SU494602A1 - Фотоэлектрический микроскоп - Google Patents

Фотоэлектрический микроскоп

Info

Publication number
SU494602A1
SU494602A1 SU1769300A SU1769300A SU494602A1 SU 494602 A1 SU494602 A1 SU 494602A1 SU 1769300 A SU1769300 A SU 1769300A SU 1769300 A SU1769300 A SU 1769300A SU 494602 A1 SU494602 A1 SU 494602A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
stroke
scale
microscope
output
pulses
Prior art date
Application number
SU1769300A
Other languages
English (en)
Inventor
Важа Михайлович Сихарулидзе
Георгий Платонович Зедгинидзе
Original Assignee
Тбилисский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института Метрологии Им.Д.И.Менделеева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Тбилисский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института Метрологии Им.Д.И.Менделеева filed Critical Тбилисский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института Метрологии Им.Д.И.Менделеева
Priority to SU1769300A priority Critical patent/SU494602A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU494602A1 publication Critical patent/SU494602A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может использоватьс  дл  аттестации штриховых линейных мер и угловых лимбов .
Известен фотоэлектрический микроскоп дл  наведени  на штрих штриховой шкалы, содержащий оптическую систему дл  oceenteни  поверхности штриховой шкалы и получени  изобрал ений штриха, состо ш,ую из последовательно расположенных источника света , конденсора, поворотной призмы, объектива и окул ра, сканатор, фотоприемник и блок фиксации момента совмеш ени  импульсов на его выходе.
Недостатком известного микроскопа  вл етс  нестабильность показаний, обусловленна  неустойчивостью работы сканатора, асимметрией профил  штриха и неоднородностью освеш,ени  поверхности шкалы.
С целью повышени  точности наведени  на штрих штриховой шкалы, предлагаемый микроскоп снабжен призмой двойного изображени , установленной между объективом и окул ром .
На фиг. 1 приведена принципиальна  схема фотоэлектрического микроскопа; на фиг. 2- эпюры изменени  выходного напр жени  с фотопреобразовател фотоэлектрического
микроскопа при наведении на штрих (выходной сигнал рассмотрен за промежуток времени , равный периоду сканировани ).
Фотоэлектрический микроскоп содержит источник света 1, конденсор 2, поворотную
призму 3, объектив 4, штриховую шкалу 5, призму ДВОЙНОГО изображени  6, окул р 7, сканиру1ош,ую ш,ель 8, фотопрнемник 9, и блок 10 фиксации момента совмеш,ени  импульсов иа выходе фотоприемника 9, состо ший , например, из последовательно соединенных усилител  11, унивибратора 12, схемы дифференцировани  13 и осциллографа 14 с круговой разверткой и электроннолучевой трубкой с центральным отклон ющим электродом .
Штрихова  шкала 5 располагаетс  таким образом, чтобы изображени  штриха были совмещены в направлении, параллельном ос м штрихов. Щель 8 установлена так, что
длинна  ось ее параллельна ос м изображений штрихов и примерно совпадает с ними при совмешении этих изображений.
Наведение на штрих с помощью фотоэлектрического микроскопа производитс  следующим образом.
При освещении поверхности штриховой шкалы 5 источником света 1 с помощью конденсора 2, поворотной призмы 3 и объектива 4, последний совместно с призмой двойного
изображени  6 и окул ром 7 образует в плоскости щели 8 два налагаемых друг на друга изображени  части поверхности штриховой шкалы со штрихом, на который производитс  наведение.
При относительном смеш,ении фотоэлектрического микроскопа и шкалы 5 в направлении , перпендикул рном штрихам, изображени  штриха перемешаютс  в разные стороны в зависимости от направлени  смеш,ени . В момент точного наведени  на штрих, его изображени  полностью совмеш,аютс .
При сканировании ш,ели 8 относительно изображений штриха на выходе фотоприемника 9 по вл ютс  импульсы фототока, у которых по мере сближени  и совмещени  изображений штриха при наведении измен ютс  фаза, частота, амплитуда и длительность.
В момент совмещени  изображений импульсы на выходе фотоприемника 9 следуют с двойной частотой напр жени  ска-нироваии  и имеют наименьшую длительность и наибольшую амплитуду. Момент минимальной длительности импульсов на выходе фотоумножител  устанавливаетс  визуально на экране осциллографа 14 с круговой разверткой и
электронно-лучевой трубкой с центральным отклон ющим электродом, дл  чего их предварительно преобразуют, формиру  после усилени  усилителем 11 им-пульсы с крутыми
фронтами с помощью унивибратора 12, а затем , с помощью схемы дифференцировани  13, короткие импульсы отрицательной и положительной пол рности, соответствующие переднему и заднему фронтам импульсов с выхода унивибратора 12.
Предмет изобретени 
Фотоэлектрический м,икроскоп дл  наведени  на штрих штриховой шкалы, содержащий оптическую систему дл  освещени  поверхности щтриховой ЩКалы и получени  изображений штриха, состо щую из последовательно расположенных источника света, конденсора , поворотной призмы, объектива и
окул ра, сканатор, фотоприемник и блок фиксации момента совмещени  импульсов на его выходе, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, он снабжен призмой двойного изображени , установленной между
объективом и окул ром.
л
A n П л
Лл
II f1 f
SU1769300A 1972-04-05 1972-04-05 Фотоэлектрический микроскоп SU494602A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1769300A SU494602A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Фотоэлектрический микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1769300A SU494602A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Фотоэлектрический микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU494602A1 true SU494602A1 (ru) 1975-12-05

Family

ID=20509582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1769300A SU494602A1 (ru) 1972-04-05 1972-04-05 Фотоэлектрический микроскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU494602A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU494602A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
JPS56146359A (en) Deflecting device of laser scan
Dobson A flicker type of photo-electric photometer giving high precision
US2968736A (en) Cycling mechanism for photoelectrical devices
SU365555A1 (ru) Цифровой фотоэлектрический автоколлиматор
SU693178A1 (ru) Рефрактометрическа система дл аналитической ультрацентрифуги
SU605082A1 (ru) Устройство дл измерени углов
SU540240A1 (ru) Импульсный фотоэлектрический микроскоп
SU641333A1 (ru) Дифференциальный рефрактометр
SU847019A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл НАВЕдЕНи HA гРАНицу CBETA и ТЕНи
RU2010228C1 (ru) Оптоэлектронный измеритель скорости движения объекта
SU714170A1 (ru) Способ фотометрировани объектов, наход щихс в оптически активной среде,содержащей контрастные включени
SU373720A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ВВОДА ИНФОРМАЦИИ
SU1073572A1 (ru) Фотоэлектрический двухкоординатный автоколлиматор
SU393789A1 (ru) Способ измерения расходимости луча оптического квантового генератора
SU1370457A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени поперечных смещений
SU376784A1 (ru) ВСЕСОЮЗНАЯ <CJ- ПАТЕНТНО • -rz;{;i;fiEc;:\n
SU134038A1 (ru) Фотоэлектрический датчик дл формировани отметок угла поворота
SU593122A1 (ru) Способ измерени коэфициента преломлени веществ
SU838333A1 (ru) Компаратор дл поверки штриховых мер
SU629444A1 (ru) Устройство дл измерени смещени контролируемой поверхности
SU920376A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
SU1089405A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
SU1425734A1 (ru) Устройство дл распознавани цветоконтрастных объектов на фоне с непосто нной ркостью
SU126300A1 (ru) Фотоэлектрический прибор дл седиментометрического анализа суспензий