SU554576A1 - Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices - Google Patents

Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices

Info

Publication number
SU554576A1
SU554576A1 SU2131681A SU2131681A SU554576A1 SU 554576 A1 SU554576 A1 SU 554576A1 SU 2131681 A SU2131681 A SU 2131681A SU 2131681 A SU2131681 A SU 2131681A SU 554576 A1 SU554576 A1 SU 554576A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
quality factor
devices
measuring
voltage
thermoelectric materials
Prior art date
Application number
SU2131681A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Виталий Павлович Дмитриев
Владимир Васильевич Марычев
Эдуард Исаакович Коман
Николай Алексеевич Чижиков
Эдуард Ваганович Осипов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6793
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6793 filed Critical Предприятие П/Я Р-6793
Priority to SU2131681A priority Critical patent/SU554576A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU554576A1 publication Critical patent/SU554576A1/en

Links

Description

тельные .приборы, т. е. такие, которые могут создавать (или измер ть) как посто нный, так и переменны } так. Втеможно также РГСПОЛЬЗОвание вместо жаждото из у.ниверсаль-н.ых, устройств двух специализированных-на посто нный и переменный ток с соответствующей системой коммутации.instruments, i.e., those that can create (or measure) both constant and variable} as well. Also, it is possible to replace RGSPOLZION instead of the thirst of universal and universal devices, two specialized direct and alternating current devices with the corresponding switching system.

.Перед 1Прове(Дением оонавных измерений источникам 5 уотанавли1вают произвольную величину э.д.с. Омещен:И  U см в /пре,делах шкалы вольтметра 4, завер ют вольтметром 4 значение U с п.ри От1сутств1ии тока через образец 1 и заиисывают это значение. Затем иро1ИЗВОДЯТ две ycTaiHioiBiO4iHbie б&з результатов операции. Сначала .пропускают от лкточни1К .а 2 переменный: -ток через образвц Л и регулируют величину тока до такогоBefore the test (by detecting the measurements of the sources 5, a random electromotive force is placed. Displaced: And U cm in / on the scale of the voltmeter 4, the value of U with voltage meter 4 through sample 1 is checked by the voltmeter 4 and detected value. Then, two ycTaiHioiBiO4iHbie b & 3 results of the operation were then produced. First, they let in from the first K and a 2 alternating: current through the sample L and adjust the current to such

значени  /, чтобы юазение напр жейи  образце и, измер емое вольтметрам 4 ,при закороченном источни1ке 5, ,р ав;н лоСь уста новлен )ной ранее величине э.. .с. iCMem,eHKiH i/ см- Затем пропускают черее обр.азец 1 от источника 2 ;посто .нН|ЫЙ тогК ,и регулируют его до значени  /, равиого устаН013ленной ра«ее велррчиме перемеиного тока /. При ср.ав1Нвни(И в личин лосто нных и (переменных напр. жений и токов сраВ|Нивают абсолютные (,по людулю) зачени  лосто  еньих и 1дей,ст1вующие (эффективные ) значени  (первценных иапр жений и токов. Результатом этих двух установочных  вл етс  равенст1во ладе и  напр жени  на aKTiHBHoiM сапротивлении образца при пролуокании через него заданного (посто нного / величине э.д.с. смещени , установленной ранее, в прадположении, что -со (протиэление образца «е зависит от характера тока,value /, so that the voltage of the sample is measured and, as measured by a voltmeter, 4, with a short-circuited source 5, ..., the voltage is set to a previously determined value of em. iCMem, eHKiH i / cm- Then sample 1 is passed through source 1 from source 2; constant. is set to regulate it to the value of /, set by its alternating current /. When comparing av1Nvni (and in terms of static and (alternating voltages and currents) | Absolute (generally) values of nominal and 1 dei are generated, the (effective) values (of primary voltages and currents. The result of these two attitudes equal to the voltage and voltage across the aKTiHBHoiM resistance of the sample when a given (through a constant / value of the emf displacement, established earlier, is passed through it, which is co-current (the sample dissipation depends on the nature of the current,

IR f/oM. IR f / oM.

После второй установочной операции включают Источннк 5 IB из1мео1Ительную щеть так, чтобы,Э.Д.С. смещени  была, направлена навстречу ооновнаму напр жению на образце и т пои 1проц1уокании, че(рез него гоосто ннрто трка /, К изМер ют вольтметром 4, л запиюьлвают величину результирующего н.а(пр жени  U, которое оказьгоаепс  р авньгмAfter the second installation operation, the Source 5 IB from the 1MemoDal gland is inserted so that, E.D.S. the displacement was directed towards the univ the voltage on the sample and go to a single point, th (the state / state was cut to it, K was measured with a voltmeter 4, the value of the resultant n was measured (the voltage U, which turned out to be

,-f/, 2r-t/cM,, -f /, 2r-t / cM,

содержащим только линейный то zT член:containing only linear then zT member:

Оп1ределенке иоэффищиента, Д0|бротности исследуемого образца, нсход : из записи результатов мзмере1ни  i/ои И U с учетом -замера температуры Т, провод т вычислениемIdentified by the applicant, D0 | Broeness of the sample under test, from the record: from the recording of the results of the measured values i / oi and U taking into account the measurement of the temperature T, is carried out by calculation

-L,  -L,

-/смТ- / cmT

Если при измерени х по описываемому оп/ОСобу Э.Д.С. омещени : выбирать в пределах щкалы .измерител  напр жени -не-1Произ1вольной , а некоторой посто нной дл  всех измерений величины, аа тример С/см const, тоIf, when measured by the described op / OSoba, E.D.S. Obsmeleniya: choose within the range of the measuring voltage tester-not-1 arbitrary, and some constant for all measurements of the magnitude, a trimer C / cm const,

;пр мы. отсчето.м по .шкале измерител  напр жени , отградуированной заранее то закону zT Wconst, определ ют величину гТ. Если .при измерени х ло описанному способу Э.Д.С. смещени  выбирать в пределах шкалы измерител  н.апр 1жени  не произвольной величины, а определенной законом t/см с/Г, где С - посто нный дл  всех кз.мере .ний (Коэффициент, то вычислительна  опера10 ди  по определению добротности свадитс  при любых результатах измерений к делению величины результирующего напр жени  на одну и ту же величину С и может быть aiMeнена .пр мым отсчетом дабротности: z ио ш. кале измерител  напр жени , отградуированной зара.нее по закону г С//С.; pr we The value of rT is determined on the basis of a voltage meter calibrated in advance by the law zT Wconst. If. When measured by the described method of e. displacements choose, within the scale of the meter, of a meter not of an arbitrary value, but determined by the law t / cm s / G, where C is constant for all short-term measures (Coefficient, then the computational operation 10 by definition of quality factor will marry any results measurements to the division of the magnitude of the resulting voltage by the same magnitude C and can be aiMenena.direct measurement of dubroticity: z io w.kale voltage meter, calibrated in advance by the law g C // C.

Если .при измерени х по описанному опособу Э;д.с. смещени  выбирать в .пределах шкалы измерител  1напр жени  не произВ.01ль0 ной величины, а. 0првделе ной законом U (.,,, - ЮР/Т, где р - целое число или нуль, посто нное дл  всех измерений, то вычислительна  «параци  по определению добротности СВО.ДИТСЯ при любых результата.х измерений .кIf. When measured according to the procedure described above; e. the displacement to choose, in the scale limits, of the meter, the voltage is not equal to one magnitude, a. Since the law U (. ,,, is YUR / T, where p is an integer or zero, is constant for all measurements, then the computational parameter, by definition, of the quality factor, is assigned to any measurement result. X

5 уменьшению на р пор дков (IB дес тичной .системе исчислени ) .величины результирующего напр жени  f/, отсчитанной по .шкале измерител  на.пр жени  без ее .предварительной градуировки.5 by a decrease in order of magnitude (IB decimal. Calculus system). The magnitude of the resulting voltage f /, measured on the scale of the meter for the voltage without its preliminary calibration.

0 Предлагаемый способ измерени  коэ.ффициента добротности термоэлектрических материалов и приборов позвол ет в несколько раз (не /менее чем вдвое) ускорить процесс апределени  козфф.и.циента добротности за счет0 The proposed method for measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices allows several times (not less than half) to speed up the process of determining the quality factor of the quality factor due to

5 отказ.а от промежуточных опера1ций измерений , за:писи .результатов измерений и последующих вычислений, так .как изме,р амые параметры Иоследуемых образцов считываютс  пр мо .по Шкале измерительнсго пр.ибора.5 refusal. And from intermediate operations of measurements, for: recording of the results of measurements and subsequent calculations, so as to measure, the parameters of the consecutive samples are read directly. On a scale of measuring free space.

0 Особенно эффекти1вно ианользование .предлагаемого способа на участках Оборки термоэлектрических устройст1в при поточном (контроле и р.азб.р:а.ко(вке термоэлементов и :модулей .0 Especially effective is the use of the proposed method in the areas of frills of thermoelectric devices at flow (control and r.azb.r.: а.ko (thermoelements and: modules).

Claims (3)

1. Barman Т. С.. J Appl Phys 1958 № 29,1. Barman T. S. .. J Appl Phys 1958 № 29, № 10 p. 1373, 374.No. 10 p. 1373, 374. 2. М.ар;Иман М. А., Марычева Г. П., Симановокий л. М. Заводска  лаборатори , 1970, -т. ..36, jYo 12, (С. 1523.2. M.ar; Iman M.A., Marycheva G.P., Simanovky l. M. Factory Lab, 1970, -t. ..36, jYo 12, (p. 1523. 3. Отчет Всеооюэного 1науч«о-иос 1едовательокого и«1ститут1а холодильной иромыш енности , ,решстр. № 71045Э9б, М., 1970, с. 20-21.3. The report of the All-Inclusive “About-iedovodokogo” and “Institute of Refrigeration and Industry, resh. No. 71045E9b, M., 1970, p. 20-21. ../ 8 ...г../ 8 ... g Ui.Ui.
SU2131681A 1975-05-08 1975-05-08 Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices SU554576A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2131681A SU554576A1 (en) 1975-05-08 1975-05-08 Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2131681A SU554576A1 (en) 1975-05-08 1975-05-08 Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU554576A1 true SU554576A1 (en) 1977-04-15

Family

ID=20618611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2131681A SU554576A1 (en) 1975-05-08 1975-05-08 Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU554576A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4063447A (en) Bridge circuit with drift compensation
US6239351B1 (en) Multi-wire self-diagnostic thermocouple
US4398145A (en) Electrical resistance measurement
SU554576A1 (en) Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices
US3447075A (en) Equal currents potentiometer circuits for measurements of resistances-particularly temperature-sensitive resistances
US2678422A (en) Electrical measuring system
US3607701A (en) Electrochemical analyzer for measuring the oxygen content of hot gases
US3077775A (en) Scanning apparatus
US3313140A (en) Automatic calibration of direct current operated measuring instruments
US3211050A (en) Recording spectral-flame photometer apparatus and method
US4114421A (en) Apparatus for measuring the concentration of impurities within a substance
US2942113A (en) Measuring system
US3730869A (en) Corrosion ratemeter
US3368148A (en) Method and device for measuring the specific electric resistance of electronic semiconductors
US2953748A (en) Transistor testing
SU857839A1 (en) Electric conductance converter
SU363001A1 (en) METHOD OF TEMPERATURE MEASUREMENT BY THERMOPARA
US1441207A (en) Pyrometer
RU2024013C1 (en) Method of and device for determining heat conductance of solid materials
GB1014829A (en) Arrangements for measuring electrical properties of semiconductors
SU830224A1 (en) Method of analysis of gases by thermal conductance
RU2017089C1 (en) Method of temperature measurement
SU1026093A1 (en) Device for measuring field transistor pair difference of shutter-to-source voltage
SU493718A1 (en) Measurement of chemical potential of water
SU1374120A1 (en) Method and apparatus for measuring relative value of specific electric conductance of electrically-conducting articles