SU1573442A1 - Interference resolvemeter resolution meter - Google Patents
Interference resolvemeter resolution meter Download PDFInfo
- Publication number
- SU1573442A1 SU1573442A1 SU874256841A SU4256841A SU1573442A1 SU 1573442 A1 SU1573442 A1 SU 1573442A1 SU 874256841 A SU874256841 A SU 874256841A SU 4256841 A SU4256841 A SU 4256841A SU 1573442 A1 SU1573442 A1 SU 1573442A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interference
- beams
- beam splitter
- resolvemeter
- splitter
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к оптическому приборостроению, а более конкретно к средствам дл измерени характеристик светочувствительных материалов. Целью изобретени вл етс повышение качества резольвограммы и упрощение конструкции. В устройстве излучение когерентного источника 1 преобразуетс плоскопараллельной пластиной 3 в р д пучков различной интенсивностью, которые с помощью светоделител 4 раздел ютс на два идентичных пучка. Последние свод тс на светочувствительный материал зеркалами. Изменение пространственной частоты интерферограммы осуществл етс совместным поворотом светоделител и одного из плоских зеркал относительно оси расширител пучка. 1 ил.The invention relates to optical instrumentation, and more specifically to means for measuring the characteristics of photosensitive materials. The aim of the invention is to improve the quality of the resolver and simplify the design. In the device, the radiation of the coherent source 1 is converted by a plane-parallel plate 3 into a series of beams of different intensities, which are split into two identical beams with the help of a splitter 4. The latter are reduced to photosensitive material by mirrors. The spatial frequency of the interferogram is varied by the joint rotation of the beam splitter and one of the flat mirrors relative to the beam expander axis. 1 il.
Description
Изобретение относится к оптическому приборостроению, а более конкретно к резольвометрическим устройствам, применяемым для измерения характерис- $ тйк светочувствительных материалов.The invention relates to optical instrumentation, and more particularly to resolvometric devices used to measure the characteristics of photosensitive materials.
Цель изобретения - повышение качества интерферограммы.The purpose of the invention is improving the quality of interferograms.
На чертеже изображена оптическая схема интерференционного резольвомет- ;q ра.The drawing shows the optical scheme of the interference resolvometer-; q pa.
Интерференционный резольвометр содержит источник 1 излучения, расширитель пучка в виде телескопической си ну по ще стемы 2, плоскопараллельную пласти- 15 3, световодитель 4, зеркало 5, распоженные на одной прямой, совпадаюft с оптической осью телескопической системы 2. Зеркало 6 закреплено на направляющей 7 с возможностью совмест-20 но^о со светоделителем. 4 поворота относительно оптической оси телескопической системы 2. Зеркало 8 расположено на таком расстоянии от держателя 9 исследуемого материала, что об- 25 радует равные длины оптичесикх путей в Ветвях резольвометраόThe interference resolvometer contains a radiation source 1, a beam expander in the form of a telescopic system 2, a plane-parallel plate 15 3, a light guide 4, a mirror 5, arranged on one straight line, coinciding with the optical axis of the telescopic system 2. The mirror 6 is mounted on the guide 7 with the possibility of joint-20 but ^ o with a beam splitter. 4 rotations relative to the optical axis of the telescopic system 2. Mirror 8 is located at such a distance from the holder 9 of the studied material that 25 delights equal lengths of optical paths in the branches of the resolvometerό
Резольвометр работает следующим образом.The resolvometer works as follows.
Поток излучения источника 1 расши- зо рнфтся телескопической системой 2, вхфдит в плоскопараллельную пластину 3 й выходит из нее в виде ряда пучков с различной интенсивностью, убывающей по:геометрической прогрессии. Этот 35 ряд пучков с помощью светоделителя 4 разделяется на два ряда пучков, совершенно идентичных между собой как по амплитуде, так и по пространственному расположению элементарных пучков в каждом ряду. После отражения -от зеркал 5, 6 и 8 световые пучки сходятся на.исследуемом материале под углом οί , образуя резольвограмму в виде ряда интерферограмм с одинаковой пространственной частотой, и с различной экспозицией, где каждый элементарный пучок одного ряда точно совпадает с соответствующим элементарным пучком второго ряда. Для перехода от одной пространственной частоты к другой направляющую 7 с жестко закрепленными на ней светоделителем 4 и с зеркалом 6 поворачивают относительно оптической оси телескопической системы 2 так, чтобы между интерференционными пучками образовался необходимый угол о/1, а светоделитель 4 и зеркало 6 займут положение 4 и 6 соответственно.The radiation flux of source 1 is expanded by a telescopic system 2, which enters into the plane-parallel plate 3rd and leaves it in the form of a series of beams with different intensities, decreasing in geometric progression. This 35 row of beams with the help of a beam splitter 4 is divided into two rows of beams, completely identical to each other both in amplitude and in the spatial arrangement of elementary beams in each row. After reflection from the mirrors 5, 6 and 8, the light beams converge on the material under study at an angle οί, forming a resologram in the form of a series of interferograms with the same spatial frequency, and with different exposures, where each elementary beam of one row exactly matches the corresponding elementary beam of the second row. To move from one spatial frequency to another, the guide 7 with the beam splitter 4 and mirror 6 rigidly fixed on it is rotated relative to the optical axis of the telescopic system 2 so that the necessary angle o / 1 is formed between the interference beams, and the beam splitter 4 and mirror 6 take position 4 and 6, respectively.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874256841A SU1573442A1 (en) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Interference resolvemeter resolution meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874256841A SU1573442A1 (en) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Interference resolvemeter resolution meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1573442A1 true SU1573442A1 (en) | 1990-06-23 |
Family
ID=21308859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874256841A SU1573442A1 (en) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Interference resolvemeter resolution meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1573442A1 (en) |
-
1987
- 1987-06-04 SU SU874256841A patent/SU1573442A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 423089, кл. G 03 С 5/02, 1972. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6138405A (en) | Interferometer | |
Burch et al. | Interferometric methods for the photographic production of large gratings | |
SU1573442A1 (en) | Interference resolvemeter resolution meter | |
US4505588A (en) | Fiber stellar interferometer | |
SU756192A1 (en) | Interferometer for checking rectilinearity and planeness of object surface | |
SU577397A1 (en) | Double-beam fourier spectrometer | |
SU780629A1 (en) | Fourier-spectrometer | |
SU1612273A1 (en) | Interference resolution meter | |
SU1000745A1 (en) | Interferometer for checking concave cylindrical surfaces | |
SU1315799A1 (en) | Device for measuring linear displacements | |
SU1132148A1 (en) | Multi-beam interferometer | |
SU545855A1 (en) | Dual-beam scanning interferometer | |
SU1133481A1 (en) | Device for measuring stresses in object | |
JPH0358052B2 (en) | ||
SU423089A1 (en) | INTERFERENTIAL RESOLVOMETER | |
SU1469364A1 (en) | Scanning mach-zehnder interferometer | |
SU953451A2 (en) | Interferrometer for checking spherical surfaces | |
SU1649262A1 (en) | Interferential angle converter | |
SU1413415A1 (en) | Method of determining diameter of holes | |
SU844994A1 (en) | Device for obtaining parallel light beams | |
SU1673904A1 (en) | Apparatus for alignment of optical lens components | |
SU1499109A1 (en) | Apparatus for recording interferograms | |
SU1429084A1 (en) | Device for recording interferograms | |
SU815490A1 (en) | Device for measuring turn angle of object | |
SU1696930A1 (en) | Method for determining focal distance of optical system |