SU1705424A1 - Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита - Google Patents
Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита Download PDFInfo
- Publication number
- SU1705424A1 SU1705424A1 SU894792309A SU4792309A SU1705424A1 SU 1705424 A1 SU1705424 A1 SU 1705424A1 SU 894792309 A SU894792309 A SU 894792309A SU 4792309 A SU4792309 A SU 4792309A SU 1705424 A1 SU1705424 A1 SU 1705424A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- annealing
- temperature
- single crystals
- cooling
- crystals
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к способам выращивани монокристаллов со структурой силеннита и позвол ет увеличить производительность способа и предотвратить растрескивание монокристаллов Bli2Ge020 и BI12SI020 диаметром 60-90 мм. Выращивают кристаллы методом Чохральского, отрывают от расплава. Провод т отжиг в ростовой камере при температуре на 25-45°С ниже температуры плавлени , охлаждают со скоростью 10-30 град/ч, а в интервале 500-700°С - со скоростью 2.5-7,0 град/ч. 4 табл.
Description
Изобретение относитс к получению монокристаллов оксидных соединений из расплава, в частности германосилленита и германоэвлитина, методом Чохральского и может быть использовано в химической, металлургической и электронной промышленности .
Известен способ выращивани монокристаллов со структурой силленита по методу Чохральского. Способ включает операции затравливани , выт гивани кристалла , отрыв его от расплава, охлаждение со скоростью 10-15 град/ч и последующий отжиг в специальной печи.
При использовании этого способа невозможно получить качественные кристаллы большого диаметра вследствие формировани в их объеме больших остаточных напр жений, вызывающих растрескивание .
Наиболее близким по технической сущности вл етс способ получени монокристаллов германата висмута по методу Чохральского. включающий операции затравливани , выт гивани , отрыв, охлаждение , нагрев в другой печи с целью проведени вторичного отжига, отжиг при 850°С (Тпл - 73) а течение 8-12 ч. либо при 800°С (Гол - 123) в течение 48 ч и охлаждение со скоростью 5 град/ч (при диаметре выращиваемых монокристаллов до 25 мм). Последовательность операций при получении монокристаллов силиката висмута така же, параметры аналогичны, так как физические свойства германата и силиката висмута близки, различаютс только температуры плавлени : Тпл BGO - 923°С. Тпл BSO - 885°С и, соответствен но температуры отжига .
При использовании известного способа в процессе циклов нагревов и охлаждений (охлаждение после выт гивани , нагрев перед отжигом, охлаждение после отжига) в кристаллах, как и в предыдущем случае, формируютс остаточные термические напр жени , которые могут приводить к растрескиванию , что в производственных услови х не позвол ет получать выход годы
Ј
VI о ел
4 hO N
ного материала при диаметре кристаллов до 60 мм более 7,7%. Кроме этого, известный способ длителен по времени и требует дополнительного (кроме ростового) оборудовани , а именно печей дл отжига.
Цель изобретени - увеличение производительности способа и предотвращение растрескивани монокристаллов Bli2Ge020 и BH2SI020 диаметром 60-90 мм.
Указанна цель достигаетс тем, что в способе получени монокристаллов со структурой силленита на затравку с последующим отрывом, отжиг и охлаждение провод т непосредственно в ростовой камере при температуре ниже температуры плавлени на 25-45°С при осевом градиенте температуры, стрем щемус к нулю, охлаждение в интервале700-500°С ведут со скоростью ( 2,5-7 град/ч (а зависимости от диаметра отжигаемого кристалла), а в остальных интервалах - со скоростью V0xfl2 4 V0xfli град/ч. Скорость охлаждени кристаллов в интервале 700-500°С определ ют на основании диаметра выращенного кристалла.
Дл кристаллов, пластичных в небольшом диапазоне температур, отжиг после выращивани с целью сн ти и перераспределени термических напр жений, возникающих в процессе роста, обычно осуществл етс при температуре, максимально приближенной к температуре плавлени .
Германат и силикат висмута вл ютс хрупкими материалами, пластичными в узком интервале температур. В соответствии с проведенными исследовани ми температурной зависимости предела текучести гер- маната и силиката висмута они станов тс пластичными при температуре более 820°С. Поскольку ниже 820°С предел текучести резко возрастает, отжиг при температуре 820 °С с целью снижени остаточных напр жений не имеет смысла, так как в данном диапазоне температур эти материалы непластичны. Известно, что наиболее эффективным вл етс отжиг при температурах , максимально приближенных к температуре плавлени , а именно Т0тж Тпл - 15. Поскольку в этих услови х идет активное испарение материала с поверхности, а также есть технологические сложности в точном определении температуры, то дл практического использовани целесообразно проводить отжиг при температуре Т0тж Тп - (25-45)°С.
Снижение осевого градиента температуры обеспечивает меньшую суммарную величину внутренних напр жений при росте и охлаждении, и соответственно меньшую веро тность растрескивани кристаллов. Од
нико плотность и распределение дислокаций а кристаллах, выращенных по прототипу и предлагаемому способа, практически одинаковы, что свидетельстс,зт о том, что
напр жени на Фронте кристаллизации в обоих случа х одинаковы.
Это позвол ет сделать вывод о том. что проведение выращивани и последующего отжига кристаллов э ростозой камере, в цен0 тре тепловой зоны с низким осевым градиентом температуры при 840-860°С. дает зозможность уменьшить растрескивание и получени качественных кристаллов не за счет изменени характера распределени
5 температуры на фронте кристаллизации, а за счет уменьшени температурных градиентов в обьеме всего слитка в процессе его выращивани , отжига и охлаждени .
В табл, 1 приведены результаты вли 0 ни температуры отжига и осевых градиентов в печи на выход годного продукта, а именно на выход монокристаллов силиката висмута.
Из табл. 1 видно, что увеличение выхода
5 годного продукта наблюдаетс в тех случа х , когда температура отжига составл ет 840-860°С и сочетаетс с низким осевым градиентом в печи (опыты 7 и 8).
Наличие зысокого осевого градиента
0 при отжиге, даже при правильно подобранной температуре (опыт 5). приводит к растрескиванию слитков. При -занижении температуры отжига и поддержании величины осевого градиента близкой к нулю, на5 блюдаетс весьма незначительный выход годного продукта (опыты 2 и 3). При температуре отжига более 860°С на поверхности слитка по вл лись признаки оплавлени , в св зи с этим проводить отжиг при темпера0 туре более 860°С нецелесообразно. Причина оплавлени слитка следующа . При высоких температурах на поверхности происходит отклонение от стехиометрического состава за счет интенсивного испарени
5 В120з, имеющего более высокое парциальное давление паров по сравнению с SI02 и GeOa. В соответствии с диаграммой состо ни это и приводит к снижению температуры плавлени на поверхности слитка.
0 Из расчетов скорость охлаждени слитков силиката висмута диаметром 65 мм равна 7,1 град/ч, однако проведенные исследовани показали, что использование малых скоростей охлаждени целесообразно лишь
5 в зоне аномального возрастани напр жений . Дл монокристаллов силиката и гер- маната висмута они лежат в диапазоне 500-700°С.
Проведенные эксперименты показали, что скорость охлаждени при температурах
за пределами указанного диапазона можно увеличить до 25-30 град/ч, а в зоне риска проводить замедленное охлаждение со скоростью 2,5-7 град/ч, рассчитанной в зависимости от диаметра слитка. Увеличение скорости охлаждени более 30 град/ч приводит к уменьшению выхода годного продукта , а охлаждение со скоростью менее 10 град/ч непроизводительно.
Результаты вли ни скорости охлаждени по зонам на выход годного приведены в табл. 2.
В табл. 2 обозначены:
1 опыт - охлаждение с одинаковой скоростью во всем диапазоне температур. Выход хороший, но мала производительность (обычна технологи ).
2 и 3 опыты - выход меньше, чем по обычной технологии (столбец 5), но за счет сокращени общего времени процесса увеличиваетс производительность.
4 - опыт - то же, что и опыты 2 и 3. Выход на уровне обычной технологии, но производительность выше.
5 опыт - оптимальное соотношение скоростей охлаждени дл кристаллов диаметром 65 мм.
Из анализа табл. 2 видно, что наиболее оптимальными вл ютс режимы использованные в опытах 4 и 5, так как в этом случае имеет место самый высокий выход годного и высока производительность. Из соотношени столбцов 3 и 4 табл. 2 можно сделать вывод, что ниже 500°С скорость охлаждени кристаллов примерно в 4 раза выше, чем в диапазоне 700-500°С. т.е. VOXn 500 - ткомн.
4V0xn 500-700°С
Пример. По предлагаемому способу проведено выращивание и отжиг монокристаллов германата и силиката висмута диаметром от 65 до 90 мм.
Дл выращивани монокристаллов силиката висмута использовали шихту, синтезированную твердофазным методом из окислов висмута, германи и кремни , вз тых в стехиометрическом соотношении. Шихту наплавл ли в платиновый тигель, установленный в системе теплоизолирующих экранов, расположенных в камере роста, до уровн 4-5 мм ниже его верхней кромки . Наплавление шихты и процесс роста вели в воздушной атмосфере на установке Редмет-8. С целью снижени осевого градиента температуры и проведени совме- щенно го отжига установка снабжена дополнительным нагревателем, который также обеспечивает более стабильную форму фронта кристаллизации и соответствен- но однородное распределение примесей и
меньшую веро тность формировани остаточных напр жений.
После наплавлени шихты, которое осуществл ют увеличением температуры по заданной программе (температура плавлени силиката висмута 885°С) расплав выдерживают 1 ч при незначительном перегреве (на 20°) дл гомогенизации. Затем к поверхности расплава медленно подвод т затрзвоч0 ный кристалл, выдерживают его над расплавом в течение 1 ч (чтобы он прогрелс ), осуществл ют его контакт с расплавом , подъем и разращивают до заданного диаметра (до 90 мм) при регулировании
5 мощности основного и дополнительного нагревател ,
Выт гивание монокристалла при выращивании осуществл ют со скоростью 1- 2 мм/ч и скоростью вращени затравки
0 10 об/мин. Последующий рост монокристалла ведут при посто нной скорости выт гивани и скорости вращени затравки, поддержива диаметр посто нным. При достижении требуемой длины монокристалла
5 рост его цилиндрической части прекращают путем отрыва от расплава. После завершени роста отключают привод вращени штока, на котором держитс выращенный кристалл.
0 Чтобы провести отжиг выращенного монокристалла в печи выращивани , производ т выравнивание температуры по оси дополнительного нагревател и одновременное ее увеличение до температуры отжига.
5 Дл этого мощность дополнительного нагревател необходимо увеличить, а основного уменьшить. В результате в дополнительном нагревателе формируетс однородное тепловое поле.
0 Дл осуществлени отжига силиката висмута непосредственно в печи выращивани после отрыва от расплава кристалл со скоростью 25 м/ч поднимают в центральную часть дополнительного нагревател , а именно в об5 ласть однородного распределени температуры , определенную экспериментально с помощью термопар, установленных вдоль оси нагревател , где при температуре отжига 840-860°С (дл силиката висмута) прово0 д т отжиг в течение 24 ч.
Скорость охлаждени была посто нна во всем интервале температур.
Охлаждение осуществл ют в автоматическом режиме путем параллельного
5 снижени мощности основного и дополнительного нагревателей. Скорость охлаждени кристаллов диаметром 60 мм составл ет 7 град/ч в интервале температур 700-500°С. и 25-30 град/ч при остальных температурах . Скорость охлаждени монокристаллов
диаметром 90 мм составл ет 2.5 град/ч в диапазоне температур 700-500°С. и 10 град/ч при остальных температурах. После охлаждени монокристалла до комнатной температуры его извлекают из печи.
Выход годных монокристаллов при таком способе отжига составил 30%.
В табл. 3 и 4 представлен анализ выхода годного продукта по технологии прототипа и по предлагаемой.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ выращивани монокристаллов со структурой силленита, включающий выт гивание кристалла из расплава на затравку в ростовой камере, отрыв его от расплава, отжиг при температуре ниже температуры плавлени на 24-45°С и охлаждение , отличающийс тем, что. с целью увеличени производительности способа и предотвращени растрескивани монокристаллов BhzGeCteo и BH2SI020 диаметром 60-90 мм, отжиг провод т в ростовой камере, охлаждение ведут со скоростью 10-30 град/ч, а в интервале температур 700-500°С - со скоростью 2,5- 7,0 град/ч.Примечание. Врем выдержки при отжиге составл ет 24 ч.Таблица 1Таблица 2Таблица 3Итого:1314151617181920212223242526 Итого:27282930313233343536373839 того:4041424344454647484950515253 того:54555657585960Продолжение табл. 3Продолжение табл. 3Таблица 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894792309A SU1705424A1 (ru) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894792309A SU1705424A1 (ru) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1705424A1 true SU1705424A1 (ru) | 1992-01-15 |
Family
ID=21496683
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894792309A SU1705424A1 (ru) | 1989-12-22 | 1989-12-22 | Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1705424A1 (ru) |
-
1989
- 1989-12-22 SU SU894792309A patent/SU1705424A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
За вка JP № 59-8696, кл. С 30 В 15/14, опублик. 1984. W. Piekarczyk ets . The Czochralski: growth of bismuth - germanium oxude crystals. - Mat. Res. Bul. v. 13. te 9, 1978, p. 889-894. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5853480A (en) | Apparatus for fabricating a single-crystal semiconductor | |
KR100710702B1 (ko) | 실리콘 단결정의 제조 방법, 단결정 잉곳 제조 장치 및실리콘 단결정 웨이퍼의 열처리 방법 | |
KR101048831B1 (ko) | 단결정 제조용 흑연 히터 및 단결정 제조장치와 단결정 제조방법 | |
EP1774068B1 (en) | Method of growing single crystals from melt | |
JPH03261693A (ja) | 単結晶製造方法 | |
JP3086850B2 (ja) | 単結晶の成長方法及び装置 | |
JP3531333B2 (ja) | チョクラルスキー法による結晶製造装置、結晶製造方法、およびこの方法から製造される結晶 | |
JP4151474B2 (ja) | 単結晶の製造方法及び単結晶 | |
KR100421125B1 (ko) | 쵸코랄스키법에의한결정제조장치,결정제조방법및그로부터제조된결정 | |
SU1705424A1 (ru) | Способ выращивани монокристаллов со структурой силленита | |
WO2004092455A1 (ja) | 単結晶の製造方法 | |
KR100827872B1 (ko) | 실리콘 반도체 단결정의 제조장치 및 제조방법 | |
US5656079A (en) | Statement of government interest | |
US7001458B2 (en) | Process for growing of optical fluorite single crystals | |
JPH0367994B2 (ru) | ||
KR100714215B1 (ko) | 고품질 실리콘 단결정 잉곳 및 그로부터 제조된 고 품질 실리콘 웨이퍼 | |
JP4715528B2 (ja) | 電子デバイス用半絶縁性GaAsウェハ及びその製造方法 | |
JP2952548B2 (ja) | 半導体単結晶製造装置 | |
US20240018689A1 (en) | Crystal Puller for Pulling Monocrystalline Silicon Ingots | |
JP2543449B2 (ja) | 結晶成長方法および装置 | |
RU1228526C (ru) | Способ выращивани монокристаллов сложных оксидов из расплава и устройство дл его осуществлени | |
RU2633899C2 (ru) | Способ выращивания монокристаллов Cd1-xZnxTe, где 0≤x≤1, на затравку при высоком давлении инертного газа | |
JPH06256091A (ja) | 無双晶(Nd,La)GaO3単結晶およびその製造方法 | |
JPH06293599A (ja) | ゲルマニウム酸ビスマス単結晶の製造方法およびその製造装置 | |
JPH10251090A (ja) | 酸化物単結晶およびその育成方法 |