SU557621A1 - Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей - Google Patents
Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностейInfo
- Publication number
- SU557621A1 SU557621A1 SU7502179124A SU2179124A SU557621A1 SU 557621 A1 SU557621 A1 SU 557621A1 SU 7502179124 A SU7502179124 A SU 7502179124A SU 2179124 A SU2179124 A SU 2179124A SU 557621 A1 SU557621 A1 SU 557621A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- hologram
- curvature
- radius
- light
- point
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
Claims (2)
- Здесь 1 - свет ща точка (монохро матический источник света); 2 - голо грамма; 3 - чувствительный щуп с отсчетньам устройством; 4 - контролируе ма поверхность с центром кривизны; 5 - объектив; 6 - контрольный прибор В качестве контрольного прибора, обе печивающего формирование свет щейс точки 1 и юстировку, схемы, использую .либо автрколлимационный микроскоп, либо интерферометр типа Тваймаиа-Гри на. Оюсоб осуществл етс следующим образом. При контроле вогнутых повер ностей голограмму 2 устанавливают на рассто нии R от свет щейс точки 1 и наблюдают ее автоколлимационное изображение .{фиг.1). При контроле выпуклых поверхностей голограг му 2 устанавливают на рассто нии R отизображели С свет щейс точки 1, сформированного объективом 5 (фиг.2) Это положение голограммы фиксируют с помощью щупа 3, производ т первый отсчет, голограг11му замен ют контроли руемойповерхыость.ю 4, фиксируют ее положение, при котором наблюдают автоколлимационное .изображение точки 1, производ т второй отсчет и по разности двух отсчетов определ ют знак и величину отступлени ДК радиуса кривизны контролируемой пове ности от теоретического значени R. При этом радиус R и параметры голорраммы св заны соотношением )7TF-Tl-ilB(m-:fiti);(i) где R теоретический радиус кривизны контролируемой поверхности, А длина световой волны, п - поР51док дифракции, 0. -скважность, Р координаты начала (-) и конца 14)тп полосы (кольца). Таким образом , измерение большого рассто ни сводитс -кизмерению малой разности теоретического и фактического радиусов кривизны . Поскольку &R«R, то абсолютна погрешность измерени .ДК также значительно ненъше абсолютной погрешности измерени -R, что обуславливает су1че-ственное уменьшение от осительной погрешности измерени раиуса кривизны контролируемой сфериеской поверхности. Голограмму 2 нарезают алмазным резом на алюмиНированной поверхности текл нной пластинки по рассчитанным из выражени (1) значени м f (см. например, Буйнов Г.Н. и др. журнал Оптикомеханическа промышленность , № 4 стр. б, 1971). Использование голограммы в высоких пор дках дифракции ri (см. выражение (1) позвол ет упростить процесс ее изготовлени . При этом дл достижени максимальной дифракционной эффективности параметр Q, определ ющий соотношение ширин чередующихс отражающих и неотражающих полос (колец) голограммы, выбирают из услови : где К 0,1,,.., п -1, Разработанный способ синтезировани голограмм обеспечивает восстановление волновых фронтов с точностью О,1 X , что гарантирует дифракционный характер распределени энергии в автоколлимационном изображении свет щейс точки. Формула изобретени Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей путем получени автоколлимационного изображени свет щейс точки от контролируемой поверхности, от л и ча ющий с тем, что, с целью повышени точности, перенос т автоколлимационное изображение с помощью осевой искусственной голограммы и по разности двух отсчетов производ т контроль, .Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе: 1.Авторское свидетельство СССР № 66636, кл. & 01 В 11/24, 1946Г
- 2.Кривовед Л.И. и др. Практика оптической измерительной лаборатории . Машиностроение. М., 1974, с, 144.Второе Ofrtfvffn
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502179124A SU557621A1 (ru) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU7502179124A SU557621A1 (ru) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU557621A1 true SU557621A1 (ru) | 1978-03-05 |
Family
ID=20633900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7502179124A SU557621A1 (ru) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU557621A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108895972A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-11-27 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于计算全息的光学元件顶点半径测量的方法和装置 |
RU200617U1 (ru) * | 2020-05-29 | 2020-11-02 | Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") | Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей |
-
1975
- 1975-10-07 SU SU7502179124A patent/SU557621A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108895972A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-11-27 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于计算全息的光学元件顶点半径测量的方法和装置 |
RU200617U1 (ru) * | 2020-05-29 | 2020-11-02 | Акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (АО "НПО ГИПО") | Голографическое устройство для измерения радиусов кривизны сферических поверхностей |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107036552A (zh) | 一种基于光学相移的跨尺度表面形貌测量装置及方法 | |
SU557621A1 (ru) | Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей | |
US4391516A (en) | Method of determining an index of refraction profile of an optical fiber | |
US4222669A (en) | Interferometer for determining the shape of an object | |
Jin et al. | Applications of a novel phase-shift method using a computer-controlled polarization mechanism | |
US4003133A (en) | Method for the alignment of machine parts | |
Quan et al. | Application of the holographic carrier fringe and FFT technique for deformation measurement | |
SU1017923A1 (ru) | Устройство дл контрол асферических поверхностей | |
SU815493A1 (ru) | Способ контрол плоскостности гранейТВЕРдОгО ТЕлА, НАпРиМЕР, АлМАзА | |
RU2186336C1 (ru) | Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий | |
Pluta | Variable wavelength interferometry. II. Uniform-field method for transmitted light | |
RU2769885C1 (ru) | Устройство для измерения деформации | |
JPH02228512A (ja) | 固体表面の高精度レーザ計測方法及び装置 | |
SU1747881A1 (ru) | Способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей | |
RU2726045C1 (ru) | Сдвиговый спекл-интерферометр (варианты) | |
SU1044969A1 (ru) | Способ измерени профил оптических поверхностей | |
SU1770738A1 (en) | Device for measuring surfaces | |
SU1283521A1 (ru) | Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов | |
SU1113668A1 (ru) | Устройство дл контрол линейных размеров объекта | |
SU741041A1 (ru) | Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей | |
SU800627A1 (ru) | Способ контрол формы поверхностишАРиКОВыХ лиНз | |
SU645021A1 (ru) | Оптический микрометр нониального совмещени | |
SU567947A1 (ru) | Способ определени радиуса кривизны вогнутых поверхностей | |
RU2075727C1 (ru) | Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления | |
RU1827540C (ru) | Способ контрол диаметра одножильных световодов |