SU1683184A1 - Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка - Google Patents

Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка Download PDF

Info

Publication number
SU1683184A1
SU1683184A1 SU894733944A SU4733944A SU1683184A1 SU 1683184 A1 SU1683184 A1 SU 1683184A1 SU 894733944 A SU894733944 A SU 894733944A SU 4733944 A SU4733944 A SU 4733944A SU 1683184 A1 SU1683184 A1 SU 1683184A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
spraying
zinc oxide
substrate
oxide film
energy
Prior art date
Application number
SU894733944A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Сергеевич Бром
Илья Михайлович Гранкин
Алексей Алексеевич Иванов
Галина Ивановна Кальная
Иван Алексеевич Марушко
Владимир Анатольевич Огородник
Иван Федорович Прядко
Original Assignee
Киевский Институт Народного Хозяйства Им.Д.С.Коротченко
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Институт Народного Хозяйства Им.Д.С.Коротченко filed Critical Киевский Институт Народного Хозяйства Им.Д.С.Коротченко
Priority to SU894733944A priority Critical patent/SU1683184A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1683184A1 publication Critical patent/SU1683184A1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к приборостроению . Цель - повышение качества пьезоп- ленки при высоких скорост х напылени . В качестве материала изотропной диэлектрической подложки берут плавленный кварц, предварительно облучив eroy-излучением с энергией в интервале 0,8 - 2 МэВ и дозой в пределах 105- 107 Р.

Description

Изобретение относитс  к приборостроению и радиотехнике, в частности к технологии получени  ориентированных пленок и может быть использовано при напылении пленок в электроакустических преобразовател х .
Цель изобретени  - повышение качества пьезопленки при высоких скорост х напылени .
Способ заключаетс  в том, что в качестве материала изотропной диэлектрической подложки берут плавленый кварц, предварительно облучив его у-излучением с энергией в интервале 0,8 - 0,2 МэВ и дозой в пределах 105 - 10 Р. Затем производ т распыление и осаждение пьезоэлектрического материала на изотропную диэлектрическую подложку.
Пример.Приготовлено 6 партий подложек из плавленого кварца в форме пласти - нок размером 10x10x1,5 мм. Кажда  парти  состоит из 30 пластинок. Кажда  из п ти партий облучаетс  соответствующей дозой у-излучени  от кобальтовой пушки (энерги 
кванта 1,2 МэВ). Дозы следующие: 104, 105, 106, 107, 108 Р (по количеству партий), шеста  парти  подложек не облучаетс  и таким образом соответствует услови м напылени  по известному способу. Напыление пленок ZnO на эти подложки производитс  на вакуумной установке УРМ 279.011 с помощью магнетронной системы распылени . Распыл емой мишенью  вл етс  порошок ZnO, спресованный в форме дискообразной таблетки . Рабоча  среда состоит из 50% аргона и 50% кислорода при давлении 0,076 Па. Температура подложки 523 К. Дл  подложек каждой партии напыление производитс  на дес ти различных скорост х от 1,0 до 10 мкм/ч. Пленки ZnO напыл ютс  до толщины 1 мкм. На каждой скорости напыл етс  по 3 пленки каждой партии, Напыление производитс  на поверхность подложки, обращенной к пучку у -лучей при облучении. Угол разориентировки С-оси от нормали к подложке а определ ют с помощью рентгеновского дифрактометра ДРОН-20 по кривым качани . Коэффициент электромеханической св зи определ ют по стандартной методи (Л
С
о
00 00
00
Јь
ке с помощью измерител  частотных характеристик АХЧ XI-12.
Результаты измерени  параметров пленок ( о и а } усредненные по трем пленкам одной партии, получаемые при одной скорости напылени , приведены в таблице.
Анализ параметров пленки показывает, что при дозе облучени  106 Р на скорости напылени  10 мкм/ч получаютс  пленки такие же по качеству, как и пленки, получаемые без облучени  подложки, но при скорости всего в 2 мкм/ч. Так как при этом а близко к 10%, эти пленки можно считать высокоориентированными. Таким образом, облучение подложки позвол ет обеспечить высокое качество пленки при п тикратном увеличении скорости ее напылени . При дозе в 10 Р высокое качество пленки сохран етс  при двукратном увеличении скорости напылени . Доза в 10 Р не дает заметного повышени  скорости напылени  высокоориентированной пленки. При изменении дозы облучени  от 10 до 10 Р параметры пленок мен ютс  мало, остава сь весьма высокими. Повышение дозы до 10а Р практически не вли ет на параметры пленки, однако подложка приобретает окраску, что свидетельствует об образовании в подложке значительного количества точечных дефектов (центров окраски), снижающих механическую прочность материала подложки .
Таким образом, в интервале доз облучени  от 105 до 107 Р создаетс  возможность получени  высокоориентированных пъе- зопленок ZnO на скорост х, превышающих в 2 - 5 раз скорость напылени  на необлученные подложки. Облучение диэлектриков ионизующим облучением в том числе и } -квантами использовалось преимущественно дл  получени  электретного эффекта и не использовалось дл  улучшени  качества напыл емой на диэлектрик пьезоэлектрической пленки.
Интервал энергий у-квантов дл  облучени  подложки выбран из физических соображений , объ сн ющих эффект улучшени  качества пьезопленок при высоких скорост х напылени  ZnO. Снижение качества пленки с увеличением скорости осаждени  св зано с преимущественным испарением более летучей компоненты пленки, в данном случае ионов кислорода, под действием интенсивного пучка осаждаемых ионов ZnO. Преп тствовать такому ис- парению может электрическое поле, локализованное вблизи поверхности подложки и имеющее нужное направление. Поле , способное прит гивать отрицательные ионы кислорода, можно создать облучением подложки у -квантами, вызывающими выбивание электронов, в направлении пучка
у-квантов. Хот  комптон-эффект имеет место в широком интервале энергий у -квантов , резко выраженное анизотропное рассе ние с диаграммой, выт нутой вдоль пучка у -квантов, наблюдаетс  при достижении энергии у-кванта примерно 0,8 МэВ и более. Сужение диаграммы рассе ни  происходит непрерывно с увеличением энергии у-квантов. Кроме того, с изменением энергии у-квантов измен етс  соот5 ношение конкурирующих процессов: упругого рассе ни , фотоэффекта, комптон- зффекта, рождени  электронпозитронных пар. Анализ соотношени  массовых коэффициентов рассе ни , характеризующих
0 эти процессы, позвол ет сделать вывод о гом, что по отношению к комптон-эффекту с учетом необходимой степени его анизотропии (наличие резко выраженного рассе ни  назад) оптимальным интервалом значений
5 энергий у -квантов  вл етс  область примерно между 0,8 и 2 МэВ. При меньших энерги х уменьшаетс  степень анизотропии рассе ни , т.е. снижаетс  дол  обратного рассе ни  и сильно конкурируют
0 процессы упругого рассе ни  и фотоэффект . При увеличении энергии более 2 МэВ наблюдаетс  уменьшение массового коэффициента комптоновского рассе ни  и возрастание роли рождени  пар. Выбитые
5 вперед электроны либо покидают подложку, либо тормоз тс  и захватываютс  ловушками . При достаточно большой глубине таких ловушек возможно длительное сохранение электрического пол  у поверхности подлож0 ки.
Среди изотропных диэлектрических подложек, используемых дл  напылени  пьезопленки ZnO, обнаружен один материал - плавленный кварц, способный созда- 5 оать .у своей поверхности электрическое поле под действием пучка квантов.
Использование предлагаемого способа позвол ет сократить врем , требуемое дл  напылени  пьезопленки, что влечет за со- 0 бой как сокращение удельного расхода энергии на получение издели , так и повышение производительности труда.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ напылени  высокоорментиро- 5 ванной пьезоэлектрической пленки оксида цинка, включающий распыление и осаждение пьезоэлектрического материала на изотропную диэлектрическую подложку, ат л и- чающийс  тем, что, с целью повышени 
    516831846
    качества пьезопленки при высоких скоро- плавленый кварц, предварительно облучив ст х напылени , в качестве материала изо- его у -излучением с энергией в интервале тройной диэлектрической подложку берут 0,8-2 МэВ и дозой в пределах 105- 10 Р.
SU894733944A 1989-09-04 1989-09-04 Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка SU1683184A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894733944A SU1683184A1 (ru) 1989-09-04 1989-09-04 Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894733944A SU1683184A1 (ru) 1989-09-04 1989-09-04 Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1683184A1 true SU1683184A1 (ru) 1991-10-07

Family

ID=21468125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894733944A SU1683184A1 (ru) 1989-09-04 1989-09-04 Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1683184A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
За вка JP 61 - 40155, кл. Н 01 L 41/18,1986. Jornal of Crystal Growth, 1978, v.5, p.346 -349. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Puchert et al. Postdeposition annealing of radio frequency magnetron sputtered ZnO films
EP0228394B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beschichten von substraten mittels einer plasmaentladung
WO1989010427A1 (en) Method and apparatus for producing a layer of material from a laser ion source
US3562142A (en) R.f.sputter plating method and apparatus employing control of ion and electron bombardment of the plating
Pranevičius Structure and properties of deposits grown by ion-beam-activated vacuum deposition techniques
EP2735018A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung partikelarmer schichten auf substraten
DE102013213935B4 (de) Verfahren zum Abscheiden einer piezoelektrischen AlN-haltigen Schicht
SU1683184A1 (ru) Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка
EP0352860B1 (de) Verfahren zur Herstellung von Eisengranatschichten
US4229506A (en) Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same
Amano Direct ion beam deposition for thin film formation
US4139678A (en) Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same
US4205117A (en) Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same
US4156050A (en) Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same
Krzesiński A study of the effect of technological parameters of rf sputtering on the size of grains and the texture of thin ZnO films
Järrendahl et al. Microstructure evolution in amorphous Ge/Si multilayers grown by magnetron sputter deposition
DE10051509A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Dünnschichtsystems
Lunney et al. Ion emission studies of pulsed laser evaporation of YBa2Cu3O7
JPH0254757A (ja) 多結晶薄膜の形成方法
Horwitz et al. High-rate hollow-cathode amorphous silicon deposition
Naparty et al. The study of epitaxial growth of thin Cu and Ag layers on Ag (110) and Cu (110) using total current spectroscopy, AES and work function measurement
SU886044A1 (ru) Способ обработки рабочей поверхности магнитной головки
JPS63312973A (ja) スパッタ装置
JPS63262457A (ja) 窒化ホウ素膜の作製方法
RU2532185C1 (ru) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК Bi-СОДЕРЖАЩИХ ФЕРРИТОВ-ГРАНАТОВ