SU645020A1 - Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени - Google Patents

Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени

Info

Publication number
SU645020A1
SU645020A1 SU762332667A SU2332667A SU645020A1 SU 645020 A1 SU645020 A1 SU 645020A1 SU 762332667 A SU762332667 A SU 762332667A SU 2332667 A SU2332667 A SU 2332667A SU 645020 A1 SU645020 A1 SU 645020A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
parameters
angular modulation
modulation
optical radiation
Prior art date
Application number
SU762332667A
Other languages
English (en)
Inventor
Лев Николаевич Попов
Original Assignee
Сибирский физико-технический институт им. В.Д.Кузнецова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сибирский физико-технический институт им. В.Д.Кузнецова filed Critical Сибирский физико-технический институт им. В.Д.Кузнецова
Priority to SU762332667A priority Critical patent/SU645020A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU645020A1 publication Critical patent/SU645020A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к оптико-интерференционным способам измерени  и может быть использовано дл  измерени  параметров частотной и фазовой модул ции когерентных источников света в широком днапазоне длин волн.
Известны способы измерени  параметров модул ции источников света, которые основаны на использовании  влени  интерференции света, преоОразовании угловой модул ции в амплитудную и измерении параметров угловой модул ции по глуоине амплитудной модул ции.
К основным недостаткам известных способов относитс  невозможность проведени  измерений в диапазоне высоких и сверхвысоких частот ввиду отсутстви  соответствующих фотоприемкиков.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату  вл етс  способ определени  параметров угловой модул ции оптического излучени , основанный на его подаче в интерферометр , изменении разности хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучени  на выходе дл  модулирован;юго и немодулированного излучений.
Недостатком этого способа  вл ютс  его низкие точность и быстродействие измерений , которые обусловлены флюктуаци ми
интенсивности оптического излучени  и низкой помехоустойчивостью примен емых устройств .
Целью изобретени   вл етс  повышение точности и быстродействи  измерений параметров угловой модул ции оптического излучени .
Указанна  цель достигаетс  тем, что изменение разности хода осуществл ют по периодическому закону с амплитудой сканировани  больше длины волны излучени , определ ют глубины амплитудной модул ции основной частоты сканировани  и по их значени м наход т параметры угловой модул ции.
На чертеже изображено устройство дл  реализации способа.
Устройство содержит светоделительные кубики 1 и 2, поворотную призму 3 с отражающим покрытием 4, держатель 5 призмы 3, установленный на пьезоэлементе 6, генератор периодических сигналов 7, фотоприемник 8, измеритель глубины модул ции 9 и диафрагму 10.
Устройство работает следующим образом.
Входное излучение подаетс  на кубик 1 и делитс  на два луча, один из которых проходит кубик 1, отражательную призму 3 и поступает на .кубик 2. Другой луч, отража сь от кубика 1, также поступает на кубик 2. Оба луча на выходе кубика 2 складываютс  и интерферируют между собой. При подаче напр жени  От генератора 7 на пьезоэлемент 6 осуществл етсй движение призмы 3 и сканирование разности хода по периодическому закону. При подаче на вход интерферометра немодулированного излучени  и осуществлении сканировани  разности хода с аМплитудой, большей длины волны излучени , излучение на выходе устройства оказываетс  промодулированным по амплитуде с основной частотой сканировани . Измерителем модул ции 9 измер ют глубину амплитудной модул ции на частоте сканировани  то выходного излучени . Затем на вход интерферометра по дают исследуемое оптическое излучение с угловой модул цией частоты И, девиацией частоты AV и индексом модул ции р. Измер ют глубину т амплитудной модул ции этого излучени  на выходе интерферометра и по измеренным значени м тцемод и тмод параметры модул ции Av и р вычисл ют из соотношени 
m m/,sln
Wo/,(2psin-),
2то 2
где /о -функци  Бессел  нулевОгопор дка;
То -йачальнаЯ разность хода лучей,
определ ема  йастройкой интерферометра.
Изобретение обеспечивает увеличение точности, быстродействие йЗь еренйй по краййей мере на пор док пО сравнению с известными способами.
10

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ измерени  параметров угловой модул ций оптического излучени , основанный на его подаче в интерферометр, йзМейенин разйостй хода лучей в интерферометре и измерении параметров излучени  на выходе дл  модулированного и йеМОдулированного излучений, отличающийс 
    тем, что, с целью повышени  точйости и быстродействи  измерений, изменение разности хода осуществл ют по периодическому закону с амплитудой скайИрОвани , большей длины волны излучени , определ {оТ лyбинЫ амплитудной МодулйЦйи основной частоты сканировани  и по их значени м наход т параметры угловой модул ции .
SU762332667A 1976-03-09 1976-03-09 Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени SU645020A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762332667A SU645020A1 (ru) 1976-03-09 1976-03-09 Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762332667A SU645020A1 (ru) 1976-03-09 1976-03-09 Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU645020A1 true SU645020A1 (ru) 1979-01-30

Family

ID=20651680

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762332667A SU645020A1 (ru) 1976-03-09 1976-03-09 Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU645020A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0640846B1 (en) Optical measuring apparatus
US3891321A (en) Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid
KR900002117B1 (ko) 레이저 광선을 이용한 거리측정방법과 장치
US4655597A (en) Micro-displacement measuring apparatus using a semiconductor laser
US3708229A (en) System for measuring optical path length across layers of small thickness
US7420689B2 (en) Method for determining the refractive index during interferometric length measurement and interferometric arrangement therefor
SU645020A1 (ru) Способ измерени параметров угловой модул ции оптического излучени
CN108037143B (zh) 一种气体折射率的测量方法和装置
SU1179103A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
SU938660A1 (ru) Устройство дл дистанционного измерени рассто ний
SU1245884A1 (ru) Устройство дл измерени геометрических параметров
JPS5866881A (ja) 光波測量機
JP2655647B2 (ja) 光集積回路型干渉計
SU1142731A1 (ru) Измерительна система с трехзеркальным лазер-интерферометром
SU1213395A1 (ru) Устройство дл измерени углов с коррекцией вли ни рефракции
RU17219U1 (ru) Акустооптическое устройство для измерения перемещений
SU1213396A1 (ru) Астрономический рефрактометр
SU700031A1 (ru) Устройство дл измерени угловой скорости
SU1404812A1 (ru) Способ измерени отрезков рассто ний
SU1068782A1 (ru) Автоматическое интерференционное устройство дл измерени структурной характеристики показател преломлени атмосферы
SU721677A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл измерени пр молинейности изделий
SU1026010A1 (ru) Устройство дл измерени малых медленных изменений оптической длины измерительного плеча интерферометра
SU834396A1 (ru) Светодальномер
SU896392A1 (ru) Система регистрации перемещений в оптико-электронных измерительных устройствах с интерференционной модул цией
SU408145A1 (ru) Описание изобретения