SU1698915A1 - Specimen microanalyzer - Google Patents
Specimen microanalyzer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1698915A1 SU1698915A1 SU894652653A SU4652653A SU1698915A1 SU 1698915 A1 SU1698915 A1 SU 1698915A1 SU 894652653 A SU894652653 A SU 894652653A SU 4652653 A SU4652653 A SU 4652653A SU 1698915 A1 SU1698915 A1 SU 1698915A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- objects
- center
- radiation
- source
- possibility
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к устройствам дл микроанализа образца, Целью изобретени вл етс расширение диапазона изменении и точности микроанализа образца зи счет изменени в ходе эксперимента выхода вторичного излучени в двух или более противоположно-симметричных направлени х относительно точки возбуждени . Устройство содержит источник 1 излучени , камеру 2 объектов, состо щую из нитней часли 3 со столом 4 объектов и верхней части 5. В верхней час- I и 5 камеры 2 размещены детекторы 6, внутри камеры 1 размещены диа- 7 : . глоин-цг апспгурамн 8, гапгэв.тчч Г - 5 13, перьатель 10, r.Mt 11 и 5 у шов, силь- ci 01- 12, приводы 1 . О, патру- оок J г I ил. О еThe invention relates to a device for microanalyzing a sample. The aim of the invention is to expand the range of variation and the accuracy of microanalysis of a sample by changing the secondary radiation yield in two or more oppositely symmetrical directions relative to the excitation point during the experiment. The device contains a source of radiation 1, a camera of 2 objects consisting of threads of clock 3 with a table of 4 objects and an upper part 5. In the upper part I and 5 of camera 2 there are detectors 6, inside chamber 1 there are diameters 7:. gloin-cg apspugramn 8, gapgavev.tch G - 5 13, pertelle 10, r.Mt 11 and 5 at the seam, strength 01-12, actuators 1. Oh, patrol J g I Il. About e
Description
вод повторные измерени и манипул - 30 осью источника зондирующего излучеции с диафрагмами 7 и с детекторами 6, возможно экспериментально определить трехмерную картину функции распределени q(z,x,y). Степень ее отклонени от шаровой симметрии может быть св зана с химической неоднородностью или присутствием границ раздела ц зоне генерации и на пут х выхода рентгеновского излучени из образца.water measurements and manipulation - 30 axis of the source of probe radiation with diaphragms 7 and with detectors 6; it is possible to experimentally determine the three-dimensional picture of the distribution function q (z, x, y). Its degree of deviation from spherical symmetry may be related to chemical heterogeneity or the presence of interfaces between the generation zone and the path of x-ray radiation from the sample.
Достоинством данного устройства вл етс то, что вследствие изменени направлени перемещени образца относительно фронтальной границы неоднородности и одновременной регистрации носителей сигналов вторично- эмиссионных влений, например, рентгеновских квантов парными детекторамиThe advantage of this device is that, due to the change in the direction of movement of the sample relative to the frontal boundary of the inhomogeneity and the simultaneous recording of carriers of signals of secondary emission phenomena, for example, X-ray quanta, paired detectors
ни , установленного в центре верхней части, на которой размещены детекторы вторичных излучений, выполненные с возможностью радиального перемещени , отличающеес тем, что,installed in the center of the upper part, on which detectors of secondary radiation are placed, made with the possibility of radial displacement, characterized in that
с целью расширени диапазона измерений и точности, введена пара зеркально-симметричных отнсси ельчо оси, совпадающей с осью источника эондиРУищего излучени и центром стола объектов, диафрагм, выполненных с дискретным набором узловых апертур и с возможностью пол рного перемещени относительно цегтра стола объектов , при этом детекторы вторичных излучении выполнены с возможностью пол рного перемещени относительно центра стола объектов.In order to expand the range of measurements and accuracy, a pair of mirror-symmetrical axes coinciding with the axis of the source of radiation and the center of the table of objects, diaphragms made with a discrete set of nodal apertures and with the possibility of polar movement relative to the center of the table of objects is introduced, with detectors secondary radiation is made with the possibility of polar movement relative to the center of the table of objects.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894652653A SU1698915A1 (en) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | Specimen microanalyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894652653A SU1698915A1 (en) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | Specimen microanalyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1698915A1 true SU1698915A1 (en) | 1991-12-15 |
Family
ID=21429710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894652653A SU1698915A1 (en) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | Specimen microanalyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1698915A1 (en) |
-
1989
- 1989-02-20 SU SU894652653A patent/SU1698915A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Проспект фирмы Philips Scanning Electron Microscope. SEM-150, 1982, p. 8-9. Авторское свидетельство СССР № 805445, кл, Н 01 J 37/20, 1977. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6118532A (en) | Instrument for determining static and/or dynamic light scattering | |
US5408512A (en) | Local analysis of a specimen in an X-ray fluorescence spectrometer | |
RU2397481C1 (en) | X-ray spectrometre | |
AU2003205636B2 (en) | Diffractometer and method for diffraction analysis | |
US11920953B2 (en) | Device for determining orientation of an object | |
US20030219099A1 (en) | Transmission mode X-ray diffraction screening system | |
SU1698915A1 (en) | Specimen microanalyzer | |
CA2287619C (en) | Nephelometric detection unit with optical in-process control | |
CN111025202B (en) | Scanning type three-dimensional magnetic field detection method and device | |
JPH01109263A (en) | Method and apparatus for laser magnetic immunoassay | |
SU1040390A1 (en) | Monocrystal radiographic investigation method | |
Danielsen et al. | Rotational correlation times of peptides determined by perturbed angular correlations of γ-rays | |
US6855747B2 (en) | Method of producing ion sensitive film for ion sensor | |
EP0056058B1 (en) | Method and equipment for the measurement of properties of a liquid | |
SU1312459A1 (en) | Device for radiographic studying of crystal substances | |
RU2129254C1 (en) | X-ray diffractometer | |
GB2198920A (en) | Apparatus for X-ray studies of crystalline matter | |
SU1627942A1 (en) | X-ray diffractometer | |
JPS6117046A (en) | Method for determining position of light source in reflected light measuring device | |
SU989952A1 (en) | Method of nondestructive quality control of articles | |
SU845068A1 (en) | Device for investigating circular specimens | |
Aslanov et al. | An X-ray diffractometer for studying the effect of external fields on the structure and electron distribution of single crystals | |
SU873069A1 (en) | Diffractometer for investigating crystal material thin structure | |
SU1420491A1 (en) | Apparatus for x-ray analysis of macrostrain | |
SU1402874A1 (en) | System for monochromatization of x-ray difractometer |