SU1539529A1 - Устройство дл контрол шероховатости поверхности - Google Patents
Устройство дл контрол шероховатости поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1539529A1 SU1539529A1 SU884357922A SU4357922A SU1539529A1 SU 1539529 A1 SU1539529 A1 SU 1539529A1 SU 884357922 A SU884357922 A SU 884357922A SU 4357922 A SU4357922 A SU 4357922A SU 1539529 A1 SU1539529 A1 SU 1539529A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- converters
- outputs
- inputs
- photodetector
- reflected radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет измерени также волнистости поверхности. Устройство состоит из источника излучени , фотоприемника зеркального отражени и фотоприемника диффузного отражени . Фотоприемник выполнен четырехквадрантным, что позвол ет путем контрол положени п тна зеркально отраженного излучени дополнительно измер ть волнистость поверхности. 3 ил.
Description
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл контрол качества поверхности.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет измерени также и волнистости поверхности .
На фиг. 1 представлена блок-схема устройства-, на фиг. 2 - конструктивное расположение светочувствительных элементов фотоприемника зеркально отраженного излучени ; на фиг. 3 - схема блока обработки.
Устройство состоит из источника 1 излучени , фотоприемника 2 зеркально отраженного от контролируемой поверхности излучени , фотоприемника 3 диф- фузно отраженного от контролируемой поверхности излучени и блока 4 обработки , электрически св занного с выходами фотоприемников 2 и 3. Фотоприемник 2 выполнен четырехквадрат- ным со светочувствительными элементами 5-8. Блок 4 обработки состоит
из преобразователей 9-13 фототока в напр жение, входы которых подключены к выходам фотоприемнйка 3 и элементов 5-8 соответственно, сумматора 14, входы которого подключены к выходам преобразователей 10-13, вычитател 15, входы которого подключены к выходам преобразователей 10 и 12, вычитател 16, входы кото-- рого подключены к выходам преобразователей 11 и 13, делител 17, входы которого подключены к выходам преобразовател 9 и сумматора 14, и индикаторов 18-20, входы которых подключены к выходам вычитателей 15 и 16 и делител 17 соответственно.
Устройство работает следующим образом.
Источник 1 формирует параллельный пучок света, имеющий форму круга в сечении, и направл ет его под углом на контролируемую поверхность 21. Зеркально отраженный от поверхности 21 пучок света попадает на фотоприемник 2, а диффузно отраженное излучение
§
(Л
СЛ
со со
СЛ ЬЭ
со
регистрируетс фотоприемником 3. Зеркально отраженный от поверхности 21 пучок света, имеющий в сечении форму эллипса, формирует на светочувстви- тельных элементах 5-8 фотоприемника 2 световое п тно.
Сигналы со светочувствительных элементов 5-8, пропорциональные освещенной площади каждого из них, поступает на четыре независимых преобразо|вател 10-13.
| Сигнал, пропорциональный диффузно отраженному излучению, с фотоприемника 3 поступает на вход преобразова- тел 9. Выходные сигналы с преобразователей 10-13 поступают на сумматор 14. Суммарный сигнал с сумматора 14, пропорциональный зеркальной составл ющей отраженного пучка света, поступает на второй вход делител 17, при этом на первый делитель 17 поступает сигнал, сформированный преобразователем 9,
Напр жение с выходов преобразователей 10 и 12, пропорциональные сигналам элементов 5 , вычитаютс в вычитателе 15, а напр жение с выходов преобразователей 11 и 13, пропорциональные сигналам с элементов 6 и 8, вычитаютс в вычитателе 16.
Результаты вычитани с вычитателей 15 и 16 и результат делени с делител 17 поступают соответственно на индикаторы 18-20. При этом показани индикатора 20 характеризуют шероховатость поверхности 21, а показани
j
0
5
0
5
индикаторов 18 и 19 - волнистость поверхности .
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл контрол шероховатости поверхности, содержащее узел формировани светового луча, фотоприемник диффузно отраженного излучени , фотоприемник зеркально отраженного излучени , два преобразовател фототока в напр жение, подключенные к соответствующим фотоприемникам , и делитель, входы которого подключены к выходам преобразователей , отличающеес тем, что, с целью расширени функциональных возможностей за счет измерени также и волнистости поверхности, оно снабжено третьим, четвертым и.п тым преобразовател ми фототека в напр жение , сумматором, входы которого подключены к выходам второго, третьего , четвертого и п того преобразователей , двум блоками сравнени , входы первого блока сравнени подключены к выходам второго и четвертого преобразователей , входы второго блока сравнени подключены к выходам третьего и п того преобразователей, фотоприемник зеркально отраженного излучени выполнен четырехквадратным, а выходы его элементов подключены соответственно к входам второго, третьего , четвертого и п того преобразователей .11Шиг.1А-4т8Фаг. 2.ЧЬ--еэ-нФ.зчJФ .з
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884357922A SU1539529A1 (ru) | 1988-01-04 | 1988-01-04 | Устройство дл контрол шероховатости поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884357922A SU1539529A1 (ru) | 1988-01-04 | 1988-01-04 | Устройство дл контрол шероховатости поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1539529A1 true SU1539529A1 (ru) | 1990-01-30 |
Family
ID=21347387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884357922A SU1539529A1 (ru) | 1988-01-04 | 1988-01-04 | Устройство дл контрол шероховатости поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1539529A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5689757A (en) * | 1994-07-18 | 1997-11-18 | Xerox Corporation | Method and apparatus for detecting substrate roughness and controlling print quality |
-
1988
- 1988-01-04 SU SU884357922A patent/SU1539529A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Международна за вка № 82/01767, кл. G 01 В 11/30, 1982. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5689757A (en) * | 1994-07-18 | 1997-11-18 | Xerox Corporation | Method and apparatus for detecting substrate roughness and controlling print quality |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0001178B1 (en) | An optical sensing instrument | |
SU1539529A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
JPS6283625A (ja) | 光パワ−メ−タ | |
JPH02114146A (ja) | 構造部品や試験片における亀裂長さやひずみを測定する方法とその装置 | |
US3813543A (en) | Pattern detecting apparatus | |
SU1397732A1 (ru) | Устройство дл измерени тонких стенок стекл нных труб | |
US4512663A (en) | Optical inspection of machined surfaces | |
US4077723A (en) | Method of measuring thickness | |
RU2310161C2 (ru) | Устройство для измерения малых зазоров | |
SU750276A1 (ru) | Фотоэлектрическое устройство дл контрол качества поверхности изделий | |
SU1357710A1 (ru) | Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна | |
SU1538047A1 (ru) | Способ измерени шероховатости поверхности | |
RU1789046C (ru) | Устройство дл измерени рассто ни | |
JPS62118243A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
SU1619145A1 (ru) | Способ определени дефектов на поверхности издели | |
SU1733923A1 (ru) | Фотоэлектрический способ контрол углового положени излучател и устройство дл его осуществлени | |
SU1067353A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений объекта | |
SU1481596A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений объекта | |
JPS63106510A (ja) | 光学式傷変位計測装置 | |
JP3319666B2 (ja) | エッジ検出装置 | |
RU2005998C1 (ru) | Устройство для измерения объема | |
RU2036415C1 (ru) | Лазерный датчик ультразвуковых колебаний | |
SU1379625A1 (ru) | Устройство дл контрол качества поверхности | |
JPH0410583B2 (ru) | ||
RU1768973C (ru) | Устройство измерени геометрических параметров поверхностей |