SU1589183A1 - Дефектоскоп - Google Patents

Дефектоскоп Download PDF

Info

Publication number
SU1589183A1
SU1589183A1 SU884387077A SU4387077A SU1589183A1 SU 1589183 A1 SU1589183 A1 SU 1589183A1 SU 884387077 A SU884387077 A SU 884387077A SU 4387077 A SU4387077 A SU 4387077A SU 1589183 A1 SU1589183 A1 SU 1589183A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
analog
stack
information
Prior art date
Application number
SU884387077A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Григорьевич Горинский
Анатолий Александрович Патокин
Original Assignee
Свердловский инженерно-педагогический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Свердловский инженерно-педагогический институт filed Critical Свердловский инженерно-педагогический институт
Priority to SU884387077A priority Critical patent/SU1589183A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1589183A1 publication Critical patent/SU1589183A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к средствам неразрушающего контрол  и может быть использовано во многих област х техники. Дефектоскоп позвол ет повысить надежность контрол  путем обеспечени  целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени  формы представлени  информации. Компаратор совместно с элементом И разрешают сдвиг информации на экране блока видеоиндикации только при изменении контролируемой величины. По каждому участку изображени  на экране можно судить о направлении поиска дефекта. 3 ил.

Description

Изобретение относитс  к средствам неразрушающего контрол  и может быть использовано, например, в машиностроении дл  поиска и локализации дефектов, отличающихс  от бездефектного материала электрическими или магнитными характеристиками.
Цель изобретени  - повьшение надежности контрол  путем обеспечени  целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени  формы представлени  информации.
На чертеже представлена блок-схема дефектоскопа.
Дефектоскоп состоит из блока 1 аналоговой обработки информации , датчика 2, блока 3 цифровой индикации , блока 4 видеоиндикации, компаратора 5, элемента И 6, причем блок 4 видеоиндикации содержит аналогоцифровой преобразователь 7, стек 8, состо щий из четырех последовательно соединенных регистров, и устройства 9 отображени . Вход блока 1 аналоговой обработки информации соединен с выходом датчика 2, а выход - с входом аналого-цифрового преобразовател  7. Выход последнего соединен с входом первого регистра стека 8 и первым входом компаратора 5, а выход первого регистра стека 8 соединен с блоком 3 цифровой индикации и вторым входом компаратора 5. Выход последнего соединец с первым входом элемента И 6, второй вход которого соединен с выходом 10 сигнала конца преобразовани  аналого-цифрового преобразовател  7. Выход элемента И 6 соединен с управл ющим входом записи регистра стека 8, выход коСП
00
00
со
foporo соединен с входом устройст- а 9 отображени ,В качестве иссле- д уемого образца 11 используют элект- 1 оизол ционный керамический материатг Дефектоскоп работает следующим ббразом.
Датчик 2 прикладывают к исследуемому образцу 11, при этом с выхода мостовой схемы блока 1 аналоговой обработки информации на входы повторителей блока 1 поступают эталонное напр жение и напр жение, обратно йропорциональиое значению контроли- руемого сопротивлени . Суммирующий силитель блока 1 преобразует раз- ость этих напр жений в напр жение, 1|1аход щеес  в пределах tl которое ijiocTynaeT на вход аналого-цифрового 1 1реобразоватед  7, Последний преоб- )азует входное напр жение в дев ти- эазр дный двоичный код, который пос-- Тупает на первый регистр Рг1 стека В Компаратор 5 сравнивает текущую йнформацио на входе аналого-цифрово-- to преобразовател  7, соответствующую величине измер емого сопротивлени , с информацией, записанной в Ьервый .регистр стека 8. При неравен-- Стве сравниваемых кодов, что соот- : етствует Изменению значени  контро- йируемого сопротивлени , компаратор В подает ца один из входов элемента И 6 сигнал лог. 1, разреша  тем са-- f«)iM прохождение сигнала конца преоб- )азовани  с выхода 10 аналого-цифро- Ього преобразовател  7 на управл ю- )ций вход записи в стек 8, При этом Происходит запись в первый регистр стека 8 текущей информации с выхода аналого-цифрового преобразовател  7 .И сдвиг информации, записанной в первом регистре, во второй регистр и, соответственно, второго .регистра - в третий, из третьего - в четвертый. На экране диспле  индуцируетс  записанна  в регистры информаци  об изменении контролируемого сопротивлени . Одновременно блок 3 цифровой индикации показывает отклонение значени  контролируемого сопротивлени  от эталонного значени  200 МОм. Если значение контролируемого сопротивлени  не измен етс  при перемещении датчика 2 по поверхности исследуемого образца 11, то двоичный код на выходе аналого-цифрового преобразовател  7 и код, записанный в первый регистр , совпадают, при этом с выхода
5
0
5
0
5
0
5
0
5
компг ратора 5 на один из входов элемента И 6 подаетс  сигнал лог. О,который запрещает прохождение сигнала конца преобразовани  на управл югчий вход записи в стек 8. Записи и сдвига информации в стеке 8 не происходит. Таким образом, изменение информации на дисплее происходит только при изменении текущего значени  контролируемого сопротивлени .
Если на экране диспле  индицируетс  участок убывающей зависимости,это свидетельствует о том, что в направлении перемещени  датчика 2 сопротивление контролируемого участка поверхности керамического материала возрастает , и направление поиска дефекта следует с.менить. В противном случае при наблюдении возрастающей зависимости датчик 2 перемещать в том же направлении до достижени  максимума наблюдаемой на экране зависимости (минимума сопротивлени  изол ции ) , после чего необходимо продолжить поиск дефекта в перпендикул рном направлении. Отсутствие на экране диспле  участков с посто нным значением контролируемой величины обеспечивает возможность целенаправленного поиска дефектов, что повышает надежность неразрушающего контрол .

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Дефектоскоп, содержащий блок аналоговой обработки информации,вход которого соединен с датчиком, а выход - с входом блока видеоиндикации, отличающийс  тем, что, . с целью повышени  надежности контрол  путем обеспечени  целенаправленного поиска дефектов за счет улучшени  формы представлени  информации, он дополнительно содержит комп.аратор и элемент И, а блок видеоиндикации выполнен в виде цифрового запоминающего осциллографа со стековой организацией пам ти и с аналого-цифровым преобразователем, имеющим выход сигнала конца преобразовани , причем входы компаратора соединены с входом и выходом первой  чейки стека, а выход компаратора - с первым входом элемента И, второй вход которого соединен с выходом сигнала конца преобразовани  аналого-цифрового преобразовател , выход элемента И соединен с управл ю1Щ1м входом записи информации в стек.
SU884387077A 1988-03-04 1988-03-04 Дефектоскоп SU1589183A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884387077A SU1589183A1 (ru) 1988-03-04 1988-03-04 Дефектоскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884387077A SU1589183A1 (ru) 1988-03-04 1988-03-04 Дефектоскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1589183A1 true SU1589183A1 (ru) 1990-08-30

Family

ID=21359144

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884387077A SU1589183A1 (ru) 1988-03-04 1988-03-04 Дефектоскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1589183A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Приборы дл неразрушающего контрол материалов и изделий/Под ред. В.В Клюева,. Кн.2, М.: Машиностроение, 1986, с. 177-178. Авторское свидетельство СССР № Г165966, кл. G 01 N 27/20, 1983, *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3422352A (en) Apparatus for measuring current flow
JPS58155355A (ja) 渦電流非破壊試験装置
US3204180A (en) Time measuring apparatus using a tapped delay line
SU1589183A1 (ru) Дефектоскоп
US2995410A (en) Calibrated bar graph recording system
JP2521903B2 (ja) 測定値の記録方法
KR960038402A (ko) 맨브레인 스위치 자동 검사장치
JPH0755875A (ja) 絶縁物の信頼性評価試験装置
Lesco et al. Rotating Shaft-Mounted Microelectronic Data System
SU1462178A1 (ru) Матрица вихретокового преобразовател
SU1500927A1 (ru) Вихретоковое устройство неразрушающего контрол
FI87861B (fi) En automatiskt sin foerstaerkning reglerande instrumenteringsfoerstaerkare
Edwall Measuring system for high‐precision voltage measurements from high‐impedance sources
SU1661648A1 (ru) Устройство переключени диапазонов аналого-цифрового преобразовател
SU1167418A1 (ru) Устройство дл определени остаточных напр жений
SU1479867A1 (ru) Магнитотелевизионный дефектоскоп
KR200155055Y1 (ko) 반도체소자의 로직검사장치
SU1161821A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций
KR950007504Y1 (ko) 피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치
SU939964A1 (ru) Устройство автоматического контрол величины показател тепловой инерции термопар
SU579541A1 (ru) Устройство дл определени относительного изменени диаметра образца
SU1597791A1 (ru) Устройство контрол контактного сопротивлени при испытании контактов на износоустойчивость
JPS58131539A (ja) 粒子分析装置
SU1035494A1 (ru) Электроконтактный дефектоскоп
SU1656443A1 (ru) Магниточувствительный узел к дефектоскопу