SU1683184A1 - Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка - Google Patents
Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка Download PDFInfo
- Publication number
- SU1683184A1 SU1683184A1 SU894733944A SU4733944A SU1683184A1 SU 1683184 A1 SU1683184 A1 SU 1683184A1 SU 894733944 A SU894733944 A SU 894733944A SU 4733944 A SU4733944 A SU 4733944A SU 1683184 A1 SU1683184 A1 SU 1683184A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- spraying
- zinc oxide
- substrate
- oxide film
- energy
- Prior art date
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к приборостроению . Цель - повышение качества пьезоп- ленки при высоких скорост х напылени . В качестве материала изотропной диэлектрической подложки берут плавленный кварц, предварительно облучив eroy-излучением с энергией в интервале 0,8 - 2 МэВ и дозой в пределах 105- 107 Р.
Description
Изобретение относитс к приборостроению и радиотехнике, в частности к технологии получени ориентированных пленок и может быть использовано при напылении пленок в электроакустических преобразовател х .
Цель изобретени - повышение качества пьезопленки при высоких скорост х напылени .
Способ заключаетс в том, что в качестве материала изотропной диэлектрической подложки берут плавленый кварц, предварительно облучив его у-излучением с энергией в интервале 0,8 - 0,2 МэВ и дозой в пределах 105 - 10 Р. Затем производ т распыление и осаждение пьезоэлектрического материала на изотропную диэлектрическую подложку.
Пример.Приготовлено 6 партий подложек из плавленого кварца в форме пласти - нок размером 10x10x1,5 мм. Кажда парти состоит из 30 пластинок. Кажда из п ти партий облучаетс соответствующей дозой у-излучени от кобальтовой пушки (энерги
кванта 1,2 МэВ). Дозы следующие: 104, 105, 106, 107, 108 Р (по количеству партий), шеста парти подложек не облучаетс и таким образом соответствует услови м напылени по известному способу. Напыление пленок ZnO на эти подложки производитс на вакуумной установке УРМ 279.011 с помощью магнетронной системы распылени . Распыл емой мишенью вл етс порошок ZnO, спресованный в форме дискообразной таблетки . Рабоча среда состоит из 50% аргона и 50% кислорода при давлении 0,076 Па. Температура подложки 523 К. Дл подложек каждой партии напыление производитс на дес ти различных скорост х от 1,0 до 10 мкм/ч. Пленки ZnO напыл ютс до толщины 1 мкм. На каждой скорости напыл етс по 3 пленки каждой партии, Напыление производитс на поверхность подложки, обращенной к пучку у -лучей при облучении. Угол разориентировки С-оси от нормали к подложке а определ ют с помощью рентгеновского дифрактометра ДРОН-20 по кривым качани . Коэффициент электромеханической св зи определ ют по стандартной методи (Л
С
о
00 00
00
Јь
ке с помощью измерител частотных характеристик АХЧ XI-12.
Результаты измерени параметров пленок ( о и а } усредненные по трем пленкам одной партии, получаемые при одной скорости напылени , приведены в таблице.
Анализ параметров пленки показывает, что при дозе облучени 106 Р на скорости напылени 10 мкм/ч получаютс пленки такие же по качеству, как и пленки, получаемые без облучени подложки, но при скорости всего в 2 мкм/ч. Так как при этом а близко к 10%, эти пленки можно считать высокоориентированными. Таким образом, облучение подложки позвол ет обеспечить высокое качество пленки при п тикратном увеличении скорости ее напылени . При дозе в 10 Р высокое качество пленки сохран етс при двукратном увеличении скорости напылени . Доза в 10 Р не дает заметного повышени скорости напылени высокоориентированной пленки. При изменении дозы облучени от 10 до 10 Р параметры пленок мен ютс мало, остава сь весьма высокими. Повышение дозы до 10а Р практически не вли ет на параметры пленки, однако подложка приобретает окраску, что свидетельствует об образовании в подложке значительного количества точечных дефектов (центров окраски), снижающих механическую прочность материала подложки .
Таким образом, в интервале доз облучени от 105 до 107 Р создаетс возможность получени высокоориентированных пъе- зопленок ZnO на скорост х, превышающих в 2 - 5 раз скорость напылени на необлученные подложки. Облучение диэлектриков ионизующим облучением в том числе и } -квантами использовалось преимущественно дл получени электретного эффекта и не использовалось дл улучшени качества напыл емой на диэлектрик пьезоэлектрической пленки.
Интервал энергий у-квантов дл облучени подложки выбран из физических соображений , объ сн ющих эффект улучшени качества пьезопленок при высоких скорост х напылени ZnO. Снижение качества пленки с увеличением скорости осаждени св зано с преимущественным испарением более летучей компоненты пленки, в данном случае ионов кислорода, под действием интенсивного пучка осаждаемых ионов ZnO. Преп тствовать такому ис- парению может электрическое поле, локализованное вблизи поверхности подложки и имеющее нужное направление. Поле , способное прит гивать отрицательные ионы кислорода, можно создать облучением подложки у -квантами, вызывающими выбивание электронов, в направлении пучка
у-квантов. Хот комптон-эффект имеет место в широком интервале энергий у -квантов , резко выраженное анизотропное рассе ние с диаграммой, выт нутой вдоль пучка у -квантов, наблюдаетс при достижении энергии у-кванта примерно 0,8 МэВ и более. Сужение диаграммы рассе ни происходит непрерывно с увеличением энергии у-квантов. Кроме того, с изменением энергии у-квантов измен етс соот5 ношение конкурирующих процессов: упругого рассе ни , фотоэффекта, комптон- зффекта, рождени электронпозитронных пар. Анализ соотношени массовых коэффициентов рассе ни , характеризующих
0 эти процессы, позвол ет сделать вывод о гом, что по отношению к комптон-эффекту с учетом необходимой степени его анизотропии (наличие резко выраженного рассе ни назад) оптимальным интервалом значений
5 энергий у -квантов вл етс область примерно между 0,8 и 2 МэВ. При меньших энерги х уменьшаетс степень анизотропии рассе ни , т.е. снижаетс дол обратного рассе ни и сильно конкурируют
0 процессы упругого рассе ни и фотоэффект . При увеличении энергии более 2 МэВ наблюдаетс уменьшение массового коэффициента комптоновского рассе ни и возрастание роли рождени пар. Выбитые
5 вперед электроны либо покидают подложку, либо тормоз тс и захватываютс ловушками . При достаточно большой глубине таких ловушек возможно длительное сохранение электрического пол у поверхности подлож0 ки.
Среди изотропных диэлектрических подложек, используемых дл напылени пьезопленки ZnO, обнаружен один материал - плавленный кварц, способный созда- 5 оать .у своей поверхности электрическое поле под действием пучка квантов.
Использование предлагаемого способа позвол ет сократить врем , требуемое дл напылени пьезопленки, что влечет за со- 0 бой как сокращение удельного расхода энергии на получение издели , так и повышение производительности труда.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ напылени высокоорментиро- 5 ванной пьезоэлектрической пленки оксида цинка, включающий распыление и осаждение пьезоэлектрического материала на изотропную диэлектрическую подложку, ат л и- чающийс тем, что, с целью повышени516831846качества пьезопленки при высоких скоро- плавленый кварц, предварительно облучив ст х напылени , в качестве материала изо- его у -излучением с энергией в интервале тройной диэлектрической подложку берут 0,8-2 МэВ и дозой в пределах 105- 10 Р.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894733944A SU1683184A1 (ru) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894733944A SU1683184A1 (ru) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1683184A1 true SU1683184A1 (ru) | 1991-10-07 |
Family
ID=21468125
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894733944A SU1683184A1 (ru) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1683184A1 (ru) |
-
1989
- 1989-09-04 SU SU894733944A patent/SU1683184A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
За вка JP 61 - 40155, кл. Н 01 L 41/18,1986. Jornal of Crystal Growth, 1978, v.5, p.346 -349. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Puchert et al. | Postdeposition annealing of radio frequency magnetron sputtered ZnO films | |
EP0228394B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum beschichten von substraten mittels einer plasmaentladung | |
WO1989010427A1 (en) | Method and apparatus for producing a layer of material from a laser ion source | |
US3562142A (en) | R.f.sputter plating method and apparatus employing control of ion and electron bombardment of the plating | |
Pranevičius | Structure and properties of deposits grown by ion-beam-activated vacuum deposition techniques | |
EP2735018A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung partikelarmer schichten auf substraten | |
DE102013213935B4 (de) | Verfahren zum Abscheiden einer piezoelektrischen AlN-haltigen Schicht | |
SU1683184A1 (ru) | Способ напылени высокоориентированной пьезоэлектрической пленки окиси цинка | |
EP0352860B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Eisengranatschichten | |
US4229506A (en) | Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same | |
Amano | Direct ion beam deposition for thin film formation | |
US4139678A (en) | Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same | |
US4205117A (en) | Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same | |
US4156050A (en) | Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same | |
Krzesiński | A study of the effect of technological parameters of rf sputtering on the size of grains and the texture of thin ZnO films | |
Järrendahl et al. | Microstructure evolution in amorphous Ge/Si multilayers grown by magnetron sputter deposition | |
DE10051509A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Dünnschichtsystems | |
Lunney et al. | Ion emission studies of pulsed laser evaporation of YBa2Cu3O7 | |
JPH0254757A (ja) | 多結晶薄膜の形成方法 | |
Horwitz et al. | High-rate hollow-cathode amorphous silicon deposition | |
Naparty et al. | The study of epitaxial growth of thin Cu and Ag layers on Ag (110) and Cu (110) using total current spectroscopy, AES and work function measurement | |
SU886044A1 (ru) | Способ обработки рабочей поверхности магнитной головки | |
JPS63312973A (ja) | スパッタ装置 | |
JPS63262457A (ja) | 窒化ホウ素膜の作製方法 | |
RU2532185C1 (ru) | СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК Bi-СОДЕРЖАЩИХ ФЕРРИТОВ-ГРАНАТОВ |