SU1573442A1 - Interference resolvemeter resolution meter - Google Patents

Interference resolvemeter resolution meter Download PDF

Info

Publication number
SU1573442A1
SU1573442A1 SU874256841A SU4256841A SU1573442A1 SU 1573442 A1 SU1573442 A1 SU 1573442A1 SU 874256841 A SU874256841 A SU 874256841A SU 4256841 A SU4256841 A SU 4256841A SU 1573442 A1 SU1573442 A1 SU 1573442A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interference
beams
beam splitter
resolvemeter
splitter
Prior art date
Application number
SU874256841A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Михайлович Михайлов
Павел Михайлович Подвигалкин
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU874256841A priority Critical patent/SU1573442A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1573442A1 publication Critical patent/SU1573442A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению, а более конкретно к средствам дл  измерени  характеристик светочувствительных материалов. Целью изобретени   вл етс  повышение качества резольвограммы и упрощение конструкции. В устройстве излучение когерентного источника 1 преобразуетс  плоскопараллельной пластиной 3 в р д пучков различной интенсивностью, которые с помощью светоделител  4 раздел ютс  на два идентичных пучка. Последние свод тс  на светочувствительный материал зеркалами. Изменение пространственной частоты интерферограммы осуществл етс  совместным поворотом светоделител  и одного из плоских зеркал относительно оси расширител  пучка. 1 ил.The invention relates to optical instrumentation, and more specifically to means for measuring the characteristics of photosensitive materials. The aim of the invention is to improve the quality of the resolver and simplify the design. In the device, the radiation of the coherent source 1 is converted by a plane-parallel plate 3 into a series of beams of different intensities, which are split into two identical beams with the help of a splitter 4. The latter are reduced to photosensitive material by mirrors. The spatial frequency of the interferogram is varied by the joint rotation of the beam splitter and one of the flat mirrors relative to the beam expander axis. 1 il.

Description

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а более конкретно к резольвометрическим устройствам, применяемым для измерения характерис- $ тйк светочувствительных материалов.The invention relates to optical instrumentation, and more particularly to resolvometric devices used to measure the characteristics of photosensitive materials.

Цель изобретения - повышение качества интерферограммы.The purpose of the invention is improving the quality of interferograms.

На чертеже изображена оптическая схема интерференционного резольвомет- ;q ра.The drawing shows the optical scheme of the interference resolvometer-; q pa.

Интерференционный резольвометр содержит источник 1 излучения, расширитель пучка в виде телескопической си ну по ще стемы 2, плоскопараллельную пласти- 15 3, световодитель 4, зеркало 5, распоженные на одной прямой, совпадаюft с оптической осью телескопической системы 2. Зеркало 6 закреплено на направляющей 7 с возможностью совмест-20 но^о со светоделителем. 4 поворота относительно оптической оси телескопической системы 2. Зеркало 8 расположено на таком расстоянии от держателя 9 исследуемого материала, что об- 25 радует равные длины оптичесикх путей в Ветвях резольвометраόThe interference resolvometer contains a radiation source 1, a beam expander in the form of a telescopic system 2, a plane-parallel plate 15 3, a light guide 4, a mirror 5, arranged on one straight line, coinciding with the optical axis of the telescopic system 2. The mirror 6 is mounted on the guide 7 with the possibility of joint-20 but ^ o with a beam splitter. 4 rotations relative to the optical axis of the telescopic system 2. Mirror 8 is located at such a distance from the holder 9 of the studied material that 25 delights equal lengths of optical paths in the branches of the resolvometerό

Резольвометр работает следующим образом.The resolvometer works as follows.

Поток излучения источника 1 расши- зо рнфтся телескопической системой 2, вхфдит в плоскопараллельную пластину 3 й выходит из нее в виде ряда пучков с различной интенсивностью, убывающей по:геометрической прогрессии. Этот 35 ряд пучков с помощью светоделителя 4 разделяется на два ряда пучков, совершенно идентичных между собой как по амплитуде, так и по пространственному расположению элементарных пучков в каждом ряду. После отражения -от зеркал 5, 6 и 8 световые пучки сходятся на.исследуемом материале под углом οί , образуя резольвограмму в виде ряда интерферограмм с одинаковой пространственной частотой, и с различной экспозицией, где каждый элементарный пучок одного ряда точно совпадает с соответствующим элементарным пучком второго ряда. Для перехода от одной пространственной частоты к другой направляющую 7 с жестко закрепленными на ней светоделителем 4 и с зеркалом 6 поворачивают относительно оптической оси телескопической системы 2 так, чтобы между интерференционными пучками образовался необходимый угол о/1, а светоделитель 4 и зеркало 6 займут положение 4 и 6 соответственно.The radiation flux of source 1 is expanded by a telescopic system 2, which enters into the plane-parallel plate 3rd and leaves it in the form of a series of beams with different intensities, decreasing in geometric progression. This 35 row of beams with the help of a beam splitter 4 is divided into two rows of beams, completely identical to each other both in amplitude and in the spatial arrangement of elementary beams in each row. After reflection from the mirrors 5, 6 and 8, the light beams converge on the material under study at an angle οί, forming a resologram in the form of a series of interferograms with the same spatial frequency, and with different exposures, where each elementary beam of one row exactly matches the corresponding elementary beam of the second row. To move from one spatial frequency to another, the guide 7 with the beam splitter 4 and mirror 6 rigidly fixed on it is rotated relative to the optical axis of the telescopic system 2 so that the necessary angle o / 1 is formed between the interference beams, and the beam splitter 4 and mirror 6 take position 4 and 6, respectively.

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Интерференционный резольвометр,содержащий источник когерентного излучения, расширитель пучка, плоскопараллельную пластину, светоделитель, плоские зеркала и держатель исследуемого материала, отличающийс я тем, что, с целью повышения качества интерферограммы и упрощения конструкции, светоделитель выполнен в виде полупрозрачного зеркала .которое установлено с возможностью совместного поворота с плоским зеркалом вокруг оси расширителя пучка.An interference resolvometer containing a coherent radiation source, a beam expander, a plane-parallel plate, a beam splitter, flat mirrors and a holder of the material under study, characterized in that, in order to improve the quality of the interferogram and simplify the design, the beam splitter is made in the form of a translucent mirror. turning with a flat mirror around the axis of the beam expander.
SU874256841A 1987-06-04 1987-06-04 Interference resolvemeter resolution meter SU1573442A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874256841A SU1573442A1 (en) 1987-06-04 1987-06-04 Interference resolvemeter resolution meter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874256841A SU1573442A1 (en) 1987-06-04 1987-06-04 Interference resolvemeter resolution meter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1573442A1 true SU1573442A1 (en) 1990-06-23

Family

ID=21308859

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874256841A SU1573442A1 (en) 1987-06-04 1987-06-04 Interference resolvemeter resolution meter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1573442A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 423089, кл. G 03 С 5/02, 1972. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6138405A (en) Interferometer
Burch et al. Interferometric methods for the photographic production of large gratings
SU1573442A1 (en) Interference resolvemeter resolution meter
US4505588A (en) Fiber stellar interferometer
SU756192A1 (en) Interferometer for checking rectilinearity and planeness of object surface
SU577397A1 (en) Double-beam fourier spectrometer
SU780629A1 (en) Fourier-spectrometer
SU1612273A1 (en) Interference resolution meter
SU1000745A1 (en) Interferometer for checking concave cylindrical surfaces
SU1315799A1 (en) Device for measuring linear displacements
SU1132148A1 (en) Multi-beam interferometer
SU545855A1 (en) Dual-beam scanning interferometer
SU1133481A1 (en) Device for measuring stresses in object
JPH0358052B2 (en)
SU423089A1 (en) INTERFERENTIAL RESOLVOMETER
SU1469364A1 (en) Scanning mach-zehnder interferometer
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
SU1649262A1 (en) Interferential angle converter
SU1413415A1 (en) Method of determining diameter of holes
SU844994A1 (en) Device for obtaining parallel light beams
SU1673904A1 (en) Apparatus for alignment of optical lens components
SU1499109A1 (en) Apparatus for recording interferograms
SU1429084A1 (en) Device for recording interferograms
SU815490A1 (en) Device for measuring turn angle of object
SU1696930A1 (en) Method for determining focal distance of optical system