранени  этой трудности предлагаетс  перемещать поперек пучка экран с отверсти ми вместе с диафрагмой и фотоприемником с щагом, равным рассто нию между отверсти ми. В этом случае величина Афн остаетс  посто нной и ее можно определенным образом исключить. Тогда измер ема  разность фаз равна
Аф (Xi) ф (Xi + X) -ф (Хг) ,
где i - номер щага;
Ал: - рассто ние между отверсти ми.
Если фазу в центре пучка положить равной нулю, то на й-том шаге от центра фаза будет равна
(-)-(2)
Таким образом, можно измерить распределение фазы с щагом Ах Существенно, что при реализации способа высока  точность измерени  распределени  фазы достигаетс  при достаточно малом рассто нии между фотоприемником и экраном с отверсти ми.
На фиг. 1 изображена блок-схема установки дл  измерени  распределени  фазы в пучке непрерывного лазера предложенным способом; на фиг. 2 - кривые теоретического и экспериментального распределений фазы по сечению лазерного пучка.
Измерение провод т на Не - Ne - лазере 1 с длиной волны излучени  0,63 мкм (см. фиг. 1). Интенсивность интерференции от отверстий 2 и 3 регистрируетс  с помощью диафрагмы 4 и фотоэлектронного умножител  5. Сигнал с фотоумножител  5 подаетс  на микроамперметр 6. Экран с отверсти ми 2 и 3, диафрагма 4 и фотоумножитель 5 креп тс  на одной плате и перемещаютс  с помощью подвижного столика 7. Величина поремещени  измер етс  индикатором 8 часового типа с ценой делени  0,01 мм.
Отверсти  2 и 3 и диафрагма 4 имеют диаметр 0,05 мм. Рассто ние центрами отверстий 2 и 3 0,2 мм, а между непрозрачным экраном с отверсти ми и диафрагмой 4 ПО мм. Перед отверсти ми 2 и 3 устанавливаетс  щторка 9 дл  поочередного перекрывани  отверстий.
Подвижный столик 7 перемещают с щагом 0,2 мм. На каждом щаге измер ют показани : /i - при открытом отверстии 2,
/2 - при открытом отверстии 3, / - при
открытых отверсти х 2 и 3. По формуле (1)
наход т величину Аф(Хг)Распределение фазы, найденное по формуле (2), показано на фиг. 2 сплошной линией . Дл  сравнени  пунктирной кривой показано распределение, рассчитанное по теоретической формуле. Согласно расчетам, ощибка измерени  фазы определ етс  в основном точностью измерени  интенсивности . В насто щем эксперименте максимально возможна  ощибка достигает 10°, а средн   ошибка составл ет несколько градусов. Предложенный способ измерений позвол ет повысить точность за счет исключени  ощибки, возникающей при искажении пучка оптическими элементами. Это особенно важно дл  мощного излучени , которое может вызвать неконтролируемое изменение
однородности оптических элементов. При повыщении точности измерени  интенсивности точность измерени  фазы можно довести до 1-2°. Кроме того, обеспечиваетс  возможность измерений в ближней зоне отверстий , что значительно снижает требовани  к чувствительности приемников, а также возможность создани  эталонной опорной волны дл  контрол  качества изготовлени  оптических элементов.

Claims (2)

  1. Формула изобретени 
    Интерференционный способ измерени  распределени  фазы по сечению пучка лазера непрерывного действи , основанный на получении интерференционной картины между различными участками пучка, отличающийс  тем, что, с целью повыщени  точности измерени , интерференционную
    картину получают от двух отверстий в непрозрачном экране, который размещают на пути пучка, перемещают экран поперек пучка с шагом, равным рассто нию между отверсти ми , измер ют интенсивность света в
    полученных дискретных положени х экрана посредством фотоприемника с диафрагмой, которые жестко св заны с экраном и размещены за ним в ближней зоне отверстий, и по измеренным значени м суд т о.распределении фазы.
    Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Линник В. П. и др. Интерферометр дл  исследовани  фронта волны лазера. ОМП,
    1971, № 11, с. 27-29.
  2. 2. Черемискин И. В., Чехлова Т. К. Измерение фазового распределени  пол  на выходном зеркале оптического квантового генератора . «Оптика и спектроскопи , 1972, т. 32, вып. 1, с. 160-162.
    .1
SU7502152254A 1975-06-27 1975-06-27 Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера SU575917A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502152254A SU575917A1 (ru) 1975-06-27 1975-06-27 Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502152254A SU575917A1 (ru) 1975-06-27 1975-06-27 Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU575917A1 true SU575917A1 (ru) 1978-07-30

Family

ID=20625299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7502152254A SU575917A1 (ru) 1975-06-27 1975-06-27 Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU575917A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4212540A (en) * 1978-11-29 1980-07-15 Rca Corporation Testing the divergence of a beam from a laser

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4212540A (en) * 1978-11-29 1980-07-15 Rca Corporation Testing the divergence of a beam from a laser

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3645623A (en) Apparatus for monitoring film thickness by reflecting a light beam from the film surface
GB2183418A (en) Determining distance to a surface
JP2732849B2 (ja) 干渉測長器
US3921080A (en) Analog data processor
US3708229A (en) System for measuring optical path length across layers of small thickness
SU575917A1 (ru) Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера
US3322962A (en) Method and apparatus for continuously measuring applied coatings employing photoelectric means
US4395124A (en) Apparatus for position encoding
US4345838A (en) Apparatus for spectrometer alignment
JPH0118371B2 (ru)
JPS5821527A (ja) フ−リエ変換型赤外分光光度計
SU935716A1 (ru) Интерференционный спектрометр
RU2055309C1 (ru) Устройство для измерения колебаний объекта
SU1716360A1 (ru) Устройство дл измерени спектрального коэффициента пропускани объектива
SU1599723A1 (ru) Устройство дл измерени показател преломлени светорассеивающей среды
SU1668922A1 (ru) Способ определени коэффициента пропускани объектива
SU1116333A1 (ru) Способ контрол качества оптических систем и устройство дл его осуществлени
SU1067449A1 (ru) Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
JPS5451863A (en) Surface roughness measuring apparatus
SU1500916A1 (ru) Способ прецизионного определени положений интерференционных полос в шкале волновых чисел
SU1260681A1 (ru) Интерференционное измерительное устройство
SU629444A1 (ru) Устройство дл измерени смещени контролируемой поверхности
SU1531690A1 (ru) Способ измерени длины волны излучени и измеритель дл его осуществлени
SU1343242A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей