SU554576A1 - Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices - Google Patents
Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devicesInfo
- Publication number
- SU554576A1 SU554576A1 SU2131681A SU2131681A SU554576A1 SU 554576 A1 SU554576 A1 SU 554576A1 SU 2131681 A SU2131681 A SU 2131681A SU 2131681 A SU2131681 A SU 2131681A SU 554576 A1 SU554576 A1 SU 554576A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- quality factor
- devices
- measuring
- voltage
- thermoelectric materials
- Prior art date
Links
Description
тельные .приборы, т. е. такие, которые могут создавать (или измер ть) как посто нный, так и переменны } так. Втеможно также РГСПОЛЬЗОвание вместо жаждото из у.ниверсаль-н.ых, устройств двух специализированных-на посто нный и переменный ток с соответствующей системой коммутации.instruments, i.e., those that can create (or measure) both constant and variable} as well. Also, it is possible to replace RGSPOLZION instead of the thirst of universal and universal devices, two specialized direct and alternating current devices with the corresponding switching system.
.Перед 1Прове(Дением оонавных измерений источникам 5 уотанавли1вают произвольную величину э.д.с. Омещен:И U см в /пре,делах шкалы вольтметра 4, завер ют вольтметром 4 значение U с п.ри От1сутств1ии тока через образец 1 и заиисывают это значение. Затем иро1ИЗВОДЯТ две ycTaiHioiBiO4iHbie б&з результатов операции. Сначала .пропускают от лкточни1К .а 2 переменный: -ток через образвц Л и регулируют величину тока до такогоBefore the test (by detecting the measurements of the sources 5, a random electromotive force is placed. Displaced: And U cm in / on the scale of the voltmeter 4, the value of U with voltage meter 4 through sample 1 is checked by the voltmeter 4 and detected value. Then, two ycTaiHioiBiO4iHbie b & 3 results of the operation were then produced. First, they let in from the first K and a 2 alternating: current through the sample L and adjust the current to such
значени /, чтобы юазение напр жейи образце и, измер емое вольтметрам 4 ,при закороченном источни1ке 5, ,р ав;н лоСь уста новлен )ной ранее величине э.. .с. iCMem,eHKiH i/ см- Затем пропускают черее обр.азец 1 от источника 2 ;посто .нН|ЫЙ тогК ,и регулируют его до значени /, равиого устаН013ленной ра«ее велррчиме перемеиного тока /. При ср.ав1Нвни(И в личин лосто нных и (переменных напр. жений и токов сраВ|Нивают абсолютные (,по людулю) зачени лосто еньих и 1дей,ст1вующие (эффективные ) значени (первценных иапр жений и токов. Результатом этих двух установочных вл етс равенст1во ладе и напр жени на aKTiHBHoiM сапротивлении образца при пролуокании через него заданного (посто нного / величине э.д.с. смещени , установленной ранее, в прадположении, что -со (протиэление образца «е зависит от характера тока,value /, so that the voltage of the sample is measured and, as measured by a voltmeter, 4, with a short-circuited source 5, ..., the voltage is set to a previously determined value of em. iCMem, eHKiH i / cm- Then sample 1 is passed through source 1 from source 2; constant. is set to regulate it to the value of /, set by its alternating current /. When comparing av1Nvni (and in terms of static and (alternating voltages and currents) | Absolute (generally) values of nominal and 1 dei are generated, the (effective) values (of primary voltages and currents. The result of these two attitudes equal to the voltage and voltage across the aKTiHBHoiM resistance of the sample when a given (through a constant / value of the emf displacement, established earlier, is passed through it, which is co-current (the sample dissipation depends on the nature of the current,
IR f/oM. IR f / oM.
После второй установочной операции включают Источннк 5 IB из1мео1Ительную щеть так, чтобы,Э.Д.С. смещени была, направлена навстречу ооновнаму напр жению на образце и т пои 1проц1уокании, че(рез него гоосто ннрто трка /, К изМер ют вольтметром 4, л запиюьлвают величину результирующего н.а(пр жени U, которое оказьгоаепс р авньгмAfter the second installation operation, the Source 5 IB from the 1MemoDal gland is inserted so that, E.D.S. the displacement was directed towards the univ the voltage on the sample and go to a single point, th (the state / state was cut to it, K was measured with a voltmeter 4, the value of the resultant n was measured (the voltage U, which turned out to be
,-f/, 2r-t/cM,, -f /, 2r-t / cM,
содержащим только линейный то zT член:containing only linear then zT member:
Оп1ределенке иоэффищиента, Д0|бротности исследуемого образца, нсход : из записи результатов мзмере1ни i/ои И U с учетом -замера температуры Т, провод т вычислениемIdentified by the applicant, D0 | Broeness of the sample under test, from the record: from the recording of the results of the measured values i / oi and U taking into account the measurement of the temperature T, is carried out by calculation
-L, -L,
-/смТ- / cmT
Если при измерени х по описываемому оп/ОСобу Э.Д.С. омещени : выбирать в пределах щкалы .измерител напр жени -не-1Произ1вольной , а некоторой посто нной дл всех измерений величины, аа тример С/см const, тоIf, when measured by the described op / OSoba, E.D.S. Obsmeleniya: choose within the range of the measuring voltage tester-not-1 arbitrary, and some constant for all measurements of the magnitude, a trimer C / cm const,
;пр мы. отсчето.м по .шкале измерител напр жени , отградуированной заранее то закону zT Wconst, определ ют величину гТ. Если .при измерени х ло описанному способу Э.Д.С. смещени выбирать в пределах шкалы измерител н.апр 1жени не произвольной величины, а определенной законом t/см с/Г, где С - посто нный дл всех кз.мере .ний (Коэффициент, то вычислительна опера10 ди по определению добротности свадитс при любых результатах измерений к делению величины результирующего напр жени на одну и ту же величину С и может быть aiMeнена .пр мым отсчетом дабротности: z ио ш. кале измерител напр жени , отградуированной зара.нее по закону г С//С.; pr we The value of rT is determined on the basis of a voltage meter calibrated in advance by the law zT Wconst. If. When measured by the described method of e. displacements choose, within the scale of the meter, of a meter not of an arbitrary value, but determined by the law t / cm s / G, where C is constant for all short-term measures (Coefficient, then the computational operation 10 by definition of quality factor will marry any results measurements to the division of the magnitude of the resulting voltage by the same magnitude C and can be aiMenena.direct measurement of dubroticity: z io w.kale voltage meter, calibrated in advance by the law g C // C.
Если .при измерени х по описанному опособу Э;д.с. смещени выбирать в .пределах шкалы измерител 1напр жени не произВ.01ль0 ной величины, а. 0првделе ной законом U (.,,, - ЮР/Т, где р - целое число или нуль, посто нное дл всех измерений, то вычислительна «параци по определению добротности СВО.ДИТСЯ при любых результата.х измерений .кIf. When measured according to the procedure described above; e. the displacement to choose, in the scale limits, of the meter, the voltage is not equal to one magnitude, a. Since the law U (. ,,, is YUR / T, where p is an integer or zero, is constant for all measurements, then the computational parameter, by definition, of the quality factor, is assigned to any measurement result. X
5 уменьшению на р пор дков (IB дес тичной .системе исчислени ) .величины результирующего напр жени f/, отсчитанной по .шкале измерител на.пр жени без ее .предварительной градуировки.5 by a decrease in order of magnitude (IB decimal. Calculus system). The magnitude of the resulting voltage f /, measured on the scale of the meter for the voltage without its preliminary calibration.
0 Предлагаемый способ измерени коэ.ффициента добротности термоэлектрических материалов и приборов позвол ет в несколько раз (не /менее чем вдвое) ускорить процесс апределени козфф.и.циента добротности за счет0 The proposed method for measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices allows several times (not less than half) to speed up the process of determining the quality factor of the quality factor due to
5 отказ.а от промежуточных опера1ций измерений , за:писи .результатов измерений и последующих вычислений, так .как изме,р амые параметры Иоследуемых образцов считываютс пр мо .по Шкале измерительнсго пр.ибора.5 refusal. And from intermediate operations of measurements, for: recording of the results of measurements and subsequent calculations, so as to measure, the parameters of the consecutive samples are read directly. On a scale of measuring free space.
0 Особенно эффекти1вно ианользование .предлагаемого способа на участках Оборки термоэлектрических устройст1в при поточном (контроле и р.азб.р:а.ко(вке термоэлементов и :модулей .0 Especially effective is the use of the proposed method in the areas of frills of thermoelectric devices at flow (control and r.azb.r.: а.ko (thermoelements and: modules).
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2131681A SU554576A1 (en) | 1975-05-08 | 1975-05-08 | Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2131681A SU554576A1 (en) | 1975-05-08 | 1975-05-08 | Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU554576A1 true SU554576A1 (en) | 1977-04-15 |
Family
ID=20618611
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2131681A SU554576A1 (en) | 1975-05-08 | 1975-05-08 | Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU554576A1 (en) |
-
1975
- 1975-05-08 SU SU2131681A patent/SU554576A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4063447A (en) | Bridge circuit with drift compensation | |
US6239351B1 (en) | Multi-wire self-diagnostic thermocouple | |
US4398145A (en) | Electrical resistance measurement | |
SU554576A1 (en) | Method of measuring the quality factor of thermoelectric materials and devices | |
US3447075A (en) | Equal currents potentiometer circuits for measurements of resistances-particularly temperature-sensitive resistances | |
US2678422A (en) | Electrical measuring system | |
US3607701A (en) | Electrochemical analyzer for measuring the oxygen content of hot gases | |
US3077775A (en) | Scanning apparatus | |
US3313140A (en) | Automatic calibration of direct current operated measuring instruments | |
US3211050A (en) | Recording spectral-flame photometer apparatus and method | |
US4114421A (en) | Apparatus for measuring the concentration of impurities within a substance | |
US2942113A (en) | Measuring system | |
US3730869A (en) | Corrosion ratemeter | |
US3368148A (en) | Method and device for measuring the specific electric resistance of electronic semiconductors | |
US2953748A (en) | Transistor testing | |
SU857839A1 (en) | Electric conductance converter | |
SU363001A1 (en) | METHOD OF TEMPERATURE MEASUREMENT BY THERMOPARA | |
US1441207A (en) | Pyrometer | |
RU2024013C1 (en) | Method of and device for determining heat conductance of solid materials | |
GB1014829A (en) | Arrangements for measuring electrical properties of semiconductors | |
SU830224A1 (en) | Method of analysis of gases by thermal conductance | |
RU2017089C1 (en) | Method of temperature measurement | |
SU1026093A1 (en) | Device for measuring field transistor pair difference of shutter-to-source voltage | |
SU493718A1 (en) | Measurement of chemical potential of water | |
SU1374120A1 (en) | Method and apparatus for measuring relative value of specific electric conductance of electrically-conducting articles |