Изобретение относитс к измерительной техника и может использоватьс дл регистрации границы объекта при линейных и угловых измерени х . Известен фотоэлектрический микрос коп содержащий источник света, оптическую проекционную сист&му, щель, фотоприемник и блок регистрации 1J Недостаток микроскопа-невысока точность измерени , обусловленна нечувствительностью к знаку смещени системы наведени от положени , соответствующего точному наведению на штрих, так как независимо от знака этого смещени два изображени штриха одинаково расход тс и дпительность соответствуюп|их импульсов от совмещенш х изображений штриха в обоих случа х возрастает. Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс фото электрический микроскоп, содержащий источник излучени и оптически св занные проекционную систему, призменный блок в виде двух скрепленных друг с другом светоделительного кубика и двух пр моугольных призм, установленных на смежных гран х симметрично относительно светоделитель- ной диагональной плоскости, щелевой модул тор и регистрирующий блок 2 Недостатком известного микроскопа вл етс невысока точность, обуслов ленна зависимостью результатов измерени от формы и размера штриха, поскольку дп определени положени объекта необходимо получать отсчетны импульсы от обеих границ изображени объекта. Цель изобретени - повышение точности измерени . Указанна цель достигаетс тем, что фотоэлектрический микроскоп, содержащий источник излучени и оптически св заиные проекционную систему призменный блок в виде скрепленных друг с другом светоделительного куби ка и двух пр моугольных призм, установленных на смежных гран х симметр 1чно относительно светоделительной диагональной плоскости, щелевой модул тор и регистрирующий блок, снабжен третьей пр моугольной призмой, установленной с одной из двух пр моугольных призм на грани светоделительного кубика перпендикул рно опти ческой оси микроскопа, щелевой модул тор выполнен в виде двухщелевой диафрагмы, щели которой смещены в противоположные стороны от оптической оси на величину, равную длине щели, а величина смещени двух пр моугольных призм равна рассто нию между щел ми щелевого модул тора. На чертеже представлена схема фотоэлектрического микроскопа. Фотоэлектрический микроскоп содержит источник 1 излучени , проекционную систему 2, призменный блок 3 в виде скрепленных друг с другом светоделительного кубика 4 и трех пр моугольных призм 5-7, призмы 5 и 6 установлены на смежных гран х симмет-. рично относительно светоделительной диагональной плоскости, призмы 6 и 7 установлены на грани светоделительного кубика 4 перпендикул рно оптической оси микроскопа со смещением, щелевой модул тор 8 выполнен в виде двухщелевой Диафрагмы, щели которой смещены в противоположные стороны от оптической оси на величину, равную длине щели, а величина смещени призм 6 и 7 равна рассто нию между щел ми щелевого модул тора В, регистрирующий блок 9, а также объект 10, располагаемый на оптической оси микроскопа между источником I излучени и проекционной системой 2. Устройство работает следуюищм образом . Источник 1 излучени освещает объект 10, изображение границы которого проекционной системой 2 через призменный блок 3 проецируетс в плоскость щелевого модул тора 8. Призмы 6 и 7 двойного изображени , смещены относительно оптической оси микроскопа в противоположные стороны,, при этом в плоскости щелей модул тора 8 образуютс два изображени границы объекта 10, причем одно из изображений имеет вид ступеньки. Световой noTQK через щели модул тора 8 попадает на регистриру101ций блок 9. При перемещении границы объекта 10 к оптической оси микроскопа ва изображени границы объекта 10 перемещаютс в направлении одно к ругому. В момент регистрации полоени границы объекта 10 при совпаении границы объекта 10 с оптичесой осью микроскопа в плоскости щеей щелевого модул тора 8 образуют два щтриховых знака, один - светый на темном поле, другой - темный 3 10894 на светлом поле, причем ширина их одинакова. При отклонении границы объекта 10 относительно оптической оси в ту или иную сторону ширина знаков мен етс , причем одного увеличи-s ваетс , а другого - уменьшаетс . При сканированииизображений границы щелевым модул тором 8 с амплитудой. С ольшей суммы ширины щели и половины ;рассто ни между щел ми, в регистри-ю рующий блок 9 поступают импульсы фототока . В случае, когда граница объекта 10 не доходит до оптической оси или переходит ее, длительности импульсов фототоков не равны и толь-is 054 ко в момент совпадени границы объекта 10 с оптической осью наступает равенство длительностей импульсов. Равенство длительностей импульсов можат быть зафиксировано любым из известных способов, Таким образом, при помощи предлагаемой конструкции фотоэлектрического микроскопа получают т счетные импульсЫ от одной границы изображени объекта, благодар чему на точность измерени не вли ет форма и размер объекта, а также соотношение его с шириной щ&пи модул тора.