SU1688303A1 - Электронно-зондовое устройство - Google Patents

Электронно-зондовое устройство Download PDF

Info

Publication number
SU1688303A1
SU1688303A1 SU884479685A SU4479685A SU1688303A1 SU 1688303 A1 SU1688303 A1 SU 1688303A1 SU 884479685 A SU884479685 A SU 884479685A SU 4479685 A SU4479685 A SU 4479685A SU 1688303 A1 SU1688303 A1 SU 1688303A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electron
spectrometers
potentiometers
outputs
rotating
Prior art date
Application number
SU884479685A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Никитович Васичев
Юрий Сергеевич Смирнов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3726
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3726 filed Critical Предприятие П/Я А-3726
Priority to SU884479685A priority Critical patent/SU1688303A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1688303A1 publication Critical patent/SU1688303A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к электронно- зондовой технике и может быть использовано дл  исследовани  слоистых материалов. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений и сокращение времени анализа при определении гетерограниц образца за счет уменьшени  ошибок при измерении интенсивности аналитических линий вблизи этих границ. Устройство содержит составной корпус, включающий неподвижную часть и вращающуюс  относительно нее вокруг электронно-оптической оси часть. В неподвижной части расположены электронно-оптическа  и отклон юща  системы. Во вращающейс  части друг против друга установлены два спектрометра. Устройство снабжено электромеханическим преобразователем угла поворота вращающейс  части с подвижными .юнтактами потенциометров, а также нуль- индикатором, входы которого соединены с выходом генератора развертки и выходами спектрометров. Обеспечиваетс  посто нство совпадени  направлени  сканировани  с осью расположени  спектрометров. 3 ил. сл С

Description

Изобретение относитс  к электронно- зондовой технике и может быть использовано дл  исследовани  слоистых материалов, в том числе полупроводниковых структур и композиционных материалов, в микроэлектротехнике , металлургии и машиностроении .
Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений и сокращение времени анализа при определении гетерограниц образца за счет уменьшени  ошибок при измерении интенсивности аналитических линий вблизи этих границ.
На фиг. 1 показана схема устройства; на фиг. 2 - схема нуль-индикатора; на фиг, 3 - , схема одного из вариантов электромеханического преобразовател  (ЭМП) угла поворота.
Электронно-зондовое устройство содержит составной корпус (фиг. 1), включающий неподвижную часть 1 и вращающуюс  э относительно нее вокруг электрон но-оптической оси часть 2. С этой частью взаимодействует соответствующий привод 3. В неподвижной части расположены электронно-оптическа  система 4, отклон юща  система 5 и столик 6 объектов. Во вращающейс  части 2 друг против друга установлены два спектрометра 7 и 8 рентгеновского или катодолюминесцентного излучени . ЭМП 9 имеет передаточный механизм 10 и потенциометры 11с подвижными контактами. Генератор развертки 12 через потенциометры соединен с выводами отклон ющей системой 5, а также с управл ющим входом нуль- индикатора 13, первый и второй входы которого соединены с выходами спектрометров 7 и 8.
Схема нуль-индикатора (фиг. 2) включает две ветви, кажда  из которых состоит из последовательно соединенных импульсного усилител  14(15), одноканального амплитудного анализатора 16(17) и интегратора
о
00 00
CJ
о
CJ
18(19). Выходы интеграторов соединены через сумматор 20 с соответствующими входами электронно-лучевой трубки (ЭЛТ) 21, отклон ющие пластины которой  вл ютс  управл ющим входом ноль-индикатора и соединены с выходом генератора развертки 12.
ЭМП 9 (фиг. 3) содержит вращающийс  элемент 22 передаточного механизма с четырьм  подвижными контактами 23, взаи- модейстующими с потенциометрами 24, включенными по мостовой схеме. Входы 25 ЭМП соединены с генератором развертки 12, а его выходы - с отклон ющей системой 5 по соответствующим каналам отклонени  по Х,У координатам.
Устройство работает следующим образом .
На столик 6 объектов в неподвижной части 1 корпуса помещают образец дл  исследовани . Электронно-оптическа  система 4 формирует электронный пучок и фокусирует его на образец.
Включают генератор разверток 12, с которого подаетс  напр жение пилообразной формы на ЭМП 9. Здесь происходит перерас- пределение напр жени . Часть напр жени  (тока) с ЭМП подаетс  на отклон ющую систему 5. Последн   отклон ет электронный пучок вдоль оси, проход  щей через спектрометры 7,8. При этом направление сканирова- ни  мен етс  в пределах 45°. При облучении образца возбуждаетс  рентгеновское излучение . Рентгеновские кванты регистрируютс  парно-симметричными спектрометрами, на выходе которых по вл ютс  импульсы с ча- стотой следовани , пр мо пропорциональной интенсивности рентгеновских квантов. Эти импульсы поступают на первый и второй входы нуль-индикатора 13, где они усиливаютс , дискриминируютс  и интегрируютс . Сигнал с сумматора 20 поступает на ЭЛТ нуль-интегратора. При этом на один из выходов сумматора 20 сигнал может подаватьс  со знаком минус. В это врем  с помощью привода 3 поворачивают вращающуюс  часть 2 корпуса вместе со спектрометрами 7,8.
В результате действи  ЭМП это приводит к изменению направлени  сканировани  электронного пучка при сохранении направлени  сканировани  вдоль оси, проход щей че- рез спектрометры 7,8. Таким образом обеспечиваетс  посто нство совпадени  направлени  сканировани  с осью парно-симметричных рентгеновских спектрометров.
Если сканирующий электронный пучок пересекает гетерофазную границу на образце , то на экране ЭЛТ 21 нуль-индикатора по вл етс  вместо пр мой свет щейс  линии лини  со ступенькой или изломом, что свидетельствует о наличии гетерограницы.
Далее оператор поворачивает вращающую часть корпуса до тех пор, пока на экране ЭЛТ 21 наблюдаема  ступенька /излом/ не будет иметь максимального значени  по амплитуде, Это свидетельствует о том, что вращающа с  часть установлена в такое положение , когда ось спектрометров 7,8 расположена перпендикул рно гетерогранице. По рассто нию от центра экрана до ступеньки на пр мой линии определ етс  рассто ние до гетерограницы с учетом масштаба увеличени  изображени  и определени  центра отсчета путем изменени  направлени  сканировани  на 45°.
Таким образом, благодар  изменению направлени  развертки электронного зонда относительно границы неоднородности (граница раздела фаз, границы в слоистых и гетерогенных материалах, полупроводниковых структурах и т.д.) и одновременной регистрации носителей сигналов вторичных  влений, например рентгеновских квантов, парно-симметричными спектрометрами, ось которых должна совпадать с направлением сканировани  зонда, и обработки электрических сигналов в логическом блоке повышаетс  точность измерений положени  границы раздела. При этом врем  определени  характеристических параметров исследуемого объекта, например химического состава вблизи границы раздела, сокращаетс  в 3-5 раз.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Электронно-зондовое устройство, содержащее составной корпус, выполненный с возможностью вращени  одной части относительно другой вокруг электронно-оптической оси, два расположенных друг против друга спектрометра, установленных во вращающейс  части корпуса, электронно-оптическую и отклон ющую системы, расположенные в другой части корпуса, а также генератор развертки, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерений и сокращени  времени анализа, оно снабжено электромеханическим преобразователем угла поворота вращающейс  части корпуса, выполненным с подвижными контактами потенциометров, и нуль-индикатором, при этом выходы генератора развертки соединены через потенциометры с выводами отклон ющейс  системы и управл ющим входом нуль-индикатора, первый и второй входы которого соединены с выходами спектрометров .
    ITS
    I
    Импульсы от
    спектрометра 7
    2Вх
    Ш
    Импульсы от спектрометра 8
    Фиг 2
    от генератора развертка 12
    Редактор Т. Орловска 
    Заказ 3712Тираж 308Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета по изобретени м и открыти м при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., 4/5
SU884479685A 1988-09-09 1988-09-09 Электронно-зондовое устройство SU1688303A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884479685A SU1688303A1 (ru) 1988-09-09 1988-09-09 Электронно-зондовое устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884479685A SU1688303A1 (ru) 1988-09-09 1988-09-09 Электронно-зондовое устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1688303A1 true SU1688303A1 (ru) 1991-10-30

Family

ID=21397991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884479685A SU1688303A1 (ru) 1988-09-09 1988-09-09 Электронно-зондовое устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1688303A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Практическа растрова электронна микроскопи / Под ред. Д. Гоулдстейна. М.: Мир, 1978, с. 30. Авторское свидетельство СССР N 805445, кл. Н 01 J 37/20, 1977. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3925660A (en) Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method
US3733484A (en) Control for electron microprobe
EP0457317A1 (en) Electron microscope and method for observing microscopic image
JPH0349042B2 (ru)
US5583427A (en) Tomographic determination of the power distribution in electron beams
US3714424A (en) Apparatus for improving the signal information in the examination of samples by scanning electron microscopy or electron probe microanalysis
Ross et al. Wire scanners for beam size and emittance measurements at the SLC
SU1688303A1 (ru) Электронно-зондовое устройство
US6376839B1 (en) SEM for transmission operation with a location-sensitive detector
Evans et al. Routine analysis of metals using a spark source mass spectrograph with electrical detection
JPH116806A (ja) 線状x線検出器を備えたx線回折装置
JPS62219534A (ja) 粒子ゾンデを使用する時間に関係する信号の測定方法と装置
JP3353488B2 (ja) イオン散乱分光装置
JPS6089050A (ja) ストロボ走査電子顕微鏡
JPH0341402Y2 (ru)
JPH10213556A (ja) 表面元素分析装置及び分析方法
JPS5973761A (ja) エネルギ分散型x線分析装置
JPH02288058A (ja) 試料表面分析装置
JPH0513033A (ja) 電子顕微鏡及びそれを用いた顕微像観察方法
JPS629218B2 (ru)
JPS62191Y2 (ru)
JPH01175156A (ja) 局所表面分析装置
SU843022A1 (ru) Электроннолучевой индикатор нул
KR830002115B1 (ko) 입자선을 사용한 시료분석 장치
Egelhaaf et al. The VICKSI Beam Line Instrumentation and Control System