SU1643971A1 - Юстировочное устройство - Google Patents

Юстировочное устройство Download PDF

Info

Publication number
SU1643971A1
SU1643971A1 SU874336665A SU4336665A SU1643971A1 SU 1643971 A1 SU1643971 A1 SU 1643971A1 SU 874336665 A SU874336665 A SU 874336665A SU 4336665 A SU4336665 A SU 4336665A SU 1643971 A1 SU1643971 A1 SU 1643971A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plate
laser beam
collimator
angle
photodetector
Prior art date
Application number
SU874336665A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Соломонович Гуревич
Леонид Моисеевич Шпигель
Original Assignee
Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова filed Critical Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им.А.С.Попова
Priority to SU874336665A priority Critical patent/SU1643971A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1643971A1 publication Critical patent/SU1643971A1/ru

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)

Description

1
(21)4336665/10 (22)06 1087 (46)2304.91. Бюл. г 15
(71)Всесоюзный научно-исследовательский институт радиовещательного приема и акустики им. А.С.Попова
(72)В.С.Гуревич и Л М Шпигель
(53)535.8 (088 8)
(56)Патент США
№ 4212540, кл G 01 В 9/0,1980
(54)КОТИРОВОЧНОЕ УСТРОЙСТВО
(57)Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и может быть использовано в устройствах испытани  оптических систем, при юстировке прецизионных лазерных измерительных устройств и оптической записи и воспроизведени  информации. Устройство содержит основание 1, нэ котором соосно установлены лэзер 4, коллиматор 5 и фотоприемник 8, св занный с измерительным устройством Дл  уменьшени  зависимости методики юс ировки от распределени  интенсивности в сечении лазерного пучка и уменьшени  продольных габаритов устройства после коллиматора 5 установлена плоскопараллельна  полупрозрачна  пластина 6. кинематически св занна  с вибратором 7, причем начальный угол наклона пластины к оси лазерного пучка
кsin2Q
выбираетс  из услови  - -sirfQ
R
- , где Q - начальный угол наклона пластины к оси лазерного пучка, N - показатель преломлени  материала пластины; D - толщина пластины; R - радиус сечени  лазерного пучка после коллиматора, а измерительное устройство выполнено в виде осциллографа 3 ил
ё
Изобретение относитс  к приборам дл  испытани  оптических р может быть использовано при настройке прецизионных лазерных измерительных устройств, а также оптических систем записи и воспроизведени  информации,
Целью изобретени   вл етс  уменьшение зависимости методики юстировки от распределени  ин генсивности в сечении лазерного лучка и уменьшение продольных габаритов устройства
На фиг, 1 показана схема устройства; на фиг. 2 - вид световых п тен на фотодетекторе; на фиг. 3 - вид дискриминационной характеристики датчика параллельности.
Схема содержит основание 1 с двум  кронштейнами 2 и 3. На кронштейне 2 установлен настраиваемый прибор, формирующий лазерный пучок, включающий в себ  лазер 4 и коллиматор 5. Между кронштейнами установлена плоскопараллельна  пластина 6 с полупрозрачными поверхност ми, кинематически св занна  с пьезокерамиче- ским вибратором 7, на кронштейне 3 соосно с настраиваемым прибором установлен фотоприемник 8, выход которого соединен с входом осциллографа 9.
Устройство работает следующим образом .
Излучение лазера 4, преобразованное коллиматором 5 в световой пучок, падает на
О 4 OJ Ю vj
плоскопараллельную пластину, расположенную под углом а к оси лазерного пучка, и делитс  на р д пучков, ai, 82, азсдвинутых один относительного другого. Указанные световые пучки падают на фотодиод 8, где интерферируют между собой. Малые угловые колебани  плоскопараллельной пластины вызывают колебани  фазы интерферирующих пучков и соответствующие колебани  мощности на фотодиоде.
При настройке, смеща  коллиматор 5 вдоль оси, добиваютс  максимальной амплитуды синусоидального сигнала на экране осциллографа 9. Максимум амплитуды сигнала достигаетс  только тогда, когда в плоскости фотодиода интерферируют пучки с плоским волновым фронтом, при этом максимальна  точность достигаетс , когда пластина установлена под углом, определ емым по формуле
VN 2 - sin2 Q
R
D
где R - радиус поперечного лазерного пучка;
D - толщина пластины;
Q - угол наклона пластины к оси лазерного пучка;
N - показатель преломлени  пластины.
На фиг. 2 показан вид световых п тен ai, 32, .... на фотоприемнике 8. Центры световых п тен отсто т друг от друга на величину , равную радиусу светового пучка.
D sin 2 Q N 2 - sin2 Q
В результате интерференции п тен ai и 32 в области их пересечени  образуетс  интерференционна  картина, состо ща  из чередующихс  параллельных темных и светлых полос с периодом
l
AR «S
(3)
где А-длина волны излучени ;
S - рассто ние между центрами соседних световых п тен;
а,- угол расходимости светового пучка.
При колебани х пластины 6 происходит смещение интерференционных полос по фотоприемнику, при этом, если период интерференционной картины меньше ширины области перекрыти , сигнала на фотоприемнике нет.
При уменьшении угла расходимости светового пучка, падающего на пластину 6, период L-интерференционной картины уве
личиваетс , когда период интерференционной картины становитс  равным ширине области перекрыти  световых п тен, движение интерферирующих полос по фотоприемнику представл етс  миганием в области перекрыти , и на фотоприемнике по вл етс  переменный сигнал, в соответствии с формулой (3) это происходит при угле расходимости, равном
«д
ЯН В S
(4)
15
20
25
30
35
где В - ширина области перекрыти  световых п тен;
ад - угол детектировани , т.е. угол расходимости , соответствующий по влению заметного сигнала на фотоприемнике.
При дальнейшем уменьшении угла расходимости амплитуда сигнала на фотоприемнике возрастает и становитс  максимальной при угле расходимости равном нулю, т.е. когда лазерный пучок становитс  параллельным.
На фиг. 3 показан вид дискриминационной характеристики датчика параллельности предлагаемого устройства, т.е. зависимость амплитуды сигнала фотодетектора от угла расходимости лазерного пучка,
Дл  получени  максимальной точности настройки параллельности необходимо обеспечить максимальную крутизну дискриминационной характеристики, т.е. обеспечить минимальное значение угла детектировани . Согласно фиг. 2
В 2R - S.(5)
С учетом (4) получают
«д
AR
(2R-S)S
(6)
Из формулы видно, что угол детектировани  принимает минимальное значение при S R. С учетом (2) получают условие (1) максимальной крутизны дискриминационной характеристики.
При выполнении услови  (1) погрешность настройки параллельности меньше одной трети угла детектировани , т.е.
Д«
3R
(7)
Размах I и частота F вибраций пластины устанавливаютс  такими, чтобы частота сигнала на фотоп риемнике была не менее 100 Гц дл  наблюдени  на осциллографе устойчивой картины. Это.условие выполн етс , если одному полупериоду колебани  пластины соответствует не менее 10 периодов
в сигнале фотодиода. Следовательно, угловой размах вибраций пластины должен выбиратьс  из услови 
I 10U,(8)
где U - угол поворота пластины, соответствующий одному периоду в сигнале фотоприемника , т.е. смещению интерференционной картины в плоскости фотоприемника на один период.
Поскольку U A/S, и учитыва , что максимальна  чувствительность достигаетс  при S R, получают дл  минимального размаха вибраций
О
10 Я R
Частота вибраций выбираетс  с учетом того, что частота сигналов на фотоприемнике в К 2I/U раз выше частоты вибраций пластины, т.е.
р 21
Рп-ц
где Fn - частота сигнала на фотоприемнике. Тогда из услови  Fn 100 Гц получают зависимость минимально допустимой частоты вибраций пластины F от размаха I ее вибраций
F
50 Я I R
(11)
10
15

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Юстировочное устройство, содержащее основание, на котором соосно установлены лазер, коллиматор и фотоприемник, св занный с измерительным устройством, отличающеес  тем, что, с целью уменьшени  зависимости методики юстировки от распределени  интенсивности в сечении лазерного пучка и уменьшени  продольных габаритов устройства, после коллиматора установлена плоскопараллельна  полупрозрачна  пластина, кинематически св занна  с вибратором, причем начальный угол наклона пластины и оси лазерного пучка выбираетс  из услови 
    20
    sin 2 Q
    N -sln cf
    R D
    25
    30
    где Q - начальный угол наклона пластины к оси лазерного пучка;
    N - показатель преломлени  материала пластины,
    D - толщина пластины;
    R - радиус сечени  лазерного пучка после коллиматора,
    а измерительное устройство выполнено в виде осциллографа.
    аз
    /
    Фиа.2
SU874336665A 1987-10-06 1987-10-06 Юстировочное устройство SU1643971A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874336665A SU1643971A1 (ru) 1987-10-06 1987-10-06 Юстировочное устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874336665A SU1643971A1 (ru) 1987-10-06 1987-10-06 Юстировочное устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1643971A1 true SU1643971A1 (ru) 1991-04-23

Family

ID=21339519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874336665A SU1643971A1 (ru) 1987-10-06 1987-10-06 Юстировочное устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1643971A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4813782A (en) Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head
JPH10325874A (ja) レーザー・ドップラー原理に基づく速度測定方法
US4655597A (en) Micro-displacement measuring apparatus using a semiconductor laser
JP2732849B2 (ja) 干渉測長器
SU1643971A1 (ru) Юстировочное устройство
WO1994011895A1 (en) Method and apparatus for measuring displacement
US3506839A (en) Contactless probe system
SU1265636A1 (ru) Акустооптический частотомер
SU911168A1 (ru) Оптический виброметр
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
SU1236313A1 (ru) Интерференционный способ регистрации нулевого положени сканирующего зеркала и устройство дл его осуществлени
SU1213395A1 (ru) Устройство дл измерени углов с коррекцией вли ни рефракции
SU1753271A1 (ru) Способ определени параметров вибрации
SU1040441A1 (ru) Оптическое устройство дл анализа акустических сигналов
RU2055309C1 (ru) Устройство для измерения колебаний объекта
SU1763884A1 (ru) Способ измерени толщины оптически прозрачных элементов
SU1404813A1 (ru) Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний
SU1651106A1 (ru) Устройство дл измерени параметров колебаний объекта
SU1531690A1 (ru) Способ измерени длины волны излучени и измеритель дл его осуществлени
SU645020A1 (ru) Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени
SU830661A1 (ru) Оптико-электронный микрофон
SU1040328A1 (ru) Способ контрол амплитуды и формы колебаний объектов
SU1394059A1 (ru) Устройство дл градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды источников механических колебаний
Hirose et al. Measurement method of VHF elastic vibrations by optical fiber interferometric sensing
SU339771A1 (ru) Фазовый фотоэлектрический интерферометр