SU575917A1 - Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера - Google Patents
Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазераInfo
- Publication number
- SU575917A1 SU575917A1 SU7502152254A SU2152254A SU575917A1 SU 575917 A1 SU575917 A1 SU 575917A1 SU 7502152254 A SU7502152254 A SU 7502152254A SU 2152254 A SU2152254 A SU 2152254A SU 575917 A1 SU575917 A1 SU 575917A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- phase distribution
- screen
- holes
- interference
- interference method
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
первого и второго отверстий соответственно;
+ Аф7г,
где Аф - разность фаз волн от первого и второго отверстий в месте нахождени диафрагмы фотоприемника; Афи - разность фаз в исследуемом пучке в точках, в которых наход тс отверсти ;
Афн - разность фаз, набегающа за счет разности хода волн от первого и второго отверстий. Измер /, /1, Iz, найти Аф из формулы (1). Если одно отверстие зафиксировать в центре пучка, а второе перемещать поперек пучка вдоль оси к, то слагаемое Аф„ даст искомое распределение фазы ф(л:). Однако, чтобы исключить вли ние слагаемого Афн, надо приемник удалить на достаточно больщое рассто ние. По расчетам, это рассто ние должно быть около 10 м. В этом случае чувствительности фотоприемника не хватит, чтобы зарегистрировать излучение. Дл устранени этой трудности предлагаетс перемещать поперек пучка экран с отверсти ми вместе с диафрагмой и фотоприемником с щагом, равным рассто нию между отверсти ми. В этом случае величина Афн остаетс посто нной и ее можно определенным образом исключить. Тогда измер ема разность фаз равна
Аф (Xi) ф (Xi + X) -ф (Хг) ,
где i - номер щага;
Ал: - рассто ние между отверсти ми.
Если фазу в центре пучка положить равной нулю, то на й-том шаге от центра фаза будет равна
(-)-(2)
Таким образом, можно измерить распределение фазы с щагом Ах Существенно, что при реализации способа высока точность измерени распределени фазы достигаетс при достаточно малом рассто нии между фотоприемником и экраном с отверсти ми.
На фиг. 1 изображена блок-схема установки дл измерени распределени фазы в пучке непрерывного лазера предложенным способом; на фиг. 2 - кривые теоретического и экспериментального распределений фазы по сечению лазерного пучка.
Измерение провод т на Не - Ne - лазере 1 с длиной волны излучени 0,63 мкм (см. фиг. 1). Интенсивность интерференции от отверстий 2 и 3 регистрируетс с помощью диафрагмы 4 и фотоэлектронного умножител 5. Сигнал с фотоумножител 5 подаетс на микроамперметр 6. Экран с отверсти ми 2 и 3, диафрагма 4 и фотоумножитель 5 креп тс на одной плате и перемещаютс с помощью подвижного столика 7. Величина поремещени измер етс индикатором 8 часового типа с ценой делени 0,01 мм.
Отверсти 2 и 3 и диафрагма 4 имеют диаметр 0,05 мм. Рассто ние центрами отверстий 2 и 3 0,2 мм, а между непрозрачным экраном с отверсти ми и диафрагмой 4 ПО мм. Перед отверсти ми 2 и 3 устанавливаетс щторка 9 дл поочередного перекрывани отверстий.
Подвижный столик 7 перемещают с щагом 0,2 мм. На каждом щаге измер ют показани : /i - при открытом отверстии 2,
/2 - при открытом отверстии 3, / - при
открытых отверсти х 2 и 3. По формуле (1)
наход т величину Аф(Хг)Распределение фазы, найденное по формуле (2), показано на фиг. 2 сплошной линией . Дл сравнени пунктирной кривой показано распределение, рассчитанное по теоретической формуле. Согласно расчетам, ощибка измерени фазы определ етс в основном точностью измерени интенсивности . В насто щем эксперименте максимально возможна ощибка достигает 10°, а средн ошибка составл ет несколько градусов. Предложенный способ измерений позвол ет повысить точность за счет исключени ощибки, возникающей при искажении пучка оптическими элементами. Это особенно важно дл мощного излучени , которое может вызвать неконтролируемое изменение
однородности оптических элементов. При повыщении точности измерени интенсивности точность измерени фазы можно довести до 1-2°. Кроме того, обеспечиваетс возможность измерений в ближней зоне отверстий , что значительно снижает требовани к чувствительности приемников, а также возможность создани эталонной опорной волны дл контрол качества изготовлени оптических элементов.
Claims (2)
- Формула изобретениИнтерференционный способ измерени распределени фазы по сечению пучка лазера непрерывного действи , основанный на получении интерференционной картины между различными участками пучка, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности измерени , интерференционнуюкартину получают от двух отверстий в непрозрачном экране, который размещают на пути пучка, перемещают экран поперек пучка с шагом, равным рассто нию между отверсти ми , измер ют интенсивность света вполученных дискретных положени х экрана посредством фотоприемника с диафрагмой, которые жестко св заны с экраном и размещены за ним в ближней зоне отверстий, и по измеренным значени м суд т о.распределении фазы.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Линник В. П. и др. Интерферометр дл исследовани фронта волны лазера. ОМП,1971, № 11, с. 27-29.
- 2. Черемискин И. В., Чехлова Т. К. Измерение фазового распределени пол на выходном зеркале оптического квантового генератора . «Оптика и спектроскопи , 1972, т. 32, вып. 1, с. 160-162..1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502152254A SU575917A1 (ru) | 1975-06-27 | 1975-06-27 | Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502152254A SU575917A1 (ru) | 1975-06-27 | 1975-06-27 | Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU575917A1 true SU575917A1 (ru) | 1978-07-30 |
Family
ID=20625299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7502152254A SU575917A1 (ru) | 1975-06-27 | 1975-06-27 | Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU575917A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4212540A (en) * | 1978-11-29 | 1980-07-15 | Rca Corporation | Testing the divergence of a beam from a laser |
-
1975
- 1975-06-27 SU SU7502152254A patent/SU575917A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4212540A (en) * | 1978-11-29 | 1980-07-15 | Rca Corporation | Testing the divergence of a beam from a laser |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3645623A (en) | Apparatus for monitoring film thickness by reflecting a light beam from the film surface | |
GB2183418A (en) | Determining distance to a surface | |
JP2732849B2 (ja) | 干渉測長器 | |
US3921080A (en) | Analog data processor | |
US3708229A (en) | System for measuring optical path length across layers of small thickness | |
SU575917A1 (ru) | Интерференционный способ измерени распределени фазы по сесечнию пучка лазера | |
US3322962A (en) | Method and apparatus for continuously measuring applied coatings employing photoelectric means | |
US4395124A (en) | Apparatus for position encoding | |
US4345838A (en) | Apparatus for spectrometer alignment | |
JPH0118371B2 (ru) | ||
JPS5821527A (ja) | フ−リエ変換型赤外分光光度計 | |
SU935716A1 (ru) | Интерференционный спектрометр | |
RU2055309C1 (ru) | Устройство для измерения колебаний объекта | |
SU1716360A1 (ru) | Устройство дл измерени спектрального коэффициента пропускани объектива | |
SU1599723A1 (ru) | Устройство дл измерени показател преломлени светорассеивающей среды | |
SU1668922A1 (ru) | Способ определени коэффициента пропускани объектива | |
SU1116333A1 (ru) | Способ контрол качества оптических систем и устройство дл его осуществлени | |
SU1067449A1 (ru) | Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов | |
SU1413415A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий | |
JPS5451863A (en) | Surface roughness measuring apparatus | |
SU1500916A1 (ru) | Способ прецизионного определени положений интерференционных полос в шкале волновых чисел | |
SU1260681A1 (ru) | Интерференционное измерительное устройство | |
SU629444A1 (ru) | Устройство дл измерени смещени контролируемой поверхности | |
SU1531690A1 (ru) | Способ измерени длины волны излучени и измеритель дл его осуществлени | |
SU1343242A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы сферических поверхностей |