SU557621A1 - Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей - Google Patents

Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей

Info

Publication number
SU557621A1
SU557621A1 SU7502179124A SU2179124A SU557621A1 SU 557621 A1 SU557621 A1 SU 557621A1 SU 7502179124 A SU7502179124 A SU 7502179124A SU 2179124 A SU2179124 A SU 2179124A SU 557621 A1 SU557621 A1 SU 557621A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
hologram
curvature
radius
light
point
Prior art date
Application number
SU7502179124A
Other languages
English (en)
Inventor
В.В. Казанкова
Н.П. Ларионов
А.В. Лукин
К.С. Мустафин
Р.А. Рафиков
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU7502179124A priority Critical patent/SU557621A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU557621A1 publication Critical patent/SU557621A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Claims (2)

  1. Здесь 1 - свет ща  точка (монохро матический источник света); 2 - голо грамма; 3 - чувствительный щуп с отсчетньам устройством; 4 - контролируе ма  поверхность с центром кривизны; 5 - объектив; 6 - контрольный прибор В качестве контрольного прибора, обе печивающего формирование свет щейс  точки 1 и юстировку, схемы, использую .либо автрколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймаиа-Гри на. Оюсоб осуществл етс  следующим образом. При контроле вогнутых повер ностей голограмму 2 устанавливают на рассто нии R от свет щейс  точки 1 и наблюдают ее автоколлимационное изображение .{фиг.1). При контроле выпуклых поверхностей голограг му 2 устанавливают на рассто нии R отизображели  С свет щейс  точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2) Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производ т первый отсчет, голограг11му замен ют контроли руемойповерхыость.ю 4, фиксируют ее положение, при котором наблюдают автоколлимационное .изображение точки 1, производ т второй отсчет и по разности двух отсчетов определ ют знак и величину отступлени  ДК радиуса кривизны контролируемой пове ности от теоретического значени  R. При этом радиус R и параметры голорраммы св заны соотношением )7TF-Tl-ilB(m-:fiti);(i) где R теоретический радиус кривизны контролируемой поверхности, А длина световой волны, п - поР51док дифракции, 0. -скважность, Р координаты начала (-) и конца 14)тп полосы (кольца). Таким образом , измерение большого рассто ни  сводитс -кизмерению малой разности теоретического и фактического радиусов кривизны . Поскольку &R«R, то абсолютна  погрешность измерени  .ДК также значительно ненъше абсолютной погрешности измерени -R, что обуславливает су1че-ственное уменьшение от осительной погрешности измерени  раиуса кривизны контролируемой сфериеской поверхности. Голограмму 2 нарезают алмазным резом на алюмиНированной поверхности текл нной пластинки по рассчитанным из выражени  (1) значени м f (см. например, Буйнов Г.Н. и др. журнал Оптикомеханическа  промышленность , № 4 стр. б, 1971). Использование голограммы в высоких пор дках дифракции ri (см. выражение (1) позвол ет упростить процесс ее изготовлени . При этом дл  достижени  максимальной дифракционной эффективности параметр Q, определ ющий соотношение ширин чередующихс  отражающих и неотражающих полос (колец) голограммы, выбирают из услови : где К 0,1,,.., п -1, Разработанный способ синтезировани  голограмм обеспечивает восстановление волновых фронтов с точностью О,1 X , что гарантирует дифракционный характер распределени  энергии в автоколлимационном изображении свет щейс  точки. Формула изобретени  Способ контрол  радиуса кривизны сферических поверхностей путем получени  автоколлимационного изображени  свет щейс  точки от контролируемой поверхности, от л и ча ющий с   тем, что, с целью повышени  точности, перенос т автоколлимационное изображение с помощью осевой искусственной голограммы и по разности двух отсчетов производ т контроль, .Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе: 1.Авторское свидетельство СССР № 66636, кл. & 01 В 11/24, 1946Г
  2. 2.Кривовед Л.И. и др. Практика оптической измерительной лаборатории . Машиностроение. М., 1974, с, 144.
    Второе Ofrtfvffn
SU7502179124A 1975-10-07 1975-10-07 Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей SU557621A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502179124A SU557621A1 (ru) 1975-10-07 1975-10-07 Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7502179124A SU557621A1 (ru) 1975-10-07 1975-10-07 Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU557621A1 true SU557621A1 (ru) 1978-03-05

Family

ID=20633900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7502179124A SU557621A1 (ru) 1975-10-07 1975-10-07 Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU557621A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108895972A (zh) * 2018-06-27 2018-11-27 中国科学院光电技术研究所 一种基于计算全息的光学元件顶点半径测量的方法和装置
RU200617U1 (ru) * 2020-05-29 2020-11-02 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108895972A (zh) * 2018-06-27 2018-11-27 中国科学院光电技术研究所 一种基于计算全息的光学元件顶点半径测量的方法和装置
RU200617U1 (ru) * 2020-05-29 2020-11-02 Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107036552A (zh) 一种基于光学相移的跨尺度表面形貌测量装置及方法
SU557621A1 (ru) Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей
US4391516A (en) Method of determining an index of refraction profile of an optical fiber
US4222669A (en) Interferometer for determining the shape of an object
Jin et al. Applications of a novel phase-shift method using a computer-controlled polarization mechanism
US4003133A (en) Method for the alignment of machine parts
Quan et al. Application of the holographic carrier fringe and FFT technique for deformation measurement
SU1017923A1 (ru) Устройство дл контрол асферических поверхностей
SU815493A1 (ru) Способ контрол плоскостности гранейТВЕРдОгО ТЕлА, НАпРиМЕР, АлМАзА
RU2186336C1 (ru) Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий
Pluta Variable wavelength interferometry. II. Uniform-field method for transmitted light
RU2769885C1 (ru) Устройство для измерения деформации
JPH02228512A (ja) 固体表面の高精度レーザ計測方法及び装置
SU1747881A1 (ru) Способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
RU2726045C1 (ru) Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты)
SU1044969A1 (ru) Способ измерени профил оптических поверхностей
SU1770738A1 (en) Device for measuring surfaces
SU1283521A1 (ru) Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
SU1113668A1 (ru) Устройство дл контрол линейных размеров объекта
SU741041A1 (ru) Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей
SU800627A1 (ru) Способ контрол формы поверхностишАРиКОВыХ лиНз
SU645021A1 (ru) Оптический микрометр нониального совмещени
SU567947A1 (ru) Способ определени радиуса кривизны вогнутых поверхностей
RU2075727C1 (ru) Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления
RU1827540C (ru) Способ контрол диаметра одножильных световодов