SU1402874A1 - System for monochromatization of x-ray difractometer - Google Patents
System for monochromatization of x-ray difractometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1402874A1 SU1402874A1 SU864130506A SU4130506A SU1402874A1 SU 1402874 A1 SU1402874 A1 SU 1402874A1 SU 864130506 A SU864130506 A SU 864130506A SU 4130506 A SU4130506 A SU 4130506A SU 1402874 A1 SU1402874 A1 SU 1402874A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ray
- monochromator
- block
- axis
- crystal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области рентгеноструктурного анализа и может быть использовани дл исследовани структуры биологических объектов с ff 11 большими периодами идентичности, в том числе монокристаллов. Цель изобретени состоит в обеспечении согласовани стационарных источников рентгеновского излучени с устройствами дл регистрации дифракционной картины и управлени фокусировкой рентгеновского излучени . Рентгенов- ский дифрактометр содержит источник 11 рентгеновского излучени , устройство 12 дл регистрации дифракционной картины и устройство дл моно- хроматизации и фокусировки рентгеновского излучени , которое включает основание 1, в вертикальных полках которого смонтированы цапфы и подшипники , в которых установлена с возможностью поворота платформа, несуща корпуса монохроматоров со средствами юстировки, при этом ось поворота платформы в подшипниках совпадает с направлением первичного пучка рентгеновского излучени . На платформе смонтирована промежуточна плита, несуща держатель второго монохро- матора и средства его поворота. 3 ип. Q S (/) 4 1 (ригЗThe invention relates to the field of X-ray analysis and can be used to study the structure of biological objects with ff 11 large periods of identity, including single crystals. The purpose of the invention is to ensure that stationary x-ray sources are matched with devices for detecting a diffraction pattern and controlling x-ray focusing. The X-ray diffractometer contains an X-ray source 11, a device 12 for recording a diffraction pattern and a device for monochromatizing and focusing X-radiation, which includes a base 1, in the vertical shelves of which pivots and bearings are mounted, which are rotatably mounted monochromator housings with means of adjustment, with the axis of rotation of the platform in the bearings coinciding with the direction of the primary X-ray beam. An intermediate plate is mounted on the platform, carrying the holder of the second monochromator and the means of its rotation. 3 pe. Q S (/) 4 1 (rig
Description
I Изобретение относитс к рентгено- бтруктурному анал1-5зу и может быть использовано дл исследовани структуры биологических объектов с боль- йшми периодами идентичностиj в том числе монокристаллов.I The invention relates to X-ray diffraction analysis and can be used to study the structure of biological objects with large periods of identity, including single crystals.
Цель изобретени - обеспечение (согласовани стационарных источников рентгеновского излучени с устрой- Ьтвами дл регистрации дифракционной |картины и управлени фокусировкой рентгеновского излучени , I На фиг. 1 изображена система моноИсточник 11 рентгеновского излучени генерирует первичный пучок рентгеновского излучени , ось которого лежит в горизонтальной плоскости . Первичньй пучок падает на первый фокусирующий кристалл-монохрома- тор блока 5. Блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота его держател 6 вокруг оси, перпендикул рной плоскости платформы 3, устанавливаетс так, что между осью первичного пучка рентгеновского излучени и касательной, проThe purpose of the invention is to provide (alignment of stationary x-ray sources with devices to register a diffraction pattern and control the focusing of x-rays, I Fig. 1 shows a mono-source system X-ray 11 generates a primary beam of x-rays, whose axis lies in the horizontal plane. Primary the beam falls on the first focusing crystal monochromator of block 5. Block 5 of the first focusing monochromator crystal by rotating its holder 6 District axis perpendicular to the plane of the platform 3 is set such that between the axis of the primary beam of X-rays and the tangent, about
|хроматизации рентгеновского дифракто-}5 веденной к центру первого фокусирую|метрар общий вид; на фиг. 2 - то к, вид сверху; на фиг. 3 - рентгеновс- :кий дифрактометр с фокусирующей систе- мой, аксонометри .| X-ray diffraction chromatization} 5 leading to the center of the first focusing | meter general view; in fig. 2 - then to, top view; in fig. 3 - X-ray: cue diffractometer with focusing system, axonometrics.
2020
: Система монохроматизации рентге- jHOBcKoro дифрактометра содержит кор- jnyc 1 с цапфами 2, оси которых сов- |падают с осью первичного пучка рент |геновского излучени , платформу 3, 25 I имеющую подшипники 4 и установленную ;в корпусе с возможностью поворота вокруг осей цапф 2, блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора с держателем 6, установленным на . 30 платформе 3 с возможностью поворо- I та вокруг оси, перпендикул рной ;плоскости платоюрмы 3, промежуточную I плиту 7, установленную на платформе i 3 с возможностью поворота вокруг jj оси, перпендикул рной плоскости платформы 3, блок 8 .второго фокусирующего кристалла-монохроматора, установ- ленньй с возможностью поворота вокруг оси, параллельной плоскости платфор- дО мы 3 в кронштейне 9, которьй установлен на промежуточной плите 7 с возможностью поступательного перемещени по промежуточной плите 7, в на- правлении блока 5 первого фокусирую- 45 щего кристалла-монохроматора, а также средства 10 юст1|ровки платформы 3, установленные на корпусе 1.: The X-ray diffraction monochromatization system of the diffractometer contains a corny jnyc 1 with pins 2, the axes of which coincide with the axis of the primary X-ray beam, a platform 3, 25 I having bearings 4 and installed; in the housing can be rotated around the axes of the pins 2, block 5 of the first focusing crystal monochromator with the holder 6 mounted on. 30 platform 3 can be rotated around an axis perpendicular; plane of the platyurm 3, intermediate I plate 7 mounted on the platform i 3 can be rotated around the jj axis perpendicular to the plane of platform 3, block 8 of the second focusing monochromator crystal , mounted rotatably around an axis parallel to the plane of the platform, we 3 in the bracket 9, which is mounted on the intermediate plate 7 with the possibility of translational movement along the intermediate plate 7, in the direction of the block 5 of the first focusing 45 first monochromator crystal, as well as means 10 yust1 | Rovkov platform 3 mounted on the body 1.
щего кристалла-монохроматора блока 5, образуетс угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизаци и фокусировка в плоскости, перпендикул рной его образун цей. При этом угол между ос ми первичного и отраженного пучков составл ет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражени ) Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливаетс так, что угол между осью отраженного от первого фокусирук дего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучени и горизонтальной плоскостью составл ет 2б. В этом случае после отражени от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучени будет лежать в горизонтальной плоскости.block 5 monochromator crystal, an angle of 9 is formed, where 6 is the Bragg angle. When the primary beam is reflected from the cylindrical surface of the first monochromator crystal of the block 5, it is monochromatized and focused in the plane perpendicular to it. The angle between the axes of the primary and reflected beams is 20. When the first focusing crystal monochromator of the block 5 rotates around the axis of the primary beam, the axis of the reflected beam will space in a cone with an angle of 4 0 at the vertex (in accordance with the law of reflection) by turning the axis 3 of the axes 2 the primary beam, with the help of the alignment means 10, is set so that the angle between the axis of the de-monochromator reflected from the first focus of the x-ray beam unit 5 and the horizontal plane is 2b. In this case, after reflection from the second focusing monochromator crystal of the block 8, the axis of the x-ray beam will lie in the horizontal plane.
Промежуточна плита 7, на которой расположен кронштейн 9, в котором установлен блок 8 второго фокусирую Рентгеновский дифрактометр, вклю- . щего кристалла-монохроматора путем поворота вокруг оси, перпендикул рчающий предлагаемую фокусируюшую систему, содержит источник 11 рентгеновского излучени и устройство 12 дл регистрации дифракционной картины в котором расположены исследуемый объект 13 и приемник 14.The intermediate plate 7, on which the bracket 9 is located, in which the block 8 of the second one is installed is focusing the X-ray diffractometer, including. A monochromator crystal by rotating around an axis perpendicular to the proposed focusing system contains an X-ray source 11 and a device 12 for registering a diffraction pattern in which the object 13 is located and the receiver 14.
Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра работает следующим образом.The system monochromatic x-ray diffractometer works as follows.
5555
ной плоскости платформы 3, устанавливаетс так, что пучок рентгеновского излучени , отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллельщего кристалла-монохроматора блока 5 образуетс угол 9 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизаци и фокусировка в плоскости, перпендикул рной его образун цей. При этом угол между ос ми первичного и отраженного пучков составл ет 20 . При повороте первого фокусирующего крис- тапла-монохроматора блока 5 вокруг оси первичного пучка ось отраженного пучка будет описьшать в пространстве конус с углом 4 0 при вершине ( в соответствии с законом отражени Платформа 3 путем поворота вокруг осей цапф 2 корпуса 1, совпадающих с осью первичного пучка, при помощи средств 10 юстировки, устанавливаетс так, что угол между осью отраженного от первого фокусирук дего кристалла-монохроматора блока 5 пучка рентгеновского излучени и горизонтальной плоскостью составл ет 2б. В этом случае после отражени от второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8 ось пучка рентгеновского излучени будет лежать в горизонтальной плоскости.the plane of the platform 3, is set so that the x-ray beam reflected from the first focusing monochromator crystal of block 5 enters the center of the second focusing monochromator crystal of block 8, then by turning in the bracket 9 around the axis of the parallel monochromator crystal of block 5 an angle 9, where 6 is the Bragg angle. When the primary beam is reflected from the cylindrical surface of the first monochromator crystal of the block 5, it is monochromatized and focused in the plane perpendicular to it. The angle between the axes of the primary and reflected beams is 20. When the first focusing monochromator crystal block 5 rotates around the primary beam axis, the axis of the reflected beam will space in a cone with an angle of 4 0 at the vertex (in accordance with the law of reflection of the Platform 3, rotate around the axes of the primary axis 2 the beam, using the alignment means 10, is set so that the angle between the axis of the deho crystal monochromator reflected from the first focus of the monochromator of the X-ray beam unit 5 and the horizontal plane is 2b. le reflectance from the second focusing crystal monochromator unit 8 X-ray beam axis will lie in the horizontal plane.
ной плоскости платформы 3, устанавливаетс так, что пучок рентгеновского излучени , отраженный от первого фокусирующего кристалла-монохроматора блока 5 попадает в центр второго фокусирующего кристалла-монохроматора блока 8, затем путем поворота в кронштейне 9 вокруг оси, параллель- 1the plane of the platform 3, is set so that the x-ray beam reflected from the first focusing monochromator crystal of block 5 enters the center of the second focusing monochromator crystal of block 8, then by turning in bracket 9 around the axis, parallel to
ной плоскости платформы 3, блок 8 второго фокусирзтощего кристалла-моно хроматора устанавливаетс так, что угол между осью пучка рентгеновского излучени , попадающего на второй- фокусирукщий кристалл-монохроматор блока 8 и касательной, проведенной к его центру, составл ет 2 б . При отражении пучка рентгеновского излу- чени от второго фокусирующего крис- талла-монохроматора блока 8 происходит его вторична монохроматизаци и фокусировка в плоскости, перпенди The plane of the platform 3, block 8 of the second focusing monochromator crystal is set such that the angle between the axis of the x-ray beam incident on the second focusing monochromator crystal of block 8 and the tangent to its center is 2b. When the X-ray radiation beam is reflected from the second focusing crystal-monochromator of the block 8, it is secondary monochromatized and focused in the plane perpendicular to
кул рной его образующей. Сформирован-15 рации дифракционной картины, и управный пучок попадает на исследуемьй объект 13, установленньй в устройстве 12 дл регистрации дифракционной картины. TaKitM образом осуществл етс согласование стационарных источников 11 рентгеновского излучени с устройствами 12 дл регистрации дифракционной картины. Дл обеспечени фокусировки пучка рентгеновского излучени в плоскость приемника 14 блок 8 второго фокусирующего кристалла-монохроматора с кронштейном 9 перемещаетс по промежуточной плите 7 по направлению к блоку 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора и устанавливаетс так, что изображение фокального п тна источника 11 рентгеновского излучени попадает в центр приемника 14. Таким образом осуществл етс управление фокусировкой рентгеновского излучени it forms a wild. The 15-way radio of the diffraction pattern is formed, and the control beam is incident on the object under study 13 installed in the device 12 for recording the diffraction pattern. TaKitM follows the alignment of stationary x-ray sources 11 with devices 12 for recording the diffraction pattern. In order to focus the X-ray beam into the plane of the receiver 14, the block 8 of the second focusing monochromator crystal with the bracket 9 moves along the intermediate plate 7 towards the block 5 of the first focusing monochromator crystal and is set so that the image of the focal spot of the X-ray source 11 falls into the center of the receiver 14. Thus, the focusing control of the x-ray radiation is carried out
рмула изобретени rmula of invention
Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра, включакща корпус , платформу, установленную с возможностью поворота вокруг оси первичного пучка рентгеновского излучени с помощью средств юстировки, и блок первого кристалла-монохроматора, о т- личающа с тем, что, с целью обеспечени согласовани стационарных источников рентгеновского излучени с устройствами дл регистени фокусировкой рентгеновского излучени , она снабжена плитой, установленной на платформе с возможностью поворота вокруг оси блока первого кристалла-монохроматора, повоотным кронштейном и блоком второго кристалла-монохроматора, установленным на кронштейне с возможностью поворота вокруг оси, параллельнойA monochromatization system for an X-ray diffractometer, including a housing, a platform installed rotatably around the axis of the primary X-ray beam with the help of alignment means, and a block of the first monochromator crystal, in order to ensure that the stationary x-ray sources are consistent with devices for recording x-ray focusing, it is equipped with a plate mounted on the platform that can be rotated around the axis of the first crystal block monochromator, povootnym bracket unit and the second crystal monochromator, installed on the bracket pivotably about an axis parallel
плоскости платформы, и с возможностью поступательного перемещени вдоль плиты по направлению к блоку первого кристалла-монохроматора, при этом кристалл-монохроматоры вьшолнены фокусирующими, а блок первого кри- сталла-монохроматора снабжен держателем , установленным на платформе с возможностью поворота вокруг оси, перпендикул рной оси рентгеновскогоthe plane of the platform and with the possibility of translational movement along the plate towards the block of the first monochromator crystal, the crystal monochromators are made focusing, and the block of the first crystal monochromator is equipped with a holder mounted on the platform rotatably around an axis perpendicular to the axis X-ray
ПУ Сриг .1PU Srig .1
Фи.гFi.g
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864130506A SU1402874A1 (en) | 1986-07-07 | 1986-07-07 | System for monochromatization of x-ray difractometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU864130506A SU1402874A1 (en) | 1986-07-07 | 1986-07-07 | System for monochromatization of x-ray difractometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1402874A1 true SU1402874A1 (en) | 1988-06-15 |
Family
ID=21261425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU864130506A SU1402874A1 (en) | 1986-07-07 | 1986-07-07 | System for monochromatization of x-ray difractometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1402874A1 (en) |
-
1986
- 1986-07-07 SU SU864130506A patent/SU1402874A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Патент US № 2688094, кл. 250-51.5, 1954. Бирке Л.С. Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда. М.: Металлурги , 1966, с.71. Авторское свидетельство СССР № 1213508, кл. Н 01 J 37/00,1984. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5073918A (en) | Angle detector device for silicon wafers | |
| US10598615B2 (en) | Method of adjusting the primary side of an X-ray diffractometer | |
| RU2000130157A (en) | DETECTION OF THE CUTTING OF THE DECK TIP | |
| US4364122A (en) | X-Ray diffraction method and apparatus | |
| SU1402874A1 (en) | System for monochromatization of x-ray difractometer | |
| US3105901A (en) | X-ray diffraction device with 360 rotatable specimen holder | |
| JPS6276624U (en) | ||
| US4199678A (en) | Asymmetric texture sensitive X-ray powder diffractometer | |
| US5711835A (en) | Method of machining a drum-shaped workpiece for an x-ray diagnosis apparatus or photocopier | |
| GB2050780A (en) | Hemispherical laue camera | |
| US3344274A (en) | Ray analysis apparatus having both diffraction amd spectrometer tubes mounted on a common housing | |
| EP0034035B1 (en) | X-ray diffraction camera | |
| JP3263474B2 (en) | X-ray diffractometer | |
| US10444140B1 (en) | Theta-theta sample positioning stage with application to sample mapping using reflectometer, spectrophotometer or ellipsometer system | |
| Denne | A new concept in goniometer head design | |
| JP2836198B2 (en) | Projection apparatus and alignment method | |
| Weissman et al. | Part II-Description of X-Ray Double-Crystal Diffractometer Combining X-Ray Microscopy and Diffraction Analysis | |
| JP3462909B2 (en) | X-ray extraction angle setting method and mechanism for vertical X-ray diffractometer | |
| JP3059235B2 (en) | Monochromator for X-ray diffractometer | |
| US5128976A (en) | Oscillation radiography camera and method | |
| JPH06109668A (en) | Method for setting x-ray diffraction apparatus | |
| JP2567840B2 (en) | Crystal orientation determination device | |
| JP3108448B2 (en) | Setting method of sample horizontal goniometer | |
| RU1805360C (en) | X-ray chamber for inspection of large-sized objects | |
| SU1043535A1 (en) | X-ray monochromator |