SU1589183A1 - Дефектоскоп - Google Patents
Дефектоскоп Download PDFInfo
- Publication number
- SU1589183A1 SU1589183A1 SU884387077A SU4387077A SU1589183A1 SU 1589183 A1 SU1589183 A1 SU 1589183A1 SU 884387077 A SU884387077 A SU 884387077A SU 4387077 A SU4387077 A SU 4387077A SU 1589183 A1 SU1589183 A1 SU 1589183A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- analog
- stack
- information
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к средствам неразрушающего контрол и может быть использовано во многих област х техники. Дефектоскоп позвол ет повысить надежность контрол путем обеспечени целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени формы представлени информации. Компаратор совместно с элементом И разрешают сдвиг информации на экране блока видеоиндикации только при изменении контролируемой величины. По каждому участку изображени на экране можно судить о направлении поиска дефекта. 3 ил.
Description
Изобретение относитс к средствам неразрушающего контрол и может быть использовано, например, в машиностроении дл поиска и локализации дефектов, отличающихс от бездефектного материала электрическими или магнитными характеристиками.
Цель изобретени - повьшение надежности контрол путем обеспечени целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени формы представлени информации.
На чертеже представлена блок-схема дефектоскопа.
Дефектоскоп состоит из блока 1 аналоговой обработки информации , датчика 2, блока 3 цифровой индикации , блока 4 видеоиндикации, компаратора 5, элемента И 6, причем блок 4 видеоиндикации содержит аналогоцифровой преобразователь 7, стек 8, состо щий из четырех последовательно соединенных регистров, и устройства 9 отображени . Вход блока 1 аналоговой обработки информации соединен с выходом датчика 2, а выход - с входом аналого-цифрового преобразовател 7. Выход последнего соединен с входом первого регистра стека 8 и первым входом компаратора 5, а выход первого регистра стека 8 соединен с блоком 3 цифровой индикации и вторым входом компаратора 5. Выход последнего соединец с первым входом элемента И 6, второй вход которого соединен с выходом 10 сигнала конца преобразовани аналого-цифрового преобразовател 7. Выход элемента И 6 соединен с управл ющим входом записи регистра стека 8, выход коСП
00
00
со
foporo соединен с входом устройст- а 9 отображени ,В качестве иссле- д уемого образца 11 используют элект- 1 оизол ционный керамический материатг Дефектоскоп работает следующим ббразом.
Датчик 2 прикладывают к исследуемому образцу 11, при этом с выхода мостовой схемы блока 1 аналоговой обработки информации на входы повторителей блока 1 поступают эталонное напр жение и напр жение, обратно йропорциональиое значению контроли- руемого сопротивлени . Суммирующий силитель блока 1 преобразует раз- ость этих напр жений в напр жение, 1|1аход щеес в пределах tl которое ijiocTynaeT на вход аналого-цифрового 1 1реобразоватед 7, Последний преоб- )азует входное напр жение в дев ти- эазр дный двоичный код, который пос-- Тупает на первый регистр Рг1 стека В Компаратор 5 сравнивает текущую йнформацио на входе аналого-цифрово-- to преобразовател 7, соответствующую величине измер емого сопротивлени , с информацией, записанной в Ьервый .регистр стека 8. При неравен-- Стве сравниваемых кодов, что соот- : етствует Изменению значени контро- йируемого сопротивлени , компаратор В подает ца один из входов элемента И 6 сигнал лог. 1, разреша тем са-- f«)iM прохождение сигнала конца преоб- )азовани с выхода 10 аналого-цифро- Ього преобразовател 7 на управл ю- )ций вход записи в стек 8, При этом Происходит запись в первый регистр стека 8 текущей информации с выхода аналого-цифрового преобразовател 7 .И сдвиг информации, записанной в первом регистре, во второй регистр и, соответственно, второго .регистра - в третий, из третьего - в четвертый. На экране диспле индуцируетс записанна в регистры информаци об изменении контролируемого сопротивлени . Одновременно блок 3 цифровой индикации показывает отклонение значени контролируемого сопротивлени от эталонного значени 200 МОм. Если значение контролируемого сопротивлени не измен етс при перемещении датчика 2 по поверхности исследуемого образца 11, то двоичный код на выходе аналого-цифрового преобразовател 7 и код, записанный в первый регистр , совпадают, при этом с выхода
5
0
5
0
5
0
5
0
5
компг ратора 5 на один из входов элемента И 6 подаетс сигнал лог. О,который запрещает прохождение сигнала конца преобразовани на управл югчий вход записи в стек 8. Записи и сдвига информации в стеке 8 не происходит. Таким образом, изменение информации на дисплее происходит только при изменении текущего значени контролируемого сопротивлени .
Если на экране диспле индицируетс участок убывающей зависимости,это свидетельствует о том, что в направлении перемещени датчика 2 сопротивление контролируемого участка поверхности керамического материала возрастает , и направление поиска дефекта следует с.менить. В противном случае при наблюдении возрастающей зависимости датчик 2 перемещать в том же направлении до достижени максимума наблюдаемой на экране зависимости (минимума сопротивлени изол ции ) , после чего необходимо продолжить поиск дефекта в перпендикул рном направлении. Отсутствие на экране диспле участков с посто нным значением контролируемой величины обеспечивает возможность целенаправленного поиска дефектов, что повышает надежность неразрушающего контрол .
Claims (1)
- Формула изобретени Дефектоскоп, содержащий блок аналоговой обработки информации,вход которого соединен с датчиком, а выход - с входом блока видеоиндикации, отличающийс тем, что, . с целью повышени надежности контрол путем обеспечени целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени формы представлени информации, он дополнительно содержит комп.аратор и элемент И, а блок видеоиндикации выполнен в виде цифрового запоминающего осциллографа со стековой организацией пам ти и с аналого-цифровым преобразователем, имеющим выход сигнала конца преобразовани , причем входы компаратора соединены с входом и выходом первой чейки стека, а выход компаратора - с первым входом элемента И, второй вход которого соединен с выходом сигнала конца преобразовани аналого-цифрового преобразовател , выход элемента И соединен с управл ю1Щ1м входом записи информации в стек.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884387077A SU1589183A1 (ru) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | Дефектоскоп |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884387077A SU1589183A1 (ru) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | Дефектоскоп |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1589183A1 true SU1589183A1 (ru) | 1990-08-30 |
Family
ID=21359144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884387077A SU1589183A1 (ru) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | Дефектоскоп |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1589183A1 (ru) |
-
1988
- 1988-03-04 SU SU884387077A patent/SU1589183A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Приборы дл неразрушающего контрол материалов и изделий/Под ред. В.В Клюева,. Кн.2, М.: Машиностроение, 1986, с. 177-178. Авторское свидетельство СССР № Г165966, кл. G 01 N 27/20, 1983, * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3422352A (en) | Apparatus for measuring current flow | |
JPS58155355A (ja) | 渦電流非破壊試験装置 | |
US3204180A (en) | Time measuring apparatus using a tapped delay line | |
SU1589183A1 (ru) | Дефектоскоп | |
US2995410A (en) | Calibrated bar graph recording system | |
JP2521903B2 (ja) | 測定値の記録方法 | |
KR960038402A (ko) | 맨브레인 스위치 자동 검사장치 | |
JPH0755875A (ja) | 絶縁物の信頼性評価試験装置 | |
Lesco et al. | Rotating Shaft-Mounted Microelectronic Data System | |
SU1462178A1 (ru) | Матрица вихретокового преобразовател | |
SU1500927A1 (ru) | Вихретоковое устройство неразрушающего контрол | |
FI87861B (fi) | En automatiskt sin foerstaerkning reglerande instrumenteringsfoerstaerkare | |
Edwall | Measuring system for high‐precision voltage measurements from high‐impedance sources | |
SU1661648A1 (ru) | Устройство переключени диапазонов аналого-цифрового преобразовател | |
SU1167418A1 (ru) | Устройство дл определени остаточных напр жений | |
SU1479867A1 (ru) | Магнитотелевизионный дефектоскоп | |
KR200155055Y1 (ko) | 반도체소자의 로직검사장치 | |
SU1161821A1 (ru) | Устройство дл измерени деформаций | |
KR950007504Y1 (ko) | 피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치 | |
SU939964A1 (ru) | Устройство автоматического контрол величины показател тепловой инерции термопар | |
SU579541A1 (ru) | Устройство дл определени относительного изменени диаметра образца | |
SU1597791A1 (ru) | Устройство контрол контактного сопротивлени при испытании контактов на износоустойчивость | |
JPS58131539A (ja) | 粒子分析装置 | |
SU1035494A1 (ru) | Электроконтактный дефектоскоп | |
SU1656443A1 (ru) | Магниточувствительный узел к дефектоскопу |