SU550564A1 - Модул ционный способ определени показател пластин - Google Patents

Модул ционный способ определени показател пластин

Info

Publication number
SU550564A1
SU550564A1 SU2149487A SU2149487A SU550564A1 SU 550564 A1 SU550564 A1 SU 550564A1 SU 2149487 A SU2149487 A SU 2149487A SU 2149487 A SU2149487 A SU 2149487A SU 550564 A1 SU550564 A1 SU 550564A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plate
light
incidence
modulation method
angle
Prior art date
Application number
SU2149487A
Other languages
English (en)
Inventor
Дмитрий Орестович Бродичко
Original Assignee
Кишиневский Государственный Педагогический Институт Им.И.Крянгэ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Кишиневский Государственный Педагогический Институт Им.И.Крянгэ filed Critical Кишиневский Государственный Педагогический Институт Им.И.Крянгэ
Priority to SU2149487A priority Critical patent/SU550564A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU550564A1 publication Critical patent/SU550564A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Насто щее изобретение может быть использовано в оптикомеханической промышленности при измерени х показателей преломлени  и толидины пластин.
Известен способ определени  показателей преломлени  оптически прозрачных объектов по интерференционной картине, получаемой в интерферометре 1. При исследовании плоско-параллельных образцов интерференционна  картина может получатьс  и без интерферометра . При этом получаютс  так называемые полосы равной толщины или равного наклона 2. По этим интерференционным картинам также можно определить показатель преломлени .
Дл  определени  величины угла падени  света, при котором образуютс  максимум и минимум интерференционной картины, папример фотоэлектрическим методом, измер етс  зависимость интенсивности прошедшего через пластинку света от угла падени . Дл  уменьшени  вли ни  рассе нного света прошедший через пластинку свет модулируетс , а фотодетектор подключаетс  к измерительному избирательному прибору.
В условие образовани  интерференционных полос, кроме пор дка полосы, входит хот  бы один показатель преломлени . Поэтому дл  увеличени  числа уравнений обычно рассматривают динамику интерференционНОИ картины, получаемой от пластины при вращении последней, т. е. при разных углах падени  света 3.
Естественно, что в данном случае точность определени  показател  преломлени  ограничена погрешност ми при измерении угла падени  света на пластинку, т. к. в зависимости от угла падени  кажда  полоса имеет определенную ширину. Кроме того, трудно найти положение пластинки, в котором свет падает нормально поверхности пластины, т. к. чаще всего в таком полол ении пор док интерференционной полосы пе  вл етс  целым или полуцелым числом. Погрешности при измерении соответствующих углов падени  света особенно заметны при небольших углах падени  и при тонких или слабо двулучепреломл ющих пластинах (из-за большой угловой ширины полос).
Целью насто щего изобретени   вл етс  повышение точности измерений показател  преломлени .
Цель достигаетс  сн тием дифференциальной зависимости интенсивности прошедшего или отраженного пластинкой света от угла падени  модулированного света. Дл  этого пластину при ее врашении одновременно привод т в колебательное движение вокруг оси вращени  с частотой, на которой регистрируют картину с помощью избирательного усилител . Сигнал на выходе усилител  будет пропорционален производной по углу падени  от интенсивности прошедшего через пластинку света. Следовательно, дл  углов, при которых образуетс  максимум или минимум интерференционной картины и дл  нормального положени  пластинки, сигнал равен нулю .
Предложенный способ использовалс  дл  регистрации смещени  интерференционной картины от кристаллической пластинки окиси цинка ZnO при вращении вокруг оптической оси. Пластинка устанавливалась на колеблюшуюс  ось пол ризованного реле, обмотки которого подключались к звуковому генератору . Амплитуда колебаний составл ла 0,05. Если теперь избирательный усилитель настроить на частоту качани , то изме ., dlр етс  сигнал , где -величина,
da
пропорциональна  интенсивности прошедшего через пластинку света при угле падени  а. Если пластинку вместе с пол ризованным реле одновременно враш;ать, то дл  углов, при которых образуютс  интерференционные полосы, А1 0, т. е. число максимумов и минимумов «увеличиваетс  вдвое. При нормальном падении света на пластинку всегда А1 0.
Свет от газового лазера после прохождеПИЯ через кристаллическую пластинку ZnO, вырезанную параллельно оптической оси и помеш,енную между двум  скрещенными пол ризаторами , главные плоскости которых образовали угол 45° с главным сечением пластинки, попадал на фотодиод, включенный на вход избирательного усилител .
Эффективность предложенного способа состоит в том, что углова  ширина максимумов и минимумов на дифференциальной кривой цропускани  получаетс  вдвое меньше, чем на зависимости пропускани  от угла падени  света. Отсутствие сигнала при нормальном падении света на пластинку также повышает точность измерени  угла падени  света.

Claims (3)

1.А. М. Борбат и др. «Оптические измерени , Киев, 1967, § 45.
2.Там же, стр. 206-210.
3.Appl. Optics, 1971, № 10, 2344-2349 (прототип).
SU2149487A 1975-07-01 1975-07-01 Модул ционный способ определени показател пластин SU550564A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2149487A SU550564A1 (ru) 1975-07-01 1975-07-01 Модул ционный способ определени показател пластин

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2149487A SU550564A1 (ru) 1975-07-01 1975-07-01 Модул ционный способ определени показател пластин

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU550564A1 true SU550564A1 (ru) 1977-03-15

Family

ID=20624427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2149487A SU550564A1 (ru) 1975-07-01 1975-07-01 Модул ционный способ определени показател пластин

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU550564A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0543961B2 (ru)
US3708229A (en) System for measuring optical path length across layers of small thickness
CA1189725A (en) Dual-polarization interferometer with a single-mode waveguide
SU550564A1 (ru) Модул ционный способ определени показател пластин
JPS63122906A (ja) 膜厚測定装置
JPS5887447A (ja) 群屈折率の高精度測定法
JPS61130887A (ja) レ−ザ−ドツプラ−速度計
JP2592254B2 (ja) 変位量及び変位速度の測定装置
JPS6055011B2 (ja) 温度検出装置
SU706694A1 (ru) Фотоэлектрический автоколлиматор
JPS60104236A (ja) 偏波保持光フアイバのモ−ド複屈折率測定方法およびその装置
SU1280501A1 (ru) Способ определени показател преломлени в инфракрасной области спектра
SU1216751A2 (ru) Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра
RU2061250C1 (ru) Акустооптическое устройство для определения частоты радиочастотного сигнала
SU658411A1 (ru) Устройство дл измерени разности хода в эталоне фабри-перо
SU378758A1 (ru) Устройство для измерения разности фаз между взаимно перпендикулярными компонентами вектора
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
JPH0742084Y2 (ja) 表面形状測定器
JPH06109422A (ja) 変位量測定装置
JPH01305333A (ja) 光ファイバの波長分散測定方法
SU1612201A1 (ru) Способ измерени величины зазора между прозрачными диэлектрическими поверхност ми
SU559127A1 (ru) Двухлучевой фотометр
JPS6484104A (en) Laser interference length measuring machine
GB2066458A (en) Method and Apparatus for Measuring the Optical Retardation of Synthetic Filaments or Film
JPH07110206A (ja) 光ヘテロダイン干渉計