SU645020A1 - Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени - Google Patents
Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучениInfo
- Publication number
- SU645020A1 SU645020A1 SU762332667A SU2332667A SU645020A1 SU 645020 A1 SU645020 A1 SU 645020A1 SU 762332667 A SU762332667 A SU 762332667A SU 2332667 A SU2332667 A SU 2332667A SU 645020 A1 SU645020 A1 SU 645020A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- parameters
- angular modulation
- modulation
- optical radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к оптико-интерференционным способам измерени и может быть использовано дл измерени параметров частотной и фазовой модул ции когерентных источников света в широком днапазоне длин волн.
Известны способы измерени параметров модул ции источников света, которые основаны на использовании влени интерференции света, преоОразовании угловой модул ции в амплитудную и измерении параметров угловой модул ции по глуоине амплитудной модул ции.
К основным недостаткам известных способов относитс невозможность проведени измерений в диапазоне высоких и сверхвысоких частот ввиду отсутстви соответствующих фотоприемкиков.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату вл етс способ определени параметров угловой модул ции оптического излучени , основанный на его подаче в интерферометр , изменении разности хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучени на выходе дл модулирован;юго и немодулированного излучений.
Недостатком этого способа вл ютс его низкие точность и быстродействие измерений , которые обусловлены флюктуаци ми
интенсивности оптического излучени и низкой помехоустойчивостью примен емых устройств .
Целью изобретени вл етс повышение точности и быстродействи измерений параметров угловой модул ции оптического излучени .
Указанна цель достигаетс тем, что изменение разности хода осуществл ют по периодическому закону с амплитудой сканировани больше длины волны излучени , определ ют глубины амплитудной модул ции основной частоты сканировани и по их значени м наход т параметры угловой модул ции.
На чертеже изображено устройство дл реализации способа.
Устройство содержит светоделительные кубики 1 и 2, поворотную призму 3 с отражающим покрытием 4, держатель 5 призмы 3, установленный на пьезоэлементе 6, генератор периодических сигналов 7, фотоприемник 8, измеритель глубины модул ции 9 и диафрагму 10.
Устройство работает следующим образом.
Входное излучение подаетс на кубик 1 и делитс на два луча, один из которых проходит кубик 1, отражательную призму 3 и поступает на .кубик 2. Другой луч, отража сь от кубика 1, также поступает на кубик 2. Оба луча на выходе кубика 2 складываютс и интерферируют между собой. При подаче напр жени От генератора 7 на пьезоэлемент 6 осуществл етсй движение призмы 3 и сканирование разности хода по периодическому закону. При подаче на вход интерферометра немодулированного излучени и осуществлении сканировани разности хода с аМплитудой, большей длины волны излучени , излучение на выходе устройства оказываетс промодулированным по амплитуде с основной частотой сканировани . Измерителем модул ции 9 измер ют глубину амплитудной модул ции на частоте сканировани то выходного излучени . Затем на вход интерферометра по дают исследуемое оптическое излучение с угловой модул цией частоты И, девиацией частоты AV и индексом модул ции р. Измер ют глубину т амплитудной модул ции этого излучени на выходе интерферометра и по измеренным значени м тцемод и тмод параметры модул ции Av и р вычисл ют из соотношени
m m/,sln
Wo/,(2psin-),
2то 2
где /о -функци Бессел нулевОгопор дка;
То -йачальнаЯ разность хода лучей,
определ ема йастройкой интерферометра.
Изобретение обеспечивает увеличение точности, быстродействие йЗь еренйй по краййей мере на пор док пО сравнению с известными способами.
10
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ измерени параметров угловой модул ций оптического излучени , основанный на его подаче в интерферометр, йзМейенин разйостй хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучени на выходе дл модулированного и йеМОдулированного излучений, отличающийстем, что, с целью повышени точйости и быстродействи измерений, изменение разности хода осуществл ют по периодическому закону с амплитудой скайИрОвани , большей длины волны излучени , определ {оТ лyбинЫ амплитудной МодулйЦйи основной частоты сканировани и по их значени м наход т параметры угловой модул ции .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762332667A SU645020A1 (ru) | 1976-03-09 | 1976-03-09 | Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762332667A SU645020A1 (ru) | 1976-03-09 | 1976-03-09 | Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU645020A1 true SU645020A1 (ru) | 1979-01-30 |
Family
ID=20651680
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762332667A SU645020A1 (ru) | 1976-03-09 | 1976-03-09 | Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU645020A1 (ru) |
-
1976
- 1976-03-09 SU SU762332667A patent/SU645020A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0640846B1 (en) | Optical measuring apparatus | |
US3891321A (en) | Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid | |
KR900002117B1 (ko) | 레이저 광선을 이용한 거리측정방법과 장치 | |
US4655597A (en) | Micro-displacement measuring apparatus using a semiconductor laser | |
US3708229A (en) | System for measuring optical path length across layers of small thickness | |
US7420689B2 (en) | Method for determining the refractive index during interferometric length measurement and interferometric arrangement therefor | |
SU645020A1 (ru) | Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени | |
CN108037143B (zh) | 一种气体折射率的测量方法和装置 | |
SU1179103A1 (ru) | Интерферометр дл измерени рассто ний | |
SU938660A1 (ru) | Устройство дл дистанционного измерени рассто ний | |
SU1245884A1 (ru) | Устройство дл измерени геометрических параметров | |
JPS5866881A (ja) | 光波測量機 | |
JP2655647B2 (ja) | 光集積回路型干渉計 | |
SU1142731A1 (ru) | Измерительна система с трехзеркальным лазер-интерферометром | |
SU1213395A1 (ru) | Устройство дл измерени углов с коррекцией вли ни рефракции | |
RU17219U1 (ru) | Акустооптическое устройство для измерения перемещений | |
SU1763884A1 (ru) | Способ измерени толщины оптически прозрачных элементов | |
SU1213396A1 (ru) | Астрономический рефрактометр | |
SU700031A1 (ru) | Устройство дл измерени угловой скорости | |
SU1404812A1 (ru) | Способ измерени отрезков рассто ний | |
SU1068782A1 (ru) | Автоматическое интерференционное устройство дл измерени структурной характеристики показател преломлени атмосферы | |
SU721677A1 (ru) | Фотоэлектрическое устройство дл измерени пр молинейности изделий | |
SU1026010A1 (ru) | Устройство дл измерени малых медленных изменений оптической длины измерительного плеча интерферометра | |
SU834396A1 (ru) | Светодальномер | |
SU896392A1 (ru) | Система регистрации перемещений в оптико-электронных измерительных устройствах с интерференционной модул цией |