Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к измерению разности напр жений затвор исток пар полевых транзисторов, и может быть использовано дл подбора и контрол качества hap полевых .транзисторов в процессе производства . Известно устройство дл подбора пар транзисторов, содержащее два св занных электрических моста с испытуе мыми транзисторами в плечах, индикатор, усилители, генератор синусоидального напр жени , управл емый источник посто нного тока {i , Это устройство обеспечиваетподбор пар бипол рных транзисторов по основным параметрам, но не может быть использовано дл измерени раз ности напр жени затвор-исток и тем пературного дрейфа полевых транэисторов . Известно также устройство дл из мерени разности напр жений затвористок пар полевых траНзисто1Х)В, содержащее генератор тока, соединенны с истоками транзисторов, первый зат вор подключен к общей шине, второй затвор соединен с вольтметрс н, первый и второй стоки полевых транзисторов св заны с первыми выводами первого и второго резисторов, вторы выводы которых соединены друг с дру гсэм, источник напр жени стока, один из выходов которого соединен с общей шиной 2 . Такое устройство не обеспечивает высокой точности и скорости измерен что обусловлено визуальным отсчето показаний по стрелочным приборам и ручной установкой режима измерений. Цель изобретени - повышение точ ности и быстродействи измерений. Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство, содержащее г нератор тока, соединенный с клеммой дл подключени истоков пар полевых транзисторов, клемму дл подключени первого затвора пар полевых транзис торов, соединенную с общей шиной,, клемму дл подключени второго затв ра пар полевых транзисторов, соединенную с входом вольтметра, первую и вторую клеммы дл подключени пер вого и второго стоков пар полевых транзисторов, соединенные с первыми выводами первого и второго резисторов , соответственно, вторые выводы которых подключены друг к другу, ис точник напр же.ни стока, один из. вы ходов которого соединен с шиной , введены вычитатель компаратор с источником опорного напр жени , дифференциальный усилитель и регулирующий элемент, причем первый вход вычитател соединен с выходом генератора тока, а второй - с первы выводом второго резистора, выход вычитател подключен к первому .входу компаратора, второй вход которогосоединен с выходом источника опорного напр жени , а выход - с управл ющим входом регулирующего элемента , вход которого подключен к выходу источника напр жени стока, а выход - к общей точке соединени первого и вторбго резисторов, первые ВЫВОДИЛ которых подключены к первому и второму входам дифференциального усилител соответственно, выход которого соединен с входом вольтметра . На чертеже представлена структурна схема устройства. Устройство содержит измер емую пару транзисторов, подключаемую с помощью клемм 1-5 к измерительному устройству, генератор б тока, резисторы 7 и 8 нагрузки, вычитатель 9j компаратор 10 с источником 11 опорного напр жени , регулирующий элемент 12, источник 13 напр жени стока, дифференциальный усилитель 14 и вольтметр 15. Устройство работает следующим образетл. К схеме подключают испытуемую пару полевых транзисторов. Начальное падение напр жени сток - исток определ етс током генератора 6. G выхода вычитател 9 разность напр жений поступает на вход компаратора 10, который сравнивает входное напр жение с опорным. Опорное напр жение равно заданному значению режима измерени . С выхода компаратора сигнал ошибки поступает на регулирующий элемент 12, который автоматически измен ет напр жение в точке 16 до заданного значени режима измерени , т.е. const. Входы дифференциального усилител 14, подключенного к стокам поЛевых транзисторов, выдают сигнал разбаланса напр жений и , который поступает на затвор испытуемого транзистора и автоматически с высокой точностью устанавливает такое значение напр жени на затворе , при котором напр жение U 0, что соответствует режиму измерени разности напр жений затвор исток пары полевых транзисторов. Предлагаемое устройство автоматически с высокой точностью устанавливает заданный режим измерени , балансирует измер емую пару полевых транзисторов и измер ет разность напр жений ли (U,u, - ). Величина температурного дрейфа. определ етс как отношение измерени разности напр жений затвор исток пары .транзисторов от воздейстВИЯ температуры к соответствующему изменению температурыThe invention relates to a measurement technique, namely to measuring the difference of the gate voltage to the source of pairs of field effect transistors, and can be used to select and control the quality of hap field transistors in the production process. A device for selecting pairs of transistors containing two coupled electric bridges with test transistors in the arms, an indicator, amplifiers, a sinusoidal voltage generator, a controlled DC source {i, is known. This device provides for the selection of pairs of bipolar transistors according to the main parameters, but cannot be used to measure the difference between the gate-source voltage and the temperature drift of field effectors. It is also known a device for measuring the difference in voltage between gaters and field couples containing an electric generator connected to the sources of transistors, the first plug connected to a common bus, the second gate connected to voltmeters, the first and second drains of field-effect transistors connected to the first the terminals of the first and second resistors, the second of which the terminals are connected to each other, the source of the drain voltage, one of the outputs of which is connected to the common bus 2. Such a device does not provide high accuracy and speed is measured due to the visual reading of the readings on the switch instruments and the manual setting of the measurement mode. The purpose of the invention is to improve the accuracy and speed of measurements. The goal is achieved by the fact that in a device containing a current source connected to a terminal for connecting sources of field-effect transistors, a terminal for connecting a first gate of a pair of field-effect transistors, connected to a common bus, a terminal for connecting a second gate of field-effect transistors, connected to the input of a voltmeter, the first and second terminals for connecting the first and second effluent pairs of field-effect transistors connected to the first terminals of the first and second resistors, respectively, the second terminals of which are connected us to each other, the source for example. the drain, one of. whose outputs are connected to the bus, a comparator with a voltage source, a differential amplifier and a regulating element are introduced, the first input of the subtractor is connected to the output of the current generator, and the second to the first output of the second resistor, the output of the subtractor is connected to the first comparator input the second input is connected to the output of the source of the reference voltage, and the output is connected to the control input of the regulating element, the input of which is connected to the output of the source of the drain voltage, and the output to the common point and the first and second resistors, the first output of which is connected to the first and second inputs of the differential amplifier, respectively, the output of which is connected to the input of a voltmeter. The drawing shows a block diagram of the device. The device contains a measurable pair of transistors connected via terminals 1-5 to a measuring device, a current generator 6, load resistors 7 and 8, a subtractor 9j comparator 10 with a source 11 of the reference voltage, a regulating element 12, a source of the drain voltage 13, differential amplifier 14 and a voltmeter 15. The device operates as follows. The test pair of field-effect transistors is connected to the circuit. The initial voltage drop-source voltage is determined by the generator current 6. The output of the subtractor 9 is the difference of the voltage applied to the input of the comparator 10, which compares the input voltage with the reference voltage. The reference voltage is equal to the specified value of the measurement mode. From the comparator output, an error signal is fed to the regulating element 12, which automatically changes the voltage at point 16 to a predetermined value of the measurement mode, i.e. const. The inputs of the differential amplifier 14 connected to the drains of field-effect transistors, produce a voltage unbalance signal and, which goes to the gate of the tested transistor and automatically with high accuracy sets the gate voltage at which the voltage U 0, which corresponds to the mode of measuring the difference of voltage Zheniy gate source of a pair of field-effect transistors. The proposed device automatically sets the specified measurement mode with high accuracy, balances the measured pair of field-effect transistors and measures the difference between the voltages (U, u, -). The magnitude of the temperature drift. is defined as the ratio of the measurement of the voltage difference between the gate and the source of a pair of transistors due to the effect of temperature on the corresponding change in temperature
All..,,/.cAll .. ,, /. C
ЛТ Т LT T
при УСЦ const,with RCT const,
- разность напр жений эа вор-исток napiJ транэис торов при равных значени х токов стоков и нормальной температуре окружающей среды; iUcjy - разность напр жений при повьвиенной температуре} AT - разность температур, С, - the difference of the voltage of the evo-source napiJ of the tran- torors at equal values of the currents of the effluent and the normal ambient temperature; iUcjy is the voltage difference at the outside temperature} AT is the temperature difference, C,