SU1698915A1 - Specimen microanalyzer - Google Patents

Specimen microanalyzer Download PDF

Info

Publication number
SU1698915A1
SU1698915A1 SU894652653A SU4652653A SU1698915A1 SU 1698915 A1 SU1698915 A1 SU 1698915A1 SU 894652653 A SU894652653 A SU 894652653A SU 4652653 A SU4652653 A SU 4652653A SU 1698915 A1 SU1698915 A1 SU 1698915A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
objects
center
radiation
source
possibility
Prior art date
Application number
SU894652653A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Борис Никитович Васичев
Юрий Сергеевич Смирнов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3726
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3726 filed Critical Предприятие П/Я А-3726
Priority to SU894652653A priority Critical patent/SU1698915A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1698915A1 publication Critical patent/SU1698915A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к устройствам дл  микроанализа образца, Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона изменении и точности микроанализа образца зи счет изменени  в ходе эксперимента выхода вторичного излучени  в двух или более противоположно-симметричных направлени х относительно точки возбуждени . Устройство содержит источник 1 излучени , камеру 2 объектов, состо щую из нитней часли 3 со столом 4 объектов и верхней части 5. В верхней час- I и 5 камеры 2 размещены детекторы 6, внутри камеры 1 размещены диа- 7 : . глоин-цг апспгурамн 8, гапгэв.тчч Г - 5 13, перьатель 10, r.Mt 11 и 5 у шов, силь- ci 01- 12, приводы 1 . О, патру- оок J г I ил. О еThe invention relates to a device for microanalyzing a sample. The aim of the invention is to expand the range of variation and the accuracy of microanalysis of a sample by changing the secondary radiation yield in two or more oppositely symmetrical directions relative to the excitation point during the experiment. The device contains a source of radiation 1, a camera of 2 objects consisting of threads of clock 3 with a table of 4 objects and an upper part 5. In the upper part I and 5 of camera 2 there are detectors 6, inside chamber 1 there are diameters 7:. gloin-cg apspugramn 8, gapgavev.tch G - 5 13, pertelle 10, r.Mt 11 and 5 at the seam, strength 01-12, actuators 1. Oh, patrol J g I Il. About e

Description

вод  повторные измерени  и манипул - 30 осью источника зондирующего излучеции с диафрагмами 7 и с детекторами 6, возможно экспериментально определить трехмерную картину функции распределени  q(z,x,y). Степень ее отклонени  от шаровой симметрии может быть св зана с химической неоднородностью или присутствием границ раздела ц зоне генерации и на пут х выхода рентгеновского излучени  из образца.water measurements and manipulation - 30 axis of the source of probe radiation with diaphragms 7 and with detectors 6; it is possible to experimentally determine the three-dimensional picture of the distribution function q (z, x, y). Its degree of deviation from spherical symmetry may be related to chemical heterogeneity or the presence of interfaces between the generation zone and the path of x-ray radiation from the sample.

Достоинством данного устройства  вл етс  то, что вследствие изменени  направлени  перемещени  образца относительно фронтальной границы неоднородности и одновременной регистрации носителей сигналов вторично- эмиссионных  влений, например, рентгеновских квантов парными детекторамиThe advantage of this device is that, due to the change in the direction of movement of the sample relative to the frontal boundary of the inhomogeneity and the simultaneous recording of carriers of signals of secondary emission phenomena, for example, X-ray quanta, paired detectors

ни , установленного в центре верхней части, на которой размещены детекторы вторичных излучений, выполненные с возможностью радиального перемещени , отличающеес  тем, что,installed in the center of the upper part, on which detectors of secondary radiation are placed, made with the possibility of radial displacement, characterized in that

с целью расширени  диапазона измерений и точности, введена пара зеркально-симметричных отнсси ельчо оси, совпадающей с осью источника эондиРУищего излучени  и центром стола объектов, диафрагм, выполненных с дискретным набором узловых апертур и с возможностью пол рного перемещени  относительно цегтра стола объектов , при этом детекторы вторичных излучении выполнены с возможностью пол рного перемещени  относительно центра стола объектов.In order to expand the range of measurements and accuracy, a pair of mirror-symmetrical axes coinciding with the axis of the source of radiation and the center of the table of objects, diaphragms made with a discrete set of nodal apertures and with the possibility of polar movement relative to the center of the table of objects is introduced, with detectors secondary radiation is made with the possibility of polar movement relative to the center of the table of objects.

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для микроанализа образца, содержащее источник зондирующего излучения, камеру объектов, выполненную в виде нижней части, в центре которой размещен стол объектов, и верхней куполообразной части, выполненной с возможностью азимутального поворота относительно оси, совпадающей с центром стола объектов и осью источника зондирующего излучения, установленного в центре верхней части, на которой размещены детекторы вторичных излучений, выполненные с возможностью радиального перемещения, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измерений и точности, введена пара зеркально-симметричных относительно оси, совпадающей с осью источника зондирующего излучения и центром стола объектов, диафрагм, выполненных с дискретным набором угловых апертур и с возможностью полярного перемещения относительно центра стола объектов, при этом детекторы вторичных излучений выполнены с возможностью полярного перемещения относительно центра.стола объектов.A device for microanalysis of a sample containing a source of probe radiation, a camera of objects made in the form of a lower part, in the center of which a table of objects is placed, and an upper dome-shaped part made with the possibility of azimuthal rotation about an axis coinciding with the center of the table of objects and the axis of the source of probe radiation, installed in the center of the upper part, which contains detectors of secondary radiation, made with the possibility of radial movement, characterized in that, in order to expand the range Measurement and accuracy are introduced by a pair of mirror-symmetrical about the axis coinciding with the axis of the source of probe radiation and the center of the table of objects, diaphragms made with a discrete set of angular apertures and with the possibility of polar movement relative to the center of the table of objects, while the secondary radiation detectors are designed to polar displacement relative to the center table of objects.
SU894652653A 1989-02-20 1989-02-20 Specimen microanalyzer SU1698915A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894652653A SU1698915A1 (en) 1989-02-20 1989-02-20 Specimen microanalyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894652653A SU1698915A1 (en) 1989-02-20 1989-02-20 Specimen microanalyzer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1698915A1 true SU1698915A1 (en) 1991-12-15

Family

ID=21429710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894652653A SU1698915A1 (en) 1989-02-20 1989-02-20 Specimen microanalyzer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1698915A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Проспект фирмы Philips Scanning Electron Microscope. SEM-150, 1982, p. 8-9. Авторское свидетельство СССР № 805445, кл, Н 01 J 37/20, 1977. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6118532A (en) Instrument for determining static and/or dynamic light scattering
US5408512A (en) Local analysis of a specimen in an X-ray fluorescence spectrometer
RU2397481C1 (en) X-ray spectrometre
AU2003205636B2 (en) Diffractometer and method for diffraction analysis
US11920953B2 (en) Device for determining orientation of an object
US20030219099A1 (en) Transmission mode X-ray diffraction screening system
SU1698915A1 (en) Specimen microanalyzer
CA2287619C (en) Nephelometric detection unit with optical in-process control
CN111025202B (en) Scanning type three-dimensional magnetic field detection method and device
JPH01109263A (en) Method and apparatus for laser magnetic immunoassay
SU1040390A1 (en) Monocrystal radiographic investigation method
Danielsen et al. Rotational correlation times of peptides determined by perturbed angular correlations of γ-rays
US6855747B2 (en) Method of producing ion sensitive film for ion sensor
EP0056058B1 (en) Method and equipment for the measurement of properties of a liquid
SU1312459A1 (en) Device for radiographic studying of crystal substances
RU2129254C1 (en) X-ray diffractometer
GB2198920A (en) Apparatus for X-ray studies of crystalline matter
SU1627942A1 (en) X-ray diffractometer
JPS6117046A (en) Method for determining position of light source in reflected light measuring device
SU989952A1 (en) Method of nondestructive quality control of articles
SU845068A1 (en) Device for investigating circular specimens
Aslanov et al. An X-ray diffractometer for studying the effect of external fields on the structure and electron distribution of single crystals
SU873069A1 (en) Diffractometer for investigating crystal material thin structure
SU1420491A1 (en) Apparatus for x-ray analysis of macrostrain
SU1402874A1 (en) System for monochromatization of x-ray difractometer